JPH02119228A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPH02119228A JPH02119228A JP63272550A JP27255088A JPH02119228A JP H02119228 A JPH02119228 A JP H02119228A JP 63272550 A JP63272550 A JP 63272550A JP 27255088 A JP27255088 A JP 27255088A JP H02119228 A JPH02119228 A JP H02119228A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor device
- area
- bump
- bump electrode
- electrode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、半導体装置に関し、特に、バンプ電極を有す
る半導体装置に間する。
る半導体装置に間する。
従来の技術
従来、この種の半導体装置は、第3図に示すように装置
内すべてのバンプ電極が正方形となっていた。
内すべてのバンプ電極が正方形となっていた。
第3図はこの種の半導体装置を示す平面図である。第3
図において、31はバンプ電極を示し、このバンプ電極
31は正方形に形成されている。
図において、31はバンプ電極を示し、このバンプ電極
31は正方形に形成されている。
発明が解決しようとする課題
半導体装置は高機能化に伴い、多ビン化の傾向にあり、
その電極引き出し法はワイヤーボンディング法に比べ、
バンプ電極を用いるTAB法がより高密度化が可能であ
る。
その電極引き出し法はワイヤーボンディング法に比べ、
バンプ電極を用いるTAB法がより高密度化が可能であ
る。
しかしながら、TAB法においても内部素子の微細化に
比べ、バンプ電極及び電極間距離の微細化はボンディン
グ強度、バンプ電極の変形による電極間短絡等の面から
技術的に困難な点が多い、従って、従来の半導体装置の
ように正方形のバンプ電極しか有していない場合には、
半導体装置の大きさは、バンプ電極の数、バンプ電極の
一辺の長さ及び電極間間隔で一義的に決まる大きさ以下
にすることは不可能であり、多ピン化に伴い、半導体装
置の大きさを増大させざるを得ないという欠点があった
。
比べ、バンプ電極及び電極間距離の微細化はボンディン
グ強度、バンプ電極の変形による電極間短絡等の面から
技術的に困難な点が多い、従って、従来の半導体装置の
ように正方形のバンプ電極しか有していない場合には、
半導体装置の大きさは、バンプ電極の数、バンプ電極の
一辺の長さ及び電極間間隔で一義的に決まる大きさ以下
にすることは不可能であり、多ピン化に伴い、半導体装
置の大きさを増大させざるを得ないという欠点があった
。
本発明は従来の上記実情に濫みてなされたものであり、
従って本発明の目的は、従来の技術に内在する上記欠点
を解消し、ボンディング強度を低下させることなく装置
面積を縮小化することを可能とした新規な半導体装置を
提供することにある。
従って本発明の目的は、従来の技術に内在する上記欠点
を解消し、ボンディング強度を低下させることなく装置
面積を縮小化することを可能とした新規な半導体装置を
提供することにある。
発明の従来技術に対する相違点
上述した従来の半導体装置に対し、本発明は、少なくと
も一辺に対し、該辺の垂直方向に長辺を持つ長方形のバ
ンプ電極を有するという相違点を有する。
も一辺に対し、該辺の垂直方向に長辺を持つ長方形のバ
ンプ電極を有するという相違点を有する。
課題を解決するための手段
前記目的を達成する為に、本発明に係る半導体装1は、
少なくとも一辺に対し、該辺の垂直方向に長辺を持つ長
方形のバンプ電極を備えて構成される。
少なくとも一辺に対し、該辺の垂直方向に長辺を持つ長
方形のバンプ電極を備えて構成される。
実施例
次に本発明をその好ましい各実施例について図面を参照
して具体的に説明する。
して具体的に説明する。
第1図は本発明による第1の実施例を示す平面図である
。
。
第1図を参照するに、この第1の実施例においては、半
導体装置10に設けられたバンプ電極11は、長方形に
形成されており、半導体装置lOの各辺に対して垂直方
向に長辺を持っている。短辺と長辺の比は例えば1 :
1.44となっている。従来の正方形のバンプ電極に
対し、同一電極面積とした場合には短辺は正方形バンプ
電極の一辺に対し、約83%の長さとなる0本第1の実
施例では第3図に示す従来の半導体装置30に比べ面積
比で92%に縮小されている。
導体装置10に設けられたバンプ電極11は、長方形に
形成されており、半導体装置lOの各辺に対して垂直方
向に長辺を持っている。短辺と長辺の比は例えば1 :
1.44となっている。従来の正方形のバンプ電極に
対し、同一電極面積とした場合には短辺は正方形バンプ
電極の一辺に対し、約83%の長さとなる0本第1の実
施例では第3図に示す従来の半導体装置30に比べ面積
比で92%に縮小されている。
一方、バンプ電極11の゛面積は従来と同一であるため
に、接合強度は従来の場合と殆ど変わらず、問題となら
ない、電極数が多い程縮小効果は大きくなり、電極間隔
を同一とした場合、本実施例の場合には、最大的80%
までの縮小化が可能である。
に、接合強度は従来の場合と殆ど変わらず、問題となら
ない、電極数が多い程縮小効果は大きくなり、電極間隔
を同一とした場合、本実施例の場合には、最大的80%
までの縮小化が可能である。
第2図は本発明による第2の実施例を示す平面図である
。
。
第2図を参照するに、本実施例ではバンプ電極21の短
辺と長辺の比は1:2となっている。同一面積の従来の
バンプ電極の一辺の長さに対し、本実施例の短辺の長さ
は約70%の長さとなる。短辺の縮小化に伴い、ボンデ
ィング精度の向上、インナーリードの強度の強化が必要
であるが、本実施例の場合には、従来の場合に比べて電
極間隔を同一とした場合に最大的65%までの縮小化が
可能である。
辺と長辺の比は1:2となっている。同一面積の従来の
バンプ電極の一辺の長さに対し、本実施例の短辺の長さ
は約70%の長さとなる。短辺の縮小化に伴い、ボンデ
ィング精度の向上、インナーリードの強度の強化が必要
であるが、本実施例の場合には、従来の場合に比べて電
極間隔を同一とした場合に最大的65%までの縮小化が
可能である。
発明の詳細
な説明したように、本発明によれば、バンプ電極が装置
の大きさの決定要因となるような多ピンの半導体装置の
場合に、少なくとも一辺に対し、該辺の垂直方向に長辺
を持つ長方形のバンプ電極を有することにより、ボンデ
ィング強度を下げることなく半導体装置の面積の縮小化
ができる効果が得られる。
の大きさの決定要因となるような多ピンの半導体装置の
場合に、少なくとも一辺に対し、該辺の垂直方向に長辺
を持つ長方形のバンプ電極を有することにより、ボンデ
ィング強度を下げることなく半導体装置の面積の縮小化
ができる効果が得られる。
第1図は本発明による第1の実施例を示す平面図、第2
図は本発明による第2の実施例を示す平面図、第3図は
従来におけるこの種の半導体装置の平面図である。 10.30・・・半導体装置、11.21.31・・・
バンプ1橿特許出願人 日本電気株式会社 代 理 人 弁理士 熊谷雄太部
図は本発明による第2の実施例を示す平面図、第3図は
従来におけるこの種の半導体装置の平面図である。 10.30・・・半導体装置、11.21.31・・・
バンプ1橿特許出願人 日本電気株式会社 代 理 人 弁理士 熊谷雄太部
Claims (1)
- 少なくとも一辺に対し、該辺の垂直方向に長辺を持つ長
方形のバンプ電極を有することを特徴とする半導体装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63272550A JPH02119228A (ja) | 1988-10-28 | 1988-10-28 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63272550A JPH02119228A (ja) | 1988-10-28 | 1988-10-28 | 半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02119228A true JPH02119228A (ja) | 1990-05-07 |
Family
ID=17515466
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63272550A Pending JPH02119228A (ja) | 1988-10-28 | 1988-10-28 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02119228A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5473197A (en) * | 1993-05-28 | 1995-12-05 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device having bump electrodes with a trapezoidal cross-section along one axis |
-
1988
- 1988-10-28 JP JP63272550A patent/JPH02119228A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5473197A (en) * | 1993-05-28 | 1995-12-05 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device having bump electrodes with a trapezoidal cross-section along one axis |
| US5587337A (en) * | 1993-05-28 | 1996-12-24 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor process for forming bump electrodes with tapered sidewalls |
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