JPH02122645A - Ｉｃ製造用トレー - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はＩＣ製造工程に用いるＩＣ製造用トレーに関す
るものである。

〔従来の技術〕

従来のこの種のトレーの断面図を第５図に示す。第５図
に示すように、ＩＣＩの大きさに合わせ、リード５を逃
げるだけの溝加工のみが施されている。

従って、ＩＣＩの電気特性試験等の作業時は１つ１つト
レーより取り出さなければならなかった。

〔発明が解決しようとする課題〕

上述した従来のトレーは、ＩＣを１つ１つトレーより取
り出し電気特性試験等の作業をしなければならず、その
取り出し及び作業後の収納作業に要す時間は相当長時間
を要し、製造工程において、納期遅れの一つの原因とな
るという欠点がある。

また、ＩＣに人間の手が接れることによりＩＣの外観不
良を発生させるという欠点もある。

本発明の目的は、ＩＣ製造工程においてＩＣを外へ取出
すことなしに電気特性試験等を実施することができ、そ
の結果ＩＣの取り出し、収納の時間の短縮ができ、かつ
人手に触れずに作業できることにより外観不良の発生も
防止できるＩＣ製造用トレーを提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

本発明のＩＣ製造用トレーは、ＩＣリードに合わせた穴
を有していることを特徴として構成される。

〔実施例〕

第１図は本発明の一実施例の外観図、第２図は第１図の
要部の断面図である。

第１図に示す様に、複数のＩＣ１を乗せたトレー２の底
面のＩＣのリードに合わせた位置に六３の加工を施して
おく。

トレーに乗せたＩＣの電気特性試験時には、ＩＣをトレ
ー２より取出すことなく、六３より電気特性試験用の接
触子４を挿入し、ＩＣＩのり−ド５に接続させ測定する
。

第３図は本発明の他の実施例の外観図である。

第１の実施例と同様に、トレーの底面、ＩＣＩのリード
５に対する面にＩＣＩのリード数に合わせ、入り勝手を
持った六３の加工を施しておく。

通常の運搬時にはＩＣＩはバネ圧で上方へ持ち上げられ
た台６の上にあるが、電気特性試験を行なう際には、第
４図に示すようにＩＣＩの上方よりブツシャ−７で押す
ことにより、トレー底面へＩＣＩのリード５を出し、こ
れに電気特性試験用の接触子４を接続させ測定する。

この実施例では精度良く加工された穴３にＩＣ１のリー
ド３を入れるため、ＩＣＩを静止・固定する際の位置精
度が向上するという利点がある。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明のトレーはＩＣリードに合
わせた位置に穴を有しているので、ＩＣ製造工程におい
てＩＣを外へ取り出すことなく、電気特性試験等の作業
ができ、作業時間を短縮できる効果がある。

更に、製造工程内で人間の手がＩＣに触れることがなく
なり、人的なミスによるＩＣの外観不良の発生を防止で
きる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の外観図、第２図は第１図の
要部断面図、第３図は本発明の池の実施例の断面図、第
４図は第３図の実施例の動作を示す断面図、第５図は従
来のトレーの断面図である。 １・・・ＩＣ１ ２・・・トレー ３・・・穴、 ４・・・電気特性 試験用接触子、 ５・・・ ＩＣのリード、 ６・・・台、 ７・・・ プッシャー

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 　ＩＣ製造工程に用いるトレーにおいて、ＩＣリードに
   合わせた穴を有することを特徴とするＩＣ製造用トレー
   。