JPH02101680A - 光ディスク装置のセクタマーク検出装置 - Google Patents
光ディスク装置のセクタマーク検出装置Info
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- JPH02101680A JPH02101680A JP25325888A JP25325888A JPH02101680A JP H02101680 A JPH02101680 A JP H02101680A JP 25325888 A JP25325888 A JP 25325888A JP 25325888 A JP25325888 A JP 25325888A JP H02101680 A JPH02101680 A JP H02101680A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/14—Digital recording or reproducing using self-clocking codes
- G11B20/1403—Digital recording or reproducing using self-clocking codes characterised by the use of two levels
- G11B2020/1476—Synchronisation patterns; Coping with defects thereof
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野〕
本発明は円盤状記録媒体としての光ディスクの各トラッ
クに形成された複数のセクタの■■始点を検出する光デ
ィスク装置のセクタマーク検出装置に関する。
クに形成された複数のセクタの■■始点を検出する光デ
ィスク装置のセクタマーク検出装置に関する。
[従来の技術]
光学的記録再生装置においては円盤状記録媒体が広く用
いられる。
いられる。
上記円盤状記録媒体(以下光ディスクと記す。)を用い
た記録再生装置(以下光ディスク装置と記す。)におい
ては、情報データは光ディスクの同心円状又はスパイラ
ル状のトラックに沿って記録される。この場合、各トラ
ックは、多数分割して形成したセクタがデータ処理単位
として用いられる。
た記録再生装置(以下光ディスク装置と記す。)におい
ては、情報データは光ディスクの同心円状又はスパイラ
ル状のトラックに沿って記録される。この場合、各トラ
ックは、多数分割して形成したセクタがデータ処理単位
として用いられる。
即ち、光ディスクに情報を記録又は再生する場合、ラン
ダムアクセスとかリード/ライI−の制御を行うに際し
、1記録用位としてその始点を示づマークを付けること
が行われ、この記録単位をセクタと呼び、またこのマー
クをセクタマークと呼ぶ。
ダムアクセスとかリード/ライI−の制御を行うに際し
、1記録用位としてその始点を示づマークを付けること
が行われ、この記録単位をセクタと呼び、またこのマー
クをセクタマークと呼ぶ。
一1二記セクタマークは上記制御のみならず、データの
リード及びライト時のタイミング制御を容易にし、周期
信号の検出をより高信頼化することにも有用である。
リード及びライト時のタイミング制御を容易にし、周期
信号の検出をより高信頼化することにも有用である。
上記の如く、セクタマークはアクセス制御とかリード又
はライト時の信号検出に有効であるが、それだけにその
検出信頼度は十分高くなければならない。ところで、光
ディスクでは記録膜の欠陥とかノイズ等を十分小さくす
ることは難しく、ビット誤り率で10−5〜10−6程
痕のエラーは許容し19るような装置を作る必要がある
。上記エラーのうち、ランダムエラーよりもバーストエ
ラーが特に問題となる。
はライト時の信号検出に有効であるが、それだけにその
検出信頼度は十分高くなければならない。ところで、光
ディスクでは記録膜の欠陥とかノイズ等を十分小さくす
ることは難しく、ビット誤り率で10−5〜10−6程
痕のエラーは許容し19るような装置を作る必要がある
。上記エラーのうち、ランダムエラーよりもバーストエ
ラーが特に問題となる。
記録データの信頼性は誤り訂正符号を付加することで向
上する。またバーストエラーに対しては、データを分散
して記録するインターリーブ手法により、バーストエラ
ーを分散させることが可能であり、相当長いバーストエ
ラーに対しても対処することができる。
上する。またバーストエラーに対しては、データを分散
して記録するインターリーブ手法により、バーストエラ
ーを分散させることが可能であり、相当長いバーストエ
ラーに対しても対処することができる。
しかしながら、セクタマーク検出にはこの手法を適用で
きず、従って何らかの高信頼化なしには実用に耐えない
ことになる。
きず、従って何らかの高信頼化なしには実用に耐えない
ことになる。
このため、特開昭61−5476号の従来例では、セク
タマークの誤検出防止にゲートをかける等の手法がとら
れている。しかし、回転誤差が大きいとゲート幅は広く
なければならず、連続してマーク検出ができなかった時
のことなどを考えると、ゲート幅はさらに広くなければ
ならない。このように考えると、セクタマーク付近での
誤検出(503等で検出することによる誤検出)を防ぐ
ことはできない。
タマークの誤検出防止にゲートをかける等の手法がとら
れている。しかし、回転誤差が大きいとゲート幅は広く
なければならず、連続してマーク検出ができなかった時
のことなどを考えると、ゲート幅はさらに広くなければ
ならない。このように考えると、セクタマーク付近での
誤検出(503等で検出することによる誤検出)を防ぐ
ことはできない。
このため、特開昭60−・201573号に開示された
従来例では、セクタマークは等周期ぐ検出されるべきこ
とを利用して本来ならばセクタマークが検出すべき周期
タイマにより指示し、この期間の終りになってもセクタ
マークが検出されなかった場合に擬似セクタマーク信号
を発生して、これを本来のセクタマーク信号の代りに使
用する方法が採用されている。
従来例では、セクタマークは等周期ぐ検出されるべきこ
とを利用して本来ならばセクタマークが検出すべき周期
タイマにより指示し、この期間の終りになってもセクタ
マークが検出されなかった場合に擬似セクタマーク信号
を発生して、これを本来のセクタマーク信号の代りに使
用する方法が採用されている。
[発明が解決しにうとする問題点]
上記特開昭60−201573号に開示された方式では
セクタマーク読取信号が発生しないことが検出されてか
ら、擬似セクタマーク信号が発生するようになっている
ので、どうしても擬似セクタマーク信号は本来セクタマ
ーク読取信号が発生ずべきタイミングから遅れて発生せ
ざるを得ない凋成である。
セクタマーク読取信号が発生しないことが検出されてか
ら、擬似セクタマーク信号が発生するようになっている
ので、どうしても擬似セクタマーク信号は本来セクタマ
ーク読取信号が発生ずべきタイミングから遅れて発生せ
ざるを得ない凋成である。
上記タイミングがずれると、本来のセクタマークの読取
に対づる信頼性が低下してしまうという欠点が生じる。
に対づる信頼性が低下してしまうという欠点が生じる。
尚、本発明の関連技術例として特願昭63−10597
5号によりセクタマーク間隔を水晶Q振のクロックによ
り測定し、この値を用いて次のセクタマーク位置を予測
し、擬似のマークを発生させる方法を示した。
5号によりセクタマーク間隔を水晶Q振のクロックによ
り測定し、この値を用いて次のセクタマーク位置を予測
し、擬似のマークを発生させる方法を示した。
しかし、この方法ではセクタマーク未検出時には対応で
きても、誤検出すると、補間回路が誤動作し、誤った補
間信号が出力されてしまう場合がある。
きても、誤検出すると、補間回路が誤動作し、誤った補
間信号が出力されてしまう場合がある。
本発明は上述した点にかんがみてなされたもので、擬似
セクタマーク信号の発生のタイミングが遅れることなく
、正確なタイミングで発生することができ、セクタマー
クが誤検出された場合にも対応できる光ディスク装置の
セクタマーク検出装置を提供することを目的とする。
セクタマーク信号の発生のタイミングが遅れることなく
、正確なタイミングで発生することができ、セクタマー
クが誤検出された場合にも対応できる光ディスク装置の
セクタマーク検出装置を提供することを目的とする。
[問題点を解決16手段及び作用]
本発明では光ディスクの先頭部分に形成されたセクタマ
ークエリアから検出されるセクタマーク信号の間隔を計
測する計測手段と、この計測手段の計測出力に基づいて
セクタ毎に擬似セクタマーク信号を発生する擬似セクタ
マーク信号発生手段と、前記セクタマーク信号が誤検出
であるか否かの判所手段と、前記セクタマーク信号が検
出されない場合、及び検出されたセクタマーク信号が誤
検出の場合には前記擬似セクタマーク信号に塁づき、タ
イミング信号を発生し、且つ前記セクタマーク信号が発
生したセクタでは誤検出でない場合には、このセクタマ
ーク信号に基づいてタイミング信号を発生する合成セク
タマーク信号発生手段とを設りることにより、セクタマ
ークが検出されない場合には擬似セクタマーク信号によ
り高lIi度のタイミング信デ)を発生さゼると共に、
セクタマークが誤検出されても高精度でタイミング信号
を発生させることができるようにしている。
ークエリアから検出されるセクタマーク信号の間隔を計
測する計測手段と、この計測手段の計測出力に基づいて
セクタ毎に擬似セクタマーク信号を発生する擬似セクタ
マーク信号発生手段と、前記セクタマーク信号が誤検出
であるか否かの判所手段と、前記セクタマーク信号が検
出されない場合、及び検出されたセクタマーク信号が誤
検出の場合には前記擬似セクタマーク信号に塁づき、タ
イミング信号を発生し、且つ前記セクタマーク信号が発
生したセクタでは誤検出でない場合には、このセクタマ
ーク信号に基づいてタイミング信号を発生する合成セク
タマーク信号発生手段とを設りることにより、セクタマ
ークが検出されない場合には擬似セクタマーク信号によ
り高lIi度のタイミング信デ)を発生さゼると共に、
セクタマークが誤検出されても高精度でタイミング信号
を発生させることができるようにしている。
[実施例]
以下、図面を参照して本発明を具体的に説明する。
第1図ないし第9図は本発明の1実施例に係り、第1図
は1実施例のセクタマーク検出装置の構成を示すブロッ
ク図、第2図は第1図中のリセットパルス発生回路の具
体的構成を示す回路図、第3図は第1図中のラッチ信号
発生回路の具体的構成を示す回路図、第4図は第1図中
のロード信号発生回路の具体的構成を示す回路図、第5
図は第1図中のセクタマーク間隔予測回路の具体的構成
を示す回路図、第6図は第1実施例の各部の動作説明用
タイミングチャート図、第7図は第1.第2゜第3カウ
ンタの計数動作領域を示す説明図、第8図はセクタマー
ク信号と異るタイミングで擬似セクタマーク信号を発生
した場合におけるリセットパルスが発生されるタイミン
グを示すタイミングチャート図、第9図は第3図の動作
を説明するためのタイミングチャート図である。
は1実施例のセクタマーク検出装置の構成を示すブロッ
ク図、第2図は第1図中のリセットパルス発生回路の具
体的構成を示す回路図、第3図は第1図中のラッチ信号
発生回路の具体的構成を示す回路図、第4図は第1図中
のロード信号発生回路の具体的構成を示す回路図、第5
図は第1図中のセクタマーク間隔予測回路の具体的構成
を示す回路図、第6図は第1実施例の各部の動作説明用
タイミングチャート図、第7図は第1.第2゜第3カウ
ンタの計数動作領域を示す説明図、第8図はセクタマー
ク信号と異るタイミングで擬似セクタマーク信号を発生
した場合におけるリセットパルスが発生されるタイミン
グを示すタイミングチャート図、第9図は第3図の動作
を説明するためのタイミングチャート図である。
第1図に示すようにセクタマーク検出装置1は、光ディ
スクからの再生信号により、セクタマーク検出信号aを
発生するセクタマーク検出回路2と、このセクタマーク
検出信号aの入力により、擬似セクタマーク信号りを発
生する擬似セクタマーク信号発生回路3と、セクタマー
ク検出信号a及び擬似セクタマーク信号りが入力され、
セクタマーク検出信号aを優先するためリセットパルス
bを出力づるリセットパルス発生回路4と、このリセッ
トパルスbの入力によりカウント値がリセットされる第
1カウンタ5と、このカウンタ5の出力端に接続され、
カウント値が設定値に達した場合、合成セクタマーク信
号Cを出力する第1デコーダ6とタイミング信号dを出
力する第2デコーダ7と、再生信号からアドレスマーク
検出信号lを生成するアドレスマーク検出回路8とから
構成される。
スクからの再生信号により、セクタマーク検出信号aを
発生するセクタマーク検出回路2と、このセクタマーク
検出信号aの入力により、擬似セクタマーク信号りを発
生する擬似セクタマーク信号発生回路3と、セクタマー
ク検出信号a及び擬似セクタマーク信号りが入力され、
セクタマーク検出信号aを優先するためリセットパルス
bを出力づるリセットパルス発生回路4と、このリセッ
トパルスbの入力によりカウント値がリセットされる第
1カウンタ5と、このカウンタ5の出力端に接続され、
カウント値が設定値に達した場合、合成セクタマーク信
号Cを出力する第1デコーダ6とタイミング信号dを出
力する第2デコーダ7と、再生信号からアドレスマーク
検出信号lを生成するアドレスマーク検出回路8とから
構成される。
上記セクタマーク検出回路2から出力されるセクタマー
ク検出信号aは、リセットパルス発生回路4と、擬似セ
クタマーク信号発生回路3内のラッチ信号発生回路11
に入力される。このリセットパルス発生回路4は、第6
図のbに示すようにセクタマーク検出信号aが発生する
と、あるいはセクタマーク検出信@aが発生しない場合
は、擬似セクタマーク信号りの発生により、リセットさ
れていた第1カウンタ5を起動させる。
ク検出信号aは、リセットパルス発生回路4と、擬似セ
クタマーク信号発生回路3内のラッチ信号発生回路11
に入力される。このリセットパルス発生回路4は、第6
図のbに示すようにセクタマーク検出信号aが発生する
と、あるいはセクタマーク検出信@aが発生しない場合
は、擬似セクタマーク信号りの発生により、リセットさ
れていた第1カウンタ5を起動させる。
しかして、第1カウンタ5は、クロック入力端に印加さ
れる1Fクロツクを計数する。このカウンタ5の出力端
に接続された第1デコーダ6は、比較的小さい計数値〈
デコーダ設定値)に達した場合、合成セクタマーク信号
Cを出力する。この様子を第6図のCに示す。これによ
り、外部にセクタマーク検出を報知するタイミングは少
々遅れるが、常に一定の遅れ(検出できなかった時も)
で供給することができる。
れる1Fクロツクを計数する。このカウンタ5の出力端
に接続された第1デコーダ6は、比較的小さい計数値〈
デコーダ設定値)に達した場合、合成セクタマーク信号
Cを出力する。この様子を第6図のCに示す。これによ
り、外部にセクタマーク検出を報知するタイミングは少
々遅れるが、常に一定の遅れ(検出できなかった時も)
で供給することができる。
一方、上記第1カウンタ5の出力端に接続された第2デ
コーダ7は、比較的大ぎなデコーダ設定値に設定しであ
る。即ち、第6図において、セクタマークエリアSM、
識別エリアID(尚、ID内には10の同期をとるた
めのアドレスマークエリアAMがある。)、ギ1?ツブ
エリアGAP、デ−タエリアDATA、バッファエリア
BUFからなる各セクタにおいて、第1カウンタ5がリ
セットパルスbでクリアされた後、1Fクロツクを計数
し始めてからデータエリアの終端付近ないしはバッフ7
エリアに達する付近において、このカウンタ5の計数値
がこのデコーダ設定値に達するように設定しである。
コーダ7は、比較的大ぎなデコーダ設定値に設定しであ
る。即ち、第6図において、セクタマークエリアSM、
識別エリアID(尚、ID内には10の同期をとるた
めのアドレスマークエリアAMがある。)、ギ1?ツブ
エリアGAP、デ−タエリアDATA、バッファエリア
BUFからなる各セクタにおいて、第1カウンタ5がリ
セットパルスbでクリアされた後、1Fクロツクを計数
し始めてからデータエリアの終端付近ないしはバッフ7
エリアに達する付近において、このカウンタ5の計数値
がこのデコーダ設定値に達するように設定しである。
従って、このデコーダ設定値に達すると、第2デコーダ
7は第6図のdに示すタイミング信号dを出力し、擬似
ヒクタマーク発生回路3を形成する第1ラツチ12に入
力する。この擬似セクタマーク発生回路3は、このタイ
ミング信号dにより動作を開始する 上記第1ラツチ12は、上記タイミング信号dにより、
第6図のeに示ずように“H″のラッチ出力eを出力し
、このラッチ出力eは第2カウンタ13及び第3カウン
タ14のリセット端に印加され、それまで“L IIに
されてリセットされていた計数動作を開始させる。
7は第6図のdに示すタイミング信号dを出力し、擬似
ヒクタマーク発生回路3を形成する第1ラツチ12に入
力する。この擬似セクタマーク発生回路3は、このタイ
ミング信号dにより動作を開始する 上記第1ラツチ12は、上記タイミング信号dにより、
第6図のeに示ずように“H″のラッチ出力eを出力し
、このラッチ出力eは第2カウンタ13及び第3カウン
タ14のリセット端に印加され、それまで“L IIに
されてリセットされていた計数動作を開始させる。
上記第2.第3カウンタ13.14は第6図に示すよう
に、データエリアの終端付近から次のセクタマークエリ
アを挾んでID部の先端部付近までの間でカウント動作
を行うためのものである。
に、データエリアの終端付近から次のセクタマークエリ
アを挾んでID部の先端部付近までの間でカウント動作
を行うためのものである。
これら両カウンタ13.14は1Fクロツクを計数する
。尚、第7図に示すように第1カウンタ5は、セクタマ
ークエリアの終端から上記第2.第3カウンタ13.1
4を開始させるまでの所定の時間(第2デコーダ7のデ
コーダ設定値)を31測するためのもので、第2.第3
カウンタ13.14の開始時刻をカバーするようにしで
ある。
。尚、第7図に示すように第1カウンタ5は、セクタマ
ークエリアの終端から上記第2.第3カウンタ13.1
4を開始させるまでの所定の時間(第2デコーダ7のデ
コーダ設定値)を31測するためのもので、第2.第3
カウンタ13.14の開始時刻をカバーするようにしで
ある。
上記データエリアの終端部付近から開始した第2カウン
タ13の計数値はその出力端に接続されたセクタマーク
間隔予測回路15に入力される。
タ13の計数値はその出力端に接続されたセクタマーク
間隔予測回路15に入力される。
このセクタマーク間隔予測回路15は、上記ラッチ信号
発生回路11から出力される測定信号f1及びラッチ信
号f2により、上記第2カウンタ13の計数値を計測及
びラッチする。このラップ信号f2は第6図のf2に示
すようにセクタマーク検出信号aが検出されたタイミン
グで出力される。
発生回路11から出力される測定信号f1及びラッチ信
号f2により、上記第2カウンタ13の計数値を計測及
びラッチする。このラップ信号f2は第6図のf2に示
すようにセクタマーク検出信号aが検出されたタイミン
グで出力される。
尚、この測定信号f1は、単にセクタマーク検出信号a
が検出された時でなく、直前のセクタにおいてもセクタ
マーク検出信号a及びアドレスマーク検出信号lが出力
されていることを条件として出力する、またラッチ信号
f2は測定信号f1が出力された直後に、さらにアドレ
スマークの検出信号2が出力され、これにより2つの連
続したセクタマークが採用された場合のみ出力されるよ
うに構成しである。この測定信号f1とラッチ信号f2
を出力するラッチ信号発生回路11には、セクタマーク
検出信@aと、第1ラツヂ12のラッチ出力e及びロー
ド信号発生回路16の前セクタマークの採用可否判定ク
ロックg1とロード信号g2とさらにアドレスマーク検
出信号2が入力される。
が検出された時でなく、直前のセクタにおいてもセクタ
マーク検出信号a及びアドレスマーク検出信号lが出力
されていることを条件として出力する、またラッチ信号
f2は測定信号f1が出力された直後に、さらにアドレ
スマークの検出信号2が出力され、これにより2つの連
続したセクタマークが採用された場合のみ出力されるよ
うに構成しである。この測定信号f1とラッチ信号f2
を出力するラッチ信号発生回路11には、セクタマーク
検出信@aと、第1ラツヂ12のラッチ出力e及びロー
ド信号発生回路16の前セクタマークの採用可否判定ク
ロックg1とロード信号g2とさらにアドレスマーク検
出信号2が入力される。
このロード信号発生回路16には、第1ラツヂ12のラ
ッチ出力eが入力されると共に、第2カウンタ13のキ
ャリ出力がリセット信号として入力される。しかして、
このロード信号発生回路16は、第3カウンタ14にセ
クタマーク間隔予測回路15でラッチされたセクタマー
ク間隔をロードするロード信号Q2を出力する。このロ
ード信号g2は、第6図のg2に示すようにデータエリ
アの終端部付近において、セクタ毎に発生する。
ッチ出力eが入力されると共に、第2カウンタ13のキ
ャリ出力がリセット信号として入力される。しかして、
このロード信号発生回路16は、第3カウンタ14にセ
クタマーク間隔予測回路15でラッチされたセクタマー
ク間隔をロードするロード信号Q2を出力する。このロ
ード信号g2は、第6図のg2に示すようにデータエリ
アの終端部付近において、セクタ毎に発生する。
尚、ロード信号発生回路16には、2Fクロツクが入力
される。
される。
上記第2カウンタ13のキャリイ出ノ〕は、第1ラツヂ
12及びO−ド信号発生回路16をリセットする。
12及びO−ド信号発生回路16をリセットする。
ところで、上記第3カウンタ14は、ダウンカウンタで
あり、ロード信号g2の印加により、セクタマーク間隔
予測回路15の片1数値をプリセット値として取込んだ
後、ダウンカウントしていき、この第3カウンタ14の
出力端に接続された第3デコーダ17からセクタマーク
検出信号aと同じタイミングを予測して第6図のhに示
す擬似セクタマーク信号りを出力する。この第3デコー
ダ17は、バッファエリアのタイミングでも出力iを出
力し、リセットパルス発生回路4をリセットする。
あり、ロード信号g2の印加により、セクタマーク間隔
予測回路15の片1数値をプリセット値として取込んだ
後、ダウンカウントしていき、この第3カウンタ14の
出力端に接続された第3デコーダ17からセクタマーク
検出信号aと同じタイミングを予測して第6図のhに示
す擬似セクタマーク信号りを出力する。この第3デコー
ダ17は、バッファエリアのタイミングでも出力iを出
力し、リセットパルス発生回路4をリセットする。
次に、リセットパルス発生回路4の構成を第2図を用い
て説明Jる。
て説明Jる。
セクタマーク検出信号aが第1Dフリツプフロツプ(以
下、D−F Fと記づ。)21のデータ入力端りに印加
され、2Fクロツクの立上がりで取込まれ、出力EQか
ら出力される。このQ出力は第2D−FF22のデータ
入力端りに印加され、インバータ23で反転された2F
クロツクにて出力端nからナンド回路24に上記第1の
D−FF21のQ出力と共に入力される。
下、D−F Fと記づ。)21のデータ入力端りに印加
され、2Fクロツクの立上がりで取込まれ、出力EQか
ら出力される。このQ出力は第2D−FF22のデータ
入力端りに印加され、インバータ23で反転された2F
クロツクにて出力端nからナンド回路24に上記第1の
D−FF21のQ出力と共に入力される。
上記ナンド回路24の出力は、セクタマーク検出信Q
aの立上がりに対応したタイミングパルスとなり、オア
回路25を介して第3のD−FF26のりヒラ1へ端子
に印加される。
aの立上がりに対応したタイミングパルスとなり、オア
回路25を介して第3のD−FF26のりヒラ1へ端子
に印加される。
上記リセット端子には第3デ]−ダ17の出力及び装置
仝休の゛市源をオンした時に発生されるリセット信号R
3Tもオア回路27及び上記オア回路25を介して印加
される。上記第3デコーダ17の出力iはセクタマーク
エリアの直前のバツノ7エリアで生じるので、D−FF
26のQ出力すはバッファエリアでまず第8図に承りよ
うにリセットされて“L 11になり、第3のD −、
F F 26へのリセット信号となるナンド回路24の
出力がII H11に戻った後、2Fクロツクの立上が
りで“HIIになる。
仝休の゛市源をオンした時に発生されるリセット信号R
3Tもオア回路27及び上記オア回路25を介して印加
される。上記第3デコーダ17の出力iはセクタマーク
エリアの直前のバツノ7エリアで生じるので、D−FF
26のQ出力すはバッファエリアでまず第8図に承りよ
うにリセットされて“L 11になり、第3のD −、
F F 26へのリセット信号となるナンド回路24の
出力がII H11に戻った後、2Fクロツクの立上が
りで“HIIになる。
上記オア回路27の出力は、第1.第211−FF21
,22のリセット端子に印加され、Q、G出力をリセッ
トする。
,22のリセット端子に印加され、Q、G出力をリセッ
トする。
ところで、この実施例ではセクタマーク検出信号aの発
生の有無にかかわらず、擬似セクタマーク信号りはセク
タ毎に発生する。尚、この擬似セクタマーク信号りはセ
クタマーク検出信号aと同じ位置で発生するよう制御さ
れる。そこで、セクタマーク検出信号aと擬似セクタマ
ーク信号りが同一タイミングで発生する場合は擬似セク
タマーク信号り及びセクタマーク検出信号aのいずれで
第3のD−F F 26をセットし、第1カウンタ5を
スタートさ゛せても良いが、これら両信号a、[1のタ
イミングがずれた場合にら正しい動作を行えるようにセ
クタマーク検出信号aを優先1−るためリセット信号す
を生成する構成にしている。このため、第3デコーダ1
7の擬似セクタマーク信号1)、第2のD−FF21の
Q出力及び第3のD−FF26のQ出力をオア回路28
を経て、この第3のD−F F 26のデータ入力端に
印加している。
生の有無にかかわらず、擬似セクタマーク信号りはセク
タ毎に発生する。尚、この擬似セクタマーク信号りはセ
クタマーク検出信号aと同じ位置で発生するよう制御さ
れる。そこで、セクタマーク検出信号aと擬似セクタマ
ーク信号りが同一タイミングで発生する場合は擬似セク
タマーク信号り及びセクタマーク検出信号aのいずれで
第3のD−F F 26をセットし、第1カウンタ5を
スタートさ゛せても良いが、これら両信号a、[1のタ
イミングがずれた場合にら正しい動作を行えるようにセ
クタマーク検出信号aを優先1−るためリセット信号す
を生成する構成にしている。このため、第3デコーダ1
7の擬似セクタマーク信号1)、第2のD−FF21の
Q出力及び第3のD−FF26のQ出力をオア回路28
を経て、この第3のD−F F 26のデータ入力端に
印加している。
例えば第8図(八)に示Jように、セクタマーク検出信
号aに比べ擬似セクタマーク信号りが遅れた場合、先行
するしフタマーク検出信号aによりD−FF26のQ出
力すが一旦′″)」″になると、この′冒−ビ′の信号
はオア回路28を経て再びDFF26のデータ入力端り
に入力され、Q出力すの1」″レベルを維持し、この後
擬似セクタマーク信号11がH°′になってもQ出力す
には全く変化を及ぼりことなく、セクタマーク検出信j
3aを優先して第1ノJウンタ5を起動する。
号aに比べ擬似セクタマーク信号りが遅れた場合、先行
するしフタマーク検出信号aによりD−FF26のQ出
力すが一旦′″)」″になると、この′冒−ビ′の信号
はオア回路28を経て再びDFF26のデータ入力端り
に入力され、Q出力すの1」″レベルを維持し、この後
擬似セクタマーク信号11がH°′になってもQ出力す
には全く変化を及ぼりことなく、セクタマーク検出信j
3aを優先して第1ノJウンタ5を起動する。
また、第8図(B)に示すように擬似セクタマーク信号
りが先行Jる場合、擬似セクタマーク信号りにより一旦
D−FF26のQ出力すは゛トビ′に転移し、第1カウ
ンタ5の力・クント動作が開始するが、セクタマーク検
出信j3 aの入力に伴ってQ出力すを再度11 L
11に転移し、第1カウンタ5のカウント値をリセット
させ、しかる後に第1カウンタ5を再起動させることが
できる。
りが先行Jる場合、擬似セクタマーク信号りにより一旦
D−FF26のQ出力すは゛トビ′に転移し、第1カウ
ンタ5の力・クント動作が開始するが、セクタマーク検
出信j3 aの入力に伴ってQ出力すを再度11 L
11に転移し、第1カウンタ5のカウント値をリセット
させ、しかる後に第1カウンタ5を再起動させることが
できる。
このように、リレットパルス発生回路4はセクタマーク
検出信号aを優先して、第1カウンタ5へのリセットパ
ルスbを発生する。
検出信号aを優先して、第1カウンタ5へのリセットパ
ルスbを発生する。
また、セクタマーク検出信@aが検出されない場合(例
えば第6図で5ector N+3>は擬似セクタマー
ク信号りのみが発生し、この信号りのタイミングで第3
のD−FF26をセットし、第1カウンタ5のカウント
動作を開始させる。この場合でも擬似セクタマーク信号
りの発生のタイミングは、セクタマーク検出信号aが本
来発生ずるタイミングを計測することで決定しているの
で、正確な時刻に合成セクタマーク信号Cを生成する。
えば第6図で5ector N+3>は擬似セクタマー
ク信号りのみが発生し、この信号りのタイミングで第3
のD−FF26をセットし、第1カウンタ5のカウント
動作を開始させる。この場合でも擬似セクタマーク信号
りの発生のタイミングは、セクタマーク検出信号aが本
来発生ずるタイミングを計測することで決定しているの
で、正確な時刻に合成セクタマーク信号Cを生成する。
次に、第3図に示すラッチ信号発生回路11の構成を第
9図のタイミングパルストを参照して以下に説明する。
9図のタイミングパルストを参照して以下に説明する。
第1ラツチ12の出力eが“H11レベルにある時(第
2及び第3カウンタ13.14のリセットが解除され、
走行中である時)、セクタマーク検出回路2がセクタマ
ーク検出信号aである“H11のパルス信号を出力する
と、この信号は上記出力eと共にアンド回路31を通し
てD−FF32のり[1ツク入力端に印加され、このD
−FF32はD入力の“HIIをラッチしてQ出力jを
H11にする。(第9図の例えば時刻t1ぐのa、e、
j参照)。このD−FF32はセクタマークが検出され
たことを記憶しておくためのものにある。
2及び第3カウンタ13.14のリセットが解除され、
走行中である時)、セクタマーク検出回路2がセクタマ
ーク検出信号aである“H11のパルス信号を出力する
と、この信号は上記出力eと共にアンド回路31を通し
てD−FF32のり[1ツク入力端に印加され、このD
−FF32はD入力の“HIIをラッチしてQ出力jを
H11にする。(第9図の例えば時刻t1ぐのa、e、
j参照)。このD−FF32はセクタマークが検出され
たことを記憶しておくためのものにある。
上記出力jの信号は次段のD−FF33のD入力端に印
加され、クロック端にアドレスマーク検出信号2が印加
されると、jの信号状態がラッチされる。又、リセット
端子にはロード信号g2が印加され、このロード信号Q
2のタイミングでDFF32と共にリセットされる。つ
まり、このD−・FF33は、セクタマークが検出され
、さらにアドレスマークも検出された場合(そのセクタ
マークが採用と決まった時)のみ、その出力にはII
HIIとなる。(第9図の例えば時刻t2で示す。) 上記D−FF33の出力には、次段のD−F F34の
D入力端に印加され、ロード信号02に先行して発生す
る面セクタマーク採用可否判定クロックg1がクロック
入力端に印加されると、出力にの状態をラッチし、Q出
力端から出力1を出す。
加され、クロック端にアドレスマーク検出信号2が印加
されると、jの信号状態がラッチされる。又、リセット
端子にはロード信号g2が印加され、このロード信号Q
2のタイミングでDFF32と共にリセットされる。つ
まり、このD−・FF33は、セクタマークが検出され
、さらにアドレスマークも検出された場合(そのセクタ
マークが採用と決まった時)のみ、その出力にはII
HIIとなる。(第9図の例えば時刻t2で示す。) 上記D−FF33の出力には、次段のD−F F34の
D入力端に印加され、ロード信号02に先行して発生す
る面セクタマーク採用可否判定クロックg1がクロック
入力端に印加されると、出力にの状態をラッチし、Q出
力端から出力1を出す。
(第9図の時刻t3参照)この直後にロード信号g2に
よりD−FF32.33がリセットされる(第9図の例
えば時刻t4参照)ことから、前セクタマークの採用、
不採用をラッチして、13りのが、このD−FF34の
役割である。
よりD−FF32.33がリセットされる(第9図の例
えば時刻t4参照)ことから、前セクタマークの採用、
不採用をラッチして、13りのが、このD−FF34の
役割である。
上記D−FF34の出力1と第1アンド回路31の出力
を第2アンド回路35を通すことにより、セクタマーク
間隔測定クロック「1が生成され(第9図の時刻t5参
照)、次段のD−FF36のクロック入力端に印加され
、D入力の’ l−1”をラッチさせる。
を第2アンド回路35を通すことにより、セクタマーク
間隔測定クロック「1が生成され(第9図の時刻t5参
照)、次段のD−FF36のクロック入力端に印加され
、D入力の’ l−1”をラッチさせる。
つまり、上記D−FF34がセットされた状態で、セク
タマークが検出され、第1アンド回路31の出力がH1
1になると、第2アンド回路35を通すことにより、セ
クタマーク間隔測定クロックf1が出力され、このクロ
ックf1が出力された状態は次段のD−FF36でラッ
チされ、Q出力端から出力mを出す。尚、このタイミン
グでD−FF32もセットされることは言うまでもない
。
タマークが検出され、第1アンド回路31の出力がH1
1になると、第2アンド回路35を通すことにより、セ
クタマーク間隔測定クロックf1が出力され、このクロ
ックf1が出力された状態は次段のD−FF36でラッ
チされ、Q出力端から出力mを出す。尚、このタイミン
グでD−FF32もセットされることは言うまでもない
。
上記D−FF36の出力mはアドレスマーク検出信号2
でD入力の“H゛′をラッチするD−FF38のQ出力
口と共に第3アンド回路39に入力される。
でD入力の“H゛′をラッチするD−FF38のQ出力
口と共に第3アンド回路39に入力される。
従って、D−FF36がセットされた状態で、アドレス
マーク検出信号Zが出力されてD −F F1aをセッ
トし、そのQ出力口が出力されると、アンド回路39を
通してセクタマーク間隔ラッチ信号f2が出力される(
第9図の時刻t6参照)。
マーク検出信号Zが出力されてD −F F1aをセッ
トし、そのQ出力口が出力されると、アンド回路39を
通してセクタマーク間隔ラッチ信号f2が出力される(
第9図の時刻t6参照)。
つまり、このラッチ信号f2で先程測定した値をラッチ
することになる。
することになる。
尚、D−FF38もD−FF32.33と共にロード信
号g2でリセットされる。
号g2でリセットされる。
尚、上記D−FF36のリセット端子にもロード信号g
2が印加されるので、測定クロック「1が出力されても
直後にアドレスマークを検出しなければD−FF38の
Q出力口がI L IIとなる為、セクタマーク間隔ラ
ッチ信号f2は出力されないく第9図の例えば時刻t7
の場合)。
2が印加されるので、測定クロック「1が出力されても
直後にアドレスマークを検出しなければD−FF38の
Q出力口がI L IIとなる為、セクタマーク間隔ラ
ッチ信号f2は出力されないく第9図の例えば時刻t7
の場合)。
尚、この実施例ではアドレスマークが3箇所設けである
場合であり、その内の少くとも1つを検出Jるとアドレ
スマーク検出信号Zを出力する。
場合であり、その内の少くとも1つを検出Jるとアドレ
スマーク検出信号Zを出力する。
第4図は第1ラツチ及びロード信号発生回路16の構成
を示す。
を示す。
第1ラツプ12はD−FF12aで構成され、データ入
力端りに印加される“HI+レベルの電圧をクロック入
力端に印加される第2デコーダ7の出力dでラッチし、
ラッチ出力eをD −F F 41のデータ人力G1f
t Dに印加している。また、このラッチ出力eは、上
記D−FF41の互出力ど共にアンド回路42を通して
前はフタマーク採用可否判定クロックg1を生成づる。
力端りに印加される“HI+レベルの電圧をクロック入
力端に印加される第2デコーダ7の出力dでラッチし、
ラッチ出力eをD −F F 41のデータ人力G1f
t Dに印加している。また、このラッチ出力eは、上
記D−FF41の互出力ど共にアンド回路42を通して
前はフタマーク採用可否判定クロックg1を生成づる。
このD−FF41のQ出力は次段のD−FF43のデー
タ入力’IQ Dに印加されると共に、D−FF43の
Q出力と共にナンド回路44を通してロード信号g2が
生成される。
タ入力’IQ Dに印加されると共に、D−FF43の
Q出力と共にナンド回路44を通してロード信号g2が
生成される。
又、第2カウンタ13のキャリイパルスはD−FF45
のデータ入力端りに印加され、2Fり1コツクにより出
力Oat Qからオア回路46に出力される。このオア
回路46には電源Aン時に発生するリセット信QR3T
も入力され、このオア回路46の出力はD−FFI 2
a、41.43のリセット端子に印加される。
のデータ入力端りに印加され、2Fり1コツクにより出
力Oat Qからオア回路46に出力される。このオア
回路46には電源Aン時に発生するリセット信QR3T
も入力され、このオア回路46の出力はD−FFI 2
a、41.43のリセット端子に印加される。
上記D−FF41,43.ナンド回路44の構成は第3
図に示すラッチ信号発生回路11の構成ど殆んど同一で
ある。
図に示すラッチ信号発生回路11の構成ど殆んど同一で
ある。
従って、第1ラツチ12のラッチ出力eを入力として、
データエリアの終端部付近でセクタ毎に発生する〔J−
ド信号Q2を出力する。
データエリアの終端部付近でセクタ毎に発生する〔J−
ド信号Q2を出力する。
上記ロード信号g2が第3カウンタ14のロード端子に
印加されることにより、セクタマーク間隔予測回路15
にラッチされたセクタマーク間隔に依存乃るデータをロ
ードし、データエリアの終端イ1近からカウントを開始
し、次のセクタマーク検出信号aの位置にて擬似セクタ
マーク信号りをリセットパルス発生回路4に出力するよ
うにしである。
印加されることにより、セクタマーク間隔予測回路15
にラッチされたセクタマーク間隔に依存乃るデータをロ
ードし、データエリアの終端イ1近からカウントを開始
し、次のセクタマーク検出信号aの位置にて擬似セクタ
マーク信号りをリセットパルス発生回路4に出力するよ
うにしである。
次にセクタマーク間隔予測回路15の構成を第5図に示
す。
す。
ラッチ信号発生回路11から出力されるセクタマーク間
隔測定クロックf1が初段のジノ1〜レジスタ51のク
ロック入力端に印加され、このラッチ信号発生回路11
から出力されるラッチ信号f2が第2段以降のシフトレ
ジスタ51a、51b。
隔測定クロックf1が初段のジノ1〜レジスタ51のク
ロック入力端に印加され、このラッチ信号発生回路11
から出力されるラッチ信号f2が第2段以降のシフトレ
ジスタ51a、51b。
・・・、51mのクロック入力端に印加されることによ
り、有効なセクタマーク間隔データのみが測定データラ
ッチ用シフ1−レジスタ51a、51b。
り、有効なセクタマーク間隔データのみが測定データラ
ッチ用シフ1−レジスタ51a、51b。
・・・、51mに取込まれ、過去n個(51a、・・・
51mの個数がn個)まで順次25積される。
51mの個数がn個)まで順次25積される。
上記シフトレジスタ51a、・・・、51mで蓄積され
たデータは加算器52で加暮され、この加C)されたデ
ータはさらに割算器53を通ずことによりnで割り算さ
れ(端数は切り捨て又(よ四捨五入等され)で1/nの
データ値、つまり平均値にされる。尚、このシフトレジ
スタ数nを2の階乗の数に選ぶと、1/[)にする回路
は下位ピットを切り捨てることで代用できる。
たデータは加算器52で加暮され、この加C)されたデ
ータはさらに割算器53を通ずことによりnで割り算さ
れ(端数は切り捨て又(よ四捨五入等され)で1/nの
データ値、つまり平均値にされる。尚、このシフトレジ
スタ数nを2の階乗の数に選ぶと、1/[)にする回路
は下位ピットを切り捨てることで代用できる。
このようにして求めた平均値は、予測値レジスタ54に
入ツノされラッチ信号f2をデイレイ55で遅延させた
り[1ツクによって、誤予測値レジスタ54に取込まれ
、第3カウンタ14へのロードデータとして供給される
。
入ツノされラッチ信号f2をデイレイ55で遅延させた
り[1ツクによって、誤予測値レジスタ54に取込まれ
、第3カウンタ14へのロードデータとして供給される
。
上記セクタマーク間隔予測回路15によって、セクタマ
ーク間隔を正確に測定覆ることができる。
ーク間隔を正確に測定覆ることができる。
この1実施例では、セクタマーク検出回路2により、セ
クタマークエリアに記録されたセクタマークパターンを
検出してセクタマーク検出信号aを出力すると共に、擬
似セクタマーク発生回路3により、前記セクタマーク検
出信号aが検出されると予測されるタイミングにて擬似
セクタマーク信号りを発生させ、これらセクタマーク検
出(M号a及び擬似セクタマーク信号りに基づいて、セ
クタマーク検出信号aを優先する合成しフタマーク信号
Cを生成Jるようにしているので、この合成セクタマー
ク化@Cを用いることにより信頼性の高いランダムアク
セス等の制御、ライト/リードの制御を行うことができ
る。なお、第6図において、電源オンによりセクタマー
ク間隔予測回路15にはデフォルト値が記憶され、最初
の2つの擬似セクタマーク信号りはこの値で出力される
。
クタマークエリアに記録されたセクタマークパターンを
検出してセクタマーク検出信号aを出力すると共に、擬
似セクタマーク発生回路3により、前記セクタマーク検
出信号aが検出されると予測されるタイミングにて擬似
セクタマーク信号りを発生させ、これらセクタマーク検
出(M号a及び擬似セクタマーク信号りに基づいて、セ
クタマーク検出信号aを優先する合成しフタマーク信号
Cを生成Jるようにしているので、この合成セクタマー
ク化@Cを用いることにより信頼性の高いランダムアク
セス等の制御、ライト/リードの制御を行うことができ
る。なお、第6図において、電源オンによりセクタマー
ク間隔予測回路15にはデフォルト値が記憶され、最初
の2つの擬似セクタマーク信号りはこの値で出力される
。
尚、上記実施例ではセクタマーク検出化j3 aと擬似
セクタマーク信号りとをしフタマーク検出信号aを優先
させて合成セクタマーク信号Cを生成しているが、後述
する第3実施例で示すように誤検出の可能性が高い場合
には、内部的には擬似セクタのマークを採用するような
方法もある。
セクタマーク信号りとをしフタマーク検出信号aを優先
させて合成セクタマーク信号Cを生成しているが、後述
する第3実施例で示すように誤検出の可能性が高い場合
には、内部的には擬似セクタのマークを採用するような
方法もある。
第10図は本発明の第2実施例におけるセクタマーク間
隔予測回路60の構成を示す。この回路60は、第1図
におけるセクタマーク間隔予測回路15として用いるこ
とができるものである。
隔予測回路60の構成を示す。この回路60は、第1図
におけるセクタマーク間隔予測回路15として用いるこ
とができるものである。
第2カウンタ13より出力されるセクタマーク間隔を表
わすカウントデータは測定データラップ用レジスタ61
に入力され、ラッチ信号発生回路11から出力されるセ
クタマーク間隔測定用クロックf1によりラッチされる
。このラッチされたデータは減募器62に入力され、ラ
ッチ信号f2をクロックとする予測値レジスタ63でラ
ッチざれたデータ値が減算される。この減律されたデー
タ値は割節器64に入力され、1/xにされたデータ値
にされる。尚、この1/xにした場合の端数は切り捨て
又は四捨五入される。この割咋器64の出力は加算器6
5に入力され、予測値レジスタ63でラッチされたデー
タ値と加算され、この加算されたデータは予測(「ルジ
スタ63へのデータどして与えられる。従って、セクタ
マーク間隔ラッチクロックf2が印加されると、加Q器
65の出力データ値が新たな予測値どしてこの予測値レ
ジスタ63に記憶される。
わすカウントデータは測定データラップ用レジスタ61
に入力され、ラッチ信号発生回路11から出力されるセ
クタマーク間隔測定用クロックf1によりラッチされる
。このラッチされたデータは減募器62に入力され、ラ
ッチ信号f2をクロックとする予測値レジスタ63でラ
ッチざれたデータ値が減算される。この減律されたデー
タ値は割節器64に入力され、1/xにされたデータ値
にされる。尚、この1/xにした場合の端数は切り捨て
又は四捨五入される。この割咋器64の出力は加算器6
5に入力され、予測値レジスタ63でラッチされたデー
タ値と加算され、この加算されたデータは予測(「ルジ
スタ63へのデータどして与えられる。従って、セクタ
マーク間隔ラッチクロックf2が印加されると、加Q器
65の出力データ値が新たな予測値どしてこの予測値レ
ジスタ63に記憶される。
このセクタマーク間隔予測回路60は割算器64の割算
数χ(乗算器とした場合に(ま1/X)を適度な値に調
整(設定)することにより、非常に安定した動作が可能
になる。
数χ(乗算器とした場合に(ま1/X)を適度な値に調
整(設定)することにより、非常に安定した動作が可能
になる。
尚、−り記Xを2の階乗に選ぶと、下位ビットの切捨て
で演む。Xは、プラス、マイナスの変動分程度に選ぶの
が最も良い。
で演む。Xは、プラス、マイナスの変動分程度に選ぶの
が最も良い。
この第2実施例によれば第1実施例にお番プるセクタマ
ーク間隔予測回路15に比べて回路規模を小さくできて
同様の作用を行わUることが可能になる。
ーク間隔予測回路15に比べて回路規模を小さくできて
同様の作用を行わUることが可能になる。
次に本発明の第3実施例について説明する。
第11図は本発明の第3実施例における擬似セクタマー
ク採用回路71を示す。
ク採用回路71を示す。
この擬似セクタマーク採用回路71は、セクタマーク検
出信号a h<誤りのせフタマークであると判断した場
合、内部的には擬似セクタマークを採用し直すための回
路であり、第1図に示?I第1実施例において、第1カ
ウンタ5と第2デー」−夕7の間に挿入される。
出信号a h<誤りのせフタマークであると判断した場
合、内部的には擬似セクタマークを採用し直すための回
路であり、第1図に示?I第1実施例において、第1カ
ウンタ5と第2デー」−夕7の間に挿入される。
第11図において、第1カウンタ5の出力は2の補数回
路72及びセレクタ73(アンド回路73a、73b及
びオア回路73Gで構成される)を介してラップ74に
入力される。
路72及びセレクタ73(アンド回路73a、73b及
びオア回路73Gで構成される)を介してラップ74に
入力される。
一方、セクタマーク検出信号a及びラッチ出力eはアン
ド回路75に入力され、この出力はセレクタ73を構成
するアンド回路73bに入力され、このアンド回路75
の出ツノがH″の時に間さ、2の補数回路72の出力を
ラッチ74に出力する。
ド回路75に入力され、この出力はセレクタ73を構成
するアンド回路73bに入力され、このアンド回路75
の出ツノがH″の時に間さ、2の補数回路72の出力を
ラッチ74に出力する。
又、このアンド回路75の出力は、擬似セクタマーク信
号りと共にAア回路76に入力され、このオア回路76
の出力はデイレイ回路77を経てラッチ74のり[1ツ
ク入力端に印加される。
号りと共にAア回路76に入力され、このオア回路76
の出力はデイレイ回路77を経てラッチ74のり[1ツ
ク入力端に印加される。
従って、擬似セクタマーク信号りにJ:り第1カウンタ
5がカウント動作をスタートし、その後セクタマーク検
出信号aによりセクタマークが検出された場合、アンド
回路75の出力が゛Fビ°となり、セレクタ73は第1
ノノウンタ5のカウント(直に対し、その2の補数とな
る値をラッチ74に出力づる。また、このアンド回路7
5の出力はAア回路76、デイレイ回路77を経てラッ
チ74のクロックとして印加され、この結果擬似セクタ
マークからセクタマークが検出されるまぐの間隔に相当
するカウント値を2の補数にした値が、ラッチ74に記
憶される。
5がカウント動作をスタートし、その後セクタマーク検
出信号aによりセクタマークが検出された場合、アンド
回路75の出力が゛Fビ°となり、セレクタ73は第1
ノノウンタ5のカウント(直に対し、その2の補数とな
る値をラッチ74に出力づる。また、このアンド回路7
5の出力はAア回路76、デイレイ回路77を経てラッ
チ74のクロックとして印加され、この結果擬似セクタ
マークからセクタマークが検出されるまぐの間隔に相当
するカウント値を2の補数にした値が、ラッチ74に記
憶される。
上記第1万ウンタ5の出力は、ラッチ74をアンド回路
78を通した出力と共に加算器79に入力され、加算さ
れた後第2デコーダ7に入力される。
78を通した出力と共に加算器79に入力され、加算さ
れた後第2デコーダ7に入力される。
上記第2デコーダ7の出力dは、D−FF80のリセッ
ト端子に印加され、この出力dがii L ++の場合
このD−F F 80をリセット状態にする。
ト端子に印加され、この出力dがii L ++の場合
このD−F F 80をリセット状態にする。
このD−FF80は、ラッチ信号発生回路11のD−F
F33 (第3図参照)の出力k(セクタマークが検出
され、さらにアドレスマークも検出された場合II H
11となる。)がクロックとして印加され、このクロッ
クによりD入力の’ l−1”をラッチする。このD−
FF80の反転出力蔓は、ラッチ74の出力が入力され
るアンド回路78のゲート信号となる。
F33 (第3図参照)の出力k(セクタマークが検出
され、さらにアドレスマークも検出された場合II H
11となる。)がクロックとして印加され、このクロッ
クによりD入力の’ l−1”をラッチする。このD−
FF80の反転出力蔓は、ラッチ74の出力が入力され
るアンド回路78のゲート信号となる。
従って、上記ラッチ74に記憶された値は、上記出力k
が出力されない場合にのみアンド回路78を開いて加算
器79に入力され、第1カウンタ5の出力と加算される
。一方、セクタマークが検出されてもアドレスマークが
検出されないと、加算器79には第1カウンタ5のカウ
ンタ値のみがパノjされ、この場合には第2デコーダ7
への入力は第1カウンタのカウント(直そのものとなる
。
が出力されない場合にのみアンド回路78を開いて加算
器79に入力され、第1カウンタ5の出力と加算される
。一方、セクタマークが検出されてもアドレスマークが
検出されないと、加算器79には第1カウンタ5のカウ
ンタ値のみがパノjされ、この場合には第2デコーダ7
への入力は第1カウンタのカウント(直そのものとなる
。
尚、セレクタ73のアンド回路73a、73b、アンド
回路78はラッチ74のビット数分まとめて記述してい
る。
回路78はラッチ74のビット数分まとめて記述してい
る。
この擬似セクタマーク採用回路71の動作を第12図を
参照して以下に説明する。
参照して以下に説明する。
第12図(A) (B)に示すように擬似セクタマーク
により、第1カウンタ5がスタートし、その(艷セクタ
マークが検出された場合には、擬似セクタマークの発生
からセクタマークの検出まCの時間間隔に相当するカウ
ント値の2の補数にした伯すがラッチ74に記憶される
。この記憶はアンド回路75の出力をオア回路76、デ
イレイ回路77を通してクロック入力端に印加して行わ
れる。又、上記セクタマークにJ:り第1カウンタ5は
再スタートする。
により、第1カウンタ5がスタートし、その(艷セクタ
マークが検出された場合には、擬似セクタマークの発生
からセクタマークの検出まCの時間間隔に相当するカウ
ント値の2の補数にした伯すがラッチ74に記憶される
。この記憶はアンド回路75の出力をオア回路76、デ
イレイ回路77を通してクロック入力端に印加して行わ
れる。又、上記セクタマークにJ:り第1カウンタ5は
再スタートする。
一方、第2デコーダ7への入力は、第1カウンタ5のカ
ウント値にラッチ74が記憶している(「1を加えたも
のであり、第12図(八)で示したabの値である。こ
こでaは本来の乗り換え位置を示ず。
ウント値にラッチ74が記憶している(「1を加えたも
のであり、第12図(八)で示したabの値である。こ
こでaは本来の乗り換え位置を示ず。
しかして、このままアドレスマークが検出されずに進む
と、検出されたセクタマークは誤りとして、擬似セクタ
マークを採用し直し、a−bが第2デコーダ7の値とな
った時、出力dを出寸。
と、検出されたセクタマークは誤りとして、擬似セクタ
マークを採用し直し、a−bが第2デコーダ7の値とな
った時、出力dを出寸。
一方、上記アドレスマークが検出されると出力kがD−
FF80にクロックして印加され、反転出力口はL I
+となるため、アンド回路78の出力はパφ″となるの
で、第2デ」−ダ7への入力は第1カウンタ5のカウン
ト値そのものとなり、第12図(B)に示ずにうにアド
レスマークを採用した本来の乗り換え位置aで第2デコ
ーダ7は出力dを出す。
FF80にクロックして印加され、反転出力口はL I
+となるため、アンド回路78の出力はパφ″となるの
で、第2デ」−ダ7への入力は第1カウンタ5のカウン
ト値そのものとなり、第12図(B)に示ずにうにアド
レスマークを採用した本来の乗り換え位置aで第2デコ
ーダ7は出力dを出す。
上記第12図(八) (B)とは異り、セクタマークが
先に検出された後、凝・似セクタマークが検出された場
合には、セクタマークの検出から擬似セクタマークの発
生までの間隔に相当するカラン1〜値がラッチ74に記
憶される。この値を第12図(C)(D)ではCで示し
でいる。
先に検出された後、凝・似セクタマークが検出された場
合には、セクタマークの検出から擬似セクタマークの発
生までの間隔に相当するカラン1〜値がラッチ74に記
憶される。この値を第12図(C)(D)ではCで示し
でいる。
この時、第2デコーダ7への入力は、第12図(C)に
示1’ a + cになる。
示1’ a + cになる。
しかして、アドレスマークが検出されないと擬似セクタ
マークが採用され、a+Cが第2デコーダ7の値となっ
た時に出力dを出す。
マークが採用され、a+Cが第2デコーダ7の値となっ
た時に出力dを出す。
一方、アドレスマークが検出されると、アンド回路75
の出力はφとなり、アドレスマークの検出によりスター
1〜した第1カウンタ5のカラン1〜値が第2デ:1−
ダ7にそのまま入力され、第2デコーダ7の値となった
時に出力dを出す。
の出力はφとなり、アドレスマークの検出によりスター
1〜した第1カウンタ5のカラン1〜値が第2デ:1−
ダ7にそのまま入力され、第2デコーダ7の値となった
時に出力dを出す。
上記第1実施例ぐは検出されたセクタマークが誤検出か
否かを判断し、誤検出の場合での処理を特に行っていな
いが、この第3実施例では擬似セクタマークを採用する
ことにより、誤りの少ないセクタマーク検出動作(合成
セクタマーク信号の生成)を行うことができる。従って
、信頼性の高い記録/再生の制御動作を行うことができ
る。
否かを判断し、誤検出の場合での処理を特に行っていな
いが、この第3実施例では擬似セクタマークを採用する
ことにより、誤りの少ないセクタマーク検出動作(合成
セクタマーク信号の生成)を行うことができる。従って
、信頼性の高い記録/再生の制御動作を行うことができ
る。
例えば、光ディスクに欠陥が多い場合にも、シーク中で
正常な信号が得られない時にも、常に安定した補間を行
うことができ、各秤ゲート信号、コント臼−ル信号も安
定して出力しつづ()るにうにすることが可能になる。
正常な信号が得られない時にも、常に安定した補間を行
うことができ、各秤ゲート信号、コント臼−ル信号も安
定して出力しつづ()るにうにすることが可能になる。
「発明の効果」
以上述べたように本発明によれば、セクタマークの間隔
予測手段を設けて検出されたセクタマークが誤検出であ
るか否かの判断手段を設けであるので、この判断手段の
出力により適切な処理をさせることができる。
予測手段を設けて検出されたセクタマークが誤検出であ
るか否かの判断手段を設けであるので、この判断手段の
出力により適切な処理をさせることができる。
第1図ないし第9図は本発明の1実施例に係り、第1図
は1実施例のセクタマーク検出装置の構成を示すブロッ
ク図、第2図は第1図中のリセットパルス発生回路の具
体的構成を示す回路図、第3図は第1図中のラッチ信号
発生回路の具体的構成を示す回路図、第4図は第1図中
のロード信号発生回路の具体的構成を示す回路図、第5
図は第1図中のセクタマーク間隔予測回路の具体的構成
を示す回路図、第6図は第1実施例の各部の動作説明用
タイミングヂャート図、第7図は第1.第2゜第3のカ
ウンタの計数動作領域を示J説明図、第8図はセクタマ
ーク検出信号と異るタイミングで擬似セクタマーク信号
を発生した場合におけるリセットパルスが発生されるタ
イミングを示すタイミングヂャート図、第9図は第3図
の動作を説明するだめのタイミングチp−ト図、第10
図は本発明の第2実施例にお【〕る廿クりマーク間隔予
測回路の構成を示Jブロック図、第11図は本発明の第
3実施例における擬似セクタマーク採用回路の構成を承
りブ[]ツク図、第12図は第3実施例の動作説明図で
ある。 1・・・セクタマーク検出装置 2・・・セクタマーク検出回路 3・・・擬似セクタマーク信号発生回路4・・・リレッ
トパルス発生回路 5・・・第1カウンタ 6,7・・・デコーダ8・
・・アドレスマーク検出回路 11・・・ラッチ信号発生回路 13・・・第2カウンタ 14・・・第3カウンタ1
5・・・セクタマーク間隔予測回路 代理人 弁理上 伊 藤 適 業7図 第8図
は1実施例のセクタマーク検出装置の構成を示すブロッ
ク図、第2図は第1図中のリセットパルス発生回路の具
体的構成を示す回路図、第3図は第1図中のラッチ信号
発生回路の具体的構成を示す回路図、第4図は第1図中
のロード信号発生回路の具体的構成を示す回路図、第5
図は第1図中のセクタマーク間隔予測回路の具体的構成
を示す回路図、第6図は第1実施例の各部の動作説明用
タイミングヂャート図、第7図は第1.第2゜第3のカ
ウンタの計数動作領域を示J説明図、第8図はセクタマ
ーク検出信号と異るタイミングで擬似セクタマーク信号
を発生した場合におけるリセットパルスが発生されるタ
イミングを示すタイミングヂャート図、第9図は第3図
の動作を説明するだめのタイミングチp−ト図、第10
図は本発明の第2実施例にお【〕る廿クりマーク間隔予
測回路の構成を示Jブロック図、第11図は本発明の第
3実施例における擬似セクタマーク採用回路の構成を承
りブ[]ツク図、第12図は第3実施例の動作説明図で
ある。 1・・・セクタマーク検出装置 2・・・セクタマーク検出回路 3・・・擬似セクタマーク信号発生回路4・・・リレッ
トパルス発生回路 5・・・第1カウンタ 6,7・・・デコーダ8・
・・アドレスマーク検出回路 11・・・ラッチ信号発生回路 13・・・第2カウンタ 14・・・第3カウンタ1
5・・・セクタマーク間隔予測回路 代理人 弁理上 伊 藤 適 業7図 第8図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、光ディスク上の各セクタの先頭に記録されたセクタ
マークエリアから検出されたセクタマーク信号の間隔を
計測する手段と、 この計測する手段の計測出力に基づいてセクタ毎に擬似
セクタマーク信号を発生する手段と、上記セクタマーク
信号が誤検出であるか否かの判断手段と、 を備えたことを特徴とする光ディスク装置のセクタマー
ク検出装置。 2、光ディスク上の各セクタの先頭に記録されたセクタ
マークエリアから検出されたセクタマーク信号の間隔を
計測する手段と、 この計測する手段の計測出力を平均化する手段と、この
平均化する手段の出力に基づいてセクタ毎に擬似セクタ
マーク信号を発生する手段と、を備えたことを特徴とす
る光ディスク装置のセクタマーク検出装置。 3、光ディスク上の各セクタの先頭に記録されたセクタ
マークエリアから検出されたセクタマーク信号の間隔を
計測する手段と、 この計測する手段の計測出力に基づいてセクタ毎に擬似
セクタマーク信号を発生する手段と、上記セクタマーク
信号が誤検出であるか否かの判断手段と、 上記判断手段が誤検出であると判断した場合には、誤検
出であると判断されたセクタマーク信号よりも擬似セク
タマーク信号を優先させる処理手段と、 を備えたことを特徴とする光ディスク装置のセクタマー
ク検出装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25325888A JPH02101680A (ja) | 1988-10-07 | 1988-10-07 | 光ディスク装置のセクタマーク検出装置 |
| US07/343,654 US5083303A (en) | 1988-04-28 | 1989-04-27 | Sector mark detecting apparatus in optical disc apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25325888A JPH02101680A (ja) | 1988-10-07 | 1988-10-07 | 光ディスク装置のセクタマーク検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02101680A true JPH02101680A (ja) | 1990-04-13 |
Family
ID=17248773
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25325888A Pending JPH02101680A (ja) | 1988-04-28 | 1988-10-07 | 光ディスク装置のセクタマーク検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02101680A (ja) |
-
1988
- 1988-10-07 JP JP25325888A patent/JPH02101680A/ja active Pending
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