JPH02106810A - 高誘電率磁器組成物 - Google Patents
高誘電率磁器組成物Info
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- JPH02106810A JPH02106810A JP63259034A JP25903488A JPH02106810A JP H02106810 A JPH02106810 A JP H02106810A JP 63259034 A JP63259034 A JP 63259034A JP 25903488 A JP25903488 A JP 25903488A JP H02106810 A JPH02106810 A JP H02106810A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は高誘電率磁器組成物に係り、特に高誘電率でか
つ温度に対する静電容量の変化率が小さく、誘電損失の
電圧依存性が非常に小さい高誘電率磁器組成物に関する
。
つ温度に対する静電容量の変化率が小さく、誘電損失の
電圧依存性が非常に小さい高誘電率磁器組成物に関する
。
積層セラミックコンデンサ、厚膜コンデンサ、ディスク
型コンデンサ等に用いられる高誘電率磁器組成物として
、比誘電率が高いことを利用して、従来からチタン酸バ
リウム(BaTi03)を主成分とする種々の組成物が
合成されている。
型コンデンサ等に用いられる高誘電率磁器組成物として
、比誘電率が高いことを利用して、従来からチタン酸バ
リウム(BaTi03)を主成分とする種々の組成物が
合成されている。
しかしながら、比誘電率を高くすると温度に対する静電
容量の変化率が太き(なり、さらに誘電損失の電圧依存
性も大きくなるという欠点がある。
容量の変化率が太き(なり、さらに誘電損失の電圧依存
性も大きくなるという欠点がある。
特に近年、積層セラミックコンデンサの高容量化、小型
化により誘電体の厚みが薄層化する傾向にある。
化により誘電体の厚みが薄層化する傾向にある。
従って、この場合、誘電体の単位厚み当たりに印加する
印加電圧が高くなり、これにより従来のBaTiOs系
の組成物では、大幅に誘電損失が増加する。
印加電圧が高くなり、これにより従来のBaTiOs系
の組成物では、大幅に誘電損失が増加する。
これらの問題点を解決するため、BaTiO3系組成物
を主成分とし、添加物として酸化セリウム(CeO2)
、二酸化マンガン(MnOa)を添加含有した高誘電率
磁器組成物が提案されている(例えば特公昭61−16
132号公報参照)。
を主成分とし、添加物として酸化セリウム(CeO2)
、二酸化マンガン(MnOa)を添加含有した高誘電率
磁器組成物が提案されている(例えば特公昭61−16
132号公報参照)。
この組成物は常温の比誘電率が5000以上を有し、誘
電率の温度変化が小さく誘電損失の電圧依存性も小さい
特性を有する。
電率の温度変化が小さく誘電損失の電圧依存性も小さい
特性を有する。
C発明が解決しようとする課題〕
ところが、上記高誘電率磁器組成物においても、比誘電
率が9000以上になると誘電損失の電圧依存性が非常
に大きくなるという問題点がある。
率が9000以上になると誘電損失の電圧依存性が非常
に大きくなるという問題点がある。
従って、本発明の目的は、比誘電率が9000以上と高
く、かつ温度に対する静電容量の変化率が小さく、さら
に誘電損失の電圧依存性が非常に小さい高誘電率磁器組
成物を提供するものである。
く、かつ温度に対する静電容量の変化率が小さく、さら
に誘電損失の電圧依存性が非常に小さい高誘電率磁器組
成物を提供するものである。
上記目的を達成するため、本発明の磁器組成物は、(B
a 1−xCax)m (Tt r−yZry)O3と
なる組成物T: 0 ≦x ≦0.12.0.10 ≦
y≦0゜30.0.998≦m≦1. 、012の組成
範囲から成る基本組成100重量部に対し、酸化セリウ
ム(Ce 02)またはその他の希土類酸化物(Nd2
O3、Sm2O3、La 2O3、Dy2O3、YaO
3)の中から選ばれた1種以上を0.02〜l、5w
t%、酸化マグネシウム(MgO)をl、Qw t%以
下添加したものを主成分とし、副成分として酸化マンガ
ン(M n O) 0.7w t%以下、酸化シリコン
(S i 02 ) 0.25w t%以下を添加含有
すルコとを特徴とするものである。
a 1−xCax)m (Tt r−yZry)O3と
なる組成物T: 0 ≦x ≦0.12.0.10 ≦
y≦0゜30.0.998≦m≦1. 、012の組成
範囲から成る基本組成100重量部に対し、酸化セリウ
ム(Ce 02)またはその他の希土類酸化物(Nd2
O3、Sm2O3、La 2O3、Dy2O3、YaO
3)の中から選ばれた1種以上を0.02〜l、5w
t%、酸化マグネシウム(MgO)をl、Qw t%以
下添加したものを主成分とし、副成分として酸化マンガ
ン(M n O) 0.7w t%以下、酸化シリコン
(S i 02 ) 0.25w t%以下を添加含有
すルコとを特徴とするものである。
本発明を実施例によって詳細に説明する。
出発原料として、炭酸ハリウJ、(BaCO3)、液酸
カルシウム(CaCO2)、二酸化チタン(TiOx>
、二酸化ジルコニウム(Zr02)、希土類酸化物(C
e02、S m 2O3等)、酸化マグネシウム(Mg
O)、酸化マンガン(MnO)、酸化シリコン(SiO
2)を用い、各原料を後記の第1表に示す組成になるよ
うに秤量する。
カルシウム(CaCO2)、二酸化チタン(TiOx>
、二酸化ジルコニウム(Zr02)、希土類酸化物(C
e02、S m 2O3等)、酸化マグネシウム(Mg
O)、酸化マンガン(MnO)、酸化シリコン(SiO
2)を用い、各原料を後記の第1表に示す組成になるよ
うに秤量する。
これらの秤量した原料配合物をボールミルで湿式混合攪
拌を2O時間行い、その後脱水乾燥し、1100〜12
O0℃で仮焼成し、化学反応を行わせる。
拌を2O時間行い、その後脱水乾燥し、1100〜12
O0℃で仮焼成し、化学反応を行わせる。
次にこれを再び微粉砕し、これに有機結合剤としてPV
Aを添加し、造粒、整粒を行い、顆粒粉末とする。
Aを添加し、造粒、整粒を行い、顆粒粉末とする。
そして、この粉末を約3トン/cm 2の成形圧力テ1
6.5φX0.6Ln+の円盤状に成形する。この成形
物を脱バインダーし、空気中で1300〜1450℃で
約2時間本焼成して磁器素体を得る。
6.5φX0.6Ln+の円盤状に成形する。この成形
物を脱バインダーし、空気中で1300〜1450℃で
約2時間本焼成して磁器素体を得る。
これにより得られたFeL器素体の両面に銀ペーストを
塗布焼付けし、これにリード線を半田付けし電極を形成
して高誘電率磁器組成物の試料とし、各試料の電気的緒
特性を測定した。
塗布焼付けし、これにリード線を半田付けし電極を形成
して高誘電率磁器組成物の試料とし、各試料の電気的緒
特性を測定した。
これらの測定結果を第1表に示す。ここで比誘電率ε、
は常温で測定周波数I K Hz 、測定電圧ACIV
で測定した。温度特性は一25℃〜+85℃の温度範囲
で、2O℃の容量を基準として、容量変化率として算出
した。
は常温で測定周波数I K Hz 、測定電圧ACIV
で測定した。温度特性は一25℃〜+85℃の温度範囲
で、2O℃の容量を基準として、容量変化率として算出
した。
また、絶縁抵抗は直流50Vを印加しつつ常温で測定し
た。
た。
以下余白
誘電損失の電圧依存性は第1表の他、電圧を任意に変化
させた時の誘電損失tanδの値を、CeO2の添加量
刑、(Ba+−xCax)の組成量mの数値別に測定し
た結果として第1図、第2図に示す。
させた時の誘電損失tanδの値を、CeO2の添加量
刑、(Ba+−xCax)の組成量mの数値別に測定し
た結果として第1図、第2図に示す。
第1図、第2図において、縦軸は誘電損失tanδを示
し、横軸はAC測定電圧を示し、測定周波数はIKHz
、測定温度は25℃である。
し、横軸はAC測定電圧を示し、測定周波数はIKHz
、測定温度は25℃である。
第1図はm =1.、OOOとした場合のCeO2の添
加量を変化させた時の特性を示し、図中AはCeO2=
0.00W t%BはCe 02 =0.02W t%
、CはCe O2=0.30W t%、DはCe O2
=1.50wt%含有する本発明の磁器組成物の特性曲
線、Eは従来のB a T i 03系高誘電率磁器組
成物の特性曲線を示す。
加量を変化させた時の特性を示し、図中AはCeO2=
0.00W t%BはCe 02 =0.02W t%
、CはCe O2=0.30W t%、DはCe O2
=1.50wt%含有する本発明の磁器組成物の特性曲
線、Eは従来のB a T i 03系高誘電率磁器組
成物の特性曲線を示す。
第2図はCe O!l =0.30W t%とした場合
のmの値を変化させた時の特性を示し、図中、Fはm=
0.998 、Gはm=1.000 、I−1はm=1
.005.1はm=1.012 、Jは本発明の範囲外
のm=0.996の場合の磁器組成物の特性曲線を示す
。
のmの値を変化させた時の特性を示し、図中、Fはm=
0.998 、Gはm=1.000 、I−1はm=1
.005.1はm=1.012 、Jは本発明の範囲外
のm=0.996の場合の磁器組成物の特性曲線を示す
。
第1表、第1図、第2図から明らかな如く、本発明の磁
器組成物(第1表の○印の試料)は比誘電率が9000
以上を有し、かつ温度に対する静電容量の変化率(温度
特性)が、−25℃〜85℃での範囲で75%以下と小
さく、誘電損失tanδの電圧依存性も例えばA C5
0V / m++印加で約2%以下と従来の磁器組成物
に比較して非常に小さい。
器組成物(第1表の○印の試料)は比誘電率が9000
以上を有し、かつ温度に対する静電容量の変化率(温度
特性)が、−25℃〜85℃での範囲で75%以下と小
さく、誘電損失tanδの電圧依存性も例えばA C5
0V / m++印加で約2%以下と従来の磁器組成物
に比較して非常に小さい。
ここで、本発明の組成限定理由について説明する。
第1表において、本発明の組成のうち(Bax−xCa
x)m (Ti +−yZry)O3で表した基本組成
のX = 0〜0.12モル%、y =0.10〜0.
30モル%、m=0.998〜1.012の条件を満足
しない場合は、比誘電率が9000未満となり温度特性
が悪くなり、誘電損失の電圧依存性が大きくなったり焼
結不足となる。
x)m (Ti +−yZry)O3で表した基本組成
のX = 0〜0.12モル%、y =0.10〜0.
30モル%、m=0.998〜1.012の条件を満足
しない場合は、比誘電率が9000未満となり温度特性
が悪くなり、誘電損失の電圧依存性が大きくなったり焼
結不足となる。
即ち、x=0〜0.12の範囲外では誘電率が9000
以上とならない(例えば第1表試料No、 10参照)
。
以上とならない(例えば第1表試料No、 10参照)
。
また、y =0.10〜0.30の範囲外でも同様に比
誘電率は9000以下である(例えば第1表試料No、
5.6参照)。
誘電率は9000以下である(例えば第1表試料No、
5.6参照)。
さらにm−0,998〜1.012の範囲外では誘電損
失tanδの電圧依存性が大きくなったり、焼結性が悪
くなってしまう (例えば第1表試料No、 15、第
2図の曲線J、試料No、 I 9参照)。
失tanδの電圧依存性が大きくなったり、焼結性が悪
くなってしまう (例えば第1表試料No、 15、第
2図の曲線J、試料No、 I 9参照)。
上記基本組成100重量部に対し、CeO2またはその
他の希土類酸化物から選ばれた一種類の希土類酸化物の
範囲限定理由は、0.02w t%未満では誘電損失の
電圧依存性が大きくなり(例えば第1表試料No、ll
、第1図曲線A参照)、1.5wt%を超えると比誘電
率の減少があることによる(例えば第1表試料No、i
4参照)。
他の希土類酸化物から選ばれた一種類の希土類酸化物の
範囲限定理由は、0.02w t%未満では誘電損失の
電圧依存性が大きくなり(例えば第1表試料No、ll
、第1図曲線A参照)、1.5wt%を超えると比誘電
率の減少があることによる(例えば第1表試料No、i
4参照)。
さらに、MgOが1.00w t%以上になると比誘電
率の減少がある(例えば第1表試料No、23参照)。
率の減少がある(例えば第1表試料No、23参照)。
また副成分として添加するM n OがQ、7wt%を
超えると誘電損失の電圧依存性が大きくなるとともに、
比誘電率の減少がある(例えば第1表試料No、26参
照)。
超えると誘電損失の電圧依存性が大きくなるとともに、
比誘電率の減少がある(例えば第1表試料No、26参
照)。
副成分の5i02の添加量についても、0.25wL%
を超えると比誘電率の減少がある(例えば第1表試料N
o、 29参照)。
を超えると比誘電率の減少がある(例えば第1表試料N
o、 29参照)。
これらの条件を満たす高誘電率磁器組成物の中から最良
と思われる点を選択し、層間厚み10μの積層コンデン
サを形成した場合の特性を第2表に示す。
と思われる点を選択し、層間厚み10μの積層コンデン
サを形成した場合の特性を第2表に示す。
第2表
第2表から積層セラミックコンデンサの誘電体として利
用した本発明の高誘電率磁器組成物は、比誘電率も高く
、誘電損失の電圧依存性も十分小さく、静電容量の温度
特性も良好である。
用した本発明の高誘電率磁器組成物は、比誘電率も高く
、誘電損失の電圧依存性も十分小さく、静電容量の温度
特性も良好である。
本発明の高誘電率磁器組成物は、比誘電率が9000以
上を有し、かつ誘電損失の電圧依存性が非常に小さく、
静電容量の温度特性に優れでおり、誘電体の厚みの薄い
積層セラミノクコンデンザ等の誘電体として十分使用可
能である。
上を有し、かつ誘電損失の電圧依存性が非常に小さく、
静電容量の温度特性に優れでおり、誘電体の厚みの薄い
積層セラミノクコンデンザ等の誘電体として十分使用可
能である。
この他、厚膜コンデンサ、ディスク型コンデンサ等の誘
電体としても使用出来、その用途は非常に幅広いもので
ある。
電体としても使用出来、その用途は非常に幅広いもので
ある。
第1図、第2図は本発明の従来例の高誘電率磁器組成物
の特性図である。 特許出願人 ティーデイ−ケイ株式会社代理人弁理士
山 谷 晧 榮
の特性図である。 特許出願人 ティーデイ−ケイ株式会社代理人弁理士
山 谷 晧 榮
Claims (2)
- (1)基本組成を(Ba_1_−_xCax)m(Ti
_1_−_yZry)O_3とする組成物で表した時、
x=0〜0.12モル%、y=0.10〜0.30モル
%、m=0.998〜1.012の条件を満足し、基本
組成100重量部に対し、二酸化セリウム(CeO_2
)またはその他の希土類酸化物(Nd_2O_3、Sm
_2O_3、La_2O_3、Dy_2O_3、Y_2
O_3)の中から選ばれた少なくとも一種類の希土類酸
化物を0.02〜1.5wt%、酸化マグネシウム(M
gO)を1.00wt%以下添加含有することを特徴と
する高誘電率磁器組成物。 - (2)副成分として酸化マンガン(MnO)を0.7w
t%以下、酸化シリコン(SiO_2)を0.25wt
%は以下添加することを特徴とする請求項(1)記載の
高誘電率磁器組成物。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63259034A JP2795654B2 (ja) | 1988-10-14 | 1988-10-14 | 高誘電率磁器組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63259034A JP2795654B2 (ja) | 1988-10-14 | 1988-10-14 | 高誘電率磁器組成物 |
Publications (2)
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|---|---|
| JPH02106810A true JPH02106810A (ja) | 1990-04-18 |
| JP2795654B2 JP2795654B2 (ja) | 1998-09-10 |
Family
ID=17328414
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63259034A Expired - Lifetime JP2795654B2 (ja) | 1988-10-14 | 1988-10-14 | 高誘電率磁器組成物 |
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|---|---|
| JP (1) | JP2795654B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04218207A (ja) * | 1990-10-31 | 1992-08-07 | Murata Mfg Co Ltd | 誘電体磁器組成物 |
| JP2002274937A (ja) * | 2001-03-21 | 2002-09-25 | Kyocera Corp | 温度特性に優れた誘電体磁器 |
| JP2006160531A (ja) * | 2004-12-02 | 2006-06-22 | Samsung Yokohama Research Institute Co Ltd | 誘電体磁器組成物及び磁器コンデンサとそれらの製造方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58188121A (ja) * | 1982-04-27 | 1983-11-02 | ニチコン株式会社 | 積層セラミツクコンデンサ |
| JPS62157603A (ja) * | 1985-12-27 | 1987-07-13 | 京セラ株式会社 | 非還元性誘電体磁器組成物 |
| JPS62243206A (ja) * | 1986-04-16 | 1987-10-23 | 松下電器産業株式会社 | 誘電体磁器組成物 |
-
1988
- 1988-10-14 JP JP63259034A patent/JP2795654B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58188121A (ja) * | 1982-04-27 | 1983-11-02 | ニチコン株式会社 | 積層セラミツクコンデンサ |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JP2002274937A (ja) * | 2001-03-21 | 2002-09-25 | Kyocera Corp | 温度特性に優れた誘電体磁器 |
| JP2006160531A (ja) * | 2004-12-02 | 2006-06-22 | Samsung Yokohama Research Institute Co Ltd | 誘電体磁器組成物及び磁器コンデンサとそれらの製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2795654B2 (ja) | 1998-09-10 |
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