JPH0217021B2 - - Google Patents

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JPH0217021B2
JPH0217021B2 JP15119183A JP15119183A JPH0217021B2 JP H0217021 B2 JPH0217021 B2 JP H0217021B2 JP 15119183 A JP15119183 A JP 15119183A JP 15119183 A JP15119183 A JP 15119183A JP H0217021 B2 JPH0217021 B2 JP H0217021B2
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JP
Japan
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layer
selenium
tellurium
less
weight
Prior art date
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Expired
Application number
JP15119183A
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English (en)
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JPS6043662A (ja
Inventor
Susumu Honma
Katsuhiro Sato
Kimio Kurosawa
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
Priority to JP15119183A priority Critical patent/JPS6043662A/ja
Publication of JPS6043662A publication Critical patent/JPS6043662A/ja
Publication of JPH0217021B2 publication Critical patent/JPH0217021B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording-members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat or to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕 本発明はLEDあるいはHe−Neレーザまたは半
導体レーザなどを光源とする光プリンタのように
長波長光の光源に対して使用される電子写真用セ
レン感光体に関する。 〔従来技術とその問題点〕 長波長の光に対するセレン系の感光体として
は、導電性基体側から、純セレン系材料からなる
キヤリア輸送層(CTL)、テルル35重量%以上の
高濃度Te/Se材料からなるキヤリア発生層
(CGL)および純セレン系材料からなる電荷保持
に役立つ表面層(OCL)を順次積層した3層構
造の感光体が知られている。しかしながら、例え
ば近年特に光プリンタの主流をなす半導体レーザ
プリンタ用に波長約800μmの近赤外光に対して
感度を持たせるべく、高濃度Te/Se層のTe濃度
を増大させた場合、電荷保持性を良好に保つこと
は上記の3層構造では困難であり、暗減衰の大き
い感光体になつてしまう。 〔発明の目的〕 本発明はこれに対し、半導体レーザ波長領域に
おいても充分な感度を有する高濃度Te/Se層を
CGLとして有しながら、その電荷保持能力が一
般のPPC複写機用セレン感光体と同等である電
子写真用セレン感光体を提供することを目的とす
る。 〔発明の要点〕 本発明による電子写真用感光体は、導電性基体
上に純セレンあるいは低濃度セレン合金よりなる
CTL、高濃なテルル・セレン合金よりなるCGL、
厚さ20Å以上のテルル酸化層と純セレンあるいは
セレン合金よりなるOCLが順次積層されてなる
ことにより上記の目的を達成する。 CTLとしては、膜厚30〜100μmで純セレンも
しくは7重量%以下のTe、7原子%以下のひ素
(As)あるいは10000ppm以下のハロゲン元素
(I,Cl)を含むセレン合金からなる層が用いら
れる。 CGLとしては、膜厚0.3〜2μmでCTL側界面で
25重量%以下、OCL側界面で35重量%以上のTe
を含み、その中に7原子%以下のAsを含んでも
よい高濃度Se/Te合金からなる層が用いられる。 テルル酸化層としては、CGLとOCLの間に存
在するTeの内、少なくともその50%が酸化して
いる層が有効である。 OCLは単層でも多層でもよく、純Seもしくは
13.5%以下の濃度のTe/Se合金よりなり、ある
いはGe,Sb,As,Zn,Sn等を7原子%以下を
含んでもよく、厚さは0.5〜5μmが有効である。 〔発明の実施例〕 本発明 1: 長さ340mm、直径120mmのアルミニウム素管上に
純セレンを60μmの厚さに真空蒸着した。この時
の素管温度を65℃に保つた。第1図に示すように
CTL2が形成された素管1を一旦真空ブレーク
して炉内から取り出した。次にこのドラム上にま
ず40重量%の高濃度Te/Se層3を0.6μmの厚さ
にフラツシユ蒸着した。所要時間は約10分、素管
温度40℃、蒸発源ボート温度450℃である。この
ようにしてCTLおよびCGLが形成されたドラム
を真空蒸着槽より取り出し、45℃の恒温器の中に
200時間放置した。これによりテルル酸化層4が
形成された。つづいて恒温器より取り出したドラ
ムにOCL5として純セレンを2μmの厚さにフラ
ツシユ蒸着した。この時のボート温度は420℃、
素管温度は40℃、所要時間は約15分であつた。 実施例 2: 実施例1における恒温器中での放置の代りに
1kWの紫外線灯下で約1時間紫外線照射を行つ
て第1図のテルル酸化層4を形成後、OCL5を
被着した。 比較例 1 実施例1、2における恒温器放置、紫外線照射
を除いたもので、その他は同じ工程でアルミニウ
ム素管上にCTL,CGLを積層ののち引きつづき
OCLを形成した。 比較例 2 比較例1と同様に恒温器放置、紫外線照射は行
わないが、CTL,CGL積層後一旦真空ブレーク
したのち約1時間を経て再び真空引きを行い、5
×10-5Torrにした後2μmの厚さに純セレンをフ
ラツシユ蒸着してOCLを形成した。 このようにして得た4種類の感光体試料につい
て次のような試験を行つた。 (1) ゼログラフイ特性試験 試料ドラムを16rpmの回転速度で回転しながら
コロナ帯電を行い、帯電後1/4回転した点で回転
を止め、その点における表面電位の1秒間の暗減
衰特性を測定し、電荷保持率を計算した。この後
再び試料ドラムの回転を行い、ドラムを止めて今
度は800nmの波長の単色光を照射しながら電位の
放電特性を測定し、感光体の感度に関連する半減
衰露光量を得た。得られた結果を第1表に示す。
【表】 レーザ光に対する感度は半減衰露光量が2μJ/
cm2以下であればよいから、酸化層の形成は感度が
実用上支障ない範囲で電荷保持率を向上させるこ
とが第1表から分かる。しかし真空ブレークのみ
(比較例2)ではほとんど効果がない。 (2) 分析試験 実施例1、2、比較例1、2の試料ドラム作成
の際、予め表面にAl蒸着したシリコン板につい
て同時にCTL,CGL形成ならびに酸化処理を行
い、OCLのみを形成しないで分析試料として、
VG社製ESCALAB5による電子分光法による高
濃度Te/Se層の分析ならびにオージエ電子分光
法による表面近傍分析を行つた。得られた結果を
第2表に示す。
〔発明の効果〕
本発明は純セレン系のCTL、高濃度Te/Seの
CGLならびに表面保護OCLからなるレーザ光の
ような長波長領域の光のための3層構造感光体に
おいて、CGLとOCLの界面に積極的酸化による
テルル酸化層を介在させることにより、長波長領
域光に対する充分な感度を有しながら極めて良好
な表面保持能力を備えさせるものである。 このテルル酸化層は、暗中でコロナ放電により
感光体表面を正に帯電した後にCGL内で発生す
るキヤリアのうちの電子が表面層へ注入するのを
阻止する働きをするものと推定され、その結果と
して電荷保持能力が向上する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による感光体の構成の断面図、
第2図は比較例1の試料のオージエ表面近傍分析
結果を示す組成プロフアイル図、第3図は実施例
2の試料の同様な組成プロフアイル図、第4図は
光干渉試験の概念図、第5図は実施例1の試料で
得られた入射光波長変化の際の反射パターンであ
る。 1……導電性基体、2……CTL、3……CGL、
4……テルル酸化層、5……OCL。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 導電性基体上に、膜厚が30〜100μmで純セ
    レンもしくは7重量%以下のテルル、7原子%以
    下のひ素、あるいは10000ppm以下のハロゲン元
    素を含むセレン合金よりなるキヤリア輸送層と、
    膜厚0.3〜2μmで、キヤリヤ輸送層側界面で25重
    量%以下、反対側界面で35重量%以上のテルルを
    含むテルル・セレン合金よりなるキヤリア発生層
    と、厚さ20Å以上であつてキヤリア発生層と表面
    層の間に存在するテルルのうち、少なくともその
    50%が酸化しているテルル酸化層と、膜厚0.5〜
    5μmで純セレンないし13.5重量%以下のテルルを
    含むセレン合金よりなる表面層とが順次積層され
    てなることを特徴とする電子写真用セレン感光
    体。
JP15119183A 1983-08-19 1983-08-19 電子写真用セレン感光体 Granted JPS6043662A (ja)

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JP15119183A JPS6043662A (ja) 1983-08-19 1983-08-19 電子写真用セレン感光体

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Publication Number Publication Date
JPS6043662A JPS6043662A (ja) 1985-03-08
JPH0217021B2 true JPH0217021B2 (ja) 1990-04-19

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ID=15513256

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JP15119183A Granted JPS6043662A (ja) 1983-08-19 1983-08-19 電子写真用セレン感光体

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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61256353A (ja) * 1985-05-10 1986-11-13 Fuji Electric Co Ltd 電子写真用セレン感光体
DE3518999C2 (de) * 1985-05-25 1987-05-14 Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt Elektrofotografisches Aufzeichnungsmaterial
JPS61278858A (ja) * 1985-06-04 1986-12-09 Fuji Electric Co Ltd 電子写真用セレン感光体
JPS6254269A (ja) * 1985-09-03 1987-03-09 Fuji Electric Co Ltd 電子写真用感光体
JPH01219753A (ja) * 1988-02-26 1989-09-01 Fuji Electric Co Ltd 電子写真用セレン感光体

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Publication number Publication date
JPS6043662A (ja) 1985-03-08

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