JPH0212939A - 半導体ウェーハの搬送装置 - Google Patents
半導体ウェーハの搬送装置Info
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- JPH0212939A JPH0212939A JP63163857A JP16385788A JPH0212939A JP H0212939 A JPH0212939 A JP H0212939A JP 63163857 A JP63163857 A JP 63163857A JP 16385788 A JP16385788 A JP 16385788A JP H0212939 A JPH0212939 A JP H0212939A
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- Japan
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- semiconductor wafer
- center
- gravity
- wafer
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はレジストのスピンコーティングを行なうため半
導体ウェーハを回転ステージ上に搬送する装置に係り、
特に半導体ウェーハの重心を回転ステージの回転中心に
一致させることが可能な搬送装置に関する。
導体ウェーハを回転ステージ上に搬送する装置に係り、
特に半導体ウェーハの重心を回転ステージの回転中心に
一致させることが可能な搬送装置に関する。
半導体装置の製造では、半導体ウェーハ上にレジストを
塗布する工程を複数行なう必要があり、ウェーハカセッ
トから取り出された半導体ウェーハをスピンコードのた
めの回転ステージに搬送する搬送装置が製造ラインに組
み込まれている。従来の搬送装置は、半導体ウェーハを
回転ステージ近辺まで搬送する搬送ベルトと、搬送され
た半導体ウェー八を搬送ベルトから取り出して回転ステ
ージ上に移し替える移替部材とを備えている。この搬送
装置の作動は、搬送ベルトで搬送された半導体ウェーハ
を持ち上げ位置で停止させ、次に移替部材が半導体ウェ
ーハを搬送ベルトから取り出して回転ステージ上に移し
替えるように行なわれる。回転ステージへの移し替えは
回転ステージの回転中心と半導体ウェーへの中心とが一
致するように行なわれており、回転ステージはこのよう
にして移し替えられた半導体ウェーハを真空吸引などに
よってチャッキングして高速回転し、レジストのスピン
コードが行なわれる。
塗布する工程を複数行なう必要があり、ウェーハカセッ
トから取り出された半導体ウェーハをスピンコードのた
めの回転ステージに搬送する搬送装置が製造ラインに組
み込まれている。従来の搬送装置は、半導体ウェーハを
回転ステージ近辺まで搬送する搬送ベルトと、搬送され
た半導体ウェー八を搬送ベルトから取り出して回転ステ
ージ上に移し替える移替部材とを備えている。この搬送
装置の作動は、搬送ベルトで搬送された半導体ウェーハ
を持ち上げ位置で停止させ、次に移替部材が半導体ウェ
ーハを搬送ベルトから取り出して回転ステージ上に移し
替えるように行なわれる。回転ステージへの移し替えは
回転ステージの回転中心と半導体ウェーへの中心とが一
致するように行なわれており、回転ステージはこのよう
にして移し替えられた半導体ウェーハを真空吸引などに
よってチャッキングして高速回転し、レジストのスピン
コードが行なわれる。
ところで、半導体ウェーハには一般にオリニーテンショ
ンフラットが形成されており、このような場合には、オ
リニーテンションフラットから削除された部分により重
心の偏位が生じる。第2図はこのようなオリニーテンシ
ョンフラット31が形成された半導体ウェーハ30を示
し、円としての中心WCに対して重心Gcはオリニーテ
ンションフラット31と反対側に移動している。このよ
うな重心Gcと円中心Weとがずれた半導体ウェーハに
スピンコードを行なう場合、従来装置では回転ステージ
の回転中心に半導体ウエーノ\の円中心Wcを一致させ
るため、回転ステージの回転中心に半導体ウェーハの重
心が一致せず回転が不安定となる。これによりレジスト
が均一に拡散せず、レジスト膜の膜厚が不均一となる。
ンフラットが形成されており、このような場合には、オ
リニーテンションフラットから削除された部分により重
心の偏位が生じる。第2図はこのようなオリニーテンシ
ョンフラット31が形成された半導体ウェーハ30を示
し、円としての中心WCに対して重心Gcはオリニーテ
ンションフラット31と反対側に移動している。このよ
うな重心Gcと円中心Weとがずれた半導体ウェーハに
スピンコードを行なう場合、従来装置では回転ステージ
の回転中心に半導体ウエーノ\の円中心Wcを一致させ
るため、回転ステージの回転中心に半導体ウェーハの重
心が一致せず回転が不安定となる。これによりレジスト
が均一に拡散せず、レジスト膜の膜厚が不均一となる。
そこで本発明は、回転ステージの安定した回転を行なう
ため、回転ステージの回転中心に半導体ウェーハの重心
を一致させるように搬送することが可能な半導体ウェー
ハの搬送装置を提供することを目的とする。
ため、回転ステージの回転中心に半導体ウェーハの重心
を一致させるように搬送することが可能な半導体ウェー
ハの搬送装置を提供することを目的とする。
本発明に係る半導体ウェーハの搬送装置は、半導体ウェ
ーハを所定の持ち上げ位置まで搬送する搬送手段と、半
導体ウェーハの重力を受ける少なくとも3の圧力センサ
を有し、持ち上げ位置で半導体ウェーハの持ち上げおよ
び引き下ろしを行なうと共に、圧力センサの重力情報に
基いて持ち上げ中心が半導体ウェーハの重心と一致する
ように3次元方向に移動制御される重心検出手段と、重
心が検出された半導体ウェーハを持ち上げ位置から取り
出して回転ステージの回転中心に半導体ウェーハの重心
を一致させるように移し替える移替手段とを備えている
ことを特徴とする。
ーハを所定の持ち上げ位置まで搬送する搬送手段と、半
導体ウェーハの重力を受ける少なくとも3の圧力センサ
を有し、持ち上げ位置で半導体ウェーハの持ち上げおよ
び引き下ろしを行なうと共に、圧力センサの重力情報に
基いて持ち上げ中心が半導体ウェーハの重心と一致する
ように3次元方向に移動制御される重心検出手段と、重
心が検出された半導体ウェーハを持ち上げ位置から取り
出して回転ステージの回転中心に半導体ウェーハの重心
を一致させるように移し替える移替手段とを備えている
ことを特徴とする。
本発明に係る搬送装置は、以上の通りに構成されるので
、圧力センサの情報に基いて3次元方向に移動する重心
検出手段は、その持ち上げ中心と半導体ウェーハの重心
との一致を図り、移替手段は検出された半導体ウェーハ
の重心を回転ステージの回転中心と一致させるように作
用する。
、圧力センサの情報に基いて3次元方向に移動する重心
検出手段は、その持ち上げ中心と半導体ウェーハの重心
との一致を図り、移替手段は検出された半導体ウェーハ
の重心を回転ステージの回転中心と一致させるように作
用する。
以下、本発明を添付図面に基いて詳細に説明する。
第1図は本発明の実施例に係る搬送装置の斜視図を示す
。ウェーハカセット(図示せず)から取り出された半導
体ウェーハ30を搬送する搬送手段1と、搬送手段1の
終端付近に設けられた高速回転によってレジストのスピ
ンコーティングを行なう回転ステージ2と、半導体ウェ
ーハ30の重心を検出する重心検出手段4と、半導体ウ
ェーハ30を回転ステージ2上に移し替える手段5を備
えて構成される。
。ウェーハカセット(図示せず)から取り出された半導
体ウェーハ30を搬送する搬送手段1と、搬送手段1の
終端付近に設けられた高速回転によってレジストのスピ
ンコーティングを行なう回転ステージ2と、半導体ウェ
ーハ30の重心を検出する重心検出手段4と、半導体ウ
ェーハ30を回転ステージ2上に移し替える手段5を備
えて構成される。
搬送手段1はプーリ11に掛は渡された平行な2本の無
端状の搬送ベルト12を備え、モータ(図示せず)の駆
動により半導体ウェーハ30を搬送する。この搬送は、
後述するように持ち上げ位置となる重心検出手段4の上
方に半導体ウェーハ30が達するまで行なわれ、持ち上
げ位置で半導体ウェーハ30の搬送は停止する。このた
め搬送ベルト12の上方には適宜のストッパ(図示せず
)が設けられ、半導体ウェーハ30はストッパに当接し
て搬送が停止されるようになっている。
端状の搬送ベルト12を備え、モータ(図示せず)の駆
動により半導体ウェーハ30を搬送する。この搬送は、
後述するように持ち上げ位置となる重心検出手段4の上
方に半導体ウェーハ30が達するまで行なわれ、持ち上
げ位置で半導体ウェーハ30の搬送は停止する。このた
め搬送ベルト12の上方には適宜のストッパ(図示せず
)が設けられ、半導体ウェーハ30はストッパに当接し
て搬送が停止されるようになっている。
なお、2本の搬送ベルト12は同一の速度で走行するよ
うに駆動され、搬送中における半導体つ工−ハ30の旋
回を防止している。
うに駆動され、搬送中における半導体つ工−ハ30の旋
回を防止している。
回転ステージ2は回転軸21と、回転軸21上に取り付
けられた回転盤22を備える。回転盤22は半導体ウェ
ーハ30を真空吸着などによってチャッキングして半導
体ウェーハ30を高速回転させるものであり、その上方
にはレジストを滴下するレジストノズル(図示せず)が
設けられている。半導体ウェーハ30はこの回転盤22
上でレジストが滴下され、高速回転されることでレジス
トが拡散して全面にレジスト膜が形成される。
けられた回転盤22を備える。回転盤22は半導体ウェ
ーハ30を真空吸着などによってチャッキングして半導
体ウェーハ30を高速回転させるものであり、その上方
にはレジストを滴下するレジストノズル(図示せず)が
設けられている。半導体ウェーハ30はこの回転盤22
上でレジストが滴下され、高速回転されることでレジス
トが拡散して全面にレジスト膜が形成される。
ここで、回転盤22には3本のピン23が突出されてい
るが、このピン23は半導体ウェーハ30の載置で回転
盤30内に引き込むように作動するものである。
るが、このピン23は半導体ウェーハ30の載置で回転
盤30内に引き込むように作動するものである。
重心検出手段4は移動軸41と、同軸41に支承された
持ち上げ体42を備え、2本の搬送ベルト12の間に位
置するように設けられる。この重心検出手段4は前述の
ストッパによつて搬送を停止させられた半導体ウェーハ
30を搬送ベルト12から持ち上げると共に、持ち上げ
た状態から搬送ベルト12上に引き下げるように上下動
する。
持ち上げ体42を備え、2本の搬送ベルト12の間に位
置するように設けられる。この重心検出手段4は前述の
ストッパによつて搬送を停止させられた半導体ウェーハ
30を搬送ベルト12から持ち上げると共に、持ち上げ
た状態から搬送ベルト12上に引き下げるように上下動
する。
さらに、重心検出手段4は搬送ベルト12内で前後およ
び左右方向に移動するように制御されており、半導体ウ
ェーハ30に対する相対的な変位を行なう。この変位は
半導体ウェーハ30の重心に持ち上げ中心が一致するよ
うに制御されるものであり、これにより半導体ウェー八
30の重心の検出を行なう。
び左右方向に移動するように制御されており、半導体ウ
ェーハ30に対する相対的な変位を行なう。この変位は
半導体ウェーハ30の重心に持ち上げ中心が一致するよ
うに制御されるものであり、これにより半導体ウェー八
30の重心の検出を行なう。
符号43は持ち上げ体42の上面に設けられた圧電セン
サなどの圧力センサである。この圧力センサ43は正三
角形の各頂点に位置するように等間隔で持ち上げ体42
の上に配設されており、持ち上げ体42の上昇で半導体
ウェーハ30の重力を受け、この重力情報を電気信号な
どに変換して出力する。移動軸41はこの圧力センサ4
3からの重力情報に基いて、その持ち上げ中心が半導体
ウェーハ30の重心と一致するように変位する。
サなどの圧力センサである。この圧力センサ43は正三
角形の各頂点に位置するように等間隔で持ち上げ体42
の上に配設されており、持ち上げ体42の上昇で半導体
ウェーハ30の重力を受け、この重力情報を電気信号な
どに変換して出力する。移動軸41はこの圧力センサ4
3からの重力情報に基いて、その持ち上げ中心が半導体
ウェーハ30の重心と一致するように変位する。
このため、各圧力センサ43は演算装置(図示せず)に
接続されると共に、移動軸41はその駆動源(図示せず
)が移動制御装置(図示せず)に接続される。このよう
な構成では、演算装置は各圧力センサ43からの重力情
報が入力され、全ての圧力センサ43の重力値が等しく
なるように移動軸41の移動方向およびその距離を算出
して制御装置に出力する。移動制御手段はその情報に基
いて移動軸41を前後または左右方向に移動制御するよ
うになついる。なお、かかる移動軸41による変位動作
を複数回行なう必要がある場合には、1回目の変位の終
了の後、移動軸41が下降して半導体ウェー八30を搬
送ベルト12上に載置して圧力センサ43の押圧を解除
し、その後上昇して半導体ウェーハ30を再び持ち上げ
て重力の検出を行ない、これらの動作を繰り返すように
駆動される。
接続されると共に、移動軸41はその駆動源(図示せず
)が移動制御装置(図示せず)に接続される。このよう
な構成では、演算装置は各圧力センサ43からの重力情
報が入力され、全ての圧力センサ43の重力値が等しく
なるように移動軸41の移動方向およびその距離を算出
して制御装置に出力する。移動制御手段はその情報に基
いて移動軸41を前後または左右方向に移動制御するよ
うになついる。なお、かかる移動軸41による変位動作
を複数回行なう必要がある場合には、1回目の変位の終
了の後、移動軸41が下降して半導体ウェー八30を搬
送ベルト12上に載置して圧力センサ43の押圧を解除
し、その後上昇して半導体ウェーハ30を再び持ち上げ
て重力の検出を行ない、これらの動作を繰り返すように
駆動される。
移替手段5は2本の平行なフォーク51と、このフォー
ク51を駆動する駆動源(図示せず)を備える。フォー
ク51は重心が検出された半導体ウェーハ30を持上げ
体42から回転ステージ2に移し替えるように作動する
。従って、フォーク51は重心検出手段4による重心検
出中は搬送ベルト12から退避しており、重心検出後に
搬送ベルト12の方向に進出して持ち上げ体42上の半
導体ウェーハ30を下面から持ち上げる。そして、回転
ステージ2方向に水平移動し、検出された半導体ウェー
ハ30の重心を回転ステージ2の回転中心と一致させて
から、回転ステージ2上に半導体ウェー八30を移し替
えるようになっている。
ク51を駆動する駆動源(図示せず)を備える。フォー
ク51は重心が検出された半導体ウェーハ30を持上げ
体42から回転ステージ2に移し替えるように作動する
。従って、フォーク51は重心検出手段4による重心検
出中は搬送ベルト12から退避しており、重心検出後に
搬送ベルト12の方向に進出して持ち上げ体42上の半
導体ウェーハ30を下面から持ち上げる。そして、回転
ステージ2方向に水平移動し、検出された半導体ウェー
ハ30の重心を回転ステージ2の回転中心と一致させて
から、回転ステージ2上に半導体ウェー八30を移し替
えるようになっている。
次に、上記実施例の作動を説明する。
搬送手段1により半導体ウェーハ30が持ち上げ位置、
すなわち重心検出手段4の直上に搬送されると、ストッ
パによって半導体ウェー八30の搬送が停止する。次に
、重心検出手段4は第1回目の上昇を行なって半導体ウ
ェーハ30を持ち上げる。これにより、各圧力センサ4
3は半導体ウェーハ30の重力を受け、その情報を演算
装置に出力する。演算装置では各圧力センサ43の重力
値が一致するように重心検出手段4の変位方向および変
位量を算出して移動制御装置に出力する。
すなわち重心検出手段4の直上に搬送されると、ストッ
パによって半導体ウェー八30の搬送が停止する。次に
、重心検出手段4は第1回目の上昇を行なって半導体ウ
ェーハ30を持ち上げる。これにより、各圧力センサ4
3は半導体ウェーハ30の重力を受け、その情報を演算
装置に出力する。演算装置では各圧力センサ43の重力
値が一致するように重心検出手段4の変位方向および変
位量を算出して移動制御装置に出力する。
一方、重心検出手段4は下降して半導体ウェーハ30を
搬送ベルト上に載置して待機状態となっている。移動制
御手段は演算装置からの変位方向および変位量に基いて
待機状態の重心検出手段4を移動制御した後、重心検出
手段4を再び上昇させ、重力検出手段4は半導体ウェー
ハ30を持ち上げる。これにより、各圧力センサ43は
半導体ウェーハ30の重力を検出し、演算装置に出力す
る。
搬送ベルト上に載置して待機状態となっている。移動制
御手段は演算装置からの変位方向および変位量に基いて
待機状態の重心検出手段4を移動制御した後、重心検出
手段4を再び上昇させ、重力検出手段4は半導体ウェー
ハ30を持ち上げる。これにより、各圧力センサ43は
半導体ウェーハ30の重力を検出し、演算装置に出力す
る。
この重力値が全て等しい場合には、重力検出手段4の持
ち上げ中心と半導体ウェーハ30の重心とが一致した状
態である。また、重力値が異なる場合には重心検出手段
4の持ち上げ中心と半導体ウェーハ30の重心とが不一
致の状態であり、前述の変位動作を繰り返して、これら
の一致を行なう。そして、これらの一致が行なわれた後
、移替手段5はこの半導体ウェー八30を重力検出手段
4から取り出し、半導体ウェー八30の重心と回転ステ
ージ2の回転中心とが一致するように半導体ウェー八3
0を回転ステージ2に移し替える。
ち上げ中心と半導体ウェーハ30の重心とが一致した状
態である。また、重力値が異なる場合には重心検出手段
4の持ち上げ中心と半導体ウェーハ30の重心とが不一
致の状態であり、前述の変位動作を繰り返して、これら
の一致を行なう。そして、これらの一致が行なわれた後
、移替手段5はこの半導体ウェー八30を重力検出手段
4から取り出し、半導体ウェー八30の重心と回転ステ
ージ2の回転中心とが一致するように半導体ウェー八3
0を回転ステージ2に移し替える。
従って、回転ステージ2が高速回転しても、安定した回
転を確保できるため、レジストの均一なスピンコードが
可能であり、また、半導体ウェーハ30は回転ステージ
上に安定してチャッキングされる。
転を確保できるため、レジストの均一なスピンコードが
可能であり、また、半導体ウェーハ30は回転ステージ
上に安定してチャッキングされる。
本発明は上記実施例に限定されるものではなく、種々の
変形が可能である。
変形が可能である。
例えば、搬送手段としてローラコンベア、ベルトコンベ
アなどを使用しても良く、移替手段として真空吸着力で
半導体ウェーハを移し替えるようにしても良い。また、
圧力センサを4個以上設けても良い。
アなどを使用しても良く、移替手段として真空吸着力で
半導体ウェーハを移し替えるようにしても良い。また、
圧力センサを4個以上設けても良い。
以上、詳細に説明したように本発明によれば、半導体ウ
ェーへの重心を検出し、この重心を回転ステージの回転
中心と一致させるように移し替えるので、円滑且つ安定
した高速回転が可能となり、均一な膜厚のレジスト膜を
形成することができる。
ェーへの重心を検出し、この重心を回転ステージの回転
中心と一致させるように移し替えるので、円滑且つ安定
した高速回転が可能となり、均一な膜厚のレジスト膜を
形成することができる。
第1図は、本発明一実施例に係る搬送装置を示す斜視図
、第2図は、半導体ウェーハの一例を示す平面図である
。 1・・・搬送手段、2・・・回転ステージ、4・・・重
心検出手段、5・・・移替手段、30・・・半導体ウェ
ーハ、43・・・圧力センサ。
、第2図は、半導体ウェーハの一例を示す平面図である
。 1・・・搬送手段、2・・・回転ステージ、4・・・重
心検出手段、5・・・移替手段、30・・・半導体ウェ
ーハ、43・・・圧力センサ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 半導体ウェーハを所定の持ち上げ位置まで搬送する搬送
手段と、 前記半導体ウェーハの重力を受ける少なくとも3の圧力
センサを有し、前記持ち上げ位置で前記半導体ウェーハ
の持ち上げおよび引き下ろしを行なうと共に、前記圧力
センサの重力情報に基いて持ち上げ中心が前記半導体ウ
ェーハの重心と一致するように3次元方向に移動制御さ
れる重心検出手段と、 重心が検出された前記半導体ウェーハを前記持ち上げ位
置から取り出して回転ステージの回転中心に半導体ウェ
ーハの重心を一致させるように移し替える移替手段と を備えていることを特徴とする半導体ウェーハの搬送装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63163857A JPH0212939A (ja) | 1988-06-30 | 1988-06-30 | 半導体ウェーハの搬送装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63163857A JPH0212939A (ja) | 1988-06-30 | 1988-06-30 | 半導体ウェーハの搬送装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0212939A true JPH0212939A (ja) | 1990-01-17 |
Family
ID=15782075
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63163857A Pending JPH0212939A (ja) | 1988-06-30 | 1988-06-30 | 半導体ウェーハの搬送装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0212939A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6123502A (en) * | 1997-07-08 | 2000-09-26 | Brooks Automation, Inc. | Substrate holder having vacuum holding and gravity holding |
| CN103921548A (zh) * | 2013-01-15 | 2014-07-16 | 神讯电脑(昆山)有限公司 | 自动检测双片装置 |
| JP2017059747A (ja) * | 2015-09-18 | 2017-03-23 | 株式会社東芝 | 製造装置 |
-
1988
- 1988-06-30 JP JP63163857A patent/JPH0212939A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6123502A (en) * | 1997-07-08 | 2000-09-26 | Brooks Automation, Inc. | Substrate holder having vacuum holding and gravity holding |
| CN103921548A (zh) * | 2013-01-15 | 2014-07-16 | 神讯电脑(昆山)有限公司 | 自动检测双片装置 |
| JP2017059747A (ja) * | 2015-09-18 | 2017-03-23 | 株式会社東芝 | 製造装置 |
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