JPH0197300U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0197300U JPH0197300U JP19290387U JP19290387U JPH0197300U JP H0197300 U JPH0197300 U JP H0197300U JP 19290387 U JP19290387 U JP 19290387U JP 19290387 U JP19290387 U JP 19290387U JP H0197300 U JPH0197300 U JP H0197300U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- scanning
- electron beam
- scan
- tube
- irradiation device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims description 7
- 239000011888 foil Substances 0.000 claims description 3
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
- Recrystallisation Techniques (AREA)
Description
第1図は本考案の走査機構によるダブルウイン
ドウ電子線走査軌跡を示す平面図。第2図はその
ような走査軌跡を生ずるためのY方向、X方向走
査波形図。aがY方向、bがX方向走査波形であ
る。第3図は従来例のダブルウインドウ電子線走
査軌跡を示す平面図。第4図は第3図の走査軌跡
を生ずるためのY方向、X方向走査波形図。第5
図は走査型電子線照射装置の上部のみの正面図。
第6図は走査管下部の照射窓の部分の断面図。 1……走査管、2……走査管フランジ、3……
窓箔押えフランジ、4……照射窓、5……窓箔、
6……被処理物、10……水冷パイプ。
ドウ電子線走査軌跡を示す平面図。第2図はその
ような走査軌跡を生ずるためのY方向、X方向走
査波形図。aがY方向、bがX方向走査波形であ
る。第3図は従来例のダブルウインドウ電子線走
査軌跡を示す平面図。第4図は第3図の走査軌跡
を生ずるためのY方向、X方向走査波形図。第5
図は走査型電子線照射装置の上部のみの正面図。
第6図は走査管下部の照射窓の部分の断面図。 1……走査管、2……走査管フランジ、3……
窓箔押えフランジ、4……照射窓、5……窓箔、
6……被処理物、10……水冷パイプ。
Claims (1)
- 高真空中に於て電子線を発生し、これを加速し
、下方の拡がつた走査管に於て長手方向であるy
方向と、これに直角なx方向に電子線を走査し、
走査管下部のふたつの照射窓の窓箔を通して電子
線を大気中へ飛出させ、被処理物に照射すること
とし、y方向走査、x方向走査は走査管の上部に
設けたマグネツトのコイルにそれぞれ三角波、矩
形波を同期して流す事によつて行う事とした電子
線照射装置に於て、x方向走査に要する時間をτ
として、x方向走査の切換え時刻よりτ/2後に
、y方向走査を切換える事とした電子線照射装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19290387U JPH0518720Y2 (ja) | 1987-12-18 | 1987-12-18 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19290387U JPH0518720Y2 (ja) | 1987-12-18 | 1987-12-18 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0197300U true JPH0197300U (ja) | 1989-06-28 |
| JPH0518720Y2 JPH0518720Y2 (ja) | 1993-05-18 |
Family
ID=31483730
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19290387U Expired - Lifetime JPH0518720Y2 (ja) | 1987-12-18 | 1987-12-18 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0518720Y2 (ja) |
-
1987
- 1987-12-18 JP JP19290387U patent/JPH0518720Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0518720Y2 (ja) | 1993-05-18 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS60132000U (ja) | X線診断装置 | |
| JPH0197300U (ja) | ||
| EP0373599A3 (en) | Method of determining the position of electron beam irradiation and device used in such method | |
| JPS6435654U (ja) | ||
| JPH0355599U (ja) | ||
| JPH01160653U (ja) | ||
| JPS63183598U (ja) | ||
| JPH0383937U (ja) | ||
| JPH0250952U (ja) | ||
| JPH03109100U (ja) | ||
| JPS61109054U (ja) | ||
| JPH0176029U (ja) | ||
| JPS6151656U (ja) | ||
| JPS63146962U (ja) | ||
| JPH01115153U (ja) | ||
| JPS60138253U (ja) | 電子線装置 | |
| JPS63111750U (ja) | ||
| JPH01162200A (ja) | 電子線照射装置の走査方式 | |
| JPH03104900U (ja) | ||
| JPS6160952U (ja) | ||
| JPH0344699U (ja) | ||
| JPH0230099U (ja) | ||
| JPS59150155U (ja) | 走査電子顕微鏡 | |
| JPH0230100U (ja) | ||
| JPS60187450U (ja) | 走査電子顕微鏡用2次電子検出装置 |