JPH02125874A - ダイヤモンド類薄膜の製造方法 - Google Patents

ダイヤモンド類薄膜の製造方法

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JPH02125874A
JPH02125874A JP28021488A JP28021488A JPH02125874A JP H02125874 A JPH02125874 A JP H02125874A JP 28021488 A JP28021488 A JP 28021488A JP 28021488 A JP28021488 A JP 28021488A JP H02125874 A JPH02125874 A JP H02125874A
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伊藤 利通
Nariyuki Hayashi
林 成幸
Atsuhiko Masuda
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明はダイヤモンド類薄膜の製造方法に関し、さら
に詳しく言うと、基材との密着性に優れるとともに、歪
が少なくて、たとえば切削工具類、耐摩耗性機械部品、
電子材料などに好適に利用することのできるダイヤモン
ド膜および/またはダイヤモンド状炭素膜を、効率良く
簡便に得ることのできるダイヤモンド類薄膜の製造方法
に関する。
[従来技術および発明が解決しようとする側1ダイヤモ
ンド膜および/またはダイヤモンド状炭素膜は硬度、耐
摩耗性、電気絶縁性、熱伝導性および固体潤滑性などに
優れていることから、たとえば切削工具類、電子材料な
どの各種分野において、基材の表面に薄膜を形成するこ
とにより利用されつつある。
ところで、ダイヤモンドおよび/またはダイヤモンド状
炭素(以下、この両者をダイヤモンド類と総称すること
がある。)は共有結合結晶で他の物質とは殆ど反応しな
いので、基材上にダイヤモンド類の膜を形成すると、基
材とダイヤモンド類の膜との密着性が充分ではないとい
う問題が生じる。
そこで、基材とダイヤモンド類の膜との密着性の向上を
図ることを目的として種々の提案がなされている。
たとえば、特開昭62−196371号公報においては
、基材とダイヤモンド膜との間に、基材に比較してダイ
ヤモンド膜との密着性に優れた非晶質ダイヤモンド状構
造の中間層を設けてなるダイヤモンド被覆部材が提案さ
れている。
しかしながら、このダイヤモンド被覆部材においては、
基材とダイヤモンド膜との間に新たに中間層を設ける必
要があるので、製造工程が繁雑であるという問題がある
。また、中間層が非晶質ダイヤモンド状構造の層からな
るので、この中間層に割れやクラックが発生し易くて、
結果的に基材とダイヤモンド膜との密着性は必ずしも実
用的なレベルに達しているとは言い難い。しかも、中間
層に割れやクラックが発生すると、被覆ダイヤモンド層
自体にもクラックが発生して実用に耐えられないことが
ある。
一方、前記公報においては、中間層を非晶質ダイヤモン
ド状構造の層と、この層に隣接すると共に1周期律表I
Va、Va、Vla族の金属又はSiの炭化物、窒化物
、酸化物、ホウ化物もしくはAnの窒化物、ホウ化物、
酸化物及びこれらの相互固溶体の中の少なくとも1種で
なる単層あるいは2種以上てなる多層からなる密着補助
層とで構成するタイヤセント被覆部材も提案されている
。
しかしながら、このダイヤモンド被覆部材においては、
中間層を構成する密着補助層の形成にダイヤモンド膜製
造原料以外の原料を使用しなければならないとともに、
ダイヤモンド膜の製膜条件とは大巾に異なる条件を設定
しなければならないので、製造工程がさらに繁雑になる
という問題がある。
さらに、超硬合金製の工具などの大村上にダイヤモンド
膜を形成する場合には、超硬合金中に含まれるコバルト
への炭素の拡散係数が大きくて、しかも侵入型炭化物か
生成するのて、コバルトの金属格子が歪むことか知られ
ている。このため、従来の方法においては、特に結晶性
ダイヤモンド膜を形成する場合の基材の温度か高く、原
料ガス中の炭素かコバルトに拡散し易いことから、コバ
ルトの金属格子に歪みを生じ易くて、基材とダイヤモン
ド膜との密着性に悪影響を及ぼしている可能性か高い。
この発明は、前記の事情に基いてなされたものでである
。
この発明の目的は、残留歪が少なくて基材との密着性に
優れるダイヤモンド膜および/またはダイヤモンド状炭
素膜を効率よく簡便に得ることのできるダイヤモンド類
薄膜の製造方法を提供することにある。
[課題を解決するための手段] 前記課題を解決するために本発明者か鋭意検討を重ねた
結果、基材温度を上昇させる特定の方法によると、残留
歪が少なくて、結果として基材との密着性に優れるとと
もに、均質で安定なダイヤモンド膜および/またはダイ
ヤモンド状炭素膜を効率よく簡便に得ることができるこ
とを見い出して、この発明に到達した。
請求項1の発明の構成は、炭素源ガスを含有する原料ガ
スを励起して得られるガスを、基材温度を上昇させなが
ら基材に接触させて、前記大村上にダイヤモンド膜およ
び/またはダイヤモンド状炭素膜を形成することを特徴
とするダイヤモンド類薄膜の製造方法てあり、 請求項2の発明の構成は、基材温度の上昇を段階的に行
なう請求項1に記載のダイヤモンド類薄膜の製造方法で
ある。
この発明において使用に供される前記基材の材質には特
に制限がなく、たとえばシリコン、アルミニウム、チタ
ン、タングステン、モリブデン、コバルト、クロムなど
の金属、これらの酸化物、窒化物および炭化物、これら
の合金、WC−Go系、WC−TiC−Go系、IC−
Tie −TaC−Go系などの超硬合金、Al20i
 −Fe系、Tic−Ni系、TiC−Go系、TiC
−TiN系、84C−Fe系等のサーメット、さらには
各種ガラスやセラミックスなどの中から選ばれた任意の
ものを用いることができる。
また、この基材の形状についても特に制限はなく、たと
えば板状、線状、パイプ状等、さらにドリル、チップ等
の工具の形状などの任意の形状のものを用いることがで
きる。
特に、前記基材が超硬合金からなる工具類であると、こ
の発明の方法により得られるダイヤモンド膜および/ま
たはダイヤモンド状炭素膜を形成してなる基材を、その
まま工具類として用いることか可能である。
そのような工具類としては、たとえばソリッドドリル、
ミクロンドリル等の穴あけ工具;一般旋削用、カッター
用等のチウプ:エンドミル:バイトなどの各種切削工具
を好適例として挙げることができる。
この発明の方法においては、前記基材の温度を上昇させ
ながら、炭素源ガスを含有する原料ガスを励起して得ら
れるガスを前記基材に接触させて、前記基材上にダイヤ
モンド膜を形成する。
使用に供される前記原料ガスは、少なくとも炭素源ガス
を含有するものてあればよく、具体例としては、たとえ
ば炭素源ガスと水素ガスとの混合ガスを挙げることがで
きる。
また、所望により、前記原料ガスとともに、不活性ガス
等のキャリヤーガスを用いることもできる。
前記炭素源ガスとしては、各種炭化水素、含酸素化合物
、含窒素化合物等のガスを使用することかできる。
炭化水素化合物としては、例えばメタン、エタン、プロ
パン、ブタン等のパラフィン系炭化水素;エチレン、プ
ロピレン、ブチレン等のオレフィン系炭化水素;アセチ
レン、アリレン等のアセチレン系炭化水素:ブタジェン
等のジオレフィン系炭化水素;シクロプロパン、シクロ
ブタン、シクロペンタン、シクロヘキサン等の脂環式炭
化水素二ジクロブタジェン、ベンゼン、トルエン、キシ
レン、ナフタレン等の芳香族炭化水素を挙げることかで
きる。
含酸素化合物としては、例えばアセトン、ジエチルケト
ン、ベンゾフェノン等のケトン類:メタノール、エタノ
ール、プロパツール、ブタノール等のアルコール類:メ
チルエーテル、エチルエーテル、メチルエチルエーテル
、メチルプロピルエーテル、フェノールエーテル、ジオ
キサン等のエーテル類:ホルムアルデヒド、アセトアル
デヒド、ベンズアルデヒド等のアルデヒド類;酢酸、プ
ロピオン酸、コハク酸等の有機酸類:酢酸メチル、酢酸
エチル等の酸エステル類;エチレングリコール、ジエチ
レングリコール等の二価アルコール類ニー酸化炭素、二
酸化炭素等を挙げることかできる。
含窒素化合物としては、例えばトリメチルアミン、トリ
エチルアミンなどのアミン類等を挙げることができる。
また、炭素源として、単体ではないが、消防法に規定さ
れる第4類危険物:ガソリンなどの第1石油類、ケロシ
ン、テレピン油、しょう脳油、松根油などの第2石油類
1重油などの第3石油類、ギヤー油、シリンダー油など
の第4石油類などをも使用することができる。また前記
各種の炭素化合物を混合して使用することもできる。
これらの炭素源の中でも、常温で気体または蒸気圧の高
いメタン、エタン、プロパン等のパラフィン系炭化水素
、アセトン、ベンゾフェノン等のケトン類、メタノール
、エタノール等のアルコール類、−酸化炭素、二酸化炭
素ガス等の含酸素化合物が好ましい。
前記水素ガスには、特に制限がなく、たとえば石油類の
ガス化、天然ガス、水性ガスなどの変成、水の電解、鉄
と水蒸気との反応1石炭の完全ガス化などにより得られ
るものを充分に精製したものを用いることができる。
前記水素ガスを構成する水素は励起されることにより原
子状水素を形成する。
この原子状水素は、ダイヤモンド類の析出と同時に析出
する黒鉛構造の炭素等の非ダイヤモンド類を除去する作
用を有する。
前記原料ガスに炭素源ガスと水素ガスとの混合ガスを使
用する場合の炭素源ガスと水素ガスとの混合比は、通常
、前記炭素源ガスと前記水素との合計流量に対して前記
炭素源ガスの流量が0,1〜90モル%、好ましくは0
.2〜80モル%、さらに好ましくは0.2〜60モル
%である。
混合ガス中の炭素源ガスの流量が0.1モル%よりも少
ないとダイヤモンド類が析出しなかったり、ダイヤモン
ド類がたとえ析出してもその堆積速度が著しく小さくな
ったりすることがある。
前記原料ガスを励起する手段には、特に制限はなく、た
とえば直流放電法、直流または交流アーク放電法、高周
波プラズマCVD法、マイクロ波プラズマCVD法、電
子サイクロトロン共鳴(ECR)−プラズマCVD法、
有磁場マイクロ波プラズマCVD法、プラズマ分解をイ
オン室またはイオン銃で行なわせて電界によりイオンを
弓き出すイオンビーム法、熱フィラメントによる加熱に
より熱分解する熱分解法(EACVD法を含む。)ある
いはこれらの組合せ法などのいずれをも採用することが
できる。
この発明の方法における反応は、炭素源ガスを含有する
原料ガスを励起して得られるガスを、基材に接触させる
ことにより、前記基材上にダイヤモンド膜および/また
はダイヤモンド状炭素膜を形成する反応が進行する初期
段階と、この初期段階における基材温度を上昇させた後
、前記のガスをさらに基材に接触させることにより、ダ
イヤモンド膜および/またはダイヤモンド状炭素膜を形
成する反応か初期段階に引き続いて進行する高温段階と
に分けることがてきる。ここて、基材温度の」二昇は、
連続的に行なってもよいし、段階的に行なってもよい。
そして、基材温度の」−昇を段階的に行なう場合に前記
の高温段階は一段階のみ設定してもよいし、二段階以上
設定してもよい。この発明の方法においては、通常、高
温段階を一段階のみ設定すれば充分である。
ダイヤモンド類薄膜の製造条件は、基材上に形成される
ダイヤモンド類の種類によって適宜に決定される。たと
えば基材温度は室温から1500°Cまでの巾広い範囲
で変更可能である。以下に、主として結晶性の高いダイ
ヤモンド膜を製造するための条件について詳述する。
先ず、前記初期段階における基材温度は、通常、300
°C以上てあり、好ましくは500℃〜850°Cであ
る。
この温度か300°Cより低いと、ダイヤモンドの析出
速度か遅くなったり、非タイヤセント類を多量に含んだ
膜が形成されることかある。
前記高温段階における基材温度は、通常、700°C以
上であり、好ましくは800°C以上である。
この発明において、基材温度を段階的に上昇させる場合
には、前記初期段階に8ける基材温度と前記高温段階に
おける基材温度との温度差を50°C以上に設定するこ
とが好ましい。
このような温度制御は、たとえば基材の加熱、基材の冷
却、基材の設置位置、基材の設置位置の移動、外部から
のプラズマの導入条件等を変更することにより容易に達
成することができる。
前記初期段階および前記高温段階における反応圧力は1
通常、10−’torr 〜]口’ Lorr、好まし
くは1O−5torr 〜760 torrである。反
応圧力かIn−’Lorrよりも低い場合には、ダイヤ
モンドの析出速度か遅くなったり、ダイヤモンドが析出
しなくなったりすることがある。
一方、In” Lorrより高くしてもそれに見合った
効果は奏されないことがある。
前記初期段階および前記高温段階における反応時の前記
原料ガスの合計流量は、通常、1〜1、OOO3CCM
 、好ましくはlO〜200 SCCMである。
前記初期段階の反応時間および前記高温段階の反応時間
は、反応ガス種、基材温度、反応圧力、必要とする膜厚
などにより相違するのて一概に決定することはできない
。また、前記初期段階における膜厚は、通常、0.1〜
20JLm、最終的な膜厚は、通常、0.2〜1000
弘mである。
なお、この発明の方法において、前記初期段階に使用す
る原料ガスの組成と前記高温段階に使用する原料ガスの
組成とは、同一てあってもよいし、異なっていてもよい
。また、前記初期段階に使用する反応装置と前記高温段
階に使用する反応装置とは、同一てあってもよいし、異
なっていてもよい。ただし、前記高温段階においては、
膜形成速度の早い原料ガス、反応装置を用いることか好
ましい。
いずれにせよ、この発明の方法によると、ダイヤモンド
膜および/またはタイヤモント状炭素膜の形成に必要な
原料以外の原料を使用する必要かなくて、簡便に効率良
くダイヤモンド膜および/またはダイヤモンド状炭素膜
を製造することかてきる。
この発明の方法により製造されるダイヤモンド膜および
/またはダイヤモンド状炭素膜は、実質的には厚み方向
で均一な構造を有していて基材との密着性に極めて優れ
たものであるとともに、歪の少ないものであり、たとえ
ば切削工具類、耐摩耗性機械部品、電子材料などに好適
に利用することかできる。
[実施例] 次に、この発明の実施例および比較例を示し、この発明
についてさらに具体的に説明する。
(実施例1) WC−5%Co組成を持つ切削用チップからなる基材を
反応室内に設置して、この反応室内にメタンガスと水素
ガスとをメタンガス0.5%、水素ガス99.5%の割
合で含有する原料ガスを流量100 secmの割合で
導入し、反応室内の圧力40torr、基材温度750
℃の条件下に、周波数2.45GHzのマイクロ波電源
の出力を200Wに設定した。
なお、基材は洗浄剤[日化精工■製;[ランゲルEl]
の10倍稀釈液(液温50℃)および純水を60秒間に
1回の割合て順次に用いて、各々3回ずつの洗浄を行な
ってから使用した。
そして、前記条件のマイクロ波プラズマCVD法による
ダイヤモンド薄膜の合成を2時間行なった。
その後1反応室内の脱気を行なってから、この反応室内
に一酸化炭素ガスと水素ガスとを、−酸化炭素ガスフ%
、水素ガス93%の割合で含有する原料ガスを流量10
0 sccmの割合て導入し、反応室内の圧力40to
rr、基材温度900°C1周波数2.45GIIzの
マイクロ波電源の出力を400Wに設定した。
そして、前記条件のマイクロ波プラズマCVD法による
ダイヤモンド薄膜の合成を2時間行って、前記の温度に
制御した基材上にダイヤモンド薄膜(膜厚2.2ルm)
を有する薄膜付きサンプルを得た。
反応終了後、サンプルを反応室から取り出して、サンプ
ルの薄膜について、ラマン分光分析を行なったところ、
1333cm−’付近にダイヤモンドに起因するシャー
プなピークが確認された。
また、基材と薄膜との密着性を引っ張り試験を行なって
評価した。
結果を第1表に示す。
第1表 (実施例2) WC−6%Co組成を持つ切削用チップからなる基材を
反応室内に設置して、この反応室内に、−酸化炭素ガス
と水素ガスとを、−酸化炭素ガス5%、水素ガス95%
の割合で含有する原料ガスを流量100 secmの割
合で導入し、反応室内の圧力1 torr、基材温度6
50°Cの条件下に、周波数2.45GHzのマイクロ
波電源の出力を1200Wに設定するとともに、反応室
内に2.2キロガウスの磁場を印加した。
なお、基材は洗浄剤[日化精工■製;[ランゲルEl]
の10倍稀釈液(液温50°C)および純水を60秒間
に1回の割合て順次に用いて、各々3回ずつの洗浄を行
なってから使用した。
そして、前記条件の有磁場マイクロ波プラズマCVD法
によるダイヤモンド薄膜の合成を6時間行なった。
その後、前記実施例1と同様に実施して、基材上にダイ
ヤモンド膜(膜厚2.:]#Lm)を有する薄膜付きサ
ンプルを得た。
反応終了後、サンプルを反応室から取り出して、サンプ
ルの薄膜について、ラマン分光分析を行なったところ、
+333c++−’付近にダイヤモンドに起因するシャ
ープなピークが確認された。
また、基材と薄膜との密着性を引っ張り試験を行なって
評価した。
結果を第1表に示す。
(比較例1) WC−5%CO組成を持つ切削用チップからなる基材を
反応室内に設置して、この反応室内に、−酸化炭素ガス
と水素ガスとを、−酸化炭素ガスフ%、水素ガス93%
の割合で含有する原料ガスを流量100 sccmの割
合て導入し、反応室内の圧力40torr、基材温度9
00°Cの条件下に、周波数2.45Gllzのマイク
ロ波電源の出力を400Wに設定した。
なお、基材は洗浄剤[日化精工輛製:「ランゲルE」]
の110倍稀釈液液温50°C)および純水を60秒間
に1回の割合で順次に用いて、各々3回ずつの洗浄を行
なってから使用した。
そして、前記条件のマイクロ波プラズマCVD法による
ダイヤモンド薄膜の合成を2時間行って、前記の温度に
制御した基材上にダイヤモンド薄膜を有する薄膜付きサ
ンプルを得た。
反応終了後、サンプルを反応室から取り出して、サンプ
ルの薄膜について、ラマン分光分析を行なったところ、
1333c■−1付近にダイヤモンドに起因するシャー
プなピークが確認された。
また、基材と薄膜との密着性を引っ張り試験を行なって
評価した。
結果を第1表に示す。
(評価) 第1表から明らかなように、この発明の方法によると、
基材との密着性に優れるダイヤモンド膜および/または
ダイヤモンド状炭素膜か得られることを確認した。
[発明の効果] この発明によると、 (1)  基材温度を上昇させて製膜反応を異なった基
材温度で進行させるので、残留歪が減少して基材とダイ
ヤモンド膜および/またはダイヤモンド状膜との密着性
が格段に向上するとともに、(2)  ダイヤモンド膜
および/またはダイヤモンド状膜の形成原料以外の原料
が不要であって、装置の複雑化や操作の繁雑化を招くこ
とがないので、簡便に効率良く、均質で安定なダイヤモ
ンド膜および/またはダイヤモンド状炭素膜を製造する
ことができる、 等の利点を有する工業的に有用なダイヤモンド類薄膜の
製造方法を提供することができる。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)炭素源ガスを含有する原料ガスを励起して得られ
    るガスを、基材温度を上昇させながら基材に接触させて
    、前記基材上にダイヤモンド膜および/またはダイヤモ
    ンド状炭素膜を形成することを特徴とするダイヤモンド
    類薄膜の製造方法。
  2. (2)基材温度の上昇を段階的に行なう請求項1に記載
    のダイヤモンド類薄膜の製造方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5358754A (en) * 1991-07-09 1994-10-25 Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho Method for forming diamond films by vapor phase synthesis
US5523121A (en) * 1992-06-11 1996-06-04 General Electric Company Smooth surface CVD diamond films and method for producing same
US7429004B2 (en) 2000-09-26 2008-09-30 Mitsuba Corporation Nozzle structure in washer fluid ejection apparatus

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US7429004B2 (en) 2000-09-26 2008-09-30 Mitsuba Corporation Nozzle structure in washer fluid ejection apparatus

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