JPH0214331A - 二重化システム診断方式 - Google Patents
二重化システム診断方式Info
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- JPH0214331A JPH0214331A JP63164737A JP16473788A JPH0214331A JP H0214331 A JPH0214331 A JP H0214331A JP 63164737 A JP63164737 A JP 63164737A JP 16473788 A JP16473788 A JP 16473788A JP H0214331 A JPH0214331 A JP H0214331A
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- JP
- Japan
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- diagnostic
- diagnosis
- instruction
- address generation
- microprogram
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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- Hardware Redundancy (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
- Exchange Systems With Centralized Control (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
待機系をシステムダウンなしに現用系から直接に診断し
得る二重化システム診断方式に関し、診断時間の短縮化
、診断精度の向上を目的とし、二重化システムの多糸の
メモリ毎に格納された他系診断対象構成要素のだめの診
断命令と、各制御記憶装置毎に格納された診断命令処理
用マイクロプログラム及びハード的割込み禁止を含む診
断マイクロプログラムとを設け、命令レジスタにセット
された診断命令の命令コードに応答したCMアドレス生
成回路によって制御記憶装置から読み出される診断命令
処理用マイクロプログラムの実行により診断命令のアド
レス生成部を受け取る演算回路のアドレス生成データを
ゲート回路を介してシフトレジスタへ入力させた後、ゲ
ート回路を介してCMアドレス生成回路へ入力せしめて
診断マイクロプログラムを起動し診断対象構成要素の診
断で発生されるハード的割込みを禁止しつつその診断を
実行するように構成した。
得る二重化システム診断方式に関し、診断時間の短縮化
、診断精度の向上を目的とし、二重化システムの多糸の
メモリ毎に格納された他系診断対象構成要素のだめの診
断命令と、各制御記憶装置毎に格納された診断命令処理
用マイクロプログラム及びハード的割込み禁止を含む診
断マイクロプログラムとを設け、命令レジスタにセット
された診断命令の命令コードに応答したCMアドレス生
成回路によって制御記憶装置から読み出される診断命令
処理用マイクロプログラムの実行により診断命令のアド
レス生成部を受け取る演算回路のアドレス生成データを
ゲート回路を介してシフトレジスタへ入力させた後、ゲ
ート回路を介してCMアドレス生成回路へ入力せしめて
診断マイクロプログラムを起動し診断対象構成要素の診
断で発生されるハード的割込みを禁止しつつその診断を
実行するように構成した。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、待機系診断対象構成要素の診断をシステムダ
ウンを起こすことなしに現用系から直接に行ない得る二
重化システム診断方式に関する。
ウンを起こすことなしに現用系から直接に行ない得る二
重化システム診断方式に関する。
ディジタル交換機等においては、システムの信頼性向上
という観点からシステムを二重化している。その二重化
システムはその一方の系を現用系としてシステムの制御
に用い、他方の系を待機系としている。その待機系は、
現用系の障害時に現用系に切り替えられて現用系として
の動作が開始されるが、待機系が正常な動作を遂行し得
なければ二重化構成の意義が失われるので、待機系を構
成して構成要素を現用系において診断して待機系として
の意義あらしめている。
という観点からシステムを二重化している。その二重化
システムはその一方の系を現用系としてシステムの制御
に用い、他方の系を待機系としている。その待機系は、
現用系の障害時に現用系に切り替えられて現用系として
の動作が開始されるが、待機系が正常な動作を遂行し得
なければ二重化構成の意義が失われるので、待機系を構
成して構成要素を現用系において診断して待機系として
の意義あらしめている。
従来の二重化交換システムにおけるその構成要素の診断
方式は次のようなものであった。例えば、第5図に示す
如きシステム構成において、そのO系が現用系として稼
動している最中に、待機系(1系)の主記憶装置(MM
、)10、の診断を為さんとする場合に、現用系の中央
制御装置(CC0)12゜から待機系の中央制御装置(
ccl )12、に対しその主記憶装置診断コマンドを
与える。この現用系から待機系への診断コマンドの転送
はその制御回路16゜の制御の下に主記憶装置10oか
ら読み出された診断命令を内部バス180を介してシフ
トレジスタ201に入力させ、そのシフトレジスタ20
1からケーブル30を介して待機系のシフトレジスタ2
01に転送することにより達成される。現用系シフトレ
ジスタ200から待機系シフトレジスタ201への交差
部分Aが第5図の交差部分Aを表している。その待機系
のシフトレジスタ201にセットされた診断命令を待機
系の制御回路16.がバス1B、を介して取り込むこと
により、待機系の主記憶装置10に対する診断が行なわ
れる。
方式は次のようなものであった。例えば、第5図に示す
如きシステム構成において、そのO系が現用系として稼
動している最中に、待機系(1系)の主記憶装置(MM
、)10、の診断を為さんとする場合に、現用系の中央
制御装置(CC0)12゜から待機系の中央制御装置(
ccl )12、に対しその主記憶装置診断コマンドを
与える。この現用系から待機系への診断コマンドの転送
はその制御回路16゜の制御の下に主記憶装置10oか
ら読み出された診断命令を内部バス180を介してシフ
トレジスタ201に入力させ、そのシフトレジスタ20
1からケーブル30を介して待機系のシフトレジスタ2
01に転送することにより達成される。現用系シフトレ
ジスタ200から待機系シフトレジスタ201への交差
部分Aが第5図の交差部分Aを表している。その待機系
のシフトレジスタ201にセットされた診断命令を待機
系の制御回路16.がバス1B、を介して取り込むこと
により、待機系の主記憶装置10に対する診断が行なわ
れる。
その制御回路16.は、取り込んだ診断命令を命令レジ
スタ260を介してそのCMアドレス生成回路221へ
与える。診断コマンドには、主記憶装置診断マイクロプ
ログラム起動のためのアドレス情報が含まれている。そ
のアドレス情報がCMアドレス生成回路221で用いら
れて主記憶袋ZJliマイクロプログラム内の各マイク
ロ命令を制御記憶装置(CM)24.から所定の順序で
読み出すアドレスがCMアドレス生成回路221から順
次に発生される。その読み出されたマイクロ命令毎に命
令対応に主記憶装置診断のための1つ又は複数の制御信
号が所定の順序で発生され、その診断が行なわれる。こ
の場合における診断には、例えば診断データの主記憶装
置101への書込み及びその読出し、その照合処理並び
にその結果の現用系へ転送するための処置が含まれる。
スタ260を介してそのCMアドレス生成回路221へ
与える。診断コマンドには、主記憶装置診断マイクロプ
ログラム起動のためのアドレス情報が含まれている。そ
のアドレス情報がCMアドレス生成回路221で用いら
れて主記憶袋ZJliマイクロプログラム内の各マイク
ロ命令を制御記憶装置(CM)24.から所定の順序で
読み出すアドレスがCMアドレス生成回路221から順
次に発生される。その読み出されたマイクロ命令毎に命
令対応に主記憶装置診断のための1つ又は複数の制御信
号が所定の順序で発生され、その診断が行なわれる。こ
の場合における診断には、例えば診断データの主記憶装
置101への書込み及びその読出し、その照合処理並び
にその結果の現用系へ転送するための処置が含まれる。
又、上述診断マイクロプログラムの実行において、ハー
ド的割込み原因が発生すると、ソフト的な割込み原因と
同様、割込みがかけられる。
ド的割込み原因が発生すると、ソフト的な割込み原因と
同様、割込みがかけられる。
その診断終了合図を受け取る現用系中央制御装置12.
は、待機系から診断結果を受け取るための命令を実行し
てその診断結果を取り込み、それに対する処置を執る。
は、待機系から診断結果を受け取るための命令を実行し
てその診断結果を取り込み、それに対する処置を執る。
このような待機系を介して現用系による待機系内の診断
対象構成要素の診断を行なうことにしているのは、現用
系において交換処理のために用いられるプログラムの中
に上述の診断のためのプログラムをも組み込んで上述と
同様の診断を為さんとすると、その診断において、ハー
ド的な障害が発生すると、ハード的な割込み処理が発生
し、主記憶装置アクセス不可等オンライン動作を実行し
得ない状態、つまりシステムダウンの状態に陥ってしま
うのを回避せんがためである。
対象構成要素の診断を行なうことにしているのは、現用
系において交換処理のために用いられるプログラムの中
に上述の診断のためのプログラムをも組み込んで上述と
同様の診断を為さんとすると、その診断において、ハー
ド的な障害が発生すると、ハード的な割込み処理が発生
し、主記憶装置アクセス不可等オンライン動作を実行し
得ない状態、つまりシステムダウンの状態に陥ってしま
うのを回避せんがためである。
このようなシステムダウンは、上述の待機系を介しての
現用系による診断にはないが、その診断には、各診断対
象毎に待機系の診断マイクロプログラムを起動し、その
結果を受け取るため等に費やされる時間が不可避的に含
まれてしまうため、361tFiに要する時間が長くな
らざるを得ない。リアルタイム性を要求される交換処理
の場合には、そのために悪影響を受けることになる。
現用系による診断にはないが、その診断には、各診断対
象毎に待機系の診断マイクロプログラムを起動し、その
結果を受け取るため等に費やされる時間が不可避的に含
まれてしまうため、361tFiに要する時間が長くな
らざるを得ない。リアルタイム性を要求される交換処理
の場合には、そのために悪影響を受けることになる。
又、二重化システムにおいては、現用系において処理し
たデータをその主記憶装置に格納する場合には、そのデ
ータを又、そっくり待機系の主記憶装置に系間バス50
を介して格納する。これはその待機系が現用系として動
作しなければならない状況にシステムの動作状態が陥っ
たときに備えるためである。従って、主記憶装置に格納
されるデータはその中に正しく格納されていることが必
要である。
たデータをその主記憶装置に格納する場合には、そのデ
ータを又、そっくり待機系の主記憶装置に系間バス50
を介して格納する。これはその待機系が現用系として動
作しなければならない状況にシステムの動作状態が陥っ
たときに備えるためである。従って、主記憶装置に格納
されるデータはその中に正しく格納されていることが必
要である。
しかしながら、上述従来診断方式の下では、待機系のた
めのインクフェイス(ドライバ等)を含めた診断は行な
い得てはいるが、上述データが通る待機系主記憶装置の
現用系インクフェイスに対する診断は行なわれないまま
、上述のデータはそのインクフェイスが当然に正常な動
作にあるものとして上述待機に備えている。従って、そ
のインクフェイスに障害が発生すると、二重化システム
の意義が喪失するに至り、事は極めて重大である。
めのインクフェイス(ドライバ等)を含めた診断は行な
い得てはいるが、上述データが通る待機系主記憶装置の
現用系インクフェイスに対する診断は行なわれないまま
、上述のデータはそのインクフェイスが当然に正常な動
作にあるものとして上述待機に備えている。従って、そ
のインクフェイスに障害が発生すると、二重化システム
の意義が喪失するに至り、事は極めて重大である。
これを回避するためには、系の切替えを行なって待機系
を介しての診断では漏れてしまう部分の診断を行なわざ
るを得なかった。この系切替えには時間がかかり過ぎる
という難点を有する。従って、診断の高速化の障害とな
っている。
を介しての診断では漏れてしまう部分の診断を行なわざ
るを得なかった。この系切替えには時間がかかり過ぎる
という難点を有する。従って、診断の高速化の障害とな
っている。
本発明は、斯かる問題点に鑑みて創作されたもので、診
断時間の短縮化、診断精度の向上を図り得る二重化シス
テム診断方式を提供することをその目的とする。
断時間の短縮化、診断精度の向上を図り得る二重化シス
テム診断方式を提供することをその目的とする。
第1図は本発明の原理ブロック図を示す。本発明は、現
用系のメモリ(10゜又は10.)から読み出された診
断命令によって現用系の制御記憶装置から読み出される
マイクロプログラムによって待機系診断対象構成要素を
診断するようにしたものである。そのために、各系制御
記憶装置毎に同一の診断命令処理用マイクロプログラム
及びハード的割込み禁止を含む診断マイクロプログラム
を格納したことと、現用系のメモリ(110又は11+
)から現用系の命令レジスタ(260又は26、)へ読
み出された診断命令の命令コードで現用系の制御記憶装
置から診断命令処理用マイクロプログラムを読み出すこ
とと、その読み出される診断命令処理用マイクロプログ
ラムによってゲート回路320、340、321,34
1を制御することと、前記読み出された診断命令のアド
レス生成部を用いて前記診断マイクロプログラムを読み
出すためのアドレス生成データを現用系の演算回路(3
00又は30.)から出力せしめることとを二重化シス
テム内に構築して本発明は構成されている。220又は
221は診断命令の命令コードに受けて現用系の制御記
憶装置(CM)から診断命令処理用マイクロプログラム
を読み出させるためのアドレスを発生するCMアドレス
生成回路である。200又は20+ はゲート回路32
0又は32.からのアドレス生成データを入力してその
アドレス生成データをゲート回路340又は341を介
してCMアドレス生成回路220又は221へ出力する
シフトレジスタである。
用系のメモリ(10゜又は10.)から読み出された診
断命令によって現用系の制御記憶装置から読み出される
マイクロプログラムによって待機系診断対象構成要素を
診断するようにしたものである。そのために、各系制御
記憶装置毎に同一の診断命令処理用マイクロプログラム
及びハード的割込み禁止を含む診断マイクロプログラム
を格納したことと、現用系のメモリ(110又は11+
)から現用系の命令レジスタ(260又は26、)へ読
み出された診断命令の命令コードで現用系の制御記憶装
置から診断命令処理用マイクロプログラムを読み出すこ
とと、その読み出される診断命令処理用マイクロプログ
ラムによってゲート回路320、340、321,34
1を制御することと、前記読み出された診断命令のアド
レス生成部を用いて前記診断マイクロプログラムを読み
出すためのアドレス生成データを現用系の演算回路(3
00又は30.)から出力せしめることとを二重化シス
テム内に構築して本発明は構成されている。220又は
221は診断命令の命令コードに受けて現用系の制御記
憶装置(CM)から診断命令処理用マイクロプログラム
を読み出させるためのアドレスを発生するCMアドレス
生成回路である。200又は20+ はゲート回路32
0又は32.からのアドレス生成データを入力してその
アドレス生成データをゲート回路340又は341を介
してCMアドレス生成回路220又は221へ出力する
シフトレジスタである。
現用系のメモリからプログラムを読み出し、現用系によ
るシステムの稼動を為すための現用系のメモリ(例えば
、0系のメモリ110)から読み出されるプログラムの
中に待機系診断対象構成要素のだめの診断命令が現用系
命令レジスタ260に読み出されると、その命令コード
を人力されるCMアドレス生成回路200からアドレス
が順次に出力され、そのアドレスによって診断命令処理
用マイクロプログラムが制御記憶装置から読み出される
のと並行して、診断命令のアドレス生成部を入力される
演算回路30.からアドレス生成データが出力される。
るシステムの稼動を為すための現用系のメモリ(例えば
、0系のメモリ110)から読み出されるプログラムの
中に待機系診断対象構成要素のだめの診断命令が現用系
命令レジスタ260に読み出されると、その命令コード
を人力されるCMアドレス生成回路200からアドレス
が順次に出力され、そのアドレスによって診断命令処理
用マイクロプログラムが制御記憶装置から読み出される
のと並行して、診断命令のアドレス生成部を入力される
演算回路30.からアドレス生成データが出力される。
そのアドレス生成データは制御記憶装置から読み出され
る診断命令処理用マイクロプログラムのマイクロ命令を
下にして発生されるゲート信号によってゲート回路32
oを介してシフトレジスタ201へ入力された後、シフ
トレジスタ201へ入力されたアドレス生成データは制
御記憶装置から読み出される診断命令処理用マイクロプ
ログラムのマイクロ命令を下にして発生されるゲート信
号によってゲート回路340を介してCMアドレス生成
回路220に入力される。
る診断命令処理用マイクロプログラムのマイクロ命令を
下にして発生されるゲート信号によってゲート回路32
oを介してシフトレジスタ201へ入力された後、シフ
トレジスタ201へ入力されたアドレス生成データは制
御記憶装置から読み出される診断命令処理用マイクロプ
ログラムのマイクロ命令を下にして発生されるゲート信
号によってゲート回路340を介してCMアドレス生成
回路220に入力される。
そのCMアドレス生成回路220から前記診断命令対応
の診断マイクロプログラムを読み出すためのアドレスが
順次に出力される。読み出される診断マイクロプログラ
ムによって、現用系から直接、待機系の診断命令に対応
する診断対象構成要素の診断が行なわれる。その診断に
おいて発生されるハード的割込みは診断マイクロプログ
ラムの実行において禁止される。
の診断マイクロプログラムを読み出すためのアドレスが
順次に出力される。読み出される診断マイクロプログラ
ムによって、現用系から直接、待機系の診断命令に対応
する診断対象構成要素の診断が行なわれる。その診断に
おいて発生されるハード的割込みは診断マイクロプログ
ラムの実行において禁止される。
従って、待機系を介することはないから、介することに
よって費やされる時間は不用となり、診断の高速化とな
る。二重化系であるために現用系に生起している各種情
報を絶えず待機系に転送(コピー)しなければならない
回路系の診断も同時に行なうことができる。これ又、診
断の高速化を促す。
よって費やされる時間は不用となり、診断の高速化とな
る。二重化系であるために現用系に生起している各種情
報を絶えず待機系に転送(コピー)しなければならない
回路系の診断も同時に行なうことができる。これ又、診
断の高速化を促す。
第2図は本発明一実施例の要部構成を示すための図であ
る。この実施例は第5図に示すシステム構成における実
施例で、そのハード構成を示す。
る。この実施例は第5図に示すシステム構成における実
施例で、そのハード構成を示す。
第2図において、第5図のシステム構成の制御系を示す
第6図に明示されていない構成要素として(但し、0系
のみを示す。)、多糸で実行される命令の実行において
通常、アドレス生成等にも用いられる演算回路300、
並びにゲート回路320、340、が示されている。
第6図に明示されていない構成要素として(但し、0系
のみを示す。)、多糸で実行される命令の実行において
通常、アドレス生成等にも用いられる演算回路300、
並びにゲート回路320、340、が示されている。
第3図は主記憶装置10゜に他のプログラムと共にプロ
グラムされる診断命令を示し、命令コードOP及びアド
レス生成部(a、パート)を含む。
グラムされる診断命令を示し、命令コードOP及びアド
レス生成部(a、パート)を含む。
又、制御記憶装置24oの中には、他のマイクロプログ
ラムと共に、診断マイクロプログラム及び診断処理用マ
イクロプログラムが格納されている。その診断マイクロ
プログラムはハード的割込み禁止機能をも含んで成る。
ラムと共に、診断マイクロプログラム及び診断処理用マ
イクロプログラムが格納されている。その診断マイクロ
プログラムはハード的割込み禁止機能をも含んで成る。
診断処理用マイクロプログラムはゲート回路320、3
40のゲート制jlHのためのものである。
40のゲート制jlHのためのものである。
この構成に成るシステムの動作を以下に説明する。
説明の便宜上、0系が現用系として動作している途中に
おいて、0系制御回路16゜の制御の下にO系主記憶装
置10゜から読み出されて来て命令レジスタ(PRIR
)260にセットされた命令が、例えば1系の主記憶装
置診断命令であるとすると(第4図の81)、その命令
コードは、制御記憶装置24゜から診断命令処理用マイ
クロプログラムを読み出すためのアドレスを発生するよ
う、CMアドレス生成回路220へ入力され、そのアド
レス生成部は演算回路300へ入力される。
おいて、0系制御回路16゜の制御の下にO系主記憶装
置10゜から読み出されて来て命令レジスタ(PRIR
)260にセットされた命令が、例えば1系の主記憶装
置診断命令であるとすると(第4図の81)、その命令
コードは、制御記憶装置24゜から診断命令処理用マイ
クロプログラムを読み出すためのアドレスを発生するよ
う、CMアドレス生成回路220へ入力され、そのアド
レス生成部は演算回路300へ入力される。
演算回路300からのアドレス生成データa2は内部バ
ス18゜を介してゲート回路320へ供給される。
ス18゜を介してゲート回路320へ供給される。
そのゲート回路320は制御記憶装置24゜からCM命
令レジスタ(CMIR)28゜へ読み出された診断命令
処理用マイクロプログラムのマイクロ命令から発生され
るゲート信号によってバス180上のアドレス生成デー
タをシフトレジスタ200のデータ部(SFRD)21
゜へ入力される(第4図の32)。データ部(SFRD
)21。のアドレス生成データはCM命令レジスタ28
0へその後に読み出されたマイクロ命令から発生される
ゲート信号によってゲート回路340を介してCMアド
レス生成回路220へ入力される(第4図の33)。
令レジスタ(CMIR)28゜へ読み出された診断命令
処理用マイクロプログラムのマイクロ命令から発生され
るゲート信号によってバス180上のアドレス生成デー
タをシフトレジスタ200のデータ部(SFRD)21
゜へ入力される(第4図の32)。データ部(SFRD
)21。のアドレス生成データはCM命令レジスタ28
0へその後に読み出されたマイクロ命令から発生される
ゲート信号によってゲート回路340を介してCMアド
レス生成回路220へ入力される(第4図の33)。
CMアドレス生成回路220へ入力されたアドレス生成
データa2は命令レジスタ260にセットされた診断命
令対応の診断マイクロプログラムを読み出すためのアド
レス生成に供される。CMアドレス生成回路24゜から
順次生成される当該診断マイクロプログラムのためのマ
イクロ命令読出しアドレスによって、制御記憶装置24
゜からマイクロ命令が順次に読み出され、その各々のマ
イクロ命令は読み出された順にCM命令レジスタ28、
にセットされ、診断が行なわれる(第4図の34)。そ
の診断のため、CM命令レジスタ28oにセットされる
マイクロ命令のうち、ハード的割込み禁止を生ぜしめる
ためのマイクロ命令によって、診断対象構成要素(上記
段剥では、主記憶装置)の診断において発生されるハー
ド的割込みがかからないように、対応各回路へ割込み禁
止信号が供給される。
データa2は命令レジスタ260にセットされた診断命
令対応の診断マイクロプログラムを読み出すためのアド
レス生成に供される。CMアドレス生成回路24゜から
順次生成される当該診断マイクロプログラムのためのマ
イクロ命令読出しアドレスによって、制御記憶装置24
゜からマイクロ命令が順次に読み出され、その各々のマ
イクロ命令は読み出された順にCM命令レジスタ28、
にセットされ、診断が行なわれる(第4図の34)。そ
の診断のため、CM命令レジスタ28oにセットされる
マイクロ命令のうち、ハード的割込み禁止を生ぜしめる
ためのマイクロ命令によって、診断対象構成要素(上記
段剥では、主記憶装置)の診断において発生されるハー
ド的割込みがかからないように、対応各回路へ割込み禁
止信号が供給される。
CM命令レジスタ28にセットされるそれ以外のマイク
ロ命令は、従来公知方式で、命令レジスタ260にセッ
トされた診断命令で指定されるシステム内構成要素、前
記段剥の下では1系の主記憶装置10.に対する一連の
診断を行なうための制御信号を発生するのに用いられる
。その診断によって探知された障害箇所、障害内容は、
前記診断命令の後で主記憶装置10゜から読み出されて
来る診断データ収集用の命令による参照に供すべく、適
宜の格納域、例えば汎用レジスタに一時格納される。
ロ命令は、従来公知方式で、命令レジスタ260にセッ
トされた診断命令で指定されるシステム内構成要素、前
記段剥の下では1系の主記憶装置10.に対する一連の
診断を行なうための制御信号を発生するのに用いられる
。その診断によって探知された障害箇所、障害内容は、
前記診断命令の後で主記憶装置10゜から読み出されて
来る診断データ収集用の命令による参照に供すべく、適
宜の格納域、例えば汎用レジスタに一時格納される。
上述のように、主記憶装置101の診断は現用系から、
システムダウンなしに直接に行なうことができる。従っ
て、待機系を介することによって、その診断のために費
やされる時間(例えば、その診断依願及びその結果を受
け取るために必要な命令の実行時間)が診断時間に加算
されることはなくなるから、診断時間の短縮化が図れる
。
システムダウンなしに直接に行なうことができる。従っ
て、待機系を介することによって、その診断のために費
やされる時間(例えば、その診断依願及びその結果を受
け取るために必要な命令の実行時間)が診断時間に加算
されることはなくなるから、診断時間の短縮化が図れる
。
他の診断対象構成要素、例えば入出力装置の制御のため
のチャネル制御装置(第5図のCHC,。
のチャネル制御装置(第5図のCHC,。
CHC,)についても、同様であるから、システムのオ
ンライン診断における待機系診断に要する診断時間を大
幅に短縮することができる。又、上記主記憶装置の診断
例では、上記診断において待機系主記憶装置10゜の0
系インタフエイスの診断も同時に為される。このように
、待機系を介しての診断方式においては、必然的に必要
となる系切換えなしに待機系の現用系インクフェイスの
診断を為し得るから、この点からも診断の高速化を助長
することができる。この後者の効果は、又診断精度の向
上となる。
ンライン診断における待機系診断に要する診断時間を大
幅に短縮することができる。又、上記主記憶装置の診断
例では、上記診断において待機系主記憶装置10゜の0
系インタフエイスの診断も同時に為される。このように
、待機系を介しての診断方式においては、必然的に必要
となる系切換えなしに待機系の現用系インクフェイスの
診断を為し得るから、この点からも診断の高速化を助長
することができる。この後者の効果は、又診断精度の向
上となる。
従って、待機系診断が現用系処理に与える悪影響を更に
緩和することができる。
緩和することができる。
なお、上記実施例は、二重化ディジタル交換システムに
ついての例であったが、他の類似形式の二重化システム
の中でも同様に実施し得る。
ついての例であったが、他の類似形式の二重化システム
の中でも同様に実施し得る。
以上述べたところから明らかなように本発明によれば、
現用系から待機系診断対象構成要素の診断に際して、そ
の診断対象構成要素から発生するハード的割込み禁止処
理を行なっているから、現用系から直接待機系診断対象
構成要素の診断を行なってもシステムダウンを生ぜしめ
てしまうことなしに待機系診断対象構成要素の診断を現
用系から直接行なうことができる。その際に、待機系の
現用系インクフェイスの診断も同時に行なうことができ
る。これは系切替えを行なうことなしに待機系の現用系
インタフェイスの診断を行なうことになるので、現用系
から待機系直接診断と相俟って診断の高速化となる。こ
の高速化と同時に、診断精度の向上が図れ、これらは又
、待機系°診断によって現用系処理に与えられる悪影響
の緩和に更に寄与する。
現用系から待機系診断対象構成要素の診断に際して、そ
の診断対象構成要素から発生するハード的割込み禁止処
理を行なっているから、現用系から直接待機系診断対象
構成要素の診断を行なってもシステムダウンを生ぜしめ
てしまうことなしに待機系診断対象構成要素の診断を現
用系から直接行なうことができる。その際に、待機系の
現用系インクフェイスの診断も同時に行なうことができ
る。これは系切替えを行なうことなしに待機系の現用系
インタフェイスの診断を行なうことになるので、現用系
から待機系直接診断と相俟って診断の高速化となる。こ
の高速化と同時に、診断精度の向上が図れ、これらは又
、待機系°診断によって現用系処理に与えられる悪影響
の緩和に更に寄与する。
第1図は本発明の原理ブロック図、
第2図は本発明実施例の要部構成を示すための図、第3
図は診断命令のフォーマットを示す図、第4図は処理フ
ローを示す図、 第5図は二重化ディジタル交換機の交換制御部の構成図
、 第6図は第5図二重化構成における制御系を示す図であ
る。 第1図及び第2図において、 110、!11 はメモリ(主記憶装置10゜、10゜
20、.20 22o、220 260、260 3002300 320、32 はシフトレジスタ、 はCMアドレス生成回路、 は命令レジスタ、 は演算回路、 34o、34.はゲート回路である。 法肩ト日月のか県ブ0ヅク図 第 図 各発明充ち例1印精へ一亦υ・の刈Δ 第 図 絆這1命〆ミの フ!−でヅL 第 図 R47θ− 第 図 第 図 二重イ乙楕へ+;h+7s$づ作rt第 図
図は診断命令のフォーマットを示す図、第4図は処理フ
ローを示す図、 第5図は二重化ディジタル交換機の交換制御部の構成図
、 第6図は第5図二重化構成における制御系を示す図であ
る。 第1図及び第2図において、 110、!11 はメモリ(主記憶装置10゜、10゜
20、.20 22o、220 260、260 3002300 320、32 はシフトレジスタ、 はCMアドレス生成回路、 は命令レジスタ、 は演算回路、 34o、34.はゲート回路である。 法肩ト日月のか県ブ0ヅク図 第 図 各発明充ち例1印精へ一亦υ・の刈Δ 第 図 絆這1命〆ミの フ!−でヅL 第 図 R47θ− 第 図 第 図 二重イ乙楕へ+;h+7s$づ作rt第 図
Claims (1)
- (1)各系(0系、1系)毎にメモリ(11_0、11
_1)、命令レジスタ(26_0、26_1)、制御記
憶装置のための読出しアドレスを生成するCMアドレス
生成回路(22_0、22_1)、命令実行のためのア
ドレス生成等に用いられる演算回路(30_0、30_
1)、他系とのコマンド受渡しのためのシフトレジスタ
(20_0、20_1)及びゲート回路(32_0、3
4_0、32_1、34_1)を含む二重化システムに
おいて、 各メモリ(11_0、11_1)毎に格納された前記二
重化システムのためのプログラム内にプログラムされた
他系診断対象構成要素のための診断命令と、 前記各制御記憶装置毎に格納された診断命令処理用マイ
クロプログラム及びハード的割込み禁止を含む診断マイ
クロプログラムとを設け、 系が現用系として動作するとき、当該系の命令レジスタ
(26_0又は26_1)に、セットされた前記診断命
令の命令コードに応答した当該系のCMアドレス生成回
路(22_0又は22_1)によって当該系の制御記憶
装置から読み出される前記診断命令処理用マイクロプロ
グラムの実行により前記診断命令のアドレス生成部を受
け取る当該系の演算回路(30_0又は30_1)のア
ドレス生成データを前記ゲート回路(32_0又は32
_1)を介して当該系のシフトレジスタ(20_0又は
21_1)へ入力させた後、ゲート回路(34_0又は
34_1)を介して当該系のCMアドレス生成回路(2
2_0又は22_1)へ入力せしめて前記診断マイクロ
プログラムを起動し、診断対象構成要素の診断で発生さ
れるハード的割込みを禁止しつつその診断を実行するこ
とを特徴とする二重化システム診断方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63164737A JPH0214331A (ja) | 1988-07-01 | 1988-07-01 | 二重化システム診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63164737A JPH0214331A (ja) | 1988-07-01 | 1988-07-01 | 二重化システム診断方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0214331A true JPH0214331A (ja) | 1990-01-18 |
Family
ID=15798945
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63164737A Pending JPH0214331A (ja) | 1988-07-01 | 1988-07-01 | 二重化システム診断方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0214331A (ja) |
-
1988
- 1988-07-01 JP JP63164737A patent/JPH0214331A/ja active Pending
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