JPH02114530A - 薄膜形成装置 - Google Patents
薄膜形成装置Info
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- JPH02114530A JPH02114530A JP88268746A JP26874688A JPH02114530A JP H02114530 A JPH02114530 A JP H02114530A JP 88268746 A JP88268746 A JP 88268746A JP 26874688 A JP26874688 A JP 26874688A JP H02114530 A JPH02114530 A JP H02114530A
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- Japan
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- thin film
- reaction
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- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
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- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45563—Gas nozzles
- C23C16/45565—Shower nozzles
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
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- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/448—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for generating reactive gas streams, e.g. by evaporation or sublimation of precursor materials
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は薄膜形成装置に関し、特にCV D (Che
i+1cal Vapor Deposition)法
により薄膜を形成する装置に関するものである。
i+1cal Vapor Deposition)法
により薄膜を形成する装置に関するものである。
近年、LS1. 液晶デイスプレィを含む電子デバイ
スの製造プロセスの低温化に伴い、基板上に薄膜を形成
する方法として、プラズマ分離形マイクロ波プラズマC
VD法が注目されている。プラズマ分離形マイクロ波プ
ラズマCVD法は、反応室とは分離したプラズマ放電室
でマイクロ波プラズマ放電により反応ガスを励起し、生
成した活性種を反応室内の低温加熱された基板上に輸送
し薄膜を形成する技術である。この技術では基板が直接
プラズマにさらされないため、プラズマ中の荷電粒子が
基板および形成中の薄膜に損傷を与えることなく、シか
も300°C以下の低い基板温度で薄膜を形成すること
ができる。
スの製造プロセスの低温化に伴い、基板上に薄膜を形成
する方法として、プラズマ分離形マイクロ波プラズマC
VD法が注目されている。プラズマ分離形マイクロ波プ
ラズマCVD法は、反応室とは分離したプラズマ放電室
でマイクロ波プラズマ放電により反応ガスを励起し、生
成した活性種を反応室内の低温加熱された基板上に輸送
し薄膜を形成する技術である。この技術では基板が直接
プラズマにさらされないため、プラズマ中の荷電粒子が
基板および形成中の薄膜に損傷を与えることなく、シか
も300°C以下の低い基板温度で薄膜を形成すること
ができる。
紋
第9図は例えば特潴昭58−271iSG号公報に示さ
れた従来のプラズマ分離形マイクロ波プラズマCVD法
に用いられる薄膜形成装置の構成を示す断面構成図であ
る。図において、1は反応室、2は第1の反応ガス供給
口、3は第1の反応ガス、4は第2の反応ガス、5はマ
イクロ波プラズマ放電管、6はマイクロ波エネルギー
7は活性種導入口、8は活性種、9は基板、10は基板
9が載置されるヒーター 11はガス排気口、12は反
応後のガスである。
れた従来のプラズマ分離形マイクロ波プラズマCVD法
に用いられる薄膜形成装置の構成を示す断面構成図であ
る。図において、1は反応室、2は第1の反応ガス供給
口、3は第1の反応ガス、4は第2の反応ガス、5はマ
イクロ波プラズマ放電管、6はマイクロ波エネルギー
7は活性種導入口、8は活性種、9は基板、10は基板
9が載置されるヒーター 11はガス排気口、12は反
応後のガスである。
このように構成された薄膜形成装置において、例えばシ
リコン酸化膜を形成する場合、反応ガス供給口2から第
1の反応ガスとしてシランガス3が反応室1内に供給さ
れ、また第2の反応ガスとして酸素原子を含むガス4が
マイクロ波プラズマ放電管5に供給され、これにより生
成される活性化酸素8が活性種導入ロアから反応室1内
に導入される。
リコン酸化膜を形成する場合、反応ガス供給口2から第
1の反応ガスとしてシランガス3が反応室1内に供給さ
れ、また第2の反応ガスとして酸素原子を含むガス4が
マイクロ波プラズマ放電管5に供給され、これにより生
成される活性化酸素8が活性種導入ロアから反応室1内
に導入される。
この時、活性化酸素8はシランガス3と基板近傍の空間
で化学気相反応を起こし、シリコン原子。
で化学気相反応を起こし、シリコン原子。
水素原子、酸素原子を含む前駆体を形成する。この前駆
体が基板9表面で変化し、シリコン酸化膜が形成される
。
体が基板9表面で変化し、シリコン酸化膜が形成される
。
ところが、従来のこの種の薄膜形成装置においては、大
面積基板に均一な膜厚で膜を形成できないという問題点
があった。
面積基板に均一な膜厚で膜を形成できないという問題点
があった。
この発明は上記のような問題点を解決するためになされ
たもので、プラズマ分離形マイクロ波プラズマCVD法
により大面積基板に均一な膜厚で薄膜を形成することが
できる薄膜形成装置を得ることを目的とする。
たもので、プラズマ分離形マイクロ波プラズマCVD法
により大面積基板に均一な膜厚で薄膜を形成することが
できる薄膜形成装置を得ることを目的とする。
この発明にかかる薄膜形成装置は、基板を収容し、該基
板を保持し加熱するヒータ、第1の反応ガスを供給する
反応ガス供給部、及び第2の反応ガスを励起することに
より生成される活性種を供給する活性種供給部を何する
反応室を備え、上記基板上に第1の反応ガスと活性種の
反応により薄膜を形成するものにおいて、第1の反応ガ
ス及び活性種濃度が基板上でそれぞれ均一で、かつ第1
の反応ガス及び活性種が上記基板近傍で混合するように
、基板を覆う平板に活性種吹き出し口を多数設けてなる
活性種供給部と、該活性種供給部と基板間に配設した、
反応ガス吹き出し口を多数有する複数のパイプからなる
反応ガス供給部とを設けたものである。
板を保持し加熱するヒータ、第1の反応ガスを供給する
反応ガス供給部、及び第2の反応ガスを励起することに
より生成される活性種を供給する活性種供給部を何する
反応室を備え、上記基板上に第1の反応ガスと活性種の
反応により薄膜を形成するものにおいて、第1の反応ガ
ス及び活性種濃度が基板上でそれぞれ均一で、かつ第1
の反応ガス及び活性種が上記基板近傍で混合するように
、基板を覆う平板に活性種吹き出し口を多数設けてなる
活性種供給部と、該活性種供給部と基板間に配設した、
反応ガス吹き出し口を多数有する複数のパイプからなる
反応ガス供給部とを設けたものである。
この発明の薄膜形成装置においては、第1の反応ガスと
活性種が基板上に均一に供給され混合されるため、第1
の反応ガス、活性種の混合によって生じる化学変化の結
果、薄膜が形成される反応領域内で薄膜形成速度が均一
になり、基板全体に均一に薄膜が形成される。
活性種が基板上に均一に供給され混合されるため、第1
の反応ガス、活性種の混合によって生じる化学変化の結
果、薄膜が形成される反応領域内で薄膜形成速度が均一
になり、基板全体に均一に薄膜が形成される。
以下この発明の一実施例を図について説明する。
第1図はこの発明の一実施例による薄膜形成装置の内部
を示す斜視図であり、第2図はその第1図における入方
向から見た断面構成図、第3図はその第1図におけるB
方向から見た断面構成図である。第4図は活性種供給部
の内部を示す断面斜視図であり、第5図は反応ガス供給
部の斜視図である。第6図は活性種供給部の活性種吹き
出し口と反応ガス供給部の位置関係図である。
を示す斜視図であり、第2図はその第1図における入方
向から見た断面構成図、第3図はその第1図におけるB
方向から見た断面構成図である。第4図は活性種供給部
の内部を示す断面斜視図であり、第5図は反応ガス供給
部の斜視図である。第6図は活性種供給部の活性種吹き
出し口と反応ガス供給部の位置関係図である。
図において、活性種供給部は活性種吹き出し口14が多
数設けられた2枚の石英板L3a、13b1 この石
英板13a、13bを固定するテフロン製スペーサ19
、及び活性種供給部の外壁15から構成されている。ま
た、18は活性化酸素8の反応室1内壁での失活を防止
するための石英製失活防止板である。16は第1の反応
ガス3、この場合はシランガスを反応ガス吹き出しロア
7から吹き出し基板9上に供給する反応ガス供給部であ
る。
数設けられた2枚の石英板L3a、13b1 この石
英板13a、13bを固定するテフロン製スペーサ19
、及び活性種供給部の外壁15から構成されている。ま
た、18は活性化酸素8の反応室1内壁での失活を防止
するための石英製失活防止板である。16は第1の反応
ガス3、この場合はシランガスを反応ガス吹き出しロア
7から吹き出し基板9上に供給する反応ガス供給部であ
る。
活性種供給部は石英板13aと13bが基板全面を覆い
、かつ基板9と平行になるよう設けられている。反応ガ
ス供給部は第5図に示すように、第1の反応ガス供給口
2a、2bより供給される第1の反応ガス3を均等に分
配する貯気部21a。
、かつ基板9と平行になるよう設けられている。反応ガ
ス供給部は第5図に示すように、第1の反応ガス供給口
2a、2bより供給される第1の反応ガス3を均等に分
配する貯気部21a。
21bと多数の反応ガス吹き出し口17を有する複数の
両端開放のパイプ20aとが連結された構造となってお
り、複数のパイプ20aが基板全面を覆い、かつ基板9
と平行になるよう活性種供給部と基板間に配設される。
両端開放のパイプ20aとが連結された構造となってお
り、複数のパイプ20aが基板全面を覆い、かつ基板9
と平行になるよう活性種供給部と基板間に配設される。
第6図に示すように複数のパイプ20aは石英板13b
の活性種吹き出し口14間の下方位置に配設されており
、活性種の基板上への輸送を妨げるものではない。また
石英板13bの活性種吹き出し口14間の上方位置に活
性種吹き出し口14を有する石英板13aを活性種導入
ロアと石英板13bの間に設け、活性種の基板上への均
一な供給ができる構造となっている。また反応ガス吹き
出し口17を十分小さくすることにより第1の反応ガス
3の基板上への均一な供給ができる。
の活性種吹き出し口14間の下方位置に配設されており
、活性種の基板上への輸送を妨げるものではない。また
石英板13bの活性種吹き出し口14間の上方位置に活
性種吹き出し口14を有する石英板13aを活性種導入
ロアと石英板13bの間に設け、活性種の基板上への均
一な供給ができる構造となっている。また反応ガス吹き
出し口17を十分小さくすることにより第1の反応ガス
3の基板上への均一な供給ができる。
この実施例の薄膜形成装置においては、基板9に対し膜
を形成するには従来装置と同様に反応ガス吹き出し口1
7から第1の反応ガスとしてシランガス3が基板9上に
供給され、また第2の反応ガスとして酸素原子を含むガ
ス4がマイクロ波プラズマ放電管5に供給され、これに
より生成される活性化酸素8が活性種吹き出し口14か
ら基板9上に導入されて活性化酸素8とシランガス3が
基板近傍の空間で化学気相反応を起こし、基板9表面で
シリコン酸化膜の形成を行うのであるが、シランガス3
は貯気部21aと21bで複数の両端開放のパイプ20
aに分配され、さらに多数の反応ガス吹き出し口17か
ら均等に基板9上に供給され、また活性化酸素8は2枚
の石英板13aと13bを通ることにより活性種吹き出
し口14から均等に基板9上に供給される。したがって
基板上での反応ガス及び活性81濃度が一様となり、基
板全面に均一に薄膜を形成することができる。
を形成するには従来装置と同様に反応ガス吹き出し口1
7から第1の反応ガスとしてシランガス3が基板9上に
供給され、また第2の反応ガスとして酸素原子を含むガ
ス4がマイクロ波プラズマ放電管5に供給され、これに
より生成される活性化酸素8が活性種吹き出し口14か
ら基板9上に導入されて活性化酸素8とシランガス3が
基板近傍の空間で化学気相反応を起こし、基板9表面で
シリコン酸化膜の形成を行うのであるが、シランガス3
は貯気部21aと21bで複数の両端開放のパイプ20
aに分配され、さらに多数の反応ガス吹き出し口17か
ら均等に基板9上に供給され、また活性化酸素8は2枚
の石英板13aと13bを通ることにより活性種吹き出
し口14から均等に基板9上に供給される。したがって
基板上での反応ガス及び活性81濃度が一様となり、基
板全面に均一に薄膜を形成することができる。
この薄膜形成装置においては、基板のサイズに応じて石
英板13a、13bを拡大し、パイプ20aの本数を増
やすことにより処理基板の大型化に対応できる。
英板13a、13bを拡大し、パイプ20aの本数を増
やすことにより処理基板の大型化に対応できる。
なお、上記実施例では活性種供給部は円筒形のものにつ
いて示したが、これは第7図の本発明の他の実施例に示
すように直方体状としてもよく、互に逆向きに連結した
構造としてもよい。
いて示したが、これは第7図の本発明の他の実施例に示
すように直方体状としてもよく、互に逆向きに連結した
構造としてもよい。
以上のようにこの発明によれば、基板を収容し、該基板
を保持し加熱するヒータ、第1の反応ガスを供給する反
応ガス供給部、及び第2の反応ガスを励起することによ
り生成される活性種を供給する活性種供給部ををする反
応室を備え、上記基板上に第1反応ガスと活性種の反応
により薄膜を形成するものにおいて、第1の反応ガス及
び活性種濃度が基板上でそれぞれ均一となり、かつ第1
の反応ガス及び活性種が上記基板近傍で混合するように
、基板全体を覆う平板に活性種吹き出し口を多数設けて
活性種供給部を構成し、上記活性種供給部と基板間に反
応ガス吹き出し口を多数有する複数のパイプからなる反
応ガス供給部を配設するようにしたので、基板上での反
応ガス及び活性種濃度が一様となり、大型基板にも全面
に均一に薄膜を形成することができる効果がある。
を保持し加熱するヒータ、第1の反応ガスを供給する反
応ガス供給部、及び第2の反応ガスを励起することによ
り生成される活性種を供給する活性種供給部ををする反
応室を備え、上記基板上に第1反応ガスと活性種の反応
により薄膜を形成するものにおいて、第1の反応ガス及
び活性種濃度が基板上でそれぞれ均一となり、かつ第1
の反応ガス及び活性種が上記基板近傍で混合するように
、基板全体を覆う平板に活性種吹き出し口を多数設けて
活性種供給部を構成し、上記活性種供給部と基板間に反
応ガス吹き出し口を多数有する複数のパイプからなる反
応ガス供給部を配設するようにしたので、基板上での反
応ガス及び活性種濃度が一様となり、大型基板にも全面
に均一に薄膜を形成することができる効果がある。
第1図はこの発明の一実施例による薄膜形成装置の内部
を示す斜視図、第2図はその断面構成図、第3図は他の
方向から見た断面構成図、第4図は活性種供給部の内部
を示す断面斜視図、第5図は反応ガス供給部の斜視図、
第6図は活性種供給部の活性種吹き出し口と反応ガス供
給部の位置関係図、第7図は本発明の他の実施例の活性
種供給部の内部を示す断面斜視図、第8図は本発明の他
の実施例の反応ガス供給部の斜視図、第9図は従来の薄
膜形成装置を示す図である。 図において、1は反応室、3は第1の反応ガス、4は第
2の反応ガス、8は活性種、9は基板、10は基板9が
載置されるヒータ、14は活性種吹き出し口、17は反
応ガス吹き出し口、20はパイプである。
を示す斜視図、第2図はその断面構成図、第3図は他の
方向から見た断面構成図、第4図は活性種供給部の内部
を示す断面斜視図、第5図は反応ガス供給部の斜視図、
第6図は活性種供給部の活性種吹き出し口と反応ガス供
給部の位置関係図、第7図は本発明の他の実施例の活性
種供給部の内部を示す断面斜視図、第8図は本発明の他
の実施例の反応ガス供給部の斜視図、第9図は従来の薄
膜形成装置を示す図である。 図において、1は反応室、3は第1の反応ガス、4は第
2の反応ガス、8は活性種、9は基板、10は基板9が
載置されるヒータ、14は活性種吹き出し口、17は反
応ガス吹き出し口、20はパイプである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)基板を収容し、上記基板を保持し加熱するヒータ、
第1の反応ガスを供給する反応ガス供給部、及び第2の
反応ガスを励起することにより生成される活性種を供給
する活性種供給部を有する反応室を備え、 上記基板上に第1の反応ガスと上記活性種の反応により
薄膜を形成する薄膜形成装置において、上記活性種供給
部は、上記第1の反応ガス及び活性種の濃度が基板上で
それぞれ均一となり、かつ第1の反応ガス及び活性種が
上記基板近傍で混合するように、基板を覆う平板に活性
種吹き出し口を多数設けてなり、 上記反応ガス供給部は、該活性種供給部と基板との間に
配設した、反応ガス吹き出し口を多数有する複数のパイ
プからなるものであることを特徴とする薄膜形成装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP88268746A JPH02114530A (ja) | 1988-10-25 | 1988-10-24 | 薄膜形成装置 |
| US07/362,745 US5010842A (en) | 1988-10-25 | 1989-06-07 | Apparatus for forming thin film |
| GB8913546A GB2226049B (en) | 1988-10-25 | 1989-06-13 | Apparatus for forming thin film |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP88268746A JPH02114530A (ja) | 1988-10-25 | 1988-10-24 | 薄膜形成装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02114530A true JPH02114530A (ja) | 1990-04-26 |
Family
ID=17462762
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP88268746A Pending JPH02114530A (ja) | 1988-10-25 | 1988-10-24 | 薄膜形成装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5010842A (ja) |
| JP (1) | JPH02114530A (ja) |
| GB (1) | GB2226049B (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2691035A1 (fr) * | 1992-05-07 | 1993-11-12 | France Telecom | Dispositif et machine à plasma de traitement chimique et procédé utilisant ce dispositif. |
| JPH07111248A (ja) * | 1993-08-16 | 1995-04-25 | Canon Sales Co Inc | 成膜装置 |
| JP2006319127A (ja) * | 2005-05-12 | 2006-11-24 | Tokyo Electron Ltd | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 |
| JP2007277723A (ja) * | 2006-04-05 | 2007-10-25 | Genus Inc | 反応炉に均一な気体運搬を行う方法および装置 |
| US20140170316A1 (en) * | 2011-08-24 | 2014-06-19 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | Device for manufacturing and method for manufacturing oriented carbon nanotube aggregates |
| US9196460B2 (en) | 2008-06-11 | 2015-11-24 | Tokyo Electron Limited | Plasma processing apparatus and plasma processing method |
Families Citing this family (140)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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