JPH02174157A - スイッチトキャパシタフィルタ用マスタスライスおよびスイッチトキャパシタフィルタの製造方法 - Google Patents
スイッチトキャパシタフィルタ用マスタスライスおよびスイッチトキャパシタフィルタの製造方法Info
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- JPH02174157A JPH02174157A JP32606688A JP32606688A JPH02174157A JP H02174157 A JPH02174157 A JP H02174157A JP 32606688 A JP32606688 A JP 32606688A JP 32606688 A JP32606688 A JP 32606688A JP H02174157 A JPH02174157 A JP H02174157A
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- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、スイッチトキャバシタフイルタ用マスタスラ
イスおよびそれを用いたスイッチトキャパシタフィルタ
の製造方法に関するものである。
イスおよびそれを用いたスイッチトキャパシタフィルタ
の製造方法に関するものである。
[従来の技術]
一敗にスイッチトキャバシタフイルタは、コンデンサと
アナログスイッチとMOSFETによる演算増幅器とを
、所望のフィルタ特性を有するように適宜組合せて構成
したものであって、これら各部品をモノリシック集積化
することで、ひとつの集積回路チップの形で実現されて
いる。
アナログスイッチとMOSFETによる演算増幅器とを
、所望のフィルタ特性を有するように適宜組合せて構成
したものであって、これら各部品をモノリシック集積化
することで、ひとつの集積回路チップの形で実現されて
いる。
かかるスイッチトキャバシタフイルタとしては、その性
質上、種々の特性のものが要求されており、標準仕様の
汎用品の形で集積回路チップとして構成することが難し
い。すなわち、所望するフィルタ特性にあわせて、最初
から設計し、各部品のレイアウトを定め、それに基づい
てホトマスクを準備して集積回路チップを製造していた
。
質上、種々の特性のものが要求されており、標準仕様の
汎用品の形で集積回路チップとして構成することが難し
い。すなわち、所望するフィルタ特性にあわせて、最初
から設計し、各部品のレイアウトを定め、それに基づい
てホトマスクを準備して集積回路チップを製造していた
。
かかるフルカスタムLSIによるスイッチトキャパシタ
フィルタでは、スイッチトキャパシタフィルタのコスト
が高くつき、所望の特性をもつスイッチトキャパシタフ
ィルタを得るのに長い期間を要していた。
フィルタでは、スイッチトキャパシタフィルタのコスト
が高くつき、所望の特性をもつスイッチトキャパシタフ
ィルタを得るのに長い期間を要していた。
これに対して、セミカスタムLSIのひとつとして、マ
スタスライス方式を採用してスイッチトキャパシタフィ
ルタを構成することも考えられる。
スタスライス方式を採用してスイッチトキャパシタフィ
ルタを構成することも考えられる。
すなわち、LSI基板上に所定個数の単位キャパシタン
スをあらかじめ定めた個所に形成しておき、これらキャ
パシタンス間の配線設計を追加して行うことによって、
スイッチトキャパシタフィルタを構成する。
スをあらかじめ定めた個所に形成しておき、これらキャ
パシタンス間の配線設計を追加して行うことによって、
スイッチトキャパシタフィルタを構成する。
[発明が解決しようとする課題]
この場合には、配線の自由度が低く、したがって、配線
長が長くならざるを得ないと共に、スイッチトキャパシ
タフィルタ特性を設計する自由度が低い。スイッチトキ
ャパシタフィルタ特性の自由度を高めるためには、多数
の単位キャパシタンスをあうかしめ用意しておく必要が
あるが、そのためには、キャパシタンスエリアをあらか
じめ広く定めておくこことが必要になる。換言すると、
1つのスイッチトキャパシタフィルタチップにおけるキ
ャパシタの大きさが制限されてしまい、上述したように
スイッチトキャパシタフィルタ設計の自由度がイ氏いこ
とになる。なお、フルカスタムLSIにおいては、配線
長は短くてすむものの、設計の自由度は全くないところ
は上述した通りである。
長が長くならざるを得ないと共に、スイッチトキャパシ
タフィルタ特性を設計する自由度が低い。スイッチトキ
ャパシタフィルタ特性の自由度を高めるためには、多数
の単位キャパシタンスをあうかしめ用意しておく必要が
あるが、そのためには、キャパシタンスエリアをあらか
じめ広く定めておくこことが必要になる。換言すると、
1つのスイッチトキャパシタフィルタチップにおけるキ
ャパシタの大きさが制限されてしまい、上述したように
スイッチトキャパシタフィルタ設計の自由度がイ氏いこ
とになる。なお、フルカスタムLSIにおいては、配線
長は短くてすむものの、設計の自由度は全くないところ
は上述した通りである。
そこで、本発明の目的は、上述した従来のマスタスライ
ス方式の欠点の解決を目指し、種々の特性のスイッチト
キャパシタフィルタを自由度高く設計することのできる
スイッチトキャパシタフィルタ用マスタスライスを提供
することにある。
ス方式の欠点の解決を目指し、種々の特性のスイッチト
キャパシタフィルタを自由度高く設計することのできる
スイッチトキャパシタフィルタ用マスタスライスを提供
することにある。
本発明の他の目的は、上述したスイッチトキャパシタフ
ィルタ用マスタスライスを用いて種々の特性のスイッチ
トキャパシタフィルタを設計の自由度を高くして製造す
るスイッチトキャパシタフィルタの製造方法を提供する
ことにある。
ィルタ用マスタスライスを用いて種々の特性のスイッチ
トキャパシタフィルタを設計の自由度を高くして製造す
るスイッチトキャパシタフィルタの製造方法を提供する
ことにある。
[課題を解決するための手段1
このような目的を達成するために、本発明スイッチトキ
ャパシタフィルタ用マスタスライスは、基板上に、複数
種類のスイッチトキャパシタフィルタで用いる演算増幅
器を形成する第1領域と、複数種類のスイッチトキャバ
シタフイルタのうちのいずれか一のスイッチトキャパシ
タフィルタで用いるアナログスイッチを形成する第2領
域と、のスイッチトキャバシタフイルタで用いるキャパ
シタンスを形成する第3領域とを設け、第1領域には、
複数種類のスイッチトキャバシタフイルタに対応できる
ようにあらかじめ定めた個数の演算増幅器をあらかじめ
定めた位置に配設するようにフィールド絶縁膜で限界さ
れた複数のアクティブ部分を設け、複数のアクティブ層
の各々の上にゲート絶縁膜を配置し、第2領域には、複
数種類のスイッチトキャバシタフイルタのいずれにも応
じてアナログスイッチを構成できるようにフィールド絶
縁物膜で限界された複数のアクティブ部分を設け、複数
のアクティブ部分の各々の上にゲート酸化膜を配置し、
第1および第2領域におけるフィールド絶縁膜およびゲ
ート絶縁膜を覆って電極形成用導電I摸を配置したこと
を特徴とする。
ャパシタフィルタ用マスタスライスは、基板上に、複数
種類のスイッチトキャパシタフィルタで用いる演算増幅
器を形成する第1領域と、複数種類のスイッチトキャバ
シタフイルタのうちのいずれか一のスイッチトキャパシ
タフィルタで用いるアナログスイッチを形成する第2領
域と、のスイッチトキャバシタフイルタで用いるキャパ
シタンスを形成する第3領域とを設け、第1領域には、
複数種類のスイッチトキャバシタフイルタに対応できる
ようにあらかじめ定めた個数の演算増幅器をあらかじめ
定めた位置に配設するようにフィールド絶縁膜で限界さ
れた複数のアクティブ部分を設け、複数のアクティブ層
の各々の上にゲート絶縁膜を配置し、第2領域には、複
数種類のスイッチトキャバシタフイルタのいずれにも応
じてアナログスイッチを構成できるようにフィールド絶
縁物膜で限界された複数のアクティブ部分を設け、複数
のアクティブ部分の各々の上にゲート酸化膜を配置し、
第1および第2領域におけるフィールド絶縁膜およびゲ
ート絶縁膜を覆って電極形成用導電I摸を配置したこと
を特徴とする。
本発明スイッチトキャパシタフィルタの製造方法は、上
述したマスタスライスを用い、第1領域においては演算
増幅器のためのパターンで、および第2領域においては
アナログスイッチのためのパターンで、電極形成用導電
膜に対して、パターンニングを施し、それぞれ、演算増
幅器のMOSFETのゲート電極、アナログスイッチの
MOSFETのゲート電極およびキャパシタンスの下側
電極を形成し、第1および第2領域におけるアクティブ
部分に演算増幅器のMOSFETおよびアナログスイッ
チのMOSFETのソースおよびドレインを形成するた
めの拡散領域を形成し、ゲート電極、下側電極、前記ア
クティブ部分の露出表面およびフィールド絶縁膜のすべ
ての表面を覆って、絶縁膜を被着し、被着された絶縁膜
のうち、下側電極に対応する個所の上にキャパシタンス
の上側電極を形成し、絶縁膜および上側電極を覆って層
間絶縁膜を形成し、層間絶縁膜にコンタクトホールを形
成し、コンタクトホールを介して、演算増幅器のMOS
FET、アナログスイッチのMOSFETおよびキャパ
シタンスの接続を行う配線層を形成し、配線層により一
のスイッチトキャパシタフィルタの回路接続を行うこと
を特徴とする。
述したマスタスライスを用い、第1領域においては演算
増幅器のためのパターンで、および第2領域においては
アナログスイッチのためのパターンで、電極形成用導電
膜に対して、パターンニングを施し、それぞれ、演算増
幅器のMOSFETのゲート電極、アナログスイッチの
MOSFETのゲート電極およびキャパシタンスの下側
電極を形成し、第1および第2領域におけるアクティブ
部分に演算増幅器のMOSFETおよびアナログスイッ
チのMOSFETのソースおよびドレインを形成するた
めの拡散領域を形成し、ゲート電極、下側電極、前記ア
クティブ部分の露出表面およびフィールド絶縁膜のすべ
ての表面を覆って、絶縁膜を被着し、被着された絶縁膜
のうち、下側電極に対応する個所の上にキャパシタンス
の上側電極を形成し、絶縁膜および上側電極を覆って層
間絶縁膜を形成し、層間絶縁膜にコンタクトホールを形
成し、コンタクトホールを介して、演算増幅器のMOS
FET、アナログスイッチのMOSFETおよびキャパ
シタンスの接続を行う配線層を形成し、配線層により一
のスイッチトキャパシタフィルタの回路接続を行うこと
を特徴とする。
本発明スイッチトキャバシタフイルタ用マスタスライス
の他の形態は、基板上に、複数種類のスイッチトキャパ
シタフィルタで用いる演算増幅器を形成する第1領域と
、複数種類のスイッチトキャパシタフィルタのうちのい
ずれか一のスイッチトキャパシタフィルタで用いるアナ
ログスイッチを形成する第2領域と、一のスイッチトキ
ャパシタフィルタで用いるキャパシタンスを形成する第
3領域とを設け、第1領域には、複数種類のスイッチト
キャパシタフィルタに対応できるようにあらかじめ定め
た個数の演算増幅器をあらかじめ定めた位置に配設する
ようにフィールド絶縁膜で限界された複数のアクティブ
部分を設け、複数のアクティブ部分の各々の上にゲート
絶12 Mを配置し、第2領域には、複数種類のスイッ
チトキャパシタフィルタのいずれにも応じてアナログス
イ・ソチを構成できるようにフィールド絶縁物膜で限界
された複数のアクティブ部分を設け、複数のアクティブ
部分の各々の上にゲート絶縁膜を配置し、第3領域には
、複数種類のスイッチトキャパシタフィルタのいずれに
も応じてキャパシタンスを構成できるようにフィールド
絶縁膜を配置し、第1、第2および第3領域におけるフ
ィールド絶縁膜、および第1および第2領域におけるゲ
ート絶縁膜を覆って電極形成用導電膜を配置したことを
特徴とする。
の他の形態は、基板上に、複数種類のスイッチトキャパ
シタフィルタで用いる演算増幅器を形成する第1領域と
、複数種類のスイッチトキャパシタフィルタのうちのい
ずれか一のスイッチトキャパシタフィルタで用いるアナ
ログスイッチを形成する第2領域と、一のスイッチトキ
ャパシタフィルタで用いるキャパシタンスを形成する第
3領域とを設け、第1領域には、複数種類のスイッチト
キャパシタフィルタに対応できるようにあらかじめ定め
た個数の演算増幅器をあらかじめ定めた位置に配設する
ようにフィールド絶縁膜で限界された複数のアクティブ
部分を設け、複数のアクティブ部分の各々の上にゲート
絶12 Mを配置し、第2領域には、複数種類のスイッ
チトキャパシタフィルタのいずれにも応じてアナログス
イ・ソチを構成できるようにフィールド絶縁物膜で限界
された複数のアクティブ部分を設け、複数のアクティブ
部分の各々の上にゲート絶縁膜を配置し、第3領域には
、複数種類のスイッチトキャパシタフィルタのいずれに
も応じてキャパシタンスを構成できるようにフィールド
絶縁膜を配置し、第1、第2および第3領域におけるフ
ィールド絶縁膜、および第1および第2領域におけるゲ
ート絶縁膜を覆って電極形成用導電膜を配置したことを
特徴とする。
本発明スイッチトキャバシタフイルタの製造方法の他の
形態は、上述したマスタスライスを用い、第1領域にお
いては演算増幅器のためのパターンで、第2領域におい
てはアナログスイッチのためのパターンで、および第3
領域においてはキャパシタンスのためのパターンで、電
極形成用導電膜に対して、パターンニングを施し、それ
ぞれ、演算増幅器のMOSFETのゲート電極、アナロ
グスイッチのMOSFETのゲート電極およびキャパシ
タンスの下側電極を形成し、第1および第2領域におけ
るアクティブ部分に演算増幅器のMOSFETおよびア
ナログスイッチのMOSFETのソースおよびドレイン
を形成するための拡散領域を形成し、ゲート電極、下側
電極、アクティブ部分の露出表面およびフィールド絶縁
膜のすべての表面を覆って、絶縁膜を被着し、被着され
た絶縁膜のうち、下側電極に対応する個所の上にキャパ
シタンスの上側電極を形成し、絶縁膜および上側電極を
覆って層間絶縁膜を形成し、層間絶縁膜にコンタクトホ
ールを形成し、コンタクトホールを介して、演算増幅器
のMOSFET、 アナログスイッチのMOSFETお
よびキャパシタンスの接続を行う配線層を形成し、配線
層により一のスイッチトキャパシタフィルタの回路接続
を行うことを特徴とする。
形態は、上述したマスタスライスを用い、第1領域にお
いては演算増幅器のためのパターンで、第2領域におい
てはアナログスイッチのためのパターンで、および第3
領域においてはキャパシタンスのためのパターンで、電
極形成用導電膜に対して、パターンニングを施し、それ
ぞれ、演算増幅器のMOSFETのゲート電極、アナロ
グスイッチのMOSFETのゲート電極およびキャパシ
タンスの下側電極を形成し、第1および第2領域におけ
るアクティブ部分に演算増幅器のMOSFETおよびア
ナログスイッチのMOSFETのソースおよびドレイン
を形成するための拡散領域を形成し、ゲート電極、下側
電極、アクティブ部分の露出表面およびフィールド絶縁
膜のすべての表面を覆って、絶縁膜を被着し、被着され
た絶縁膜のうち、下側電極に対応する個所の上にキャパ
シタンスの上側電極を形成し、絶縁膜および上側電極を
覆って層間絶縁膜を形成し、層間絶縁膜にコンタクトホ
ールを形成し、コンタクトホールを介して、演算増幅器
のMOSFET、 アナログスイッチのMOSFETお
よびキャパシタンスの接続を行う配線層を形成し、配線
層により一のスイッチトキャパシタフィルタの回路接続
を行うことを特徴とする。
[作 用]
本発明によれば、基板上の、種々のスイッチトキャパシ
タフィルタのための演算増幅器を形成する領域には、前
記スイッチトキャパシタフィルタに対応できるようにあ
らかじめ定めた個数および配置の演算増幅器を構成する
ようにフィールド絶縁膜で限界された複数のアクティブ
領域の部分を配置し、前記アクティブ部分の各々の上に
ゲート絶縁膜を配置し、前記基板上の前記スイッチトキ
ャパシタフィルタ用アナログスイッチを形成する領域に
は、前記種々のスイッチトキャパシタフィルタのうちの
所望するスイッチトキャパシタフィルタに応じてアナロ
グスイッチを構成できるようにフィールド絶縁膜で限界
された複数のアクティブ部分を配置し、前記アクティブ
部分の各々の上にゲート絶縁膜を配置し、および前記基
板上の前記スイッチトキャパシタフィルタ用キャパシタ
ンスを形成する領域の全面にわたって、前記所望するス
イッチトキャパシタフィルタに応じてキャパシタンスを
構成できるようにフィールド絶縁膜を配置し、前記フィ
ールド絶縁膜および前記ゲート絶縁膜を覆うように電極
形成用導電膜を配置してマスタスライスを構成したので
、演算増幅器用領域にはMOSFET抵抗、キャパシタ
ンスを形成する位置が固定的に定められているものの、
スイッチ用領域においては、所望するスイッチトキャバ
シタフィ2レタに応じて、スイッチのサイズ、配列など
を後の工程で適宜定めることができ、しかも、キャパシ
タンス用領域においては、スイッチトキャパシタフィル
タ用キャパシタンスを所望するスイッチトキャパシタフ
ィルタ特性に応じて全く自由に定めることができる。従
って、本発明によれば、従来のマスタスライス方式に比
較して、配線とキャパシタンスのみを種々変更するのみ
で、種々のスイッチトキャパシタフィルタを自由度高く
設計で籾、その結果、スイッチトキャパシタフィルタの
品種の開発期間を短縮でき、かつそのための開発費用も
低減することのできるマスタスライスを提供することが
できる。
タフィルタのための演算増幅器を形成する領域には、前
記スイッチトキャパシタフィルタに対応できるようにあ
らかじめ定めた個数および配置の演算増幅器を構成する
ようにフィールド絶縁膜で限界された複数のアクティブ
領域の部分を配置し、前記アクティブ部分の各々の上に
ゲート絶縁膜を配置し、前記基板上の前記スイッチトキ
ャパシタフィルタ用アナログスイッチを形成する領域に
は、前記種々のスイッチトキャパシタフィルタのうちの
所望するスイッチトキャパシタフィルタに応じてアナロ
グスイッチを構成できるようにフィールド絶縁膜で限界
された複数のアクティブ部分を配置し、前記アクティブ
部分の各々の上にゲート絶縁膜を配置し、および前記基
板上の前記スイッチトキャパシタフィルタ用キャパシタ
ンスを形成する領域の全面にわたって、前記所望するス
イッチトキャパシタフィルタに応じてキャパシタンスを
構成できるようにフィールド絶縁膜を配置し、前記フィ
ールド絶縁膜および前記ゲート絶縁膜を覆うように電極
形成用導電膜を配置してマスタスライスを構成したので
、演算増幅器用領域にはMOSFET抵抗、キャパシタ
ンスを形成する位置が固定的に定められているものの、
スイッチ用領域においては、所望するスイッチトキャバ
シタフィ2レタに応じて、スイッチのサイズ、配列など
を後の工程で適宜定めることができ、しかも、キャパシ
タンス用領域においては、スイッチトキャパシタフィル
タ用キャパシタンスを所望するスイッチトキャパシタフ
ィルタ特性に応じて全く自由に定めることができる。従
って、本発明によれば、従来のマスタスライス方式に比
較して、配線とキャパシタンスのみを種々変更するのみ
で、種々のスイッチトキャパシタフィルタを自由度高く
設計で籾、その結果、スイッチトキャパシタフィルタの
品種の開発期間を短縮でき、かつそのための開発費用も
低減することのできるマスタスライスを提供することが
できる。
しかも、本発明によれば、上述したようなスイッチトキ
ャパシタフィルタ用マスタスライスに対して、あらかじ
め定められている個数および配置に応じて演算増幅器を
形成すると共に、所望するスイッチトキャパシタフィル
タに応じて、アナログスイッチおよびキャパシタンスを
形成し、これら素子間を相互配線するだけの簡単な処理
で任意所望の特性をもつスイッチトキャパシタフィルタ
を製造することができる。
ャパシタフィルタ用マスタスライスに対して、あらかじ
め定められている個数および配置に応じて演算増幅器を
形成すると共に、所望するスイッチトキャパシタフィル
タに応じて、アナログスイッチおよびキャパシタンスを
形成し、これら素子間を相互配線するだけの簡単な処理
で任意所望の特性をもつスイッチトキャパシタフィルタ
を製造することができる。
[実施例]
以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
。
。
本発明スイッチトキャパシタフィルタ用マスタスライス
の一実施例を第1図に示し、その昌′線断面図を第2図
(C)に示す。
の一実施例を第1図に示し、その昌′線断面図を第2図
(C)に示す。
第1図において、OPAはLSI基板上演算増幅器を配
置するエリア、CPAは同じくキャパシタンスを配置す
るエリア、SAは同じくアナログスイッチを配置するエ
リアを示す。
置するエリア、CPAは同じくキャパシタンスを配置す
るエリア、SAは同じくアナログスイッチを配置するエ
リアを示す。
エリアOPAにおいては、たとえばBiquad型スイ
ッチトキャパシタフィルタに対応できるようにするなど
、演算増幅器の個数および配置場所について設計ずみで
あって、かつあらかじめマスタスライス用工程まで前処
理を施すことにより、アクティブ領域を演算増幅器に応
じて形成した演算増幅器形成部OPI、OP2.OPm
が配置されている。すなわち、このエリアOP^には、
すでに設計ずみの演算増幅器に応じて、それらのMOS
FETおよびキャパシタンスの配置が定められていると
共に、かかる前処理においては、これらMOSFETお
よびキャパシタンスののためのアクティブ層が固定的に
配置されている。
ッチトキャパシタフィルタに対応できるようにするなど
、演算増幅器の個数および配置場所について設計ずみで
あって、かつあらかじめマスタスライス用工程まで前処
理を施すことにより、アクティブ領域を演算増幅器に応
じて形成した演算増幅器形成部OPI、OP2.OPm
が配置されている。すなわち、このエリアOP^には、
すでに設計ずみの演算増幅器に応じて、それらのMOS
FETおよびキャパシタンスの配置が定められていると
共に、かかる前処理においては、これらMOSFETお
よびキャパシタンスののためのアクティブ層が固定的に
配置されている。
キャパシタンスエリアCPへは、任意所望の容量比およ
び任意所望の単位容量サイズで複数個のキャパシタンス
を配列できるように十分に広い面積に定めた領域である
が、各キャパシタンスの設置個数、配置および容量値な
らびに配線については全く未定である。
び任意所望の単位容量サイズで複数個のキャパシタンス
を配列できるように十分に広い面積に定めた領域である
が、各キャパシタンスの設置個数、配置および容量値な
らびに配線については全く未定である。
スイッチエリアSAにおいては、複数個のMO5FET
アナログスイッチのアクティブ領域部分のみを形成して
いるにすぎず、そのアクティブ領域部分を用いて、複数
のMO5FETスイッチの個数および各ゲートの配置個
所を自由度高く設計することがてきる。
アナログスイッチのアクティブ領域部分のみを形成して
いるにすぎず、そのアクティブ領域部分を用いて、複数
のMO5FETスイッチの個数および各ゲートの配置個
所を自由度高く設計することがてきる。
次に、第1図示のスイッチトキャパシタフィルタ用マス
タスライスを本発明によって製造する工程の一実施例を
第2図(八)〜(C)に示す。
タスライスを本発明によって製造する工程の一実施例を
第2図(八)〜(C)に示す。
まず、第2図(A)に示すように、n形基板1を用意し
、この基板1に対して、エリアOPAにおいてMOSF
ETの配置に対応する位置にpウェル2,3およびエリ
アSAにおいてアクティブ層を形成する位置にp形不純
物としてのボロンをイオン注入して熱拡散することによ
りpウェルを設ける。ついで、これらpウェル2〜4を
有するn形基板1の露出主面上に表面保護用の薄い酸化
膜5を被着する。
、この基板1に対して、エリアOPAにおいてMOSF
ETの配置に対応する位置にpウェル2,3およびエリ
アSAにおいてアクティブ層を形成する位置にp形不純
物としてのボロンをイオン注入して熱拡散することによ
りpウェルを設ける。ついで、これらpウェル2〜4を
有するn形基板1の露出主面上に表面保護用の薄い酸化
膜5を被着する。
続いて、第2図(B) に示すように、素子分離領域、
すなわちエリアOPAにおけるMO5FET形成用の各
pウェルの間の領域、エリアCPへの領域およびエリア
SAにおけるMO5FET形成用のpウェルの周囲の領
域には、5I02によるフィールド酸化膜(FOX)に
よるフィールド絶縁膜6を形成する。すなわち、このフ
ィールド絶縁膜6のない部分はアクティブ層であり、こ
こには後の工程においてトランジスタが形成される。な
お、フィールド絶縁[6としては、窒化膜を用いること
もできる。
すなわちエリアOPAにおけるMO5FET形成用の各
pウェルの間の領域、エリアCPへの領域およびエリア
SAにおけるMO5FET形成用のpウェルの周囲の領
域には、5I02によるフィールド酸化膜(FOX)に
よるフィールド絶縁膜6を形成する。すなわち、このフ
ィールド絶縁膜6のない部分はアクティブ層であり、こ
こには後の工程においてトランジスタが形成される。な
お、フィールド絶縁[6としては、窒化膜を用いること
もできる。
さらに、第2図(C)に示すように、ρウェル2.3お
よび4の表面領域およびエリアOPAとCP八との境界
のn基板1の表面領域には、S、O2によるゲート酸化
膜などのゲート絶縁膜7を形成する。ついで、フィール
ド酸化膜6およびゲート酸化膜7の全面を覆ってゲート
電極用ポリシリコン1莫8を被着させる。このポリシリ
コン膜8は、各MO5FETのゲート電極を構成するの
みならず、エリアCPへにおけるキャパシタンス形成用
の膜としても作用する。
よび4の表面領域およびエリアOPAとCP八との境界
のn基板1の表面領域には、S、O2によるゲート酸化
膜などのゲート絶縁膜7を形成する。ついで、フィール
ド酸化膜6およびゲート酸化膜7の全面を覆ってゲート
電極用ポリシリコン1莫8を被着させる。このポリシリ
コン膜8は、各MO5FETのゲート電極を構成するの
みならず、エリアCPへにおけるキャパシタンス形成用
の膜としても作用する。
以上の工程により、第1図の平面配置および第2図(C
)の断面構成をもつ本発明スイッチトキャパシタフィル
タ用マスタスライスが得られる。
)の断面構成をもつ本発明スイッチトキャパシタフィル
タ用マスタスライスが得られる。
以上のように構成したスイッチトキャパシタフィルタ用
マスタスライスにおいて、演算増幅器用エリア(IPA
は、演算増幅器を構成するべくあらかじめ定められたM
OSFET、抵抗、キャパシタンスに対応して形成され
たアクティブ層を有し、p形MO5FETを形成する予
定場所にはn基板1それ自体を位置させ、n形MO5F
ETを形成する予定場所にはpウェルを形成しておく。
マスタスライスにおいて、演算増幅器用エリア(IPA
は、演算増幅器を構成するべくあらかじめ定められたM
OSFET、抵抗、キャパシタンスに対応して形成され
たアクティブ層を有し、p形MO5FETを形成する予
定場所にはn基板1それ自体を位置させ、n形MO5F
ETを形成する予定場所にはpウェルを形成しておく。
抵抗としては、MOSFETのゲートをオン状態とした
構造を用いる。キャパシタンスは、キャパシタンスエリ
アCPへに形成するキャパシタンスと同様に、下側電極
板としてのポリシリコン膜8上に層間絶縁物質膜を介し
て上側電極板を配置して構成する。キャパシタンスエリ
アCPへにおいては、その全面にポリシリコン膜8が被
着されているにすぎず、そのポリシリコン膜8を所望す
るスイッチトキャパシタフィルタに必要なキャパシタン
スを構成するためにバターニングして下側電極層を構成
する。ついで、その下側電極層上に510□による層間
絶縁物質膜を介して上側電極層を設けてスイッチトキャ
パシタフィルタとして必要なキャパシタンス群を形成す
る。
構造を用いる。キャパシタンスは、キャパシタンスエリ
アCPへに形成するキャパシタンスと同様に、下側電極
板としてのポリシリコン膜8上に層間絶縁物質膜を介し
て上側電極板を配置して構成する。キャパシタンスエリ
アCPへにおいては、その全面にポリシリコン膜8が被
着されているにすぎず、そのポリシリコン膜8を所望す
るスイッチトキャパシタフィルタに必要なキャパシタン
スを構成するためにバターニングして下側電極層を構成
する。ついで、その下側電極層上に510□による層間
絶縁物質膜を介して上側電極層を設けてスイッチトキャ
パシタフィルタとして必要なキャパシタンス群を形成す
る。
スイッチエリアSAにおいては、MO5FETスイッチ
を形成するためのアクティブ層のみが用意されており、
所望するスイッチトキャパシタフィルタに応して、必要
なスイッチをかかるアクティブ層に設けることができる
。ここで、アクティブ層としては、p形MO5FETを
形成するときにはn形基板1そのものを用い、n形MO
5FETを形成するときにはpウェルを形成しておく。
を形成するためのアクティブ層のみが用意されており、
所望するスイッチトキャパシタフィルタに応して、必要
なスイッチをかかるアクティブ層に設けることができる
。ここで、アクティブ層としては、p形MO5FETを
形成するときにはn形基板1そのものを用い、n形MO
5FETを形成するときにはpウェルを形成しておく。
次に、以上に説明した本発明スイッチトキャパシタフィ
ルタ用マスタスライスを用いてスイッチトキャパシタフ
ィルタを構成する本発明製造方法の工程例について第3
図(A)〜(F)を参照して説明する。
ルタ用マスタスライスを用いてスイッチトキャパシタフ
ィルタを構成する本発明製造方法の工程例について第3
図(A)〜(F)を参照して説明する。
まず、所望のスイッチトキャパシタフィルタに応じて、
第3図(A) に示すように、演算増幅器エリアOPA
におけるMOSFET、抵抗およびキャパシタンス形成
のパターン、キャパシタンスエリアCPへにおけるキャ
パシタンス形成のための下側電極板部分のパターン、ス
イッチエリアSAにおけるMOSFETのパターンおよ
び各部分間の配線部分などを残して、上述したボロン・
リコン膜8をエツチングによって除去する。第3図(A
)において、8−1〜8−4はMO5FET形成用のゲ
ート電極、8−5〜8−9は容量形成のための下側電極
板である。
第3図(A) に示すように、演算増幅器エリアOPA
におけるMOSFET、抵抗およびキャパシタンス形成
のパターン、キャパシタンスエリアCPへにおけるキャ
パシタンス形成のための下側電極板部分のパターン、ス
イッチエリアSAにおけるMOSFETのパターンおよ
び各部分間の配線部分などを残して、上述したボロン・
リコン膜8をエツチングによって除去する。第3図(A
)において、8−1〜8−4はMO5FET形成用のゲ
ート電極、8−5〜8−9は容量形成のための下側電極
板である。
次に、第3図(B)に示すように、n形MO5FETを
形成するpウェル2〜4には、リン、ヒ素などのn形不
純物を注入し、およびp形MO5FETを形成するn形
基板1の部分にはボロンなどのp形不純物を注入し、そ
れぞれの不純物を熱拡散させることによって、ロ3ソー
ス領域9,11.13およびn“ドレイン領域10,1
2,14.およびp+ソース領域15およびp+ドレイ
ン領域16を形成する。
形成するpウェル2〜4には、リン、ヒ素などのn形不
純物を注入し、およびp形MO5FETを形成するn形
基板1の部分にはボロンなどのp形不純物を注入し、そ
れぞれの不純物を熱拡散させることによって、ロ3ソー
ス領域9,11.13およびn“ドレイン領域10,1
2,14.およびp+ソース領域15およびp+ドレイ
ン領域16を形成する。
以上の拡散処理後、第3図(C) に示すように、ウェ
ハの全表面にS、0゜による層間絶縁膜17を被着させ
る。
ハの全表面にS、0゜による層間絶縁膜17を被着させ
る。
さらに、キャパシタンスエリアCPAの全面にポリシリ
コン膜を被着し、ついで、パターン化された下側電極板
8−5〜8−9に対応して、第3図CD)に示すように
、上側電極板18−5〜18−9を層間絶縁層17上に
形成する。
コン膜を被着し、ついで、パターン化された下側電極板
8−5〜8−9に対応して、第3図CD)に示すように
、上側電極板18−5〜18−9を層間絶縁層17上に
形成する。
さらに、第3図(E) に示すように、キャパシタンス
エリアCPへにおいて、上側電極板18−5〜18−9
を覆って、SIO□膜を被着させて、先に形成した絶縁
膜17と一体の層間絶縁膜19を形成する。
エリアCPへにおいて、上側電極板18−5〜18−9
を覆って、SIO□膜を被着させて、先に形成した絶縁
膜17と一体の層間絶縁膜19を形成する。
最後に、第3図(F)に示すように第4図(Δ)に示す
スイッチトキャパシタフィルタ用回路において各素子間
の電気的接続を行うためのアルミニウム配線層を形成す
る。すなわち、層間絶縁膜19において、スイッチトキ
ャパシタフィルタ回路としての接続を行うのに必要な個
所に配線用コンタクトホール21〜42をあけ、ついで
、絶縁膜19の全面にメタル層としてアルミニウム層を
形成してから、配線パターンをエツチングにより形成す
る。
スイッチトキャパシタフィルタ用回路において各素子間
の電気的接続を行うためのアルミニウム配線層を形成す
る。すなわち、層間絶縁膜19において、スイッチトキ
ャパシタフィルタ回路としての接続を行うのに必要な個
所に配線用コンタクトホール21〜42をあけ、ついで
、絶縁膜19の全面にメタル層としてアルミニウム層を
形成してから、配線パターンをエツチングにより形成す
る。
ここで、コンタクトホール21,22および23は、第
4図(A)に示す演算増幅器構成用n形MO5FET1
01のソース、ゲートおよびドレイン端子形成用であっ
て、それぞれを介して、第4図(A)に示すVSS供給
用配線層43.バイアス供給用配線層44およびn形M
O5FET102のソースに接続される配線層45を5
それぞれ、n4ソース領域9.ゲート電極8−1 およ
びn′″トレイン領域lOに接続する。
4図(A)に示す演算増幅器構成用n形MO5FET1
01のソース、ゲートおよびドレイン端子形成用であっ
て、それぞれを介して、第4図(A)に示すVSS供給
用配線層43.バイアス供給用配線層44およびn形M
O5FET102のソースに接続される配線層45を5
それぞれ、n4ソース領域9.ゲート電極8−1 およ
びn′″トレイン領域lOに接続する。
同様に、第4図(A)に示すn形MO5FET102の
ソース、ゲートおよびドレイン端子形成用コンタクトホ
ール24,25および26を介して、それぞれ、配線層
45.負人力用配線層46およびp形MO5FET10
3のトレインに接続される配線層47をn+ソース領域
11、ゲート電trJi8−2およびn+ドレイン領域
12に接続する。
ソース、ゲートおよびドレイン端子形成用コンタクトホ
ール24,25および26を介して、それぞれ、配線層
45.負人力用配線層46およびp形MO5FET10
3のトレインに接続される配線層47をn+ソース領域
11、ゲート電trJi8−2およびn+ドレイン領域
12に接続する。
p形MO5FET103のソース、ゲートおよびドレイ
ン端子形成用コンタクトホール21,2Bおよび29を
介して、それぞれ、配線層47.ドレイン−ゲート間接
続用配線層48およびVdd供給用配線層49をp+ド
レイン領域15.ゲート電極8−3およびn1ソース領
域16に接続する。
ン端子形成用コンタクトホール21,2Bおよび29を
介して、それぞれ、配線層47.ドレイン−ゲート間接
続用配線層48およびVdd供給用配線層49をp+ド
レイン領域15.ゲート電極8−3およびn1ソース領
域16に接続する。
キャパシタンスエリアCPAにおいては、層間絶縁層1
9にあけたコンタクトホール30,31;32,33:
34.35.36.37を介して、配線層50.51,
52,53;5455.56.57を、それぞれ、電極
板8−5.18−5.8−6゜18−6.8−7.18
−7.8−8.18−8;8−9.18−9 に接続す
る。
9にあけたコンタクトホール30,31;32,33:
34.35.36.37を介して、配線層50.51,
52,53;5455.56.57を、それぞれ、電極
板8−5.18−5.8−6゜18−6.8−7.18
−7.8−8.18−8;8−9.18−9 に接続す
る。
スイッチエリアSAにおいては、n形MO5FET10
4のソース、ゲートおよびドレイン端子形成用コンタク
トホール40,41および42を介して、それぞれ、配
線層60.61および62をn+ソース領域13゜ゲー
ト電極8−4およびn1ドレイン領域14に接続する。
4のソース、ゲートおよびドレイン端子形成用コンタク
トホール40,41および42を介して、それぞれ、配
線層60.61および62をn+ソース領域13゜ゲー
ト電極8−4およびn1ドレイン領域14に接続する。
以上のようにして、たとえば第4図(A)に示す回路部
分Aを構成する配線パターンを形成する。
分Aを構成する配線パターンを形成する。
第4図(A)において、破線で示す配線部分は、第3図
(F)の断面図には現れていない配線を示している。
(F)の断面図には現れていない配線を示している。
第4図(A)の回路は第4図(B)のように表わされ、
スイッチトキャパシタフィルタ回路の一部分を構成する
。
スイッチトキャパシタフィルタ回路の一部分を構成する
。
第5図は第1図示のマスタスライスに対応して完成した
スイッチトキャパシタフィルタの構成例を示す。ここで
、0PAI〜0PAII+はエリアOPAにおいて完成
した演算増幅器、CI、C2,C3,・・・はエリアC
PAにおいて完成したキャパシタンス、SWI〜SWn
はエリアSAにおいて完成したアナログスイッチである
。Ll、L2.L3.・・・は各素子間の配線である。
スイッチトキャパシタフィルタの構成例を示す。ここで
、0PAI〜0PAII+はエリアOPAにおいて完成
した演算増幅器、CI、C2,C3,・・・はエリアC
PAにおいて完成したキャパシタンス、SWI〜SWn
はエリアSAにおいて完成したアナログスイッチである
。Ll、L2.L3.・・・は各素子間の配線である。
第5図におけるA^′線断面図が第3図CF)に相当す
る。
る。
なお、各回路素子間の相互配線については、アルミニウ
ムなどのメタル配線層を用いる以外に、ゲート電極ある
いはキャパシタンス電極用の材料、たとえばポリシリコ
ンを用いてもよい。
ムなどのメタル配線層を用いる以外に、ゲート電極ある
いはキャパシタンス電極用の材料、たとえばポリシリコ
ンを用いてもよい。
上述したスイッチトキャパシタフィルタ用マスタスライ
スでは、演算増幅器と、キャパシタンスと、スイッチと
のみを配置したが、以上に加えて、折り返し防止用フィ
ルタや平滑用フィルタ、2相りロック発生回路1発振器
等、スイッチトキャパシタフィルタに必要な回路をも上
述したようなMOSFET、キャパシタンスおよび抵抗
によって構成して、同一基板上に配置することかできる
。
スでは、演算増幅器と、キャパシタンスと、スイッチと
のみを配置したが、以上に加えて、折り返し防止用フィ
ルタや平滑用フィルタ、2相りロック発生回路1発振器
等、スイッチトキャパシタフィルタに必要な回路をも上
述したようなMOSFET、キャパシタンスおよび抵抗
によって構成して、同一基板上に配置することかできる
。
さらにまた、これら各回路の基板上での配置は第1図の
例にのみ限られるものではなく、所要のスイッチトキャ
パシタフィルタに応じて、種々のレイアウトに定めるこ
とができることもちろんである。
例にのみ限られるものではなく、所要のスイッチトキャ
パシタフィルタに応じて、種々のレイアウトに定めるこ
とができることもちろんである。
[発明の効果]
以上から明らかなように、本発明によれば、基板上の、
種々のスイッチトキャパシタフィルタのための演算増幅
器を形成する領域には、前記スイッチトキャパシタフィ
ルタに対応できるようにあらかじめ定めた個数および配
置の演算増幅器を構成するようにフィールド絶縁膜で限
界された複数のアクティブ領域の部分を配置し、前記ア
クティブ部分の各々の上にゲート絶縁膜を配置し、前記
基板上の前記スイッチトキャパシタフィルタ用アナログ
スイッチを形成する領域には、前記種々のスイッチトキ
ャパシタフィルタのうちの所望するスイッチトキャパシ
タフィルタに応じてアナログスイッチを構成できるよう
にフィールド絶縁膜で限界された複数のアクティブ部分
を配置し、前記アクティブ部分の各々の上にゲート絶縁
膜を配置し、および前記基板上の前記スイッチトキャパ
シタフィルタ用キャパシタンスを形成する領域の全面に
わたって、前記所望するスイッチトキャパシタフィルタ
に応じてキャパシタンスを構成できるようにフィールド
絶縁膜を配置し、前記フィールド絶縁膜および前記ゲー
ト絶縁膜を覆うように電極形成用導電膜を配置してマス
タスライスを構成したので、演算増幅器用領域にはMO
5FET抵抗、キャパシタンスを形成する位置が固定的
に定められているものの、スイッチ用領域においては、
所望するスイッチトキャパシタフィルタに応じて、ス、
イッチのサイズ、配列などを後の工程で適宜定めること
ができ、しかも、キャパシタンス用領域においては、ス
イッチトキャパシタフィルタ用キャパシタンスを所望す
るスイッチトキャパシタフィルタ特性に応じて全く自由
に定めることができる。従って、本発明によれば、従来
のマスタスライス方式に比較して、配線とキャパシタン
スのみを種々変更するのみで、種々のスイッチトキャパ
シタフィルタを自由度高く設計でき、その結果、スイッ
チトキャパシタフィルタの品種の開発期間を短縮でき、
かつそのための開発費用も低減することのできるマスタ
スライスを提供することができる。
種々のスイッチトキャパシタフィルタのための演算増幅
器を形成する領域には、前記スイッチトキャパシタフィ
ルタに対応できるようにあらかじめ定めた個数および配
置の演算増幅器を構成するようにフィールド絶縁膜で限
界された複数のアクティブ領域の部分を配置し、前記ア
クティブ部分の各々の上にゲート絶縁膜を配置し、前記
基板上の前記スイッチトキャパシタフィルタ用アナログ
スイッチを形成する領域には、前記種々のスイッチトキ
ャパシタフィルタのうちの所望するスイッチトキャパシ
タフィルタに応じてアナログスイッチを構成できるよう
にフィールド絶縁膜で限界された複数のアクティブ部分
を配置し、前記アクティブ部分の各々の上にゲート絶縁
膜を配置し、および前記基板上の前記スイッチトキャパ
シタフィルタ用キャパシタンスを形成する領域の全面に
わたって、前記所望するスイッチトキャパシタフィルタ
に応じてキャパシタンスを構成できるようにフィールド
絶縁膜を配置し、前記フィールド絶縁膜および前記ゲー
ト絶縁膜を覆うように電極形成用導電膜を配置してマス
タスライスを構成したので、演算増幅器用領域にはMO
5FET抵抗、キャパシタンスを形成する位置が固定的
に定められているものの、スイッチ用領域においては、
所望するスイッチトキャパシタフィルタに応じて、ス、
イッチのサイズ、配列などを後の工程で適宜定めること
ができ、しかも、キャパシタンス用領域においては、ス
イッチトキャパシタフィルタ用キャパシタンスを所望す
るスイッチトキャパシタフィルタ特性に応じて全く自由
に定めることができる。従って、本発明によれば、従来
のマスタスライス方式に比較して、配線とキャパシタン
スのみを種々変更するのみで、種々のスイッチトキャパ
シタフィルタを自由度高く設計でき、その結果、スイッ
チトキャパシタフィルタの品種の開発期間を短縮でき、
かつそのための開発費用も低減することのできるマスタ
スライスを提供することができる。
しかも、本発明によれば、上述したようなスイッチトキ
ャパシタフィルタ用マスタスライスに対して、あらかじ
め定められている個数および配置に応じて演算増幅器を
形成すると共に、所望するスイッチトキャパシタフィル
タに応じて、アナログスイッチおよびキャパシタンスを
形成し、これら素子間を相互配線するだけの簡単な処理
で任意所望の特性をもつスイッチトキャパシタフィルタ
を製造することができる。
ャパシタフィルタ用マスタスライスに対して、あらかじ
め定められている個数および配置に応じて演算増幅器を
形成すると共に、所望するスイッチトキャパシタフィル
タに応じて、アナログスイッチおよびキャパシタンスを
形成し、これら素子間を相互配線するだけの簡単な処理
で任意所望の特性をもつスイッチトキャパシタフィルタ
を製造することができる。
このように、本発明では、配線およびキャパシタンス以
外がすべて標準化されているので、品種あたりの生産量
が少なくても多fm多様のスイッチトキャパシタフィル
タに対応し、かつスイッチトキャパシタフィルタ製造全
体としての生産性も向上させることができる。
外がすべて標準化されているので、品種あたりの生産量
が少なくても多fm多様のスイッチトキャパシタフィル
タに対応し、かつスイッチトキャパシタフィルタ製造全
体としての生産性も向上させることができる。
第1図は本発明スイッチトキャパシタフィルタ用マスタ
スライスの一実施例を示す平面図、第2図(八)〜(C
)は本発明スイッチトキャパシタフィルタ用マスタスラ
イスの製造工程を示す断面図、 第3図(八)〜(F)は本発明スイッチトキャパシタフ
ィルタ用マスタスライスを用いてスイッチトキャパシタ
フィルタを製造する工程を示す断面図、 第4図(A)はスイッチトキャパシタフィルタの回路構
成例を示す回路図、 第4図(B)は第4図(八)の回路構成を簡略化して示
す回路図、 第5図は第1図示のマスタスライスに対応して完成した
スイッチトキャパジタフィルタの一例を示す平面図であ
る。 OPA・・・演算増幅器エリア、 CPA・・・キャパシタンスエリア、 S^・・・アナログスイッチエリア、 opi〜OPm・・・演算増幅器形成部、51〜Sn・
・・スイッチ形成部、 0PAI〜OPAm・・・演算増幅器、C1,C2,C
3,・・・・・・キャパシタンス、SWI N5Wn・
・・アナログスイッチ、Ll、L2.L3.・・・・・
・配線、1・・・n形基板、 2.3.4・・・pウェル、 5・・・酸化膜、 6・・・フィールド絶縁膜、 7・・・ゲート絶縁膜、 8・・・ポリシリコン膜、 8−1〜8−4・・・ゲート電極板、 8−5〜B−9・・・下側電極板、 9〜14・・・n″″拡散層、 15.16・・・pゝ拡散層、 17・・・層間絶縁膜、 18−5〜18−9・・・上側電極板、19・・・層間
絶縁膜、 21〜42・・・コンタクトホール、 43〜62・・・配線層、 101.102,104 ・−・n形MO5FET。 103・・・p形MO5FET。
スライスの一実施例を示す平面図、第2図(八)〜(C
)は本発明スイッチトキャパシタフィルタ用マスタスラ
イスの製造工程を示す断面図、 第3図(八)〜(F)は本発明スイッチトキャパシタフ
ィルタ用マスタスライスを用いてスイッチトキャパシタ
フィルタを製造する工程を示す断面図、 第4図(A)はスイッチトキャパシタフィルタの回路構
成例を示す回路図、 第4図(B)は第4図(八)の回路構成を簡略化して示
す回路図、 第5図は第1図示のマスタスライスに対応して完成した
スイッチトキャパジタフィルタの一例を示す平面図であ
る。 OPA・・・演算増幅器エリア、 CPA・・・キャパシタンスエリア、 S^・・・アナログスイッチエリア、 opi〜OPm・・・演算増幅器形成部、51〜Sn・
・・スイッチ形成部、 0PAI〜OPAm・・・演算増幅器、C1,C2,C
3,・・・・・・キャパシタンス、SWI N5Wn・
・・アナログスイッチ、Ll、L2.L3.・・・・・
・配線、1・・・n形基板、 2.3.4・・・pウェル、 5・・・酸化膜、 6・・・フィールド絶縁膜、 7・・・ゲート絶縁膜、 8・・・ポリシリコン膜、 8−1〜8−4・・・ゲート電極板、 8−5〜B−9・・・下側電極板、 9〜14・・・n″″拡散層、 15.16・・・pゝ拡散層、 17・・・層間絶縁膜、 18−5〜18−9・・・上側電極板、19・・・層間
絶縁膜、 21〜42・・・コンタクトホール、 43〜62・・・配線層、 101.102,104 ・−・n形MO5FET。 103・・・p形MO5FET。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)基板上に、複数種類のスイッチトキャパシタフィル
タで用いる演算増幅器を形成する第1領域と、前記複数
種類のスイッチトキャパシタフィルタのうちのいずれか
一のスイッチトキャパシタフィルタで用いるアナログス
イッチを形成する第2領域と、前記一のスイッチトキャ
パシタフィルタで用いるキャパシタンスを形成する第3
領域とを設け、 前記第1領域には、前記複数種類のスイッチトキャパシ
タフィルタに対応できるようにあらかじめ定めた個数の
演算増幅器をあらかじめ定めた位置に配設するようにフ
ィールド絶縁膜で限界された複数のアクティブ部分を設
け、該複数のアクティブ層の各々の上にゲート絶縁膜を
配置し、前記第2領域には、前記複数種類のスイッチト
キャパシタフィルタのいずれにも応じてアナログスイッ
チを構成できるようにフィールド絶縁物膜で限界された
複数のアクティブ部分を設け、該複数のアクティブ部分
の各々の上にゲート酸化膜を配置し、 前記第1および第2領域におけるフィールド絶縁膜およ
び前記ゲート絶縁膜を覆って電極形成用導電膜を配置し
たことを特徴とするスイッチトキャパシタフィルタ用マ
スタスライス。 2)基板上に、複数種類のスイッチトキャパシタフィル
タで用いる演算増幅器を形成する第1領域と、前記複数
種類のスイッチトキャパシタフィルタのうちのいずれか
一のスイッチトキャパシタフィルタで用いるアナログス
イッチを形成する第2領域と、前記一のスイッチトキャ
パシタフィルタで用いるキャパシタンスを形成する第3
領域とを設け、 前記第1領域には、前記複数種類のスイッチトキャパシ
タフィルタに対応できるようにあらかじめ定めた個数の
演算増幅器をあらかじめ定めた位置に配設するようにフ
ィールド絶縁膜で限界された複数のアクティブ部分を設
け、該複数のアクティブ部分の各々の上にゲート絶縁膜
を配置し、前記第2領域には、前記複数種類のスイッチ
トキャパシタフィルタのいずれにも応じてアナログスイ
ッチを構成できるようにフィールド絶縁物膜で限界され
た複数のアクティブ部分を設け、該複数のアクティブ部
分の各々の上にゲート絶縁膜を配置し、 前記第3領域には、前記複数種類のスイッチトキャパシ
タフィルタのいずれにも応じてキャパシタンスを構成で
きるようにフィールド絶縁膜を配置し、 前記第1、第2および第3領域におけるフィールド絶縁
膜、および前記第1および第2領域におけるゲート絶縁
膜を覆って電極形成用導電膜を配置したことを特徴とす
るスイッチトキャパシタフィルタ用マスタスライス。 3)請求項1記載のマスタスライスを用い、前記第1領
域においては前記演算増幅器のためのパターンで、およ
び前記第2領域においては前記アナログスイッチのため
のパターンで、前記電極形成用導電膜に対して、パター
ンニングを施し、それぞれ、前記演算増幅器のMOSF
ETのゲート電極、前記アナログスイッチのMOSFE
Tのゲート電極および前記キャパシタンスの下側電極を
形成し、 前記第1および第2領域におけるアクティブ部分に前記
演算増幅器のMOSFETおよび前記アナログスイッチ
のMOSFETのソースおよびドレインを形成するため
の拡散領域を形成し、 前記ゲート電極、下側電極、前記アクティブ部分の露出
表面および前記フィールド絶縁膜のすべての表面を覆っ
て、絶縁膜を被着し、 当該被着された絶縁膜のうち、前記下側電極に対応する
個所の上に前記キャパシタンスの上側電極を形成し、 前記絶縁膜および前記上側電極を覆って層間絶縁膜を形
成し、 前記層間絶縁膜にコンタクトホールを形成 し、 前記コンタクトホールを介して、前記演算増幅器のMO
SFET、前記アナログスイッチのMOSFETおよび
前記キャパシタンスの接続を行う配線層を形成し、該配
線層により前記一のスイッチトキャパシタフィルタの回
路接続を行う ことを特徴とするスイッチトキャパシタフィルタの製造
方法。 4)請求項2記載のマスタスライスを用い、前記第1領
域においては前記演算増幅器のためのパターンで、前記
第2領域においては前記アナログスイッチのためのパタ
ーンで、および前記第3領域においては前記キャパシタ
ンスのためのパターンで、前記電極形成用導電膜に対し
て、パターンニングを施し、それぞれ、前記演算増幅器
のMOSFETのゲート電極、前記アナログスイッチの
MOSFETのゲート電極および前記キャパシタンスの
下側電極を形成し、 前記第1および第2領域におけるアクティブ部分に前記
演算増幅器のMOSFETおよび前記アナログスイッチ
のMOSFETのソースおよびドレインを形成するため
の拡散領域を形成し、 前記ゲート電極、下側電極、前記アクティブ部分の露出
表面および前記フィールド絶縁膜のすべての表面を覆っ
て、絶縁膜を被着し、 当該被着された絶縁膜のうち、前記下側電極に対応する
個所の上に前記キャパシタンスの上側電極を形成し、 前記絶縁膜および前記上側電極を覆って層間絶縁膜を形
成し、 前記層間絶縁膜にコンタクトホールを形成 し、 前記コンタクトホールを介して、前記演算増幅器のMO
SFET、前記アナログスイッチのMOSFETおよび
前記キャパシタンスの接続を行う配線層を形成し、該配
線層により前記一のスイッチトキャパシタフィルタの回
路接続を行う ことを特徴とするスイッチトキャパシタフィルタの製造
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32606688A JPH02174157A (ja) | 1988-12-26 | 1988-12-26 | スイッチトキャパシタフィルタ用マスタスライスおよびスイッチトキャパシタフィルタの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32606688A JPH02174157A (ja) | 1988-12-26 | 1988-12-26 | スイッチトキャパシタフィルタ用マスタスライスおよびスイッチトキャパシタフィルタの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02174157A true JPH02174157A (ja) | 1990-07-05 |
Family
ID=18183729
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32606688A Pending JPH02174157A (ja) | 1988-12-26 | 1988-12-26 | スイッチトキャパシタフィルタ用マスタスライスおよびスイッチトキャパシタフィルタの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02174157A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59211246A (ja) * | 1983-05-17 | 1984-11-30 | Nec Corp | アナログicマスタスライス方式 |
| JPS6066448A (ja) * | 1983-09-21 | 1985-04-16 | Seiko Epson Corp | ゲ−トアレ− |
-
1988
- 1988-12-26 JP JP32606688A patent/JPH02174157A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59211246A (ja) * | 1983-05-17 | 1984-11-30 | Nec Corp | アナログicマスタスライス方式 |
| JPS6066448A (ja) * | 1983-09-21 | 1985-04-16 | Seiko Epson Corp | ゲ−トアレ− |
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