JPH02136747A - 回転速度測定装置 - Google Patents
回転速度測定装置Info
- Publication number
- JPH02136747A JPH02136747A JP28957688A JP28957688A JPH02136747A JP H02136747 A JPH02136747 A JP H02136747A JP 28957688 A JP28957688 A JP 28957688A JP 28957688 A JP28957688 A JP 28957688A JP H02136747 A JPH02136747 A JP H02136747A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pulse
- output
- generating means
- frequency
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- Granted
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- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
- Rotational Drive Of Disk (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、光ディスク等の回転ムラに関して重要なファ
クタとなるスピンドルモータの1回転内の速度変動を測
定する装置に関するものである。
クタとなるスピンドルモータの1回転内の速度変動を測
定する装置に関するものである。
(従来の技術)
第5図は光ディスクの書込みの様子を示す図で、光ディ
スクの回転速度が(イ)のように変動すると、光ディス
クに書込まれる1つのマークの大きさは1μm程度のた
め、(ロ)のようにマークの長さしが変化し、(ハ)の
ように速度のムラが検出パルス幅のジッタとなって現れ
る。この場合に1回転内における速度変動の最大と最小
のスパンを小さくすることが必要であるが、このスパン
値を知るには1回転の平均速度でなく1回転内の速度分
布を測定する必要がある。
スクの回転速度が(イ)のように変動すると、光ディス
クに書込まれる1つのマークの大きさは1μm程度のた
め、(ロ)のようにマークの長さしが変化し、(ハ)の
ように速度のムラが検出パルス幅のジッタとなって現れ
る。この場合に1回転内における速度変動の最大と最小
のスパンを小さくすることが必要であるが、このスパン
値を知るには1回転の平均速度でなく1回転内の速度分
布を測定する必要がある。
第6図は1回転内の速度分布を測定する公知のアンダー
ソンの方法を示す原理図で、2個のスリットを持つ円板
8をモータ1の回転軸に固定し、光源9の光をスリット
通過後フォトトランジスタ10で検出してスリット間の
時間をカウンタ11で読取る。この時間を固定子の円周
角についてプロットすることによって1回転中の任意の
回転位置く角)における速度を求めることができる。実
際には、固定子を回転台にのせ一定角度ずつ回して上記
の時間間隔の測定を繰返す。
ソンの方法を示す原理図で、2個のスリットを持つ円板
8をモータ1の回転軸に固定し、光源9の光をスリット
通過後フォトトランジスタ10で検出してスリット間の
時間をカウンタ11で読取る。この時間を固定子の円周
角についてプロットすることによって1回転中の任意の
回転位置く角)における速度を求めることができる。実
際には、固定子を回転台にのせ一定角度ずつ回して上記
の時間間隔の測定を繰返す。
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら、第6図の方法では異なる回転位置につい
て毎回固定子を一定角度ずつ回すので、■測定に時間が
かかる。
て毎回固定子を一定角度ずつ回すので、■測定に時間が
かかる。
■取付は精度(ガタ)が精度に影響を与える。
■回したときの角度の信顆性が乏しい。
等の欠点がある。
本発明はこのような課題を解決するためになされたもの
で、短時間で正確な測定が可能な回転速度測定装置を実
現することを目的とする。
で、短時間で正確な測定が可能な回転速度測定装置を実
現することを目的とする。
(課題を解決するための手段)
本発明は回転物体の回転速度を測定する回転速度測定装
置にかかるもので、その特徴とするところは回転物体の
1回転毎に複数のパルスを回転角度に対して等間隔で発
生する第1のパルス発生手段と、1回転毎に1個のパル
スを発生する第2のパルス発生手段と、前記第1のパル
ス発生手段の出力を分周し前記第2のパルス発生手段の
出力に関連する信号でリセットする分周回路と、前記第
1のパルス発生手段の出力および前記分周回路の異なる
分周比の出力を入力してこれらの信号のいずれかから特
定の位相のパルスを取出すパルス選択回路と、このパル
ス選択回路の出力パルス幅を測定するパルス幅測定手段
とを備え、パルス幅測定手段の出力から特定の回転角度
に対応する回転速度を測定するように構成した点にある
。
置にかかるもので、その特徴とするところは回転物体の
1回転毎に複数のパルスを回転角度に対して等間隔で発
生する第1のパルス発生手段と、1回転毎に1個のパル
スを発生する第2のパルス発生手段と、前記第1のパル
ス発生手段の出力を分周し前記第2のパルス発生手段の
出力に関連する信号でリセットする分周回路と、前記第
1のパルス発生手段の出力および前記分周回路の異なる
分周比の出力を入力してこれらの信号のいずれかから特
定の位相のパルスを取出すパルス選択回路と、このパル
ス選択回路の出力パルス幅を測定するパルス幅測定手段
とを備え、パルス幅測定手段の出力から特定の回転角度
に対応する回転速度を測定するように構成した点にある
。
(作用)
第1のパルス発生手段の出力パルスを分周器で分周し、
分周出力を組合せてパルス選択回路で論理演算を行うこ
とにより、特定の回転角度に対応するパルス幅を測定し
、このパルス幅から回転速度を測定することができる。
分周出力を組合せてパルス選択回路で論理演算を行うこ
とにより、特定の回転角度に対応するパルス幅を測定し
、このパルス幅から回転速度を測定することができる。
(実施例)
以下本発明を図面を用いて詳しく説明する。
第1図は本発明に係る回転速度測定装置の第1の実施例
を示す構成ブロック図である。1は回転物体を構成する
光ディスクのスピンドルモータ、2はこのモータ1の回
転に対応したパルスを出力するパルス発生手段を備えた
光電式エンコーダである。第2図はエンコーダ2の原理
図で、円板21は円周方向に等間隔で設けられた複数の
スリット22およびこの複数のスリット22の1つと同
一の角度位置にある1つのスリット23を有する。
を示す構成ブロック図である。1は回転物体を構成する
光ディスクのスピンドルモータ、2はこのモータ1の回
転に対応したパルスを出力するパルス発生手段を備えた
光電式エンコーダである。第2図はエンコーダ2の原理
図で、円板21は円周方向に等間隔で設けられた複数の
スリット22およびこの複数のスリット22の1つと同
一の角度位置にある1つのスリット23を有する。
光源24と光検出器26.光源25と光検出器27の組
合せはそれぞれフォトカプラで構成することができる。
合せはそれぞれフォトカプラで構成することができる。
光源24.25の出射光ビームはそれぞれスリット22
.23を通過して光検出器26.27で検出される6円
板21が回転すると光検出器26は回転角度に対し等間
隔のパルスを発生し、光検出器27は1回転に1つのパ
ルスを発生する。光源241円板21.スリット22お
よび光検出器26は第1のパルス発生手段を構成し、光
源251円板21.スリット23および光検出器27は
第2のパルス発生手段を構成する。3は光検出器26の
出力パルスを入力して分周する分周器で、光検出器27
の出力パルスでリセットされる。40は光検出器26の
出力A0を反転するN OT回路、41〜4Nは分周器
3の分周出力A、〜ANをそれぞれ反転するN07回路
、50〜5Nは信号A0〜ANまなはNOT回路40〜
4Nの出力のいずれかをそれぞれ選択する設定スイッチ
、6は設定スイッチ50〜5Nの出力を入力するAND
回路で、これらは信号A0〜ANから被測定パルスYを
抽出するパルス選択回路を構成する。7はAND凹N6
の出力を入力してそのパルス幅を測定するタイムインタ
ーバルカウンタ。
.23を通過して光検出器26.27で検出される6円
板21が回転すると光検出器26は回転角度に対し等間
隔のパルスを発生し、光検出器27は1回転に1つのパ
ルスを発生する。光源241円板21.スリット22お
よび光検出器26は第1のパルス発生手段を構成し、光
源251円板21.スリット23および光検出器27は
第2のパルス発生手段を構成する。3は光検出器26の
出力パルスを入力して分周する分周器で、光検出器27
の出力パルスでリセットされる。40は光検出器26の
出力A0を反転するN OT回路、41〜4Nは分周器
3の分周出力A、〜ANをそれぞれ反転するN07回路
、50〜5Nは信号A0〜ANまなはNOT回路40〜
4Nの出力のいずれかをそれぞれ選択する設定スイッチ
、6は設定スイッチ50〜5Nの出力を入力するAND
回路で、これらは信号A0〜ANから被測定パルスYを
抽出するパルス選択回路を構成する。7はAND凹N6
の出力を入力してそのパルス幅を測定するタイムインタ
ーバルカウンタ。
ジッタカウンタ等からなるパルス幅測定器である。
次に上記のような構成の回転速度測定装置の動作を第3
図のタイムチャートを用いて説明する。
図のタイムチャートを用いて説明する。
エンコーダ2の光検出器27のパルス出力2は円板21
の1回転ごとに1回発生し、分周器3をリセットする(
第3図(イ))。エンコーダ2の光検出器26のパルス
出力Aoは円板21の1回転ごとにM個のパルス幅x、
、X3 、・・・XMを生ずる(第3図(ロ))、なお
パルス出力Zはパルス出力AOと同期している0分周器
3は入力パルスAOを1/2.1/4.−1/Nの分周
比でそれぞれ分周した出力A + 、 A2 、・・・
ANを発生する(第3図(ハ)〜(へ))。但し85M
である。
の1回転ごとに1回発生し、分周器3をリセットする(
第3図(イ))。エンコーダ2の光検出器26のパルス
出力Aoは円板21の1回転ごとにM個のパルス幅x、
、X3 、・・・XMを生ずる(第3図(ロ))、なお
パルス出力Zはパルス出力AOと同期している0分周器
3は入力パルスAOを1/2.1/4.−1/Nの分周
比でそれぞれ分周した出力A + 、 A2 、・・・
ANを発生する(第3図(ハ)〜(へ))。但し85M
である。
信号Ao 、 A + 、 A2 、 ・”A Nはそ
れぞれNOT回F!@40,41.42.・・・4Nで
反転され、スイッチ50,51,52.・・・5Nによ
りいずれか一方がそれぞれ選択される。AND回路6は
各スイッチ50〜5Nの出力についてAND演算を行い
、その出力パルス幅がパルス幅測定器7で測定される6
例えばMが8.Nが4の場合、スイッチ50゜51.5
2,53.54がそれぞれ負、負、正正、正(負は反転
側、正は非反転側の選択を示す)に設定されていると、
AND回路6の出力は信号A0のx4のタイミングで出
力される(第3図(ト)のY出力)。すなわちスイッチ
50〜5Nの設定によりAO傷信号1周期内の任意の位
置(位相)のパルスのみを取出し、そのパルス幅をパル
ス幅測定回路7で測定することができる。A。信号の1
周期内の位置は円板21の回転角度に対応しているから
、スイッチ50〜5Nの設定により円板21の任意の回
転角度における速度を測定することができる。信号AO
を発生するスリットは回転角度に対し等間隔であり、円
周方向に等間隔、すなわち距離が一定であるから、スイ
ッチ50〜5Nの設定の組合せを順次変えてパルス信号
Yの幅を測定することにより、1回転内の各位置におけ
るモータ1の速度変動を容易に測定することができる。
れぞれNOT回F!@40,41.42.・・・4Nで
反転され、スイッチ50,51,52.・・・5Nによ
りいずれか一方がそれぞれ選択される。AND回路6は
各スイッチ50〜5Nの出力についてAND演算を行い
、その出力パルス幅がパルス幅測定器7で測定される6
例えばMが8.Nが4の場合、スイッチ50゜51.5
2,53.54がそれぞれ負、負、正正、正(負は反転
側、正は非反転側の選択を示す)に設定されていると、
AND回路6の出力は信号A0のx4のタイミングで出
力される(第3図(ト)のY出力)。すなわちスイッチ
50〜5Nの設定によりAO傷信号1周期内の任意の位
置(位相)のパルスのみを取出し、そのパルス幅をパル
ス幅測定回路7で測定することができる。A。信号の1
周期内の位置は円板21の回転角度に対応しているから
、スイッチ50〜5Nの設定により円板21の任意の回
転角度における速度を測定することができる。信号AO
を発生するスリットは回転角度に対し等間隔であり、円
周方向に等間隔、すなわち距離が一定であるから、スイ
ッチ50〜5Nの設定の組合せを順次変えてパルス信号
Yの幅を測定することにより、1回転内の各位置におけ
るモータ1の速度変動を容易に測定することができる。
このような構成の回転速度測定装置によれば、異なる回
転位置について毎回固定子を一定角度ずつ回したり、円
板を交換する必要がなく、短時間で正確に速度変動の測
定を行うことができる。また、光デイスク装置等ではも
ともとエンコーダがモータに装着されていることが多い
が、その場合にはその出力を活用して簡単に実現するこ
とができる。
転位置について毎回固定子を一定角度ずつ回したり、円
板を交換する必要がなく、短時間で正確に速度変動の測
定を行うことができる。また、光デイスク装置等ではも
ともとエンコーダがモータに装着されていることが多い
が、その場合にはその出力を活用して簡単に実現するこ
とができる。
なお上記の実施例において、M、Nを大きくすることに
より、速度分布の精度を向上することができる。
より、速度分布の精度を向上することができる。
なおエンコーダ2のA0出力用スリット幅のバラツキが
ジッタ(速度変動)の測定精度に対して大きく、エンコ
ーダの精度が測定精度に影響を与える場合は、次のよう
にして測定精度を向上することができる。すなわち、ス
イッチ50の出力すなわちA。のパルス幅をAND回路
6に加えず、A1以上のパルス幅すなわちA、〜AN信
号をAND回路6に入力することにより、第3図(チ)
のY”出力のようにA、と同じパルス幅を取出し、その
パルス幅を測定する。その結果、A、パルスにおけるス
リット誤差をεとすれば、AO傷信号2倍のパルス幅を
持つY′信号を用いることでその実効誤差をε/2とす
ることができる。このように下段の分周出力の組合せに
よって被測定パルス幅を発生することにより、エンコー
ダの誤差の影響を小さくすることができる。
ジッタ(速度変動)の測定精度に対して大きく、エンコ
ーダの精度が測定精度に影響を与える場合は、次のよう
にして測定精度を向上することができる。すなわち、ス
イッチ50の出力すなわちA。のパルス幅をAND回路
6に加えず、A1以上のパルス幅すなわちA、〜AN信
号をAND回路6に入力することにより、第3図(チ)
のY”出力のようにA、と同じパルス幅を取出し、その
パルス幅を測定する。その結果、A、パルスにおけるス
リット誤差をεとすれば、AO傷信号2倍のパルス幅を
持つY′信号を用いることでその実効誤差をε/2とす
ることができる。このように下段の分周出力の組合せに
よって被測定パルス幅を発生することにより、エンコー
ダの誤差の影響を小さくすることができる。
また上記の実施例でエンコーダの2出力とA。
出力の間にタイミングのずれδがある場合は、パルス幅
x2〜XM−1に関しては正確な測定ができるが、X、
とXMがδだけずれてしまう6例えば真のX、をx、t
とずれば、X+=X+t−δとなる。これを防ぐには第
4図に示すように2倍号を1/2以上分周した信号(第
4図(イ))で分周器3をリセットすればよい0例えば
M=8の場合には第4図(ハ)のAQ出力のX、〜X+
6の内リセットパルスの影ぜがないX、〜X、をパルス
幅発生に利用すれば、正確な測定を行うことができる。
x2〜XM−1に関しては正確な測定ができるが、X、
とXMがδだけずれてしまう6例えば真のX、をx、t
とずれば、X+=X+t−δとなる。これを防ぐには第
4図に示すように2倍号を1/2以上分周した信号(第
4図(イ))で分周器3をリセットすればよい0例えば
M=8の場合には第4図(ハ)のAQ出力のX、〜X+
6の内リセットパルスの影ぜがないX、〜X、をパルス
幅発生に利用すれば、正確な測定を行うことができる。
このような動作はパルス選択回路の論理回路を変形する
ことにより実現できる。
ことにより実現できる。
また上記の実施例では光学スリット形エンコーダを用い
ているが、回転位置に対して等間隔のパルスとリセット
パルスを発生する任意の他の方式のエンコーダを用いる
こともできる。
ているが、回転位置に対して等間隔のパルスとリセット
パルスを発生する任意の他の方式のエンコーダを用いる
こともできる。
また上記の実施例において回転位置の設定はスイッチの
切換えによって行われているが、これを論理回路等を用
いて電気信号で設定できるようにし、回転角度の走査お
よび速度分布からの最大赦小値の決定をコンピュータ等
を用いて行うことにより測定の完全自動化を図ることも
できる。
切換えによって行われているが、これを論理回路等を用
いて電気信号で設定できるようにし、回転角度の走査お
よび速度分布からの最大赦小値の決定をコンピュータ等
を用いて行うことにより測定の完全自動化を図ることも
できる。
また上記の実施例では回転物体としてモータを用いてい
るが、任意の回転物体の回転速度分布を測定することが
できる。
るが、任意の回転物体の回転速度分布を測定することが
できる。
(発明の効果)
以上述べたように本発明によれば、短時間で正確な測定
が可能な回転速度測定装置を簡単な構成で実現すること
ができる。
が可能な回転速度測定装置を簡単な構成で実現すること
ができる。
第1図は本発明に係る回転速度測定装置の一実施例を示
す構成ブロック図、第2図は第1図のエンコーダの原理
図、第3図は第1図装置およびその変形例の動作を示す
タイムチャート、第4図は第1図装置の他の変形例の動
作を示すタイムチャート、第5図は光ディスクにおける
回転速度変動の様子を示す図、第6図は従来の回転速度
測定方法を示す図である。 1・・・回転物体、3・・・分周回路、6・・・AND
回路、7・・・パルス幅測定手段、21・・・円板、2
2.23・・・スリット、24.25・・・光源、26
.27・・・光検出器、40〜4N・・・NOT回路、
50〜5N・・・第 図 (ロ) マーク 一6==羽− 6] 第 図
す構成ブロック図、第2図は第1図のエンコーダの原理
図、第3図は第1図装置およびその変形例の動作を示す
タイムチャート、第4図は第1図装置の他の変形例の動
作を示すタイムチャート、第5図は光ディスクにおける
回転速度変動の様子を示す図、第6図は従来の回転速度
測定方法を示す図である。 1・・・回転物体、3・・・分周回路、6・・・AND
回路、7・・・パルス幅測定手段、21・・・円板、2
2.23・・・スリット、24.25・・・光源、26
.27・・・光検出器、40〜4N・・・NOT回路、
50〜5N・・・第 図 (ロ) マーク 一6==羽− 6] 第 図
Claims (2)
- (1)回転物体の回転速度を測定する回転速度測定装置
において、回転物体の1回転毎に複数のパルスを回転角
度に対して等間隔で発生する第1のパルス発生手段と、
1回転毎に1個のパルスを発生ずる第2のパルス発生手
段と、前記第1のパルス発生手段の出力を分周し前記第
2のパルス発生手段の出力に関連する信号でリセットす
る分周回路と、前記第1のパルス発生手段の出力および
前記分周回路の異なる分周比の出力を入力してこれらの
信号のいずれかから特定の位相のパルスを取出すパルス
選択回路と、このパルス選択回路の出力パルス幅を測定
するパルス幅測定手段とを備え、パルス幅測定手段の出
力から特定の回転角度に対応する回転速度を測定するよ
うに構成したことを特徴とする回転速度測定装置。 - (2)第2のパルス発生手段の出力を分周した信号によ
り分周回路をリセットするように構成した請求項1記載
の回転速度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28957688A JPH087223B2 (ja) | 1988-11-16 | 1988-11-16 | 回転速度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28957688A JPH087223B2 (ja) | 1988-11-16 | 1988-11-16 | 回転速度測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02136747A true JPH02136747A (ja) | 1990-05-25 |
| JPH087223B2 JPH087223B2 (ja) | 1996-01-29 |
Family
ID=17745023
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28957688A Expired - Fee Related JPH087223B2 (ja) | 1988-11-16 | 1988-11-16 | 回転速度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH087223B2 (ja) |
-
1988
- 1988-11-16 JP JP28957688A patent/JPH087223B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH087223B2 (ja) | 1996-01-29 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |