JPH02143113A - 光学式エンコーダ - Google Patents

光学式エンコーダ

Info

Publication number
JPH02143113A
JPH02143113A JP29907388A JP29907388A JPH02143113A JP H02143113 A JPH02143113 A JP H02143113A JP 29907388 A JP29907388 A JP 29907388A JP 29907388 A JP29907388 A JP 29907388A JP H02143113 A JPH02143113 A JP H02143113A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
phase
main scale
signal
pattern
grating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP29907388A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2578493B2 (ja
Inventor
Masae Ikeda
正栄 池田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Electronics Inc
Original Assignee
Canon Electronics Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Electronics Inc filed Critical Canon Electronics Inc
Priority to JP63299073A priority Critical patent/JP2578493B2/ja
Publication of JPH02143113A publication Critical patent/JPH02143113A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2578493B2 publication Critical patent/JP2578493B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Optical Transform (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は光学式エンコーダに関し、所定の格子パターン
が形成されたメインスケールと互いに位相が異なる複数
個の格子パターンが形成されたサブスケールとを有する
光学式エンコーダに関する。
〔従来技術〕
従来よりメインスケールとサブスケールの一方を可動ス
テージなどの可動体に連結し、光源からの光でメインス
ケールの格子パターン(スリット列)を照明してメイン
スケールの格子パターンとサブスケールの格子パターン
を通過した光を受光素子で受光し、この受光素子からの
光電変換された出力信号にもとづいて可動体の変位を検
出するエンコーダが良く知られている。
このようなエンコーダでは、変位方向の判別又は変位量
の分解能を向上させるために、サブスケールに複数個の
格子パターンを形成し、しかもこれらの格子パターンの
メインスケールの格子パターンに対する位相を互いに異
ならしめ、互いに位相が異なる周期信号を受光素子によ
り得ていた。
しかしながら、従来のエンコーダでは、サブスケールの
複数個の格子パターンを可動体の変位方向に沿って設け
ていたため、経時変化により互いの位相差がずれるとい
う問題が生じていた。また、そもそも、両者が、格子パ
ターンを成すスリットの配列方向に並んでいるために、
互いの位相差を正確に規定することも容易ではない。
従って、例えば第5図に示すように、サブスケール10
0(マスク)の格子パターン7.8(又は9゜10)を
、可動体(ここではメインスケール2が可動体に取付け
られている。)の変位方向Xにほぼ直交する方向に並べ
て設けてやれば、上述の問題は解消できる。
ところが、第5図に示すように、光源1の強度変動をモ
ニターするための矩形スリット6を間に挾んで格子パタ
ーン7.8を設けると、メインスケールパターン7及び
格子パターン8からの光を各々光電変換して得られる周
期信号の位相差が、予め決めた位相差から大きくずれる
ことが解かった。
〔発明の概要〕
本発明の目的は、所定の位相差を有する複数個の周期信
号を正確に得ることができる光学式エンコーダを提供す
ることにある。
上記目的を達成するために、本発明の光学式エンコーダ
は所定周期の格子パターンが形成されたメインスケール
と、該メインスケールの格子パターンに対して互いに位
相が異なった第1と第2の格子パターンを有し、前記メ
インスケールに対向させて設けられたサブスケールと、
前記メインスケールを照明する照明手段と、前記メイン
スケールの格子パターンと前記サブスケールの第1格子
パターンを介して得られる光と、前記メインスケールの
格子パターンと前記サブスケールの第2格子パターンを
介して得られる光を個別に光電変換し、各々の光に対応
する互いに位相が異なる第1と第2の周期信号を出力す
る光電変換手段とを有し、前記メインスケールとサブス
ケールの一方を可動体に連結し、前記第1と第2の周期
信号にもとづいて該可動体の変位を測定する光学式エン
コーダにおいて、前記サブスケールの第1と第2の格子
パターンを、前記可動体が変位する方向にほぼ直交する
方向に近接させて設けたことを特徴とするものである。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の実施例を具体的に説明するが、その前に
本発明の光学式エンコーダの基本構成が示しである前述
の第5図の装置に関し追加説明する。
第5図において、2と100は、前述したように各々メ
インスケールとサブスケールを示している。
1はLEDなどの光源であり、光源1から射出した光は
レンズ5によりほぼ平行な光束となり、この平行光束が
メインスケール2の所定周期の格子パターン20(スリ
ット列)を照明する。格子パターン20の光透過部(ス
リット)を透過した光はサブスケール100の全面を照
明する。
サブスケール100の後方には、サブスケール100の
格子パターン7、8.9. 10と矩形スリット6の各
々に対応して設けた複数個のフォトダイオード(以下、
フォトダイオードアレイと称す。)が設けられており、
各フォトダイオードアレイは入射光を光電変換する。
サブスケール100の格子パターン7、8.9. 10
からの光が入射するフォトダイオードからの光電変換信
号は、サブスケール100とメインスケール2のX方向
の相対変位により周期的な信号となる。
一方、矩形スリット6からの光か入射するフォトダイオ
ードからの光電変換信号は周期信号ではなく、光源1の
発光強度の変化に応答して変化する信号である。従って
、このフ第1・ダイオードからの信号にもとづいて、光
源Iの発光強度を自動又は手動で調整できる。
また、フォトダイオードとしては、その感度特性内に光
源1の発光スペクトルが含まれるものが用いられる。
さて、本発明の主たる特徴は、第5図に示されるような
サブスケール100の構成にある。
第1図及び第2図は本発明の一実施例を示すための説明
図であり、第1図はサブスケール100における格子パ
ターンの配置を示す拡大図、第2図は各格子パターンに
対応する各フォトダイオードからの出力信号を示す図で
ある。
格子パターン7は、対応するフォトダイオードからA相
信号を取出すためのパターンであり、格子パターン8は
対応するフォトダイオードからB相信号を取り出すため
のパターンである。このA相信号の周期とB相信号の周
期は互いに90°位相がずれたものであり、A相及びB
相信号から周知の技術によりメインスケール2(可動体
)の変化する方向が判別できる。
また、格子パターン9は対応するフォトダイオードから
、A相信号に対して180’ 位相がずれたA相信号を
取出すためのパターンであり、人相信号とAm1号の差
動をとることにより、電磁ノイズ等の外乱につよい周期
信号(C相信号)を形成し、この信号によりメインスケ
ール2の変位量や変位速度が測定される。
また、格子パターン10は対応するフォトダイオードか
ら、B相信号に対して1000位相がずれたn相信号を
取出すためのパターンであり、A相とA相の組合わせと
同様に、B相信号とn相信号の差動をとることにより所
定の周期信号(n相信号)を形成し、この信号によりメ
インスケール2の変位量や変位速度が測定される。
もちろん、C相及びn相信号を組合せることにより、各
相単独の場合の、2倍の分解能でメインスケール2の変
位量が測定できる。
各格子パターン7〜10を介して得られる周期信号の状
態が第2図に示されている。このような周期信号を得る
ために、格子パターン7〜10は、その周期が格子パタ
ーン20の周期とほぼ同じであり、メインスケール2σ
格子パターン20に対して、順次90°づつ位相をずら
しである。即ち、格子パターン7と8が互いに90°位
相がずれ、格子パターン9.10が互いに90°位相が
ずれているのである。
そして、本実施例では、格子パターン7と8を変位方向
Xと直交する方向に互いに近接配置し、また格子パター
ン9と10を変位方向Xと直交する方向に互いに近接配
置している。このために、メインスケール2とサブスケ
ール100のアジマス誤差の影響を、各周期信号が受け
に(くなっており、従って、各周期信号間の位相差は正
しく90″ に設定される。
第3図に格子パターン7と格子パターン8の距離とアジ
マス誤差及びA相−B相間の相対的位相誤差量の関係を
示す。
第3図に示すグラフは、格子パターンのスリットの長さ
を61幅をw (w=o、14 ・b)、格子パターン
A、 Bのスリット端部間の距離をaとし、b / a
をパラメータとしてアジマス誤差と位相誤差の関係をプ
ロットとしである。第3図から明らかなように、格子パ
ターンA、 B間の距離が小さ(なればなる程、アジマ
ス誤差の位相誤差に対する影響も小さくなるのである。
従って、本実施例では、メインスケール2の変位方向X
に直交する方向に格子パターン7.8(9゜10)を近
接配置したため、アジマス誤差の影響が小さくなり、正
確に互いに90″ 位相がずれた周期信号を常時得られ
る。これにより、高精度の変位測定が可能な光学式エン
コーダが提供できる。
第1図に戻り、6は光源lの発光強度モニター用のスリ
ットであり、これに対応するフォトダイオードからは、
光源lの発光強度に対応したn相信号が得られる。この
n相信号は、前述のように、光源1の発光強度を調整す
るために用いられる。そして、スリット6は、格子パタ
ーン7.8の間、格子パターン9.10の間には存在せ
ず、これにより、上述した格子パターン7.8(格子パ
ターン9. 10)の近接配置を達成している。
また、本実施例におけるサブスケール100は、フォト
ダイオードアレイが形成されている基板上に設けられて
おりζフォトダイオードアレイとサブスケール100と
は一体化している。即ち、基板上にフォトダイオードア
レイ(A相、B相、人相、n相、F相用)を形成した後
、蒸着等の手法により上 各フォトダイオードアレイ△に格子パターンやスリット
パターンを形成し、フォトダイオードアレイをこれらの
パターンによりマスキングしている。
従って、サブスケール100はマスクとして基板上に設
けられているのであり、第1図の符号6〜10で示す領
域は各々F相、A相、B相、A相、n相用のフォトダイ
オード領域とみなしてよい。
このような構成とすることにより、メインスケール2か
らの光を受光する受光手段(サブスケール+充電変換素
子)の小型化を達成し、コンパクトな光学式エンコーダ
を提供できる。
また、フォトダイオードアレイを基板上に形成する時に
、フォトダイオード自体を格子状にバターニングし、サ
ブスケールとしての機能を与えてもよい。
第4図は本発明の他の実施例を示す説明図であり、第1
図の場合同様、エンコーダの基本構成は第5図に既に示
しである。本実施例のサブスケールと前記実施例のサブ
スケールの違いは、F相信号を取り出すためのスリット
6の形状にある。本実施例では、スリット6を2つの部
分に分け、この2つの部分の間に格子パターン7〜lO
を設けている。従って、格子パターン7と8、格子パタ
ーン9と10が近接配置されていることはもちろんのこ
と、格子パターン7と10、格子パターン8と9も近接
配置しである。
このような構成とすることにより、メインスケール2を
介してサブスケール100を照明する光の平行度に誤差
が多少あっても、メインスケール2の変位方向に配列し
た格子パターンを介して得られる周期信号間の位相誤差
の変動が小さくなる。
従って、例えば格子パターン7と9を介して得られる周
期信号の差動で形成されるC相信号が正確なものとなり
、精度の良い光学式エンコーダを提供できる。
以上2つの実施例を本願では示したが、本発明の思想に
もとづいて種々の形態の光学式エンコーダを提供するこ
とが可能である。
例えば、上記各実施例では、第5図に示すようなリニア
エンコーダを対象として説明したが、ロークリタイプの
エンコーダにも本発明を用いることができる。また、メ
インスケールを可動体に取り付ける代わりに、光源−光
学系−サブスケールーフォトダイオードの組から成るl
ユニットを可動体に取付け、メインスケールを装置本体
に固定しても良い。また、フォトダイオードアレイを用
いる代わりに、サブスケールの格子パターンに対応させ
て受光面を分割した分割センサを使用すると、セツティ
ングの面で有利になる。
〔発明の効果〕
以上、本発明によれば、サブスケールの第1と第2の格
子パターンを可動体の変位方向にほぼ直交する方向に近
接配置することにより、メインスケールとサブスケール
間のアジマス誤差による周期信号間の位相誤差を軽減で
きるために所定の位相差をもつ複数個の周期信号が正確
に得られ、高精度に可動体の変位を測定できる光学式エ
ンコーダを提供することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は本発明の一実施例を示す説明図。 第3図は格子パターン間の距離とメインスケールとサブ
スケールのアジマス誤差とA相−B相間の位相誤差量の
関係を示すグラフ図。 第4図は本発明の他の実施例を示す説明図。 第5図は光学式エンコーダの基本構成を示す図。 1・・・光源 2・・・メインスケール 6・・・スリット 7〜10. 20・・・格子パターン 100・・・サブスケール 箭 嘔e口

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 所定周期の格子パターンが形成されたメインスケールと
    、該メインスケールの格子パターンに対して互いに位相
    が異なった第1と第2の格子パターンを有し、前記メイ
    ンスケールに対向させて設けられたサブスケールと、前
    記メインスケールを照明する照明手段と、前記メインス
    ケールの格子パターンと前記サブスケールの第1格子パ
    ターンを介して得られる光と、前記メインスケールの格
    子パターンと前記サブスケールの第2格子パターンを介
    して得られる光を個別に光電変換し、各々の光に対応す
    る互いに位相が異なる第1と第2の周期信号を出力する
    光電変換手段とを有し、前記メインスケールとサブスケ
    ールの一方を可動体に連結し、前記第1と第2の周期信
    号にもとづいて該可動体の変位を測定する光学式エンコ
    ーダにおいて、前記サブスケールの第1と第2の格子パ
    ターンを、前記可動体が変位する方向にほぼ直交する方
    向に近接させて設けたことを特徴とする光学式エンコー
    ダ。
JP63299073A 1988-11-25 1988-11-25 光学式エンコーダ Expired - Fee Related JP2578493B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63299073A JP2578493B2 (ja) 1988-11-25 1988-11-25 光学式エンコーダ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63299073A JP2578493B2 (ja) 1988-11-25 1988-11-25 光学式エンコーダ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02143113A true JPH02143113A (ja) 1990-06-01
JP2578493B2 JP2578493B2 (ja) 1997-02-05

Family

ID=17867847

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63299073A Expired - Fee Related JP2578493B2 (ja) 1988-11-25 1988-11-25 光学式エンコーダ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2578493B2 (ja)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5696216A (en) * 1979-12-28 1981-08-04 Nippon Kogaku Kk <Nikon> Index scale for photoelectric encoder
JPS5892819A (ja) * 1981-11-28 1983-06-02 Nippon Kogaku Kk <Nikon> 光電式エンコ−ダ装置
JPS59616A (ja) * 1982-06-26 1984-01-05 Kawaguchiko Seimitsu Kk 光電変換装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5696216A (en) * 1979-12-28 1981-08-04 Nippon Kogaku Kk <Nikon> Index scale for photoelectric encoder
JPS5892819A (ja) * 1981-11-28 1983-06-02 Nippon Kogaku Kk <Nikon> 光電式エンコ−ダ装置
JPS59616A (ja) * 1982-06-26 1984-01-05 Kawaguchiko Seimitsu Kk 光電変換装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2578493B2 (ja) 1997-02-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5302820A (en) Opto-electronic scale reading apparatus having an array of elongate photo-sensitive elements and a periodic light pattern
JP3644687B2 (ja) 2つの物体の相対的な変位を測定する光電式距離及び角度測定装置
JPH0131127B2 (ja)
GB2194044A (en) Optical type displacement detecting device
JPH0132450B2 (ja)
US6995836B1 (en) Angle measuring system
JPH09196705A (ja) 変位測定装置
JPH07286861A (ja) 光学変換器および方法
US7348546B2 (en) Position measuring system with a scanning unit having a reference pulse signal detection unit
JP5595148B2 (ja) アブソリュートエンコーダ
JPH06258102A (ja) 測定装置
JPH02129518A (ja) 光電位置測定装置
US5530543A (en) Detector array for use in interferometric metrology systems
JP2578493B2 (ja) 光学式エンコーダ
JPH0486513A (ja) 位置検出装置
JPS61182522A (ja) リニアスケ−ル測定装置
JPH0521485B2 (ja)
JPH0733134Y2 (ja) 光学式変位検出装置
KR100292806B1 (ko) 위상 변환 격자를 이용한 엔코더
JPH0521486B2 (ja)
JPH0444211B2 (ja)
JPS6350722A (ja) 光学式変位検出器
JPH07198424A (ja) エンコーダ装置
JPH09203644A (ja) 光学式エンコーダ
JPH0444214B2 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees