JPH0254768A - ダイヤモンド膜付部材とその製造方法 - Google Patents
ダイヤモンド膜付部材とその製造方法Info
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- JPH0254768A JPH0254768A JP20666588A JP20666588A JPH0254768A JP H0254768 A JPH0254768 A JP H0254768A JP 20666588 A JP20666588 A JP 20666588A JP 20666588 A JP20666588 A JP 20666588A JP H0254768 A JPH0254768 A JP H0254768A
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- diamond film
- intermediate layer
- gas
- diamond
- metal
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、ダイヤモンド膜付部材およびその製造方法
に関し、さらに詳しくは、たとえば耐痒耗性、耐薬品性
などに優れ、たとえば工具等に好適に用いることのでき
るダイヤモンド膜付部材とその製造方法に関する。
に関し、さらに詳しくは、たとえば耐痒耗性、耐薬品性
などに優れ、たとえば工具等に好適に用いることのでき
るダイヤモンド膜付部材とその製造方法に関する。
[従来技術と発明が解決しようとする課題]近年、ダイ
ヤモンド合成技術の進歩に伴い、金属部材の表面にダイ
ヤモンド膜を形成してなるダイヤモンド膜付部材が広く
使用され、また、特にこれらのダイヤモンド膜付部材は
、その表面が高い硬度を有することから、切削工具、研
唐丁A等に利用されている。
ヤモンド合成技術の進歩に伴い、金属部材の表面にダイ
ヤモンド膜を形成してなるダイヤモンド膜付部材が広く
使用され、また、特にこれらのダイヤモンド膜付部材は
、その表面が高い硬度を有することから、切削工具、研
唐丁A等に利用されている。
ところで、従来、金属部材とダイヤモンド膜との密着性
は、良好であるとは言いがたく、そのことから、それら
のダイヤモンド膜付部材は耐摩耗性に著しく劣るもので
あった。
は、良好であるとは言いがたく、そのことから、それら
のダイヤモンド膜付部材は耐摩耗性に著しく劣るもので
あった。
一方、金属部材とダイヤモンド膜との密着性の向五を目
的に、たとえば部材表面にケイ素を含有するダイヤモン
ド膜を形成する技術(特開昭61−163273号公報
)等が報告されてはいるが、これらのダイヤモンド膜付
部材は1部材表面とダイヤモンド膜との密着性が未だ充
分ではなかった。
的に、たとえば部材表面にケイ素を含有するダイヤモン
ド膜を形成する技術(特開昭61−163273号公報
)等が報告されてはいるが、これらのダイヤモンド膜付
部材は1部材表面とダイヤモンド膜との密着性が未だ充
分ではなかった。
なお、金属部材上に金属または金属化合物を点在せしめ
、それを核材としてダイヤモンドをtiせしめる技術(
特開昭63−166733号)が報告されている。
、それを核材としてダイヤモンドをtiせしめる技術(
特開昭63−166733号)が報告されている。
この技術は、ダイヤモンド膜の合成速度やダイヤモンド
膜の均一性を改善する目的で、金属部材上に金属または
金属化合物を点在せしめたものである。
膜の均一性を改善する目的で、金属部材上に金属または
金属化合物を点在せしめたものである。
したがって、金属または金属化合物が存在しない金属部
材−Lに成長したダイヤモンド膜の密着性は、未だ、改
みされたものとは言いがたい。
材−Lに成長したダイヤモンド膜の密着性は、未だ、改
みされたものとは言いがたい。
また、この方法は、金属部材−Lに金属または金属化合
物を点在せしめることで始めて効果を奏し、前記金属ま
たは金属化合物を層上に存在せしめる場合には、もはや
核材として機能せず、非ダイヤモンドの析出を促すとい
う不都合を有するものであった。
物を点在せしめることで始めて効果を奏し、前記金属ま
たは金属化合物を層上に存在せしめる場合には、もはや
核材として機能せず、非ダイヤモンドの析出を促すとい
う不都合を有するものであった。
この発明は、前記事情によりなされたものである。
すなわち、この発明の目的は、金属部材表面とダイヤモ
ンド膜との密着性に優れたダイヤモンド膜付部材とその
製造方法を提供することにある。
ンド膜との密着性に優れたダイヤモンド膜付部材とその
製造方法を提供することにある。
[前記課題を解決するための手段]
前記課題を解決するために、この発明者が鋭意、検討を
屯ねた結果、金属部材表面に特定の中間層を設け、その
上に特定の形成方法で得られたダイヤモンド膜を設けて
なるダイヤモンド膜付部材は1部材表面とダイヤモンド
膜との密着性に優れることから耐摩耗性に優れたダイヤ
モンド膜付部材であることを見出し、また、その製造方
法は、非ダイヤモンドの析出がほとんどない製造刃U:
であることを見出して、この発明に到達した。
屯ねた結果、金属部材表面に特定の中間層を設け、その
上に特定の形成方法で得られたダイヤモンド膜を設けて
なるダイヤモンド膜付部材は1部材表面とダイヤモンド
膜との密着性に優れることから耐摩耗性に優れたダイヤ
モンド膜付部材であることを見出し、また、その製造方
法は、非ダイヤモンドの析出がほとんどない製造刃U:
であることを見出して、この発明に到達した。
すなわち、前記課題を解決するための請求項1に記載の
発明は、金属部材表面に金属のケイ素化合物を含有する
中間層を介して、ダイヤモンド膜を形成してなることを
特徴とするダイヤモンド膜付部材である。
発明は、金属部材表面に金属のケイ素化合物を含有する
中間層を介して、ダイヤモンド膜を形成してなることを
特徴とするダイヤモンド膜付部材である。
請求項2に記載の発明は、金属部材表面に金属のケイ素
化合物を含有する中間層を形成し、ついで前記中間層上
に、炭素源ガスを含有する原料ガスを励起して得られる
ガスを接触せしめることによりダイヤモンド膜を形成す
ることを特徴とする請求項lに記載のダイヤモンド膜付
部材の製造方法である。
化合物を含有する中間層を形成し、ついで前記中間層上
に、炭素源ガスを含有する原料ガスを励起して得られる
ガスを接触せしめることによりダイヤモンド膜を形成す
ることを特徴とする請求項lに記載のダイヤモンド膜付
部材の製造方法である。
以下に、この発明のダイヤモンド膜付部材とその製造方
法とを順次に説明する。
法とを順次に説明する。
ダイヤモンド膜付部材
請求項1に記載の発明において、金、&1部材はダイヤ
モンド膜を形成させる基体として用いられる。
モンド膜を形成させる基体として用いられる。
また請求項1に記載の発明の重要な点は、前記金属部材
が、その表面に金属のケイ素化合物を含有する中間層(
以下、単に中間層と言うことがある。)を介して、ダイ
ヤモンド膜を有するということである。
が、その表面に金属のケイ素化合物を含有する中間層(
以下、単に中間層と言うことがある。)を介して、ダイ
ヤモンド膜を有するということである。
前記金属部材としては、特に制限はなく、たとえば鉄、
コバルト、ニッケル、クロム、マンガン、バナジウム、
タングステン、タリウム、モリブデン、シリコンなどの
金属や合金等、タンタル珪素、炭化モリブデン、炭化タ
ングステン、アルミナ、スピネル、炭化珪素などのセラ
ミックスを挙げることができる。
コバルト、ニッケル、クロム、マンガン、バナジウム、
タングステン、タリウム、モリブデン、シリコンなどの
金属や合金等、タンタル珪素、炭化モリブデン、炭化タ
ングステン、アルミナ、スピネル、炭化珪素などのセラ
ミックスを挙げることができる。
また、これらの中でも好ましいのは、WC−Co系合金
、WC−Tie−Co系合金、wC−Tic−TaC−
Cio系合金等の超硬合金である。
、WC−Tie−Co系合金、wC−Tic−TaC−
Cio系合金等の超硬合金である。
前記中間層は、おもに金属のケイ素化合物で構成ごれ、
後述するコーティング法により形成することができる。
後述するコーティング法により形成することができる。
前記金属のケイ素化合物としては、特に制限はないが、
周期律表ノTV、、 Va、 Vl、、■6、■族金属
のケイ素化合物を好適に使用することができる。
周期律表ノTV、、 Va、 Vl、、■6、■族金属
のケイ素化合物を好適に使用することができる。
その具体例としては、チタン、バナジウム、クロム、マ
ンガン、鉄、コバルト、ニッケル、ジルコニウム、ニオ
ブ、モリブデン、テクネチウム、ルテニウム、ロジウム
、パラジウム、ハフニウム、タリウム、タングステン、
レニウム、オスミウム、イリジウム、プラチナ等のケイ
素化合物を挙げることができる。
ンガン、鉄、コバルト、ニッケル、ジルコニウム、ニオ
ブ、モリブデン、テクネチウム、ルテニウム、ロジウム
、パラジウム、ハフニウム、タリウム、タングステン、
レニウム、オスミウム、イリジウム、プラチナ等のケイ
素化合物を挙げることができる。
これらの中でも好ましいのは、用いる部材の金属成分と
同じ金属のケイ素化合物であり、たとえば部材として金
属工具を用いるのであれば、従来、工具に使用されてい
る金属のケイ素化合物である一5i2、NiSi2 、
Pd2Si 、 PtSi、 MoSi2、CrSi
2. CoSi2. FeSi、 MnSi、 V2S
i等を挙げることができる。
同じ金属のケイ素化合物であり、たとえば部材として金
属工具を用いるのであれば、従来、工具に使用されてい
る金属のケイ素化合物である一5i2、NiSi2 、
Pd2Si 、 PtSi、 MoSi2、CrSi
2. CoSi2. FeSi、 MnSi、 V2S
i等を挙げることができる。
これらの中でも好ましいのは、WSi2、NiSi2、
Pd2Si 、 PtSi、 MoSi2である。
Pd2Si 、 PtSi、 MoSi2である。
部材の金属成分と、前記金属成分と同じ金属を有するケ
イ素化合物とを組合せて用いることにより1部材と中間
層との密着性を、より高めることができる。
イ素化合物とを組合せて用いることにより1部材と中間
層との密着性を、より高めることができる。
前記中間層の層厚は、通常、0.01〜10gmであり
、好ましくは0.05〜5庵mである。
、好ましくは0.05〜5庵mである。
なお、前記層厚が0.0i p、、 m未満であると、
部材とダイヤモンド膜との密着性が低下することがあり
、また10トmを超えても相応する効果が得られない場
合がある。
部材とダイヤモンド膜との密着性が低下することがあり
、また10トmを超えても相応する効果が得られない場
合がある。
この発明の部材は、前記中間層上に、後述する方法で形
成されたダイヤモンド膜を有する。
成されたダイヤモンド膜を有する。
前記ダイヤモンド膜の膜厚は、通常、0.1〜2Jtm
であり、好ましくは0.5〜10ILmである。
であり、好ましくは0.5〜10ILmである。
なお、前記膜厚が(1,1gm未満であると、部材の耐
摩耗性が低下することがあり、また20pmを超えても
相応する効果が得られない場合がある。
摩耗性が低下することがあり、また20pmを超えても
相応する効果が得られない場合がある。
このようなダイヤモンド膜付部材は、以下に示すような
製造方法で作成することができる。
製造方法で作成することができる。
ダイヤモンド膜付部材の製造方法
この発明の重要な点は、部材表面に前記金属のケイ素化
合物を含有する中間層を形成し、ついで1γ1記中間層
1−に、炭素源ガスを含有する原料ガスを励起して得ら
れるガスを接触せしめてダイヤモンド膜を形成すること
である。
合物を含有する中間層を形成し、ついで1γ1記中間層
1−に、炭素源ガスを含有する原料ガスを励起して得ら
れるガスを接触せしめてダイヤモンド膜を形成すること
である。
以下に、前記中間層の形成方法とダイヤモンド膜の形成
方法とを説明する。
方法とを説明する。
■中間層の形成方法
前記中間層は、通常前記金属のケイ素化合物の原料を励
起して得られたガスを部材表面に接触させて形成するこ
とができる。
起して得られたガスを部材表面に接触させて形成するこ
とができる。
前記金属のケイ素化合物層を部材表面にコーティングす
る方法としては、従来から使用されている真空蒸着法、
スパッタ法、化学蒸着法(CVD法)、塗布法等を好適
に採用することができる。
る方法としては、従来から使用されている真空蒸着法、
スパッタ法、化学蒸着法(CVD法)、塗布法等を好適
に採用することができる。
前記真空蒸着法としては、たとえば抵抗加熱法、゛1ニ
子衝撃法、高周波誘導加熱法等を挙げることができる。
子衝撃法、高周波誘導加熱法等を挙げることができる。
前記スパッタ法としては、たとえば2極直流スパツタリ
ング法、高周波スパッタリング法1反応性スパッタリン
グ法等を挙げることができる。
ング法、高周波スパッタリング法1反応性スパッタリン
グ法等を挙げることができる。
前記CVD法としては、プラズマCVD法、高周波CV
D法、マイクロ波CVD法等を挙げることができる。
D法、マイクロ波CVD法等を挙げることができる。
前記コーティングに際して、部材の表面温度としては、
そのコーティング法により一概に決定することはできな
いが、通常、常温〜t 、ooo℃であり、好ましくは
、常温〜90θ℃である。
そのコーティング法により一概に決定することはできな
いが、通常、常温〜t 、ooo℃であり、好ましくは
、常温〜90θ℃である。
反応圧力としては1通常10−’−10−宜tartで
あり、好ましくは、 10−6〜1O−Qorrテある
。
あり、好ましくは、 10−6〜1O−Qorrテある
。
析出速度としては、前記反応条件の範囲内で適宜に設定
することにより一概に決定することはできないが、通常
はIOA/秒である。
することにより一概に決定することはできないが、通常
はIOA/秒である。
このような条件下で前記中間層の層厚になるように金属
のケイ素化合物層を形成し、そのJ二に。
のケイ素化合物層を形成し、そのJ二に。
つぎに示す方法でダイヤモンド膜を形成する。
■ダイヤモンド膜の形成方法
ダイヤモンド膜は、炭素源ガスを含有する原料ガスを励
起し、そのガスをl町記金属のケイ素化合物層1−に接
触せしめることにより形成することができる。
起し、そのガスをl町記金属のケイ素化合物層1−に接
触せしめることにより形成することができる。
1i?1記炭素源ガスとしては、各種炭化水素、含酸素
化合物、含窒素化合物等のガスを使用することができる
。
化合物、含窒素化合物等のガスを使用することができる
。
炭化水素化合物としては1例えばメタン、エタン、プロ
パン、ブタン等のパラフィン系炭化水素;エチレン、フ
ロピレン、ブチレン等のオレフィン系炭化水素;アセチ
レン、アリレン等のアセチレン系炭化水素:ブタジェン
等のジオレフィン系炭化水素;シクロプロパン、シクロ
ブタン、シクロペンタン、シクロヘキサン等の脂環式R
化水素;シクロブタジェン、ベンゼン、トルエン、キシ
レン、ナフタレン等の芳香族炭化水素を挙げることがで
きる。
パン、ブタン等のパラフィン系炭化水素;エチレン、フ
ロピレン、ブチレン等のオレフィン系炭化水素;アセチ
レン、アリレン等のアセチレン系炭化水素:ブタジェン
等のジオレフィン系炭化水素;シクロプロパン、シクロ
ブタン、シクロペンタン、シクロヘキサン等の脂環式R
化水素;シクロブタジェン、ベンゼン、トルエン、キシ
レン、ナフタレン等の芳香族炭化水素を挙げることがで
きる。
含酸素化合物としては、例えばアセトン、ジエチルケト
ン、ベンゾフェノン等のケトン類;メタノール、エタノ
ール、プロパツール、ブタノール等のアルコール類:メ
チルエーテル、エチルエーテル、メチルエチルエーテル
、メチルプロピルエーテル、フェノールエーテル、ジオ
キサン等のエーテル類:ホルムアルデヒド、アセトアル
デヒド、ベンズアルデヒド等のアルデヒド類;酢酸。
ン、ベンゾフェノン等のケトン類;メタノール、エタノ
ール、プロパツール、ブタノール等のアルコール類:メ
チルエーテル、エチルエーテル、メチルエチルエーテル
、メチルプロピルエーテル、フェノールエーテル、ジオ
キサン等のエーテル類:ホルムアルデヒド、アセトアル
デヒド、ベンズアルデヒド等のアルデヒド類;酢酸。
プロピオン酸、コハク酸等の有機酸類:酢酸メチル、酢
酸エチル等の酸エステル類:エチレングリコール、ジエ
チレングリコール等の二価アルコール類ニー酸化炭素、
二酸化炭素等を挙げることができる。
酸エチル等の酸エステル類:エチレングリコール、ジエ
チレングリコール等の二価アルコール類ニー酸化炭素、
二酸化炭素等を挙げることができる。
含窒素化合物としては、例えばトリメチルアミン、トリ
エチルアミンなどのアミン類等を挙げることができる。
エチルアミンなどのアミン類等を挙げることができる。
また、炭素源として、単体ではないが、消防法に規定さ
れる第4類危険物:ガソリンなどの第1石油類、ケロシ
ン、テレピン油、しょう脳油、松根油などの第2石油類
、重油などの第3石油類、ギヤー油、シリンダー油など
の第4石油類などをも使用することができる。また前記
各種の炭素化合物を混合して使用することもできる。
れる第4類危険物:ガソリンなどの第1石油類、ケロシ
ン、テレピン油、しょう脳油、松根油などの第2石油類
、重油などの第3石油類、ギヤー油、シリンダー油など
の第4石油類などをも使用することができる。また前記
各種の炭素化合物を混合して使用することもできる。
これらの炭素源の中でも、常温で気体または蒸気圧の高
いメタン、エタン、プロパン等のパラフィン系炭化水素
等、アセトン、ベンゾフェノンなどのケトン類、メタノ
ール、エタノール等のアルコール類、−酸化炭素、二酸
化炭素ガス等の含酸素化合物等が好ましい。
いメタン、エタン、プロパン等のパラフィン系炭化水素
等、アセトン、ベンゾフェノンなどのケトン類、メタノ
ール、エタノール等のアルコール類、−酸化炭素、二酸
化炭素ガス等の含酸素化合物等が好ましい。
なお、原料ガスには、炭素源ガスのほかに水素ガス、水
蒸気、酸素ガス等を含有せしめてもよい。
蒸気、酸素ガス等を含有せしめてもよい。
これらのガスと炭素源ガスとを組合わせた原料ガスを使
用すると、良質のダイヤモンド膜を高速に形成せしめる
ことができる。
用すると、良質のダイヤモンド膜を高速に形成せしめる
ことができる。
前記原料ガス中の前記水素ガスの濃度は、前記炭素源ガ
スに対して0.1〜99.9モル%である。
スに対して0.1〜99.9モル%である。
前記原料ガス中の前記水蒸気の濃度は、前記原料ガスに
対して0.05〜10モル%である。
対して0.05〜10モル%である。
前記原料ガス中の前記酸素ガスの濃度は、前記原料ガス
に対して0.01〜10モル%である。
に対して0.01〜10モル%である。
前記原料ガスには、不活性ガスを混入させても良い、不
活性ガスは炭素源ガスのキャリヤーガスとして用いるこ
とができる。
活性ガスは炭素源ガスのキャリヤーガスとして用いるこ
とができる。
この不活性ガスとしては、たとえば窒素ガス、ヘリウム
ガス、アルゴンガス、ネオンガス、キセノンガスなどが
挙げられる。
ガス、アルゴンガス、ネオンガス、キセノンガスなどが
挙げられる。
前記炭素源ガスの励起f段としては、ダイヤモンドの合
成に従来より慣用されている各種の方法の中から任意の
方法を用いることができる。
成に従来より慣用されている各種の方法の中から任意の
方法を用いることができる。
具体的には、たとえば直流を印加してプラズマ分解する
方法、高周波を印加してプラズマ分解する方法、マイク
ロ波を印加してプラズマ分解する方法、あるいはプラズ
マ分解をイオン室またはイオン銃で行なわせ、電界によ
りイオンを引出すイオンビーム法などの各種プラズマ分
解法、熱フィラメントの加熱により熱分解する熱分解法
などが挙げられる。これらの中で好ましいものは前記各
種のプラズマ分解法である。
方法、高周波を印加してプラズマ分解する方法、マイク
ロ波を印加してプラズマ分解する方法、あるいはプラズ
マ分解をイオン室またはイオン銃で行なわせ、電界によ
りイオンを引出すイオンビーム法などの各種プラズマ分
解法、熱フィラメントの加熱により熱分解する熱分解法
などが挙げられる。これらの中で好ましいものは前記各
種のプラズマ分解法である。
なお、前記炭素源ガスをプラズマ分解する場合のプラズ
マ出力は、通常、 0.05Kw以上である。
マ出力は、通常、 0.05Kw以上である。
プラズマ出力が0.05Kw未満であると、プラズマが
充分に発生しないことがある。
充分に発生しないことがある。
前記)に素源ガスを励起させるには通常、以下の条件丁
に反応を進行させることができる。
に反応を進行させることができる。
すなわち、部材の表面の温度は、前記気相合成法におけ
る炭素源ガスの励起り段、部材の冷却によって異なるの
で、−概に決定することはできないが、たとえばプラズ
マ分解法を用いる場合には、 400〜1,200℃が
好ましい。
る炭素源ガスの励起り段、部材の冷却によって異なるの
で、−概に決定することはできないが、たとえばプラズ
マ分解法を用いる場合には、 400〜1,200℃が
好ましい。
反応圧力は、通常、10−6〜t03torrffiあ
り、好ましくはlo−5〜800tOrrテある。
り、好ましくはlo−5〜800tOrrテある。
反応圧力が1O−6torrよりも低い場合には、ダイ
ヤモンド1漠が析出しなくなったりする。一方、103
torrより高くしてもそれに相当する効果は得られな
い。
ヤモンド1漠が析出しなくなったりする。一方、103
torrより高くしてもそれに相当する効果は得られな
い。
反応時間は、ダイヤモンド膜の膜厚が前記の厚みとなる
ようにダイヤモンド膜の形成速度に応じて適宜に設定す
ることができる。
ようにダイヤモンド膜の形成速度に応じて適宜に設定す
ることができる。
このようにして得られたダイヤモンド膜付部材は、部材
とダイヤモンド膜との密着性に優れ、耐摩耗性、耐薬品
性が要求される部材等に好適に利用することができる。
とダイヤモンド膜との密着性に優れ、耐摩耗性、耐薬品
性が要求される部材等に好適に利用することができる。
[実施例]
この発明について、更に具体的に説明するため以下にそ
の実施例を挙げる。
の実施例を挙げる。
(実施例1)
ダイヤモンド膜の形成部材として超硬合金の切削チップ
(JIS KIO3PGN422 )を使用した。
(JIS KIO3PGN422 )を使用した。
前記切削チップを、ランゲルE液(0化精工[株]製)
の10倍稀釈液(液温50℃)、つぎに純水、そのつぎ
にイソプロピルアルコールを順次に用いて、各々3回づ
つの洗浄を行った。
の10倍稀釈液(液温50℃)、つぎに純水、そのつぎ
にイソプロピルアルコールを順次に用いて、各々3回づ
つの洗浄を行った。
なお1回あたりの洗浄時間は60秒であり、各々3回の
洗浄のうち、各々2回目の洗浄は超音波処理を併用した
。
洗浄のうち、各々2回目の洗浄は超音波処理を併用した
。
このように洗浄を行った前記切削チー2プを1反応室内
に設こした後、反応室内の圧力を1O−5torr、切
削チップの温度を300℃に設定し、真空蒸着法により
、切削チップ上にWSi2の中間層を形成した。
に設こした後、反応室内の圧力を1O−5torr、切
削チップの温度を300℃に設定し、真空蒸着法により
、切削チップ上にWSi2の中間層を形成した。
なお、得られた中間層の層厚は0.1 gmであった。
なお、前記切削チップ表面のケイ素化合物分析はX線回
折(以下、単にXRDという、)により行った。
折(以下、単にXRDという、)により行った。
つぎに、中間層を形成した切削チップを反応室内に設置
し、切削チップ温度900℃、反応室内の圧力50to
rrの条件下に1周波数2.45GHzのマイクロ波電
源の出力を350Wに設定するとともに、反応室内への
原料ガスとして一酸化炭素ガスと水素ガスとの全!武を
100sec■に設定した。
し、切削チップ温度900℃、反応室内の圧力50to
rrの条件下に1周波数2.45GHzのマイクロ波電
源の出力を350Wに設定するとともに、反応室内への
原料ガスとして一酸化炭素ガスと水素ガスとの全!武を
100sec■に設定した。
前記−酸化炭素ガスの濃度は、25モル%であった。
このような条件下で1時間、反応をすすめ前記中間層t
に2.5μmの堆積物を得た。
に2.5μmの堆積物を得た。
なお、得られた堆積物について、ラマン分光分析を行っ
たところ、ラマンスペクトルの1333cs+−’付近
にダイヤモンドに起因するピークが見られ、不純物のな
いダイヤモンド膜であることが確認された。
たところ、ラマンスペクトルの1333cs+−’付近
にダイヤモンドに起因するピークが見られ、不純物のな
いダイヤモンド膜であることが確認された。
また、前記切削チップの表面に形成された中間層および
ダイヤモンド膜の厚みについては、走査型電子WJ微鏡
により測定した。
ダイヤモンド膜の厚みについては、走査型電子WJ微鏡
により測定した。
さらに、中間層を介してダイヤモンド膜を形成してなる
切削チップについて、以下の条件下に切削試験を行った
。
切削チップについて、以下の条件下に切削試験を行った
。
波切削材;A立−8重t1%Si合金
切削速度;800m/秒
送り; 0.1 mm7厘も
切込み; 0.25mm
切削時間;100分、t、ooo分
試験後、切削チップに付着した、被切削材溶着物を希塩
酸で除去し、切削チップの切刃の状態を走査型電子顕微
鏡で観察した。
酸で除去し、切削チップの切刃の状態を走査型電子顕微
鏡で観察した。
以上の試験結果および観察結果を第1表に示す。
(実施例2〜8)
中間層の層厚、ダイヤモンド合成条件(炭素源ガス組成
、そのC度および合成時間)およびダイヤモンド膜厚を
第1表に示すとおりにしたほかは、実施例1と同様に中
間層とダイヤモンド膜とを形成した。
、そのC度および合成時間)およびダイヤモンド膜厚を
第1表に示すとおりにしたほかは、実施例1と同様に中
間層とダイヤモンド膜とを形成した。
また、得られたダイヤモンド付切削チップについて実施
例1と同様に切削試験を行った。
例1と同様に切削試験を行った。
結果を第1表に示す。
(実施例9)
実施例1と同様の切削チップを、実施例1と同様に洗浄
して、反応室内の圧力を1o″5torr、切削チー2
ブの温度を400℃に設定し、スパッタ法により、層厚
0.6μm、 (:oSi2の中間層を形成した。
して、反応室内の圧力を1o″5torr、切削チー2
ブの温度を400℃に設定し、スパッタ法により、層厚
0.6μm、 (:oSi2の中間層を形成した。
この中間層上に、第1表に示すダイヤモンド合成条件(
炭素源ガスとその濃度)で膜厚2.5JLmのダイヤモ
ンド膜を形成した。
炭素源ガスとその濃度)で膜厚2.5JLmのダイヤモ
ンド膜を形成した。
なお、前記以外のダイヤモンド膜の合成条件は、実施例
1と同様であった。
1と同様であった。
また、得られたダイヤモンド膜付切削チップについて実
施例1と同様に切削試験を行った。
施例1と同様に切削試験を行った。
結果を第1表に示す。
(実施例10)
実施例1と同様の切削チップを、実施例1と同様に洗浄
して、反応室内の圧力を101torr、切削チップの
温度を400℃に設定し、スパッタ法により1層厚OJ
4H1,NiSi2の中間層を形成した。
して、反応室内の圧力を101torr、切削チップの
温度を400℃に設定し、スパッタ法により1層厚OJ
4H1,NiSi2の中間層を形成した。
この中間層−ヒに、第1表に示すダイヤモンド合成条件
(炭素源ガスとその濃度)で膜厚3.θ牌mのダイヤモ
ンド膜を形成した。
(炭素源ガスとその濃度)で膜厚3.θ牌mのダイヤモ
ンド膜を形成した。
なお、前記以外のダイヤモンド膜の合成条件は、実施例
1と同様であった。
1と同様であった。
また、得られたダイヤモンド膜付切削チップについて実
施例1と同様に切削試験を行った。
施例1と同様に切削試験を行った。
結果を第1表に示す。
(実施例11)
実施例1と同様の切削チップを、実施例1と同様に洗浄
して、反応室内の圧力を1O−3torr、切削チップ
の温度を300℃に設定し、真空蒸着法により、層厚0
.5 pm、 Pd2Siの中間層を形成した。
して、反応室内の圧力を1O−3torr、切削チップ
の温度を300℃に設定し、真空蒸着法により、層厚0
.5 pm、 Pd2Siの中間層を形成した。
この中間層上に、第1表に示すダイヤモンド合成条件(
炭素源ガスとその濃度)で膜厚3.OJLmのダイヤモ
ンド膜を形成した。
炭素源ガスとその濃度)で膜厚3.OJLmのダイヤモ
ンド膜を形成した。
なお、前記以外のダイヤモンド膜の合成条件は、実施例
1と同様であった。
1と同様であった。
また、11tられたダイヤモンド膜付切削チー7プにつ
いて実施例1と同様に切削試験を行った。
いて実施例1と同様に切削試験を行った。
結果を第1表に示す。
(実施例12)
実施例1と同様の切削チップを、実施例1と同様に洗浄
して、反応室内の圧力を1O−5torr、切削チップ
の温度を500℃に設定し、スパッタ法により、層厚0
.4ルm、PtSiの中間層を形成した。
して、反応室内の圧力を1O−5torr、切削チップ
の温度を500℃に設定し、スパッタ法により、層厚0
.4ルm、PtSiの中間層を形成した。
この中間層上に、第1表に示すダイヤモンド合成条件(
炭素源ガスとその濃度)で膜厚2.5鉢mのダイヤモン
ド膜を形成した。
炭素源ガスとその濃度)で膜厚2.5鉢mのダイヤモン
ド膜を形成した。
なお、前記以外のダイヤモンド膜の合成条件は、実施例
1と同様であった。
1と同様であった。
また、得られたダイヤモンド膜付切削チップについて実
施例1と同様に切削試験を行った。
施例1と同様に切削試験を行った。
結果を第1表に示す。
(実施例13)
実施例7と同様に中間層を形成した。
つぎに、中間層を形成した切削チップをプラズマ発生内
に設こし、ダイヤモンド合成を実施例7のマイクロ波プ
ラズマ方式に代えて、RF、%プラズマ方式を採用した
。
に設こし、ダイヤモンド合成を実施例7のマイクロ波プ
ラズマ方式に代えて、RF、%プラズマ方式を採用した
。
電源としては、周波数4 MHzの高周波電源を用い、
その出力を50KWに設定するとともに、反応室内へ原
料ガスとして、メタンガスを流、r; 0.5交/分、
水素ガスを流驕10文/分に設定し、ギヤリヤーガスと
してArガスを流量25fL/分に設定した。
その出力を50KWに設定するとともに、反応室内へ原
料ガスとして、メタンガスを流、r; 0.5交/分、
水素ガスを流驕10文/分に設定し、ギヤリヤーガスと
してArガスを流量25fL/分に設定した。
なお、切削チップの温度は、水冷により900℃に設定
し、反応圧力は、1気圧に設定した。
し、反応圧力は、1気圧に設定した。
このようにしてダイヤモンド膜付切削チップを作成し、
実施例7と同様に切削試験を行った。
実施例7と同様に切削試験を行った。
結果を第1表に示す。
(実施例14)
実施例7と同様に中間層を形成した。
つぎに、中間層を形成した切削チー2プを反応室内に設
置し、ダイヤモンド合成法を、実施例7のマイクロ波プ
ラズマ法にかえて、放電電力20KWの直流熱プラズマ
ジェット方式を採用した。
置し、ダイヤモンド合成法を、実施例7のマイクロ波プ
ラズマ法にかえて、放電電力20KWの直流熱プラズマ
ジェット方式を採用した。
なお、すJ削チップ温度は、1,000℃に設定し、反
応圧力は500torrに設定した。
応圧力は500torrに設定した。
ついで、反応室内へ原料ガスとして、メタンガスを流星
127分、水素ガスを流;;r 10文/分に設定し、
ギヤリヤーガスとしてArガスを流ja 20交/分に
設定した。
127分、水素ガスを流;;r 10文/分に設定し、
ギヤリヤーガスとしてArガスを流ja 20交/分に
設定した。
このようにしてダイヤモンドlI!2+1切削チップを
作成し、実施例7と同様にすJ削試験を行った。
作成し、実施例7と同様にすJ削試験を行った。
結果を第1表に示す。
(比較例1)
実施例1において、切削チップにWSi2の中間層を設
けなかった他は、実施例1と同様にダイヤモンド膜付切
削チップを作成し、実施例1と同様に切削試験を行った
。
けなかった他は、実施例1と同様にダイヤモンド膜付切
削チップを作成し、実施例1と同様に切削試験を行った
。
結果を第1表に示す。
(比較例2)
実施例13において、切削チップにWSi2の中間層を
設けなかった他は、実施例13と同様にダイヤモンド膜
付すJ削チップを作成し、実施例13と同様に切削試験
を行った。
設けなかった他は、実施例13と同様にダイヤモンド膜
付すJ削チップを作成し、実施例13と同様に切削試験
を行った。
結果を第1表に示す。
[発明の効果1
この発明によると、金属部材表面とダイヤモンド膜との
密着性に優れることから、耐摩耗性に優れ、長い耐用時
間が要求される丁具等に好適に利用することのできるダ
イヤモンド膜付部材とその製造方法とを提供することが
できる。
密着性に優れることから、耐摩耗性に優れ、長い耐用時
間が要求される丁具等に好適に利用することのできるダ
イヤモンド膜付部材とその製造方法とを提供することが
できる。
Claims (2)
- (1) 金属部材表面に金属のケイ素化合物を含有する
中間層を介して、ダイヤモンド膜を形成してなることを
特徴とするダイヤモンド膜付部材。 - (2) 金属部材表面に金属のケイ素化合物を含有する
中間層を形成し、ついで前記中間層上に、炭素源ガスを
含有する原料ガスを励起して得られるガスを接触せしめ
ることによりダイヤモンド膜を形成することを特徴とす
る請求項1に記載のダイヤモンド膜付部材の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20666588A JPH0254768A (ja) | 1988-08-20 | 1988-08-20 | ダイヤモンド膜付部材とその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20666588A JPH0254768A (ja) | 1988-08-20 | 1988-08-20 | ダイヤモンド膜付部材とその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0254768A true JPH0254768A (ja) | 1990-02-23 |
Family
ID=16527106
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20666588A Pending JPH0254768A (ja) | 1988-08-20 | 1988-08-20 | ダイヤモンド膜付部材とその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0254768A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1995009434A1 (en) * | 1993-09-28 | 1995-04-06 | North Carolina State University | Method for fabricating diamond films and related structures |
| EP0930377A1 (en) * | 1998-01-20 | 1999-07-21 | De Beers Industrial Diamond Division (Proprietary) Limited | Bonding diamond to substrate |
| WO2005121398A1 (ja) * | 2004-06-10 | 2005-12-22 | The University Of Electro-Communications | ダイヤモンド薄膜のコーティング法及びダイヤモンド被覆超硬合金部材 |
| US8038047B2 (en) | 2006-08-25 | 2011-10-18 | Osaka University | Method for welding metal material |
| EP2602353A1 (en) * | 2011-12-05 | 2013-06-12 | Keio University | Diamond film coated member and manufacturing method of the same |
-
1988
- 1988-08-20 JP JP20666588A patent/JPH0254768A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1995009434A1 (en) * | 1993-09-28 | 1995-04-06 | North Carolina State University | Method for fabricating diamond films and related structures |
| US5488232A (en) * | 1993-09-28 | 1996-01-30 | North Carolina State University | Oriented diamond film structures on non-diamond substrates |
| EP0930377A1 (en) * | 1998-01-20 | 1999-07-21 | De Beers Industrial Diamond Division (Proprietary) Limited | Bonding diamond to substrate |
| WO2005121398A1 (ja) * | 2004-06-10 | 2005-12-22 | The University Of Electro-Communications | ダイヤモンド薄膜のコーティング法及びダイヤモンド被覆超硬合金部材 |
| US7879412B2 (en) | 2004-06-10 | 2011-02-01 | The University Of Electro-Communications | Diamond thin film coating method and diamond-coated cemented carbide member |
| US8038047B2 (en) | 2006-08-25 | 2011-10-18 | Osaka University | Method for welding metal material |
| EP2602353A1 (en) * | 2011-12-05 | 2013-06-12 | Keio University | Diamond film coated member and manufacturing method of the same |
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