JPH02105356A - 光磁気ディスク装置 - Google Patents
光磁気ディスク装置Info
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- JPH02105356A JPH02105356A JP25823288A JP25823288A JPH02105356A JP H02105356 A JPH02105356 A JP H02105356A JP 25823288 A JP25823288 A JP 25823288A JP 25823288 A JP25823288 A JP 25823288A JP H02105356 A JPH02105356 A JP H02105356A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、磁気カー効果やファラデー効果等の磁気光学
効果を利用して情報の記録、再生を行う光磁気ディスク
装置、特にフォーカスエラー信号、トラックエラー信号
及び光磁気信号の検出方式に関するものである。
効果を利用して情報の記録、再生を行う光磁気ディスク
装置、特にフォーカスエラー信号、トラックエラー信号
及び光磁気信号の検出方式に関するものである。
(従来の技術)
一般に、光磁気ディスク装置においては、情報の記録、
再生を行うに当り、レーザ等の光源からの光ビームを光
ヘッドの光学系によって光磁気ディスク上に、例えば1
μm程度の径の微小スポットで常に照射できるようにす
る必要がある。この際、光磁気ディスクは回転に伴なっ
て、回転方向に垂直な方向、即ちディスク面に直交する
方向(フォーカス方向)の面振れ、あるいは半径方向く
ラジアル方向)の偏心が生ずる。そのため、これと、2
つのずれ量を補正するなめに、面振れの動きに対して光
スポットを追従させる焦点制御(フォーカスサーボとも
いう)と、偏心の動きに対して光スポットを追従させる
トラッキング制御(トラックサーボともいう)とを行っ
ている。
再生を行うに当り、レーザ等の光源からの光ビームを光
ヘッドの光学系によって光磁気ディスク上に、例えば1
μm程度の径の微小スポットで常に照射できるようにす
る必要がある。この際、光磁気ディスクは回転に伴なっ
て、回転方向に垂直な方向、即ちディスク面に直交する
方向(フォーカス方向)の面振れ、あるいは半径方向く
ラジアル方向)の偏心が生ずる。そのため、これと、2
つのずれ量を補正するなめに、面振れの動きに対して光
スポットを追従させる焦点制御(フォーカスサーボとも
いう)と、偏心の動きに対して光スポットを追従させる
トラッキング制御(トラックサーボともいう)とを行っ
ている。
従来、この種の光磁気ディスク装置としては、■特開昭
59−168951号公報、及び■寺田和男著「光ピツ
クアップシステム設計の要点」、[6] (昭59−1
o−31)日本工業技術センター、P、1.51−17
3に記載されるものがあった。以下、その構成を図を用
いて説明する。
59−168951号公報、及び■寺田和男著「光ピツ
クアップシステム設計の要点」、[6] (昭59−1
o−31)日本工業技術センター、P、1.51−17
3に記載されるものがあった。以下、その構成を図を用
いて説明する。
第2図は前記文献■に記載された従来の光磁気ディスク
装置の一構成例を示す図である。
装置の一構成例を示す図である。
この光磁気ディスク装置では、記録光学系及び再生光学
系を備え、そのうち記録光学系が図面上省略されて再生
光学系のみが図示されている。記録層である垂直磁化膜
を有する光磁気ディスク1−では、図示したい記録光学
系を用いて垂直磁化膜の磁化方向を反転させることによ
り、情報を記録している。情報の再生は、再生光学系を
用いて、直線偏光を垂直磁化膜上に照射し、その透過光
あるいは反射光が磁化方向により、左右いずれかに回転
するいわゆるファラデー効果あるいは磁気カー効果を利
用して光磁気信号を読出すようにしている。
系を備え、そのうち記録光学系が図面上省略されて再生
光学系のみが図示されている。記録層である垂直磁化膜
を有する光磁気ディスク1−では、図示したい記録光学
系を用いて垂直磁化膜の磁化方向を反転させることによ
り、情報を記録している。情報の再生は、再生光学系を
用いて、直線偏光を垂直磁化膜上に照射し、その透過光
あるいは反射光が磁化方向により、左右いずれかに回転
するいわゆるファラデー効果あるいは磁気カー効果を利
用して光磁気信号を読出すようにしている。
即ち、再生光学系において、半導体レーザ2から出射さ
れた光は、レンズ3により平行ビームとされ、回折格子
4により3本のビームに分割された後、ハーフミラ−5
により光磁気ディスク1側に反射され、対物レンズ6に
より光磁気ディスク1上に集光される。光磁気ディスク
1かへの反射光は、その光磁気ディスク1における垂直
磁化膜の磁化方向に応じて偏光面が±Δθだけ回転する
。
れた光は、レンズ3により平行ビームとされ、回折格子
4により3本のビームに分割された後、ハーフミラ−5
により光磁気ディスク1側に反射され、対物レンズ6に
より光磁気ディスク1上に集光される。光磁気ディスク
1かへの反射光は、その光磁気ディスク1における垂直
磁化膜の磁化方向に応じて偏光面が±Δθだけ回転する
。
この反射光は、再び対物レンズ6及びハーフミラ−5を
通り、旋光子7で所定角度θだけ偏光面が回転した後、
中間レンズ8を通して偏光ビームスプリッタ9により、
入射面に平行なP偏光成分の光と、入射面に垂直なS偏
光成分の光とに分離される。P偏光成分の光は、前記文
献■に構造が詳しく記載されているようにシリンドリカ
ルレンズ(円柱レンズ)10を介して、光/電変換用の
3つの光検出素子1.1a、llb、llcからなる光
検出器]]に入射され、さらにS偏光成分の光が、光/
電変換用の光検出器12に入射される。
通り、旋光子7で所定角度θだけ偏光面が回転した後、
中間レンズ8を通して偏光ビームスプリッタ9により、
入射面に平行なP偏光成分の光と、入射面に垂直なS偏
光成分の光とに分離される。P偏光成分の光は、前記文
献■に構造が詳しく記載されているようにシリンドリカ
ルレンズ(円柱レンズ)10を介して、光/電変換用の
3つの光検出素子1.1a、llb、llcからなる光
検出器]]に入射され、さらにS偏光成分の光が、光/
電変換用の光検出器12に入射される。
光検出索子11bの出力は、フォーカスエラー信号Ef
として利用される。光検出素子11bの出力と光検出器
12の出力とは、差動増幅器13で差動増幅され、光磁
気信号Soとして出力される。
として利用される。光検出素子11bの出力と光検出器
12の出力とは、差動増幅器13で差動増幅され、光磁
気信号Soとして出力される。
また、2つの光検出索子11a、llcの出力は、差動
増幅器14で差動増幅され、トラックエラー信号Etと
して出力される。これらのフォーカスエラー信号Ef及
びトラックエラー信号Etは、図示したいフォーカスサ
ーボ回路及びトラックサーボ回路で処理され、フォーカ
スサーボ及びトラックサーボが行われる。
増幅器14で差動増幅され、トラックエラー信号Etと
して出力される。これらのフォーカスエラー信号Ef及
びトラックエラー信号Etは、図示したいフォーカスサ
ーボ回路及びトラックサーボ回路で処理され、フォーカ
スサーボ及びトラックサーボが行われる。
この種の光磁気ディスク装置では、サーボエラー信号検
出系と光磁気信号検出系とが一体化されているなめ、そ
の雨検出系が独立して設けられている装置に比べ、光学
系が簡単になって部品点数が少なく、低コスト化が図れ
るという利点を有している。
出系と光磁気信号検出系とが一体化されているなめ、そ
の雨検出系が独立して設けられている装置に比べ、光学
系が簡単になって部品点数が少なく、低コスト化が図れ
るという利点を有している。
(発明が解決しようとする課題)
しかしたがら、上記構成の装置では、フォーカスエラー
信号Ef及びトラックエラー信号Etを検出するために
、シリンドリカルレンズ10と、3つの光検出素子11
a、llb、llcからなる光検出器11とを用いてい
るが、シリンドリカルレンズ10は構造が複雑なために
比較的脅価であり、しかも3つの光検出索子11a。
信号Ef及びトラックエラー信号Etを検出するために
、シリンドリカルレンズ10と、3つの光検出素子11
a、llb、llcからなる光検出器11とを用いてい
るが、シリンドリカルレンズ10は構造が複雑なために
比較的脅価であり、しかも3つの光検出索子11a。
11i:+、LLcを必要とするため、その光検出素子
1 ] a、 ] 1.l)、 ]、 lcの配置
調整等が複雑である。そのなめ、光磁気ディスク装置に
おける最大課題の1つであるアクセスタイムの短縮化と
いう点から貼れば、光ヘッドの小型、軽量化という点で
技術的に充分満足できるものではなく、しがも低コスト
化という点についても満足できるものではなかった。
1 ] a、 ] 1.l)、 ]、 lcの配置
調整等が複雑である。そのなめ、光磁気ディスク装置に
おける最大課題の1つであるアクセスタイムの短縮化と
いう点から貼れば、光ヘッドの小型、軽量化という点で
技術的に充分満足できるものではなく、しがも低コスト
化という点についても満足できるものではなかった。
本発明は前記従来技術が持っていた課題として、小型、
軽量化及び低コスト化が充分満足できるものではないと
いう点について解決した光磁気ディスク装置を提供する
ものである。
軽量化及び低コスト化が充分満足できるものではないと
いう点について解決した光磁気ディスク装置を提供する
ものである。
(課題を解決するための手段)
前記課題を解決するために、請求項1の発明では、光磁
気ディスクからの反射光または透過光を収束レンズを通
してほぼ45度の偏光面で偏光ビームスプリッタに入射
し、その偏光ビームスプリンタで分離したP偏光成分と
S偏光成分の光に基づき、フォーカスエラー信号、トラ
ックエラー信号、及び光磁気信号を検出する光磁気ディ
スク装置において、前記収束レンズの焦点より光軸方向
に一定距離だけ近づけた位置に第1の光検出器を設ける
と共に、前記収束レンズの焦点より光軸方向に前記一定
距離だけ遠ざけた位置に第2の光検出器を設ける。第1
の光検出器は、前記P偏光成分の光の断面積より小さな
第1の受光面を有し、第2の光検出器は、前記第1の受
光面と等しい面積で、かつ前記S偏光成分の光の断面積
より小さな第2の受光面を有している。そして、前記第
1゜第2の光検出器の少なくとも一方を分割線を有する
2分割光検出器で構成し、その分割線を前記光磁気ディ
スクのトラック方向に対して平行に配置したものである
。なお、第1.第2の光検出器は、その両方を2分割光
検出器で構成してもよい。
気ディスクからの反射光または透過光を収束レンズを通
してほぼ45度の偏光面で偏光ビームスプリッタに入射
し、その偏光ビームスプリンタで分離したP偏光成分と
S偏光成分の光に基づき、フォーカスエラー信号、トラ
ックエラー信号、及び光磁気信号を検出する光磁気ディ
スク装置において、前記収束レンズの焦点より光軸方向
に一定距離だけ近づけた位置に第1の光検出器を設ける
と共に、前記収束レンズの焦点より光軸方向に前記一定
距離だけ遠ざけた位置に第2の光検出器を設ける。第1
の光検出器は、前記P偏光成分の光の断面積より小さな
第1の受光面を有し、第2の光検出器は、前記第1の受
光面と等しい面積で、かつ前記S偏光成分の光の断面積
より小さな第2の受光面を有している。そして、前記第
1゜第2の光検出器の少なくとも一方を分割線を有する
2分割光検出器で構成し、その分割線を前記光磁気ディ
スクのトラック方向に対して平行に配置したものである
。なお、第1.第2の光検出器は、その両方を2分割光
検出器で構成してもよい。
請求項2の発明では、前記2分割光検出器で構成された
第1または第2の光検出器の2出力差を増幅してトラッ
クエラー信号を出力する第1の差動増幅器と、前記第1
.と第2の光検出器の出力差を増幅する第2の差動増幅
器と、前記第2の差動増幅器の出力の周波数分離を行っ
てフォーカスエラー信号及び光磁気信号を出力するフィ
ルタとを設けたものである。
第1または第2の光検出器の2出力差を増幅してトラッ
クエラー信号を出力する第1の差動増幅器と、前記第1
.と第2の光検出器の出力差を増幅する第2の差動増幅
器と、前記第2の差動増幅器の出力の周波数分離を行っ
てフォーカスエラー信号及び光磁気信号を出力するフィ
ルタとを設けたものである。
(作用)
請求項]−の発明によれば、以上のように光磁気ディス
ク装置を構成したので、第1の光検出器は偏光ビームス
プリッタからのPI光成分の光を直接受光してそれを電
気信号に変換し、また第2の光検出器は偏光ビームスプ
リッタからのS偏光成分の光を直接受光してそれを電気
信号に変換する。
ク装置を構成したので、第1の光検出器は偏光ビームス
プリッタからのPI光成分の光を直接受光してそれを電
気信号に変換し、また第2の光検出器は偏光ビームスプ
リッタからのS偏光成分の光を直接受光してそれを電気
信号に変換する。
これら第1と第2の光検出器の出力差より、フォーカス
エラー信号及び光磁気信号の検出が行える。
エラー信号及び光磁気信号の検出が行える。
さらに、2分割光検出器で構成された光検出器は、その
2出力差よりトラックエラー信号の検出を可能にさせる
。これにより、部品点数の削減と、構造の簡単化が図れ
る。
2出力差よりトラックエラー信号の検出を可能にさせる
。これにより、部品点数の削減と、構造の簡単化が図れ
る。
請求項2の発明では、第1の差動増幅器がトラックエラ
ー信号を出力し、第2の差動増幅器及びフィルタがフォ
ーカスエラー信号及び光磁気信号を出力する働きをし、
信号検出回路の構成の簡易、的確化を図る。
ー信号を出力し、第2の差動増幅器及びフィルタがフォ
ーカスエラー信号及び光磁気信号を出力する働きをし、
信号検出回路の構成の簡易、的確化を図る。
従って、前記課題を解決できるのである。
(実施例)
第1図は本発明の一実施例を示す光磁気ディスク装置の
概略構成図、及び第3図はその信号検出回路の構成図で
ある。
概略構成図、及び第3図はその信号検出回路の構成図で
ある。
第1図の光磁気ディスク装置では、記録光学系が図面上
省略されて再生光学系のみが図示されている。この再生
光学系では、半導体レーザ等の光源20を有し、その光
源20の出射光路中には、コリメータレンズ21、光分
離用のビームスプリッタ22、及び収束用の対物レンズ
23を介して反射型の光磁気ディスク24が設けられて
いる。
省略されて再生光学系のみが図示されている。この再生
光学系では、半導体レーザ等の光源20を有し、その光
源20の出射光路中には、コリメータレンズ21、光分
離用のビームスプリッタ22、及び収束用の対物レンズ
23を介して反射型の光磁気ディスク24が設けられて
いる。
ビームスプリッタ22の反射光路中には、偏光面をほぼ
45度回転さぜる1/2波長板25、焦点26aを有す
る光収束用の収束レンズ26、及び光をP偏光成分とS
偏光成分に分離する偏光ビームスプリッタ27が設けら
れ、さらにその偏光ビームスプリッタ27のP偏光成分
出射側に第1の光検出器28が設けられると共に、S偏
光成分出射側に第2の光検出器29が設けられている。
45度回転さぜる1/2波長板25、焦点26aを有す
る光収束用の収束レンズ26、及び光をP偏光成分とS
偏光成分に分離する偏光ビームスプリッタ27が設けら
れ、さらにその偏光ビームスプリッタ27のP偏光成分
出射側に第1の光検出器28が設けられると共に、S偏
光成分出射側に第2の光検出器29が設けられている。
第1.第2の光検出器28.29は、光を電気に変換す
るもので、例えば円形の受光面を有し、ホトダイオード
等で構成されている。第1の光検出器28は、収束レン
ズ26の焦点26aから距離Xだけその収束レンズ側へ
近づけた位置に配置され、これに対して第2の光検出器
2つは収束レンズ26の焦点26aから距離Xだけ遠ざ
けた位置に配置されている。さらに第1.第2の光検出
器28.29の円形受光面は、それぞれ直径が等しく、
かつ第11図の配置位置において入射光の外径より小さ
い受光直径になるように設定されている。
るもので、例えば円形の受光面を有し、ホトダイオード
等で構成されている。第1の光検出器28は、収束レン
ズ26の焦点26aから距離Xだけその収束レンズ側へ
近づけた位置に配置され、これに対して第2の光検出器
2つは収束レンズ26の焦点26aから距離Xだけ遠ざ
けた位置に配置されている。さらに第1.第2の光検出
器28.29の円形受光面は、それぞれ直径が等しく、
かつ第11図の配置位置において入射光の外径より小さ
い受光直径になるように設定されている。
第3図に示すように、第1.第2の光検出器28.29
のうち、例えば第1の光検出器28は、分割線28aで
2分割された受光部28b−1゜28b−2を有する2
分割光検出器で構成されている。分割線28aは、光磁
気ディスク24のトラックに対するずれを検出するなめ
、そのトラック方向と平行になるように配置されている
。第1の光検出器28の受光部28b−1,28b−2
は、増幅器30.3]−を介して第1の差動増幅器32
の(+)個入力端子及び(−)個入力端子にそれぞれ接
続され、その差動増幅器32の出力端子よりl・ラック
エラー信号Etが出力される構成になっている。また、
第2の光検出器29は、第2の差動増幅器33の(−)
個入力端子に接続され、その(+)個入力端子が増幅器
30.3:Lの出力側に共通接続されている。第2の差
動増幅器33の出力端子には、周波数分離用のフィルタ
34が接続され、そのフィルタ34がらフォーカスエラ
ー信号Ef及び光磁気信号Soが出力される構成になっ
ている。
のうち、例えば第1の光検出器28は、分割線28aで
2分割された受光部28b−1゜28b−2を有する2
分割光検出器で構成されている。分割線28aは、光磁
気ディスク24のトラックに対するずれを検出するなめ
、そのトラック方向と平行になるように配置されている
。第1の光検出器28の受光部28b−1,28b−2
は、増幅器30.3]−を介して第1の差動増幅器32
の(+)個入力端子及び(−)個入力端子にそれぞれ接
続され、その差動増幅器32の出力端子よりl・ラック
エラー信号Etが出力される構成になっている。また、
第2の光検出器29は、第2の差動増幅器33の(−)
個入力端子に接続され、その(+)個入力端子が増幅器
30.3:Lの出力側に共通接続されている。第2の差
動増幅器33の出力端子には、周波数分離用のフィルタ
34が接続され、そのフィルタ34がらフォーカスエラ
ー信号Ef及び光磁気信号Soが出力される構成になっ
ている。
次に、動作を説明する。
光源20から出射された光は、レンズ21により平行ビ
ームとされ、ビームスプリッタ22を通して対物レンズ
23で収束されて光磁気ディスク24上に照射される。
ームとされ、ビームスプリッタ22を通して対物レンズ
23で収束されて光磁気ディスク24上に照射される。
光磁気ディスク24がらの反射光は、その光磁気ディス
ク24における垂直磁化膜の磁化方向に応じて偏光面が
±Δθだけ回]−1 転する。この反射光は、ビームスプリッタ22で往路と
分離され、1/2波長板25により、直線偏光の偏光面
がほぼ45度回転された後、収束レンズ26で収束され
る。収束レンズ26で収束された光は、偏光ビームスプ
リッタ27により、入射面に平行なP偏光成分の光と、
入射面に垂直なS偏光成分の光とに分離され、そのP偏
光成分の光が第1の光検出器28へ、S偏光成分の光が
第2の光検出器29へ、それぞれ入射される。
ク24における垂直磁化膜の磁化方向に応じて偏光面が
±Δθだけ回]−1 転する。この反射光は、ビームスプリッタ22で往路と
分離され、1/2波長板25により、直線偏光の偏光面
がほぼ45度回転された後、収束レンズ26で収束され
る。収束レンズ26で収束された光は、偏光ビームスプ
リッタ27により、入射面に平行なP偏光成分の光と、
入射面に垂直なS偏光成分の光とに分離され、そのP偏
光成分の光が第1の光検出器28へ、S偏光成分の光が
第2の光検出器29へ、それぞれ入射される。
第1の光検出器28は、2分割光検出器で構成されてい
るため、光磁気ディスク24のトラックを形成するグル
ープ(g roovc、溝)による回折パターンの強度
分布の変化が受光部28b−1゜28b−2により検出
され、その強度分布の変化に応じた2つの電気信号が出
力される。2つの電気信号は各増幅器30.31でそれ
ぞれ増幅された後、第1の差動増幅器32の(+)個入
力端子及び(−)個入力端子に供給されると共に、増幅
器30.31の出力和が第2の差動増幅器33の(+)
個入力端子に供給される。第1の差動増幅器32は2人
力の差を増幅するため、その差動増幅器32の出力端子
からトラックエラー信号Etが出力されることになる。
るため、光磁気ディスク24のトラックを形成するグル
ープ(g roovc、溝)による回折パターンの強度
分布の変化が受光部28b−1゜28b−2により検出
され、その強度分布の変化に応じた2つの電気信号が出
力される。2つの電気信号は各増幅器30.31でそれ
ぞれ増幅された後、第1の差動増幅器32の(+)個入
力端子及び(−)個入力端子に供給されると共に、増幅
器30.31の出力和が第2の差動増幅器33の(+)
個入力端子に供給される。第1の差動増幅器32は2人
力の差を増幅するため、その差動増幅器32の出力端子
からトラックエラー信号Etが出力されることになる。
・方、第2の光検出器2つは、S偏光成分の光を電気信
号に変換し、その電気信号を第2の差動増幅器33のく
−)個入力端子に供給する。第2の差動増幅器33では
、増幅器30.31の出力和と第2の光検出器29の出
力との差を求め、その差を増幅してフィルタ34へ与え
る。フィルタ34は、第2の差動増幅器33の出力の周
波数分離を行い、低周波数帯域のフォーカスエラー信号
Efを出力すると共に、高周波帯域の光磁気信号Soを
出力する。
号に変換し、その電気信号を第2の差動増幅器33のく
−)個入力端子に供給する。第2の差動増幅器33では
、増幅器30.31の出力和と第2の光検出器29の出
力との差を求め、その差を増幅してフィルタ34へ与え
る。フィルタ34は、第2の差動増幅器33の出力の周
波数分離を行い、低周波数帯域のフォーカスエラー信号
Efを出力すると共に、高周波帯域の光磁気信号Soを
出力する。
ここで、フォーカスエラー検出において、対物レンズ2
3と光磁気ディスク24が合焦状態にある時は、その光
磁気ディスク24の反射光が第1と第2の光検出器28
.29に等光量受光されるため、フォーカスエラー信号
Efの電位が零となる。光磁気ディスク24が合焦位置
より遠ざかると、光磁気ディスク24の反射光は対物レ
ンズ23を透過した後、収束光となり、収束レンズ26
の焦点距離が短くなってその焦点26aが第1の光検出
器28に近ずく。そのため、第1の光検出器28の受光
量が増加してその光検出器28の出力が大きくなる。反
対に、第2の光検出器2つは収束レンズ26の焦点26
aよりさらに遠ざかることになるので、受光量が減少し
、出力が小さくなる。従って、第2の差動増幅器33及
びフィルタ34より得られるフォーカスエラー信号Ef
の電位は、例えば(+)側方向に増大する。
3と光磁気ディスク24が合焦状態にある時は、その光
磁気ディスク24の反射光が第1と第2の光検出器28
.29に等光量受光されるため、フォーカスエラー信号
Efの電位が零となる。光磁気ディスク24が合焦位置
より遠ざかると、光磁気ディスク24の反射光は対物レ
ンズ23を透過した後、収束光となり、収束レンズ26
の焦点距離が短くなってその焦点26aが第1の光検出
器28に近ずく。そのため、第1の光検出器28の受光
量が増加してその光検出器28の出力が大きくなる。反
対に、第2の光検出器2つは収束レンズ26の焦点26
aよりさらに遠ざかることになるので、受光量が減少し
、出力が小さくなる。従って、第2の差動増幅器33及
びフィルタ34より得られるフォーカスエラー信号Ef
の電位は、例えば(+)側方向に増大する。
一方、光磁気ディスク24が合焦位置より近づくと、第
1の光検出器28の受光量が減少してその出力が小さく
なるのに対し、第2の光検出器29の受光量が増加して
その出力が大きくなるなめ、フォーカスエラー信号Ef
の電位は(−)側方向に増大する。
1の光検出器28の受光量が減少してその出力が小さく
なるのに対し、第2の光検出器29の受光量が増加して
その出力が大きくなるなめ、フォーカスエラー信号Ef
の電位は(−)側方向に増大する。
以上のようにして得られたフォーカスエラー信号Ef及
びトラックエラー信号Etは、図示したいフォーカスサ
ーボ回路及び゛トラックサーボ回路で処理され、フォー
カスサーボ及びトラックサーボが行われる。また、フィ
ルタ34から出力された光磁気信号SOは、図示したい
信号処理回路で処理されて、読出しデータとして出力さ
れる。
びトラックエラー信号Etは、図示したいフォーカスサ
ーボ回路及び゛トラックサーボ回路で処理され、フォー
カスサーボ及びトラックサーボが行われる。また、フィ
ルタ34から出力された光磁気信号SOは、図示したい
信号処理回路で処理されて、読出しデータとして出力さ
れる。
本実施例の光磁気ディスク装置では、次のような利点を
有している。
有している。
(a> 偏光ビームスプリッタ27で分離されなPi
光成分の光を第1の光検出器28で直接に受光する構成
にしたので、従来の第2図の装置で必要であった比較的
高価なシリンドリカルレンズ10が不要になると共に、
第1の光検出器28の構造の簡単化が図れる。従って、
部品点数の削除と構造の簡単化、及びそれによる装置の
小型、軽量化と低コスト化を著しく向上させることがで
きる。
光成分の光を第1の光検出器28で直接に受光する構成
にしたので、従来の第2図の装置で必要であった比較的
高価なシリンドリカルレンズ10が不要になると共に、
第1の光検出器28の構造の簡単化が図れる。従って、
部品点数の削除と構造の簡単化、及びそれによる装置の
小型、軽量化と低コスト化を著しく向上させることがで
きる。
(b) 第1および第2の光検出器28.29は、そ
の円形受光面の直径が等しいため、光検出感度が等しく
なり、その両川力の差動をとることにより、高精度なフ
ォーカスエラー信号Efが得られる。その上、第1と第
2の光検出器28.29は、入射光の外径より小さい受
光直径になるような位置に設置されているため、光磁気
ディスク24がフォーカス方向に面振れしても、第1.
第2の光検出器28.29の受光面の全面には入射光が
常に入射して光検出感度が一定となるため、フォーカス
エラー信号Efの検出精度がさらに向上する。
の円形受光面の直径が等しいため、光検出感度が等しく
なり、その両川力の差動をとることにより、高精度なフ
ォーカスエラー信号Efが得られる。その上、第1と第
2の光検出器28.29は、入射光の外径より小さい受
光直径になるような位置に設置されているため、光磁気
ディスク24がフォーカス方向に面振れしても、第1.
第2の光検出器28.29の受光面の全面には入射光が
常に入射して光検出感度が一定となるため、フォーカス
エラー信号Efの検出精度がさらに向上する。
なお、本発明は図示の実施例に限定されず、種々の変形
が可能である。その変形例としては、例えば次のような
ものがある。
が可能である。その変形例としては、例えば次のような
ものがある。
(i> 第3図において、第1の光検出器28に代え
て、第2の光検出器29を2分割光検出器で構成しても
よい。この場合には、第2の光検出器2つの分割線をト
ラック方向と平行に配置し、その光検出器29の2出力
差を差動増幅器で差動増幅ずれは、トラックエラー信号
Etを検出でき、上記実施例と同様の利点が得られる。
て、第2の光検出器29を2分割光検出器で構成しても
よい。この場合には、第2の光検出器2つの分割線をト
ラック方向と平行に配置し、その光検出器29の2出力
差を差動増幅器で差動増幅ずれは、トラックエラー信号
Etを検出でき、上記実施例と同様の利点が得られる。
叶な、第1および第2の光検出器28.29の両方を2
分割光検出器で構成してもよい。この場合には、各2分
割光検出器の分割線をそれぞれトラック方向と平行に配
置する。そして、各々の2分割光検出器の同一方向の出
力同志の和の差等を差動増幅器で求めるようにすれば、
高精度なトラックエラー信号Etが検出できる。
分割光検出器で構成してもよい。この場合には、各2分
割光検出器の分割線をそれぞれトラック方向と平行に配
置する。そして、各々の2分割光検出器の同一方向の出
力同志の和の差等を差動増幅器で求めるようにすれば、
高精度なトラックエラー信号Etが検出できる。
(ii) 第1図では、反射型の光磁気ディスク24
を用いたが、透過型の光磁気ディスクを用いてもよい。
を用いたが、透過型の光磁気ディスクを用いてもよい。
この場合には、透過型光磁気ディスクの透過光をコリメ
ータレンズで平行光にした後、その光を1/2波長板2
5を通して収束レンズ26測へ入射すれば、前記実施例
とほぼ同様の作用、効果が得られる。
ータレンズで平行光にした後、その光を1/2波長板2
5を通して収束レンズ26測へ入射すれば、前記実施例
とほぼ同様の作用、効果が得られる。
(iii) 第1図の再生光学系を記録時に用いるこ
ともできる。
ともできる。
(発明の効果)
以上詳細に説明したように、請求項1−の発明によりば
、偏光ビームスプリッタから出射されなP偏光成分の光
を直接に第1の光検出器へ入射すると共に、S偏光成分
の光を直接に第2の光検出器へ入射する構成にしたので
、第1および第2の光検出器の出力に基づき、トラック
エラー信号、フォーカスエラー信号及び光磁気信号の高
精度な検出が可能になる。そのため、従来のようなシリ
ントリカルレンズが不要になると共に、第1の光検出:
1:;の構造を簡単にでき、部品点数の削減と構造のl
1il単化による装置の小型、軽量化及び低コスト化を
著しく向上させることができる。
、偏光ビームスプリッタから出射されなP偏光成分の光
を直接に第1の光検出器へ入射すると共に、S偏光成分
の光を直接に第2の光検出器へ入射する構成にしたので
、第1および第2の光検出器の出力に基づき、トラック
エラー信号、フォーカスエラー信号及び光磁気信号の高
精度な検出が可能になる。そのため、従来のようなシリ
ントリカルレンズが不要になると共に、第1の光検出:
1:;の構造を簡単にでき、部品点数の削減と構造のl
1il単化による装置の小型、軽量化及び低コスト化を
著しく向上させることができる。
ijI’l求項2の発明では、2分割光検出器で構成さ
れた第1または第2の光検出器の2出力差により、1・
:へンクエラー信号を検出でき、さらに第1と第2の光
検出器の出力差を求めてフィルタで周波数分離を行うこ
とにより、フォーカスエラー信号及びッ:こ磁気信号を
検出できるので、高精度な信号検出回路を、簡単な構造
で容易に構成できる。
れた第1または第2の光検出器の2出力差により、1・
:へンクエラー信号を検出でき、さらに第1と第2の光
検出器の出力差を求めてフィルタで周波数分離を行うこ
とにより、フォーカスエラー信号及びッ:こ磁気信号を
検出できるので、高精度な信号検出回路を、簡単な構造
で容易に構成できる。
第1図は本発明の実施例を示す光磁気ディスク装;dの
構成図、第2図は従来の光磁気ディスク装置の構成図、
第3図は第1図の信号検出回路の構成図である。 20・・・・・・光源、22・・・・・・ビームスプリ
ッタ、23・・・・・・対物レンズ、24・・・・・・
光磁気ディスク、25・・・・・・]/′2波長板、2
6・・・・・・収束レンズ、26 a・・・・・・焦点
、27・・・・・・偏光ビームスプリッタ、28.29
・・・・・・第1.第2の光検出器、28a・・・・・
・分割線、32.33・・・・・・第1.第2の差動増
幅器、34・・・・・・フィルタ。
構成図、第2図は従来の光磁気ディスク装置の構成図、
第3図は第1図の信号検出回路の構成図である。 20・・・・・・光源、22・・・・・・ビームスプリ
ッタ、23・・・・・・対物レンズ、24・・・・・・
光磁気ディスク、25・・・・・・]/′2波長板、2
6・・・・・・収束レンズ、26 a・・・・・・焦点
、27・・・・・・偏光ビームスプリッタ、28.29
・・・・・・第1.第2の光検出器、28a・・・・・
・分割線、32.33・・・・・・第1.第2の差動増
幅器、34・・・・・・フィルタ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、光磁気ディスクからの反射光または透過光を収束レ
ンズを通してほぼ45度の偏光面で偏光ビームスプリッ
タに入射し、その偏光ビームスプリッタで分離したP偏
光成分とS偏光成分の光に基づき、フォーカスエラー信
号、トラックエラー信号、及び光磁気信号を検出する光
磁気ディスク装置において、 前記収束レンズの焦点より光軸方向に一定距離だけ近づ
けた位置に配設され、前記P偏光成分の光の断面積より
小さな第1の受光面を有する第1の光検出器と、 前記収束レンズの焦点より光軸方向に前記一定距離だけ
遠ざけた位置に配設され、前記第1の受光面と等しい面
積で、かつ前記S偏光成分の光の断面積より小さな第2
の受光面を有する第2の光検出器とを備え、 前記第1、第2の光検出器の少なくとも一方を、分割線
を有する2分割光検出器で構成し、その分割線を前記光
磁気ディスクのトラック方向に対して平行に配置したこ
とを特徴とする光磁気ディスク装置。 2、請求項1記載の光磁気ディスク装置において、前記
2分割光検出器で構成された第1または第2の光検出器
の2出力差を増幅してトラックエラー信号を出力する第
1の差動増幅器と、 前記第1と第2の光検出器の出力差を増幅する第2の差
動増幅器と、 前記第2の差動増幅器の出力の周波数分離を行ってフォ
ーカスエラー信号及び光磁気信号を出力するフィルタと
を、 備えた光磁気ディスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25823288A JPH02105356A (ja) | 1988-10-13 | 1988-10-13 | 光磁気ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25823288A JPH02105356A (ja) | 1988-10-13 | 1988-10-13 | 光磁気ディスク装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02105356A true JPH02105356A (ja) | 1990-04-17 |
Family
ID=17317354
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25823288A Pending JPH02105356A (ja) | 1988-10-13 | 1988-10-13 | 光磁気ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02105356A (ja) |
-
1988
- 1988-10-13 JP JP25823288A patent/JPH02105356A/ja active Pending
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