JPH02116362A - 高周波電気メス装置 - Google Patents

高周波電気メス装置

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JPH02116362A
JPH02116362A JP63272829A JP27282988A JPH02116362A JP H02116362 A JPH02116362 A JP H02116362A JP 63272829 A JP63272829 A JP 63272829A JP 27282988 A JP27282988 A JP 27282988A JP H02116362 A JPH02116362 A JP H02116362A
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永住 英夫
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、各電極の高周波電流を検出してその比率を求
め、その値に基づいて高周波出力を制御するようにした
高周波電気メス装置に関する。
[従来の技術] 一般に、高周波電気メス装置においては、電気的な接触
の不良によって不慮の火傷事故が起きることがあるため
、それについて対策を施すことが必要となっている。
ところで、上述の火傷事故が生じる原因として最も多い
のは、高周波電気メス装置とモニタ機器等とが組み合わ
されて使用される場合であって、使用中に患者と患者電
極との電気的接触が不良になったり或いは患者電極に接
続したコードが新線したりして焼灼電流がモニタ機器の
電極等の患者に接触されている受面積の金属片を介して
流れる場合pある。又、電気的接触が正常であっても、
接地された電動ベツドに患者の手が触れたりすると、そ
の部分に高周波電流が流れてしまい、火傷が引き起こさ
れることもある。
これに対する対策として、持回昭和61−32016号
公報に開示されている先行技術例では、5処置具電極に
流れる電流IAと患者電極に流れる電流1pとを検出し
、その比IA/IPを求め、この比■^/Iρの値が一
定の基準値を下回っているときには高周波電流を制御す
るようにしている。この先行技術例によれば、上記のよ
うに患者に接触されている受面積の金属片を介して電流
が流れてしまい患者電極に電流が流れない場合に、高周
波電流を小さくするので、火傷に至る事故を防ぐことが
できた。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、上記先行技術例では、スコープに漏れた
電流を回収するためのSコードを接続しているシステム
において漏れの大きい(長く、表面積の大きい)スコー
プを使用した場合に、患者電極に流れる電流が少なくな
るため、高周波出力を制限してしまい、処nそのものが
できなくなる状況が生じていた。又、Sコードは、スコ
ープの内部或いは外装から漏れた電流を回収するもので
あるため、このSコードがない場合には、例えば操作部
等の金属部から手術者に電流が流れて火傷を生じさせる
ことがあった。
し発明の目的] 本発明は、上記の事情に鑑みてなされたものであり、焼
灼電流の漏れによる不慮の事故を確実に防ぐことができ
且つ確実に高周波処置のできる高周波電気メスを提供す
ることを目的とする。
[課題を解決するための手段] 本発明の高周波電気メス装置は、生体の患部に接触づる
処置用電極と、患者に接触する患者電極と、内視鏡挿入
部のブレード部に接続されるスコープ電極とを有する高
周波電気メス装置において、前記処置用電極と前記患者
電極と前記スコープ電極にそれぞれ流れる高周波電流I
A、IP、ISの値を検出する検出手段と、この検出手
段により検出されたIA、IP、ISの値からI p 
/ I AとIS/IAとを求める算出手段と、このI
P/I^とIS/I^の値に基づいて高周波出力を制御
する制御手段とを設けたものである。
[作用] 即ち、本発明の高周波電気メス装置においては、処置用
電極と患者電極とスコープ電極にそれぞれ流れる高周波
電流IA、IP、ISの値を検出され、IP/I八とI
S/IAとが求められ、このtp/I^とIS/I^の
値に基づいて高周波出力が一制御される。
[実施例] 以下、添附図面を参照しながら本発明の実施例について
述べる。
第1図ないし第4図は本発明の第1実施例に係わり、第
1図は高周波電気メス装置の構成を示すプ〔1ツク図、
第2図は第1図の高周波電気メス装置を実際に患者に使
用した場合に各電極に流れる電流を示す図、第3図は内
視鏡挿入部の断面図、第4図は各電極に流れる電流とそ
の比率を示す図Cある。3 第2図に示すように、第1実施例の高周波電気メス装置
1は、アクティブ用のAコネクタ2と、ス」−ブ用のS
コネクタ3と、患者用のPコネクタ4とを備えている。
そして、前記Aコネクタ2は、Aコード5を介しT処置
具6に接続されるようになりており、この処置具6は、
内?f!鏡の保持”イ(;7のチャンネル挿入口を通過
して内視鏡挿入部8を挿通されて、生体9の体内に接触
するようになっている。又、前記Sコネクタ3は、Sコ
ード10を介して、ブレード11に接続されたS口金1
2に接続されるようになっている。又、前記Pコネクタ
4は、Pコード13を介して、生体9に大きな面積にわ
たり接触しているPプレー ト14に接続されるように
なっている。
第3図は、前記内視鏡挿入部8の断面図である。
この挿入部8の最も外側には、絶縁材による外被20が
設けられており、この外被20の内側には、ステンレス
等の金属を含んだブレード11がこの外被20に85着
するように設けられている。このブレード11の内側に
は、照明光を伝達するライトガイド21と、内視鏡の先
端部において結像した画像を信号として伝えるイメージ
ガイド22と、絶縁デユープで他の部分と分離されてい
〈′処置具6等を通過させるチャンネルチューブ23と
が備えられている。この処置具6は、処置具絶縁チュー
ブ24の中に、より線や単線のワイア等T−慴成される
処置具導電部25を有している。
第1図は、第1実施例の高周波電気メス装置1の構成を
示すものである。この高周波電気メス装置1では、出力
制御回路31から出力される波形と大きさを制御された
高周波信号がパワーアンプ32に印加されて、このパワ
ーアンプ32により増幅された後に変圧器33の1次側
に入力されるようになっており、この変圧器33の2次
側からが圧された高周波信号が発生されるようになって
いる。この高周波信号のうち、前記Aコネクタ2へ流れ
る電流(IA)の直流成分がAキャパシタ34により阻
止されるようになっている。そして、検出手段としての
Aカレントセンサ35が、前記1^の大きざを検出し、
算出手段としてのレベル検出比較回路36へ伝えるよう
になっている。同様に、Sキャパシタ37は前記高周波
信号のうち前記Sコネクタ3に流れる電流(IS)の直
流成分を阻止づるようになっており、検出手段としての
Sカレントセンサ38が前記TSの大きさを検出し、前
記レベル検出比較回路36へ伝えるようになっている。
そして、Pキャパシタ39は、前記高周波信号のうちの
前記Pコネクタ4に流れる電流(IP)の直流成分を阻
止するようになっており、検出手段としてのPカレント
センサ40が前記1pの大きさを検出し、前記レベル検
出比較回路36へ伝えるようになっている。前記レベル
検出比較回路36では、これらの各電流のレベルを比較
して、その結果を制御手段としての出力制御回路31に
伝えるようになっている。この出力制御回路31では、
その比較結果に曇づいて高周波出力の制御を行うように
なっている。
次に、以上のように構成された本実施例の動作について
述べる。
Aコネクタ2から出力された高周波電流は、スコープの
チャンネルチューブ23内を挿通されIζ処置具6を通
じて、生体9の一部分(例えばポリープ頚部)に流れる
。この生体9に流れた電流の大部分は、この生体9に接
触しているPプレート14を介してPコード13へ流れ
、更に、この[)コード13を通じてPコネクタ4へ流
れる。ヌ、生体9に流れた電流の一部分は体表面から大
地に向かって流れ(IP)、一部分はスコープの外被2
0を介してブレード11に流れて、S口金12とSコー
ド11とを経由してSコネクタ3に流れる。又、Aコネ
クタ2から出力された高周波電流は、スコープの内部で
も処置具絶縁チューブ24と、チャンネルチューブ23
とを介してブレード11に流れ込む。このブレード11
に高周波電流が流れ込むのは、絶縁材であってもキャパ
シタ分を有しているために高周波に対しては高いインビ
ダンスを保持できなくなり電流が流れてしまうためであ
る。このブレード11に流れ込んだ電流は、S口金12
とSコード11を経由してSコネクタ3に流れる。
第4図は、各電極に流れる電流の大きさとその比率を種
々の組み合せについて示すものであり、この図を参照し
ながら、A〜Fの各状態と、その状態が危険な状態であ
るかどうかの判断について説明する。
まず、Δ状態においては、IAに対するIPの比率が1
:1であって、ISとIRがないという理想的な状態で
ある。この場合には、IP/ I A=100%となり
、漏れ電流のない安全な状態と判断される。
B状態においては、IP/IA=75%であり、どこか
に電流が漏れているということがわかり、IS/I^=
25%であることから、電流が漏れているのはスコープ
に対してのみであるということがわかる(75%+25
%)ため、特に危険な状態ではないということが判断で
きる。
C状態においては、IP/IA=75%という点につい
ては上記B状態と同一であるが、IS/I^−0%であ
るため、残りの25%が他の部分に流れていることがわ
かり、これは、漏れでいる部位や面積によっては危険な
状態であるということが判断できる。
D状態においては、IP/I^−50%と、かなり少な
く、半分が他の部分に流れていることがわかる。しかし
、IS/IA=50%であるため、漏れている電流は全
てスコープに流れていることがわかり、特に危険な状態
ではないものど判断される。
E状態においては、IP/I^=50%という点では上
記り状態と同様であるが、I s / I^=25%で
あることから、残りの25%は他の部分に流れてしまっ
ていることがわかり、漏れている部位や面積によっては
危険な状態であるということが判断できる。
F状態においては、IP/I^=50%であり、その点
では上記り状態及び上記E状態と同様であるが、IS/
IA=0%であり、残りの50%は他の部分に漏れてし
まっている。
上記E状態及び上記F状態は、IP/IAのレベルとし
ても恕く、なおかつ漏れ電流が大きいという非常に危険
な状態であると判断できる。
IP/I^のレベルを70%程度とした場合、従来のI
P/I^のみでの判断では、D状態は当然危険であると
判断して高周波出力の制御を行うことになるが、IS/
IAの値も考慮に入れて判断を行うと、高周波出力の制
限は行なわれない。
これは、Pプレートに回収されなかった高周波電流も全
てSコード10に回収されているので安全であると判断
したからである。
以上述べたように、本実施例によれば、高周波出力の制
限を行うか行なわないかを判断する際にIP/IAの値
とI s / I Aの値の両方を考慮に入れることに
より、漏れ電流が全てスコープに対して流れている場合
には高周波出力の制限をせずに正常な処置が行える。
第6図は、本発明の第2実施例の高周波メス装置の構成
を示1ブロック図である。この第2実施例の高周波メス
装置は、上記第1実施例の装置の出力制御回路31にス
]−ブの情報(長さ、太ざ等)を読み込む能力を設け、
それに伴いスコープに接続するための81コネクタ42
を追加したものである。
この第2実施例は、その他の点については上記第1実施
例と同様の構成であり、同一の要素には同一の参照符号
を付して説明する。
第5図から明らかなように、スコープの挿入部が長いほ
ど、またスコープの外径が太い(表面積が大きい)はど
、処置具に流れている電流がスコープのブレード11に
流れ込む母は大きくなる。
換言すれば、長いスコープを用いた場合には、短いスコ
ープを用いた場合よりもPプレートに戻る電流が減少し
、I p / I^の値も低下する。このため、長いス
コープを用いて高周波処置を行おうとした場合、IP/
IAの判断により高周波出力が制限されて実際の短刀が
できないことが生じていた。
第6図に示す高周波メス装置においては、スコープから
の情報を予めチエツクし、長いスコープであればIP/
IAの値が低めで、IS/■^の値が高めであっても高
周波出力の制限をせずに、一方、短いスコープでI s
 / I^の値が高めである場合には問題があるものと
みなして高周波出力を制限するようにづる。
スコープの情報は、ROMにディジタル型式のコードで
入力されているものとし、それを高周波メス装置から読
み取れるようなインターフェースが設けであるものとす
る。
又、スコープの情報は、スコープから直接ではなく、光
源装置を介して読み取るようにしても良い。
このように、この第2実施例によれば、上記第1実施例
に比べて、スコープの長さ、太さ等の高周波′ii流の
漏れるレベルに関する情報を予め得ることが可能である
ため、IS/I^の安全レベルや危険レベルのスレッシ
ュホールド値をスコープに合わせて設定することができ
、それによって、確実に安全、危険の判断を行うことが
でき、より確実な高周波処置を行うことが可能となる。
尚、上記各実施例は本発明を電子スコープに適用した例
について述べたものであるが、本発明はこれに限定され
ず、オプティカルスコープについても適用することがで
きる。
[発明の効果] 以上述べたように、本発明によれば、患者電極に流れる
電流とスコープに漏れた電流の両方を処置具電極に流れ
る電流と比較することにより、焼灼電流の漏れによる不
慮の事故を確実に防ぐことができ、且つ、確実に高周波
処置を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図ないし第4図は本発明の第1実施例に係わり、第
1図は高周波電気メス装置の構成を示すブロック図、第
2図は第1図の高周波電気メス装置を実際に患者に使用
した場合に各電極に流れる電流を示す図、第3図は内視
鏡挿入部の断面図、第4図は各電極に流れる電流とその
比率を示す図であり、第5図及び第6図は本発明の第2
実施例に係わり、第5図はスコープの長さと太さによる
電流の量を示す図、第6図は高周波電気メス装置の構成
を示すブロック図である。 1・・・高周波電気メス装置 2・・・Aコネクタ    3・・・Sコネクタ4・・
・Pコネクタ 31.41・・・出力制御回路 35・・・Aカレントセンサ 36・・・レベル検出比較回路 38・・・Sカレントセンサ 40・・・Pカレントセンサ 42・・・SIコネクタ 第 図 第3図 第4図 第2図 7Sイ 7?A 父% 父% 父に 25%  CI”4 50% 25%  OX手続ネF
tiTE付〕(自発) 第5図 昭和63年12月7日 第6図 1、事件の表示 2、発明の名称 3、補正をする者 事件との関係 住  所 名  称 昭和63年特許願第272829号 高周波電気メス装置

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 生体の患部に接触する処置用電極と、患者に接触する患
    者電極と、内視鏡挿入部のブレード部に接続されるスコ
    ープ電極とを有する高周波電気メス装置において、前記
    処置用電極と前記患者電極と前記スコープ電極にそれぞ
    れ流れる高周波電流I_A、I_P、I_Sの値を検出
    する検出手段と、この検出手段により検出されたI_A
    、I_P、I_Sの値からI_P/I_AとI_S/I
    _Aとを求める算出手段と、このI_P/I_AとI_
    S/I_Aの値に基づいて高周波出力を制御する制御手
    段とを設けたことを特徴とする高周波電気メス装置。
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