JPS5936859A - 情報処理装置 - Google Patents

情報処理装置

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Publication number
JPS5936859A
JPS5936859A JP14820782A JP14820782A JPS5936859A JP S5936859 A JPS5936859 A JP S5936859A JP 14820782 A JP14820782 A JP 14820782A JP 14820782 A JP14820782 A JP 14820782A JP S5936859 A JPS5936859 A JP S5936859A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
control memory
register
diagnosis
self
microinstruction
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP14820782A
Other languages
English (en)
Inventor
Hisao Nakajo
中条 久夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP14820782A priority Critical patent/JPS5936859A/ja
Publication of JPS5936859A publication Critical patent/JPS5936859A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/31701Arrangements for setting the Unit Under Test [UUT] in a test mode

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は間欠故障の発見に役立つ自己診断機能を内蔵し
た情報処理装置に関する。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
従来より計算機システムを構成するノ・−ドウエアの故
障を検出するための各種手法が存在する。中でも計算機
システムの中核である演算制御装置(通常CPUあるい
は中央処理装置とも称される)のハードウェア故障を見
つけるため、演算制御装置が故障しているのではないか
と怪しまれる時、テストグログラム或いitテスト診断
プログラムを動作させ、ハードウェアが正常か異常かを
テストする手法が代表的に用いられていた。
上記手法を用いるとハードウェアが固定的に故障してい
る場合には故障箇所がローカライズされる。しかしなが
ら故障の9割以上を占める間欠故障、即ち素子の動作マ
ージンがカ〈疫ったシ、素イの劣化のためある条件下で
動作不良を起す等の現象が起った場合、その故障箇所が
見つかる可能性が少なく、この対策が可能となる良策が
待たれていた。
〔発明の目的〕
本発明は上記要望に基づいてなされたものであり、従来
のテスト方法では発見しにくかったハードウェアの間欠
故障の検出が容易に行ない得、又、このため九計算機シ
ステムの処理能力の低下を最小限に押えた情報処理装置
を提供することを目的とする。又、本発明゛を実現する
うえで特別々ハードウェアを殆んど必要としない安価な
情報処理装置を提供することも他の目的とする。
〔発明の概要〕
本発明は上記従来の欠点を補い、CPUの空き時間にC
PUの自己診断テストを起動するだめのマクロ命令を備
えているところに特徴がある。
ハードウェアの自己診断機能は、通常電源投入時、固定
記憶装置(ROM ;読出し専用メモリ)に記憶された
内容を用いて実行される。本発明の特徴はマクロ命令(
ソフトウェア命令)にてこの自己診断プログラムを直接
実行可能とすることにあシ、このためCPUがアイドル
状態、P口ち割込み等のイ村ント発生を待つために少数
の命令ループを繰返し実行している状態の時にマクロ命
令にてハードウェアの自己診断プログラムの起動をかけ
得る情報処理装置を提供するものである。この起動をか
けるため、本発明実施例ではSST命令(5tart 
5−elf Te5t )が設けられている。
〔発明の実施例〕
以下、図面を使用して本発明実施例につき詳細に説明す
る。
第1図は本発明が実現される情報処理装置のうちのマイ
クロプログラム制御部の実施例を示すブロック図である
。図に:l=−いて、11は主メモリ(図示せず)から
続出されたソフトウェア命令、いわゆるマクロ命令を保
持するマクロ命□令しジスク(WHR)である。12〜
15/Iiマイクロプログラム制御下でコントロールさ
れる様に構成されたセレクタ回路である。セレクタ回路
12はマクロ命令レジスタ11の内容により制御メモリ
(cs9)をアクセスするダートとして、セレクタ回路
3は制御1メモリ19の出カレノスタ(マイクロデータ
レジスタΔtoB z o )の内容によ多制御メモリ
19をアクセスする回路としてセレクタ回路14はスタ
ックレジスタ(STK 18)の内容によ多制御メモリ
19をアクセスする回路(ザゾルーチンリターン)とし
て、セレクタ回路15はマイクロ命令カウンタ(MfC
’ I 7 )の内容によシ制御メモリノ9をアクセス
する回路として機能する。
16はアダー回路(+1)である。このアダー回路16
を介して現在アクセスしているマイクロ命令の次のマイ
クロ命令アドレスがマイクロ命令カウンタ17に保持さ
れる。19は制御メモリである。制御メモリ19に自己
診断のためのマイクロプログラム及びマクロ命令を実行
するだめのマイクロプログラムが記憶されている。
20はマイクロ命令レジスタ(MDR)であって上記セ
レクタ回路12〜x5に従い、制御メモリ19がアクセ
スされたとき、その内容が保持される。
第2図はマイクロ命令レジスタ20の内容がデコーダ2
ノにてデコードされ、被診断ノ・−ドウエア22の動作
が制御されることを示す機能ブロック図である。
第3図は本発明にて使用される5ST(5tart8*
1f Te5t )命、令の命令?オーマ、トを示す図
である。この図に示すSST命令がマクロ命令レジスタ
71Fc読出されると第1図に示すセレクタ回路12を
介して制御メモリ9がアクセスさ  ゛れ、Cフィール
ドの内容に従い各種診断がなされる。このマイクロ診断
の手法については従来より周知の技術で達成されるため
、ここでの説明は省略する。
〔発明の効果〕
以上説明の如く本発明によれば、マクロ命令により、面
接ハードウェアの自己診断をフレキシブルに実行するこ
とが出来、間欠故障の発見に役立つ。又、本発明を実現
するうえで特別なハードウェアを殆んど必要としないた
め、該機能を持った情報処理装置を安価に提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例を示すブロック図、第2図は本
発明によシ被診断ハードウヱアの動作が制御されること
を示す機能ブロック図、第3図は本発明にて使用される
SSTマクロ命令の命令フォーマットを示す図である。 1ノ・・・マクロ命令レジスタ、12〜15・・・セレ
クタ回路、16・・・アダー回路、17・・・マイクロ
命令カウンタ、18・・・アタックレジスタ、19・・
・制御1メモリ、20・・・マイクロ命令レジスタ、2
ノ・・・デコーダ、22・・・被診断ノ・−ドウエア。 出願人代理人  弁理士 鈴 江 武 彦第1図 第2図 口!コ=■コ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 複数のマクロ命令を有する情報処理装置において、該マ
    クロ命令のうちの1つ力;特許11にII+当てられる
    と共に、マクロ命令カウンタもしくはマクロ命令レゾス
    タ、マイクロデータレジスタによシアクセスされ、自己
    診断のだめのマイクロプログラム及びマクロ命令実行の
    ためのマイクロプログラムが記憶される制御メモリを有
    し、上記特別に割当てられたマクロ命令力;土日cマイ
    クロ命令レジスタに設定されることによシ演算制御装置
    の自己診断用マイクロプログラムを直接起動することを
    特徴とする情報処理装置、。
JP14820782A 1982-08-26 1982-08-26 情報処理装置 Pending JPS5936859A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14820782A JPS5936859A (ja) 1982-08-26 1982-08-26 情報処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14820782A JPS5936859A (ja) 1982-08-26 1982-08-26 情報処理装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5936859A true JPS5936859A (ja) 1984-02-29

Family

ID=15447653

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14820782A Pending JPS5936859A (ja) 1982-08-26 1982-08-26 情報処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5936859A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02187821A (ja) * 1989-01-17 1990-07-24 Nec Corp 演算回路
JPH0337717A (ja) * 1989-07-05 1991-02-19 Nec Corp 演算回路

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02187821A (ja) * 1989-01-17 1990-07-24 Nec Corp 演算回路
JPH0337717A (ja) * 1989-07-05 1991-02-19 Nec Corp 演算回路

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