JPH02150714A - 位置検出装置 - Google Patents
位置検出装置Info
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- JPH02150714A JPH02150714A JP30453588A JP30453588A JPH02150714A JP H02150714 A JPH02150714 A JP H02150714A JP 30453588 A JP30453588 A JP 30453588A JP 30453588 A JP30453588 A JP 30453588A JP H02150714 A JPH02150714 A JP H02150714A
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- QHGVXILFMXYDRS-UHFFFAOYSA-N pyraclofos Chemical compound C1=C(OP(=O)(OCC)SCCC)C=NN1C1=CC=C(Cl)C=C1 QHGVXILFMXYDRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
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Landscapes
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は非接触で被検出体の位置を高精度に検出できる
位置検出装置に関するものである。
位置検出装置に関するものである。
従来、磁気抵抗素子を用いた位置検出装置として第7図
〜第1O図に示されるものがある。I2Uち、被検出体
であるロッド20は強磁性体で構成されており、その周
面には等ピッチ(P)で溝21が形成されている。した
がって、ロッド20の周面にはその移動方向に高透磁率
部22と低透磁率部21とが交互にかつ等ピッチで設け
られることになる。ロッド20の周面近傍には検出セン
サ23が配置されており、この検出センサ23には2個
の磁気抵抗素子24 、25がロッド20の移動方向に
並んだ杖態に配置されている0両磁気抵抗素子24 、
25は差動型に接続されており、その両端には一定電圧
士■、が印加され、中間部が出力端子として取り出され
ている。磁気抵抗素子24 、25の上部には永久磁石
26が配置されており、その磁束が磁気抵抗素子24
、25を貫いてロッド20に対してほぼ直角方向に作用
するように磁極の向きが設定されている。
〜第1O図に示されるものがある。I2Uち、被検出体
であるロッド20は強磁性体で構成されており、その周
面には等ピッチ(P)で溝21が形成されている。した
がって、ロッド20の周面にはその移動方向に高透磁率
部22と低透磁率部21とが交互にかつ等ピッチで設け
られることになる。ロッド20の周面近傍には検出セン
サ23が配置されており、この検出センサ23には2個
の磁気抵抗素子24 、25がロッド20の移動方向に
並んだ杖態に配置されている0両磁気抵抗素子24 、
25は差動型に接続されており、その両端には一定電圧
士■、が印加され、中間部が出力端子として取り出され
ている。磁気抵抗素子24 、25の上部には永久磁石
26が配置されており、その磁束が磁気抵抗素子24
、25を貫いてロッド20に対してほぼ直角方向に作用
するように磁極の向きが設定されている。
ここで、上記位置検出装置の動作を説明する。
まず、第7図においては磁気抵抗素子24の真下に高透
磁率部22が位置し、磁気抵抗素子25の真下には低透
磁率部21が位置しているので、永久磁石26の磁束は
磁気抵抗素子24に多く流れ、磁気抵抗素子25には相
対的に少ない磁束しか流れない、磁気抵抗素子24 、
25は周知のとおり、それを通過する磁束の量が多くな
ると、それに比例して抵抗値が増大する特徴を持つので
、第7図の状態では出力電圧■。、tは一■、に近づき
、第11図のA点のようになる。
磁率部22が位置し、磁気抵抗素子25の真下には低透
磁率部21が位置しているので、永久磁石26の磁束は
磁気抵抗素子24に多く流れ、磁気抵抗素子25には相
対的に少ない磁束しか流れない、磁気抵抗素子24 、
25は周知のとおり、それを通過する磁束の量が多くな
ると、それに比例して抵抗値が増大する特徴を持つので
、第7図の状態では出力電圧■。、tは一■、に近づき
、第11図のA点のようになる。
次に、ロッド20(または検出センサ23)が174ピ
ッチ移動して第8図の状態になると、磁気抵抗素子24
、25に流れる磁束が平衡する。そのため、再磁気抵
抗素子24 、25の抵抗値が同じになるから、出力電
圧V、、、は士■、の中間点B、即ちQvとなる。
ッチ移動して第8図の状態になると、磁気抵抗素子24
、25に流れる磁束が平衡する。そのため、再磁気抵
抗素子24 、25の抵抗値が同じになるから、出力電
圧V、、、は士■、の中間点B、即ちQvとなる。
このようにして第9図、第10回へと174ピッチずつ
移動すると、出力電圧v0工、はそれぞれ0点。
移動すると、出力電圧v0工、はそれぞれ0点。
D点へと変化する。つまり、ロッド20の1ピッチ内で
出力電圧■。、は第11図のように正弦波状に変化する
ことになる。
出力電圧■。、は第11図のように正弦波状に変化する
ことになる。
上記の位置検出装置の場合には、ロッド20の移動に伴
って変化する出力電圧V、、、の大きさを検出すること
によって、ロッド20の変位を測定しているため、磁気
抵抗素子24.25とロッド20との接近距離が変化す
ると、出力電圧V o a Lの大きさも変化し、正確
な位置検出が出来ないという欠点がある。また、出力電
圧■。ulLが正弦波状に変化するので、その電圧変化
だけをとると、移動距離に比例した信号が得られないと
いう欠点もある。
って変化する出力電圧V、、、の大きさを検出すること
によって、ロッド20の変位を測定しているため、磁気
抵抗素子24.25とロッド20との接近距離が変化す
ると、出力電圧V o a Lの大きさも変化し、正確
な位置検出が出来ないという欠点がある。また、出力電
圧■。ulLが正弦波状に変化するので、その電圧変化
だけをとると、移動距離に比例した信号が得られないと
いう欠点もある。
上記欠点を解決するものとして、第12図に示されるも
のがある。この位置検出装置は、第7図と同様の検出セ
ンサを2個使用し、一方の検出センサ30を他方の検出
センサ31に対して1/4ピッチだけずらして配置しで
ある。それぞれの検出センサ30.31は第11図で示
したように、被検出体20の移動に伴い正弦波状に変化
する出力電圧を得るので、それぞれの出力電圧V+、V
*をOvを基準にして波形成形すると、第13図のよう
な矩形波を得ることができる。
のがある。この位置検出装置は、第7図と同様の検出セ
ンサを2個使用し、一方の検出センサ30を他方の検出
センサ31に対して1/4ピッチだけずらして配置しで
ある。それぞれの検出センサ30.31は第11図で示
したように、被検出体20の移動に伴い正弦波状に変化
する出力電圧を得るので、それぞれの出力電圧V+、V
*をOvを基準にして波形成形すると、第13図のよう
な矩形波を得ることができる。
この方法によれば、それぞれの矩形波の立ち上がりおよ
び立ち下がりの信号を用いて1/4ピッチまでの移動距
離を検出することが可能であり、検出センサ30.31
とロッド20との接近距離が変化しても検出精度は影
響を受けない、しかしながら、分解能が1/4ピッチで
しかなく、高精度の位置検出は不可能であった。
び立ち下がりの信号を用いて1/4ピッチまでの移動距
離を検出することが可能であり、検出センサ30.31
とロッド20との接近距離が変化しても検出精度は影
響を受けない、しかしながら、分解能が1/4ピッチで
しかなく、高精度の位置検出は不可能であった。
そこで、本発明の目的は、磁気抵抗素子と被検出体との
接近距離が変化しても影響を受けず、しかも分解能を無
限小となし得る高精度の位置検出装置を提供することに
ある。
接近距離が変化しても影響を受けず、しかも分解能を無
限小となし得る高精度の位置検出装置を提供することに
ある。
上記目的を達成するため、本発明は、透磁率の異なる部
分が交互にかつ等ピッチで設けられた被検出体と、被検
出体に対してピッチ方向に相対移動可能に近接配置され
た2個2&[lの磁気抵抗素子と、磁束が磁気抵抗素子
を貫いて被検出体に対してほぼ直角方向に作用するよう
に配置された永久磁石とを備え、上記磁気抵抗素子の両
組の相対移動方向距離は上記ピッチの整数倍に対して1
/4ピッチだけずれており、各組の磁気抵抗素子どうし
は互いに直列接続され、各組の磁気抵抗素子の両端に信
号を入力し、各組の磁気抵抗素子の中央より信号を出力
するようにした位置検出装置において、各組の磁気抵抗
素子の両端には時間位相が90度異なる交流信号がそれ
ぞれ入力され、かつ各組の磁気抵抗素子の中央より出力
される信号を互いに加算または減算する演算手段を備え
たことを特徴とするものである。
分が交互にかつ等ピッチで設けられた被検出体と、被検
出体に対してピッチ方向に相対移動可能に近接配置され
た2個2&[lの磁気抵抗素子と、磁束が磁気抵抗素子
を貫いて被検出体に対してほぼ直角方向に作用するよう
に配置された永久磁石とを備え、上記磁気抵抗素子の両
組の相対移動方向距離は上記ピッチの整数倍に対して1
/4ピッチだけずれており、各組の磁気抵抗素子どうし
は互いに直列接続され、各組の磁気抵抗素子の両端に信
号を入力し、各組の磁気抵抗素子の中央より信号を出力
するようにした位置検出装置において、各組の磁気抵抗
素子の両端には時間位相が90度異なる交流信号がそれ
ぞれ入力され、かつ各組の磁気抵抗素子の中央より出力
される信号を互いに加算または減算する演算手段を備え
たことを特徴とするものである。
第1図は本発明にかかる位置検出装置をロッド1の変位
検出に適用した一例を示す。
検出に適用した一例を示す。
ロッドlは従来と同様に強磁性体で構成されており、そ
の周面には移動方向に高透磁率部2と低透磁率部3とが
交互にかつ等ピッチ(P)で設けられている、ロッド1
の周面近傍には2個の検出センサ4.5が近接配置され
ており、これら検出センサ4,5の内部にはそれぞれ2
個の磁気抵抗素子6,7および8,9がロッド1の移動
方向に並んだ状態に配置されている。上記磁気抵抗素子
6゜7および8.9はそれぞれ直列接続されており、磁
気抵抗素子6.7問および8.9間の距離Pは1/2ピ
ッチに設定され、かつ検出センサ4.5間の距離mは上
記ピッチPの整数倍に対して1/4ピッチだけずれてい
る。即ち、 m=NP±1/4P CN:正の整数)となってい
る。なお、第1図の例では次式のように設定されている
。
の周面には移動方向に高透磁率部2と低透磁率部3とが
交互にかつ等ピッチ(P)で設けられている、ロッド1
の周面近傍には2個の検出センサ4.5が近接配置され
ており、これら検出センサ4,5の内部にはそれぞれ2
個の磁気抵抗素子6,7および8,9がロッド1の移動
方向に並んだ状態に配置されている。上記磁気抵抗素子
6゜7および8.9はそれぞれ直列接続されており、磁
気抵抗素子6.7問および8.9間の距離Pは1/2ピ
ッチに設定され、かつ検出センサ4.5間の距離mは上
記ピッチPの整数倍に対して1/4ピッチだけずれてい
る。即ち、 m=NP±1/4P CN:正の整数)となってい
る。なお、第1図の例では次式のように設定されている
。
m=2P−1/4P
なお、磁気抵抗素子6〜9は感度係数αが同一のものを
使用している。
使用している。
上記磁気抵抗素子6,7および8,9の両端にはそれぞ
れ正弦波状電圧(±a sinωL)と余弦波状電圧(
±acosωt)が印加され、中間部より出力電圧V、
、V4が取り出されている。磁気抵抗素子6〜9の上部
には永久磁石io、 ttが配置されており、その磁束
が磁気抵抗素子6〜9を貫いてロッド1に対してほぼ直
角方向に作用するように磁極の向きが設定されている。
れ正弦波状電圧(±a sinωL)と余弦波状電圧(
±acosωt)が印加され、中間部より出力電圧V、
、V4が取り出されている。磁気抵抗素子6〜9の上部
には永久磁石io、 ttが配置されており、その磁束
が磁気抵抗素子6〜9を貫いてロッド1に対してほぼ直
角方向に作用するように磁極の向きが設定されている。
なお、磁気抵抗素子6,7および8,9の両端に入力さ
れる交流電圧信号(a sinωL+ a cosω
t)は・公知のクワドラチャ発振回路等にて容易に発生
させることができる。
れる交流電圧信号(a sinωL+ a cosω
t)は・公知のクワドラチャ発振回路等にて容易に発生
させることができる。
上記出力電圧Vt、V4は演算手段の一例である差動増
幅器12 (ゲインK)の正入力と負入力とにそれぞれ
入力されており、この差動増幅器12にて出力電圧Vs
、Vaの差を演算し、最終的な出力電圧V 611 L
を得ている。
幅器12 (ゲインK)の正入力と負入力とにそれぞれ
入力されており、この差動増幅器12にて出力電圧Vs
、Vaの差を演算し、最終的な出力電圧V 611 L
を得ている。
ここで、上記構成からなる位置検出装置の動作を説明す
る。
る。
ロッドlの高透磁率部2または低透磁率部3が磁気抵抗
素子6.7の中央にある場合には、再磁気抵抗素子6.
7の抵抗値が等しいため、磁気抵抗素子6.7の中央部
から取り出される出力電圧■、はOvであり、ロッド1
が移動して高透磁率部2または低透磁率部3が磁気抵抗
素子6.7の中央よりずれると、再磁気抵抗素子6.7
の抵抗値が不平衡となり、出力電圧■、は第7図〜第1
0図に説明したとおりロッド1の変位量Xに応じて正弦
波状に変化する。即ち、電圧■3は次式のようになる。
素子6.7の中央にある場合には、再磁気抵抗素子6.
7の抵抗値が等しいため、磁気抵抗素子6.7の中央部
から取り出される出力電圧■、はOvであり、ロッド1
が移動して高透磁率部2または低透磁率部3が磁気抵抗
素子6.7の中央よりずれると、再磁気抵抗素子6.7
の抵抗値が不平衡となり、出力電圧■、は第7図〜第1
0図に説明したとおりロッド1の変位量Xに応じて正弦
波状に変化する。即ち、電圧■3は次式のようになる。
V、 =a a sinωt −cos(2πx/P
)また、磁気抵抗素子8.9についても同様に、高透磁
率部2または低i3磁率部3のずれ量に応した電圧■4
が得られるが、磁気抵抗素子8.9は磁気抵抗素子6.
7に対して1/4ピッチだけずれているので、電圧■4
は次式のようにV、に対して1/2πだけ変位位相がず
れることになる。
)また、磁気抵抗素子8.9についても同様に、高透磁
率部2または低i3磁率部3のずれ量に応した電圧■4
が得られるが、磁気抵抗素子8.9は磁気抵抗素子6.
7に対して1/4ピッチだけずれているので、電圧■4
は次式のようにV、に対して1/2πだけ変位位相がず
れることになる。
V4 = a a cosωt 1sin(2πX/
P)これら電圧Vs、Vaが差動増幅器12に入力され
るので、その出力■。□は次式のように単純な三角函数
となる。
P)これら電圧Vs、Vaが差動増幅器12に入力され
るので、その出力■。□は次式のように単純な三角函数
となる。
V。、、 −Ka α(sinωt −cos(2π
X/P)cosωt −5in(2πx/P)1=K
a a sin ((L)t −2πx/P)第
2図は入力電圧a sinωtと出力電圧■。。
X/P)cosωt −5in(2πx/P)1=K
a a sin ((L)t −2πx/P)第
2図は入力電圧a sinωtと出力電圧■。。
とを示しており、これら電圧の時間位相のずれT(=2
πx/P)を検出すれば、1ピッチの範囲内でのロッド
lの絶対的変位Xを検出できることになる。つまり、分
解能は無限小となる。なお、1ピッチを越えれば、ピッ
チ数をカウントすることによりロッド1の直線変位をイ
ンクリメンタルに測定可能であることは勿論である。
πx/P)を検出すれば、1ピッチの範囲内でのロッド
lの絶対的変位Xを検出できることになる。つまり、分
解能は無限小となる。なお、1ピッチを越えれば、ピッ
チ数をカウントすることによりロッド1の直線変位をイ
ンクリメンタルに測定可能であることは勿論である。
なお、上記実施例では差動増幅器12で電圧■3と■4
の差を求めたが、これら電圧の和を求めても同様であり
、2πIT/Pだけ位相が進むか遅れるかの違いに過ぎ
ない。また、磁気抵抗素子6.7の両端に±acosω
tを、磁気抵抗素子8,9の両端に±a sinωtを
それぞれ入力してもよく、この場合には差動増幅器12
の出力は余弦函数となる。
の差を求めたが、これら電圧の和を求めても同様であり
、2πIT/Pだけ位相が進むか遅れるかの違いに過ぎ
ない。また、磁気抵抗素子6.7の両端に±acosω
tを、磁気抵抗素子8,9の両端に±a sinωtを
それぞれ入力してもよく、この場合には差動増幅器12
の出力は余弦函数となる。
本発明で使用される被検出体としては、周面に溝を設け
たロッドに限らず、例えば第3図、第4図に示すように
高透磁率材料からなるロッド13の周面に溝14を設け
、この溝14に銅箔などの低透磁率材料15を埋設して
もよい、この場合にはロッド13の周面を平滑にできる
ので、空圧または液圧シリンダ用ロッドとして好適であ
り、しかも透磁率差を大きく取れるので、感度が向上す
るという利点がある。
たロッドに限らず、例えば第3図、第4図に示すように
高透磁率材料からなるロッド13の周面に溝14を設け
、この溝14に銅箔などの低透磁率材料15を埋設して
もよい、この場合にはロッド13の周面を平滑にできる
ので、空圧または液圧シリンダ用ロッドとして好適であ
り、しかも透磁率差を大きく取れるので、感度が向上す
るという利点がある。
また、第5図、第6図は被検出体として円板16を使用
したものであり、高透磁率材料からなる円板16の外周
部上面に低透磁率材料からなる薄膜17を5定ピッチで
固着し、円板16の回転変位を検出するものである。こ
の場合には、第6図のように円板16の上部に磁気抵抗
素子18を配置するとともに、その上部に永久磁石19
を配置すればよい。
したものであり、高透磁率材料からなる円板16の外周
部上面に低透磁率材料からなる薄膜17を5定ピッチで
固着し、円板16の回転変位を検出するものである。こ
の場合には、第6図のように円板16の上部に磁気抵抗
素子18を配置するとともに、その上部に永久磁石19
を配置すればよい。
さらに、透磁率の異なる材料を用いて高透磁率部と低透
磁率部とを形成する場合に限らず、金属材料の表面をレ
ーザー等で局部的に処理することにより、同一材料上に
高透磁率部と低透磁率部とを形成してもよい。
磁率部とを形成する場合に限らず、金属材料の表面をレ
ーザー等で局部的に処理することにより、同一材料上に
高透磁率部と低透磁率部とを形成してもよい。
以上の説明で明らかなように、本発明によれば、差動型
に接続された2個2組の磁気抵抗素子の両端に時間位相
が90度異なる交流信号を入力し、各組の磁気抵抗素子
の中央より出力される信号を演算手段で加算または減算
するようにしたので、演算手段で得られる出力は入力信
号である交流信号と同様な単純な交流信号となる。した
がって、これら人、出力信号の位相差を検出すれば、被
検出体の相対変位を無限小の分解能で検出でき、高精度
な位置検出装置を実現できる。
に接続された2個2組の磁気抵抗素子の両端に時間位相
が90度異なる交流信号を入力し、各組の磁気抵抗素子
の中央より出力される信号を演算手段で加算または減算
するようにしたので、演算手段で得られる出力は入力信
号である交流信号と同様な単純な交流信号となる。した
がって、これら人、出力信号の位相差を検出すれば、被
検出体の相対変位を無限小の分解能で検出でき、高精度
な位置検出装置を実現できる。
また、磁気抵抗素子と被検出体゛との接近距離がバラつ
いても、両組の磁気抵抗素子でその誤差を相殺できるの
で、接近距離が変化しても検出精度に全く影響を受けな
い。
いても、両組の磁気抵抗素子でその誤差を相殺できるの
で、接近距離が変化しても検出精度に全く影響を受けな
い。
第1図は本発明にかかる位置検出装置をロッドの変位検
出に使用した例の構成図、第2図は入力端子と出力電圧
の波形図、第3図は被検出体の他の例の斜視図、第4図
はその一部断面図、第5図は被検出体のさらに他の例の
斜視図、第6図は検出方法を示す断面図、第7図以下は
従来例を示し、第7図〜第10図は従来の位置検出装置
の動作を示す断面図、第11図はその出力信号波形図、
第12図は従来の他の例の断面図、第13図はその出力
信号波形図である。 1・・・ロッド(被検出体)、2・・・高透磁率部、3
・・・低透磁率部、4.5・・・検出センサ、6〜9・
・・磁気抵抗素子、10.11・・・永久磁石、12・
・・差動増幅器。 第1図 特許出願人 三京貿易株式会社 代 理 人 弁理士 筒井 秀隆 第3図 第7図 第4図 第6図 第8図
出に使用した例の構成図、第2図は入力端子と出力電圧
の波形図、第3図は被検出体の他の例の斜視図、第4図
はその一部断面図、第5図は被検出体のさらに他の例の
斜視図、第6図は検出方法を示す断面図、第7図以下は
従来例を示し、第7図〜第10図は従来の位置検出装置
の動作を示す断面図、第11図はその出力信号波形図、
第12図は従来の他の例の断面図、第13図はその出力
信号波形図である。 1・・・ロッド(被検出体)、2・・・高透磁率部、3
・・・低透磁率部、4.5・・・検出センサ、6〜9・
・・磁気抵抗素子、10.11・・・永久磁石、12・
・・差動増幅器。 第1図 特許出願人 三京貿易株式会社 代 理 人 弁理士 筒井 秀隆 第3図 第7図 第4図 第6図 第8図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 透磁率の異なる部分が交互にかつ等ピッチで設けられ
た被検出体と、被検出体に対してピッチ方向に相対移動
可能に近接配置された2個2組の磁気抵抗素子と、磁束
が磁気抵抗素子を貫いて被検出体に対してほぼ直角方向
に作用するように配置された永久磁石とを備え、上記磁
気抵抗素子の両組の相対移動方向距離は上記ピッチの整
数倍に対して1/4ピッチだけずれており、各組の磁気
抵抗素子どうしは互いに直列接続され、各組の磁気抵抗
素子の両端に信号を入力し、各組の磁気抵抗素子の中央
より信号を出力するようにした位置検出装置において、 各組の磁気抵抗素子の両端には時間位相が90度異なる
交流信号がそれぞれ入力され、かつ各組の磁気抵抗素子
の中央より出力される信号を互いに加算または減算する
演算手段を備えたことを特徴とする位置検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30453588A JPH02150714A (ja) | 1988-11-30 | 1988-11-30 | 位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30453588A JPH02150714A (ja) | 1988-11-30 | 1988-11-30 | 位置検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02150714A true JPH02150714A (ja) | 1990-06-11 |
Family
ID=17934170
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30453588A Pending JPH02150714A (ja) | 1988-11-30 | 1988-11-30 | 位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02150714A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5412317A (en) * | 1992-07-07 | 1995-05-02 | Santest Co., Ltd. | Position detector utilizing absolute and incremental position sensors in combination |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57120801A (en) * | 1981-01-20 | 1982-07-28 | Sanyo Electric Co Ltd | Measuring method |
| JPS60168017A (ja) * | 1984-02-10 | 1985-08-31 | S G:Kk | 直線位置検出装置 |
| JPS63177018A (ja) * | 1987-01-19 | 1988-07-21 | Shicoh Eng Co Ltd | 多重てい倍型磁気エンコ−ダ |
-
1988
- 1988-11-30 JP JP30453588A patent/JPH02150714A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57120801A (en) * | 1981-01-20 | 1982-07-28 | Sanyo Electric Co Ltd | Measuring method |
| JPS60168017A (ja) * | 1984-02-10 | 1985-08-31 | S G:Kk | 直線位置検出装置 |
| JPS63177018A (ja) * | 1987-01-19 | 1988-07-21 | Shicoh Eng Co Ltd | 多重てい倍型磁気エンコ−ダ |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5412317A (en) * | 1992-07-07 | 1995-05-02 | Santest Co., Ltd. | Position detector utilizing absolute and incremental position sensors in combination |
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