JPH02178330A - 平面化ラダー型シルセスキオキサンポリマー絶縁層の形成方法 - Google Patents

平面化ラダー型シルセスキオキサンポリマー絶縁層の形成方法

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JPH02178330A
JPH02178330A JP1280030A JP28003089A JPH02178330A JP H02178330 A JPH02178330 A JP H02178330A JP 1280030 A JP1280030 A JP 1280030A JP 28003089 A JP28003089 A JP 28003089A JP H02178330 A JPH02178330 A JP H02178330A
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ローズマリー・アン・プレビテイーケリー
Ronald R Uttecht
ロナルド・ロバート・ユテクト
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エリック・グレゴリー・ウオールトン
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  • Formation Of Insulating Films (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 1(弁明は改良された絶縁層、さらに詳しくは改良され
た平面化特性(planarizing peoper
ties)を示すアミノアルコキシシランから誘導され
たラダー型(laclder−4ype)シルセスキオ
キサンポリマー(silsesquioxane po
lymer)の絶41を形成する方法に関する。
半導体加工の分野Vこおいて絶縁層として有機物質を使
用することがよく知られている。偶にポリイミド樹脂が
本目的のために広範囲に使用されている。しかしながら
多くの点で好適ンc使用されているポリイミド樹脂が形
状的(topographic)な障害に対してむl−
ろ乏1.い平面化特性を示す傾向のあることが見い出さ
れている。これらや他の問題のために例えばオルガノシ
ランのような他の有機物質の使用が研究されている。
例えばIBM Technical Disclosu
re Bulletin。
■0コ、、28.ム12゜P5246(1986年5月
)においてポリシロキサン誘電体が加水分解されたオル
ガノシランモノマー(例えば3−アミノプロピルトリエ
トキシシランの水溶液)をスピン施用(Rpin−ap
plylBg) t、次いで加熱処理することによりボ
リイミr層上忙形成される。
1984年10月30日K Bsrger K発行され
た米国特許第4,480,009月において選択された
ポリシロキサンユニットが改良された付着性を有する保
護コーディングを形成する目的のためにポリイミド中に
組み込iれている。
有機シラン(即ちポリシロキサン)は平面の深い隔離溝
の形成において充填物質として用いられる1982年8
月15日にL8ve rらに発行された米国特許第42
22.792号もまた参照された(・。
l−かしながらポリイミドに改良を加える平面化特性を
一般に有するポリシロキサンが応力で誘起されたクラン
キングおよび比較約2しい付着性を示すことが見い出さ
れている。
最近、別の種類のオルガノシラン即ちシルセスキオキサ
ンポリマーが絶縁層として使用するため本技術に導入さ
れている。例えば1982年9月14日にTakeda
らに発行された米国特許第4、549.6 [19号に
おいて非アミノ含有ラダー型シルセスキオキサンポリマ
ーの硬化されたコーティングを単独でまたはシラノール
またはチタノール化合物とともに金属線層間の中間層絶
縁1層として採用する。
しかしながらTakedaらのアプローチには多数の問
題がある。例えばこのようなシステムは低温で貯えられ
て熟成を遅らせそしてそれらはこのような注意にもかか
わらず限定された保存寿命を有し、増大されたコストお
よび用途における工程管理問題を導くものである。また
シラノール出発物質のシステム中への添加は得られた層
の誘電特性を悪化する傾向がある。
1986年12月2日にNozueらに発行された米国
特許第4.626.556号にもまた非アミノ含有シル
セスキオキサンポリマー層の生成が開示されている。本
発明の方法によれば、eターンが描かれた絶縁層の生成
において照射によって橋かげ反応活性種を生成する化合
物との混合物において用いられるオルガノポリシルセス
キオキサンの生産において水をトリハロゲノシランと反
応させるものである。
1988年2月9日にC1C10dらに発行された米国
特許第4,725,978号において最初に変性ラダー
型シルセスキオキサンポリマーをシラノール溶液から生
成させ次いでそれを酸素プラズマ中で処理することによ
ってオルガノガラス絶縁層が生成される。
種々の理由のため前記技術の何れも完全に満足ゆくもの
とされていない。
この背景に基づいて本発明は改良された絶縁層を生成さ
せる方法を提供する。本発明によれハ水ヲ溶媒中でアミ
ノアルコキシシランモノマーと臨界的な水/モノマーの
モル比を用いて反応させることにより溶液を最初に製造
する。溶液を十分に熟成させた後、それを半導体のよう
なマイクロエレクトロニクスデバイスの表面のような好
適な表面上にコーティングしそして次いでコーティング
された表面を本質的に酸素を含有しない雰囲気中および
硬化されたラダー型シルセスキオキサンポリマーの層を
生成させるような条件・下で加熱する。本発明の実施に
おいて絶縁層が製造されるがそれは改良されたクラッキ
ング耐性を有する高度の平面化を満足ゆく誘電特性およ
び付着性をもって達成しうるものである。例えば改良さ
れた絶縁層は70%より多い形状的な工程を減少させそ
して同時に高いアスペクト比のサブミクロンのギャップ
を硬化されたボリイミPで通常見られるものと一般に等
価なまたはそれより少ない誘電定数および誘電正接を有
しながら350℃までの6つの連続的な熱アニール工程
を通してクラック生成を示すことなく埋めることができ
ることが見い出された。
本発明の方法によれば絶縁層の生成において低分子量の
オリゴマーの溶液が最初に製造される。これは水をアミ
ノアルコキシシランモノマーと溶媒中で反応させること
纜よって達成される。好適なアミノアルコキシシランモ
ノマー洗は下式: %式%() (式中R1は水素原子;好ましくは1〜5個の炭素原子
を有する飽和炭化水素残基またはアミン置換された飽和
炭化水素残基;またはフェニル基もしくはアルキル基が
好ましくは1〜5個の炭素原子を有するアルキル置換さ
れたフェニル基またはその誘導体であり。
R2は好ましくは2〜6個の炭素原子を有する飽和炭化
水素残基であり、そして R3は好ましくは1〜5個の炭素原子を有する飽和炭化
水素残基である) で示されるアミノトリアルコキシシランが含まれる。
またかかるアミノトリアルコキシシランの混合物オたは
かかるアミノトリアルコキシ7ランを1種もしくはそれ
以上と例えば下式:%式%() (式中R3は前記で定義したとおりであり、そして R4は飽和炭化水素残基、芳香族残基または基−(cH
z)nC6Hs (式中n = 1〜6であり炭化水素
残基は好ましくは2〜6個の炭素原子を含有する)を形
成するような芳香族残基に単原子側的に結合した飽和炭
化水素残基である) で下されるトリアルコキシシランとの混合物を用いるこ
とができろ。
好ましいアミノアルコキシシランモノマーには上記式(
A) (式中R1は水素原子または2もしくは3個の炭素原子
を有する飽和炭化水素残基またはアミン置換された飽和
炭化水素残基であり、 ■(2は3〜6個の炭素原子を有する飽和炭化水素残基
であり、そして R5は1〜4個の炭素原子を有する飽和炭化水素残基で
ある) で示されるアミノトリアルコキシシランが含まれる。ま
た好″ましくはかかる好ましいアミノトリアルコキシシ
ランの混合物である。
% K !E−4しい群のアミノアルコキシシランモノ
マーには下記のアミノトリアルコキシシラン即t>:r
−アミノプロピルトリメトキシシリン、r−アミノプロ
ピルトリエトキシシラン、N−β−(アミノエチル)−
r−アミノプロピルトリメトキシシリンおよびN−β−
(アミノエチル)−r−7ミノグロビルトリエトキシシ
ランが含まれる。
アミノアルコキシ7ランを溶解することができそして水
と混和しうるような好適な溶媒のいずれをも用いること
ができる。典型的な溶媒としては当業者には明らかな様
K例えばメタノール、エタノール、グロパノール、イソ
ブタノール、ブタノール、イソブタノール、イソアミル
アルコールナトのアルコール;セロソルブ例えばメチル
セロソルブ、ジグライム、ジオキサン、ブチルカルピト
ール、ジエチルエーテル、テトラヒドロフラン、アニソ
ールなどのエーテル;フェノールナトの芳香族アルコー
ル;エチV 7 りIJ コール、テトラメチレングリ
コール、グリセロールなどの多価アルコール;メチルエ
チルケトン、メチルイソブチルケトン%ジエチルケトン
などのケトンが挙げられる。好ましい溶媒にはメタノー
ル、エタノールおよびイソグロ・にノールが含まれる。
水とアミノアルコキシシラ/の反応を行うKあたって、
約1.3/1〜約17/1の範囲の臨界モル比の水/モ
ノマーが用いられる。好ましくは約14/1〜約1.6
/1そしてより好゛ましくけ約1.45/1〜約1.5
5/1の範囲のモル比の水/モノマーが用いられる。本
発明の特に好ましい実施態様においては約1.5/1の
モル比の水/モノマーが用いられる。
本発明によれば理想化されたまたは近理想化されたラダ
ー型シルセスキオキサンポリマー構造を生成させること
が望−ましい、アミノアルコキシシランと反応した水の
盆を臨界的に調節することにより理想構造に近づくこと
ができることは本発明の発見である。この点に関しても
し約t3/1より少ないモル比の水/モノマーを用いた
場合は、許容できない低平均分子針のポリマー生成物が
得られる。さらに得られたポリマーは加水分解的に不安
定でありそして湿気に感受性でありまた絶縁層は低下し
た電気的性質および不均一な厚みを示す。
一方、かなり多量の水を用いた場合の例えば水/モノマ
ーモル比が約t7/1を越えるときは枝分れポリマー生
成の発生が増大する。二次効果として減少された平均分
子量のポリマー生成物そして低下した電気的性質、より
低い熱安定性およびより大きい応力を示す最終硬化フィ
ルムの生成がみられる。
加えた水の量および反応性シラノール環の生成の調節を
容易にするために最初にアミノアルコキシシランモノマ
ーを非水性溶媒中で溶解しそして水/モノマーのモル比
が前記で定義したような臨界範囲内であるように所望量
の水を加えることが好ましい。一般に溶液濃度は広範囲
にわたって変化しうるが、好ましくはアミノアルコキシ
シラン1容量部あたり約2.0〜約50容量部の溶媒が
用いられる。
次に溶液を縮合反応に付して安定化させそしてラダー型
オリゴマーの生成を行なうのに十分な時間の間熟成させ
る。一般に熟成期間の長さは使用するアミノアルコキシ
シランおよび溶媒。
溶媒濃度、加えた水の量、温度などに応じて広く変化さ
せることができる。しかしながら典型的には熟成期間は
少なくとも約8時間であり、そして好ましくは約24〜
約72時間の範囲内である。もし溶液が十分に熟成され
ていない場合、必要な縮合反応は所望の理想化されたラ
ダー型シルセスキオキサンポリマー構造の起りうる生成
のために必要な程度までには進行しないであろう。
熟成溶液を次いで例えば半導体のようなマイクロエレク
トロニクスデバイスの表面のような好適な表面上にコー
ティングする。コーティングの施される表面の性質は熟
成溶液がそれに粘着する限りは臨界的でない。従って表
面は例えば有機絶縁層(例えばボリイミP)またはSi
。
8102 、5isN4 、At203のような無機基
質またはkl 、Cu 、Ti 、Cr%Wもしくは合
金のような一般の金属材料などであってもよい。
熟成溶液を慣用の方法でコーティングの施される表面上
に適用する。典型的にはそれは一般に約i、ooo〜約
15,000Xの範囲であるコーティングの所望の厚み
に応じて約2,000〜5. OOOrpmの範囲内の
スピン速度で所望の表面上にスピンされる。
熟成溶液の適用後、層を加熱してラダー型シルセスキオ
キサンポリマーの生成を行なう。実際の硬化条件すなわ
ち温度、圧力および時間は広範囲にわたって変化するこ
とができそしてこれは一般に使用するアミノアルコキシ
シラン、水/モノマー比、生成する硬化層の所望の厚み
および当業者に明らかな他の要因に依存するものである
。°しかしながら一般に大気圧下で約30〜約120分
間約150℃を超えた温度が典型的なものである。
本発明の方法を行なうための好ましい実施態様において
加熱処理が大気圧下一連の工程において達成される。こ
のようにして層を約85〜110℃の温度にさらして溶
媒を除去し次いで連続的に温度を約200℃を超えて増
加させて最終硬化層を生成させる。
しかしながら加熱処理は本質的忙酸素を含まない雰囲気
中で達成しなければならない。一般に酸素ガスまたは他
の酸素含有物質の濃度は約10 ppmより小さいもの
でなくてはならない。
さもなければポリマーは酸素と反応して一810H基を
生成し、これは次にポリマーマトリックス全体にわたる
水の拡散そしてシラノールの生成を触媒する。そしてポ
リマー中のシラノール官能価の存在は誘電特性の低下を
引き起こし例えば誘電定数および誘電正接を増大させる
という点でこのことは望ましくないものと考えられる。
加うるに加熱処理工程が本質的に酸素を含まない雰囲気
中で行なわれないならばポリマーの収縮が硬化中に生じ
て固有のフィルム応力が増大しそしてクラッキング耐性
がより低くなる。
その上もし実質的量の酸素が加熱処理工程中に存在する
ならば慣用の現像液による攻撃に対する層の耐性が低下
する。このことはその後慣用のレジストを適用し、露光
しそして例えばアルカリ展開液を用いて展開することに
より層を・ゼターン化することが望まれる場合に重要な
こととなり5る。
本発明に従って生成したラダー型シルセスキオキサンポ
リマーは1.5/1の理想比に近いO/Si比分有する
。さらに硬化ポリマー生成物は比較的高い有機含量(C
十N)を有しそれは一般に約25%を超えるものであり
、より普通には少なくとも約50%そして好ましくは少
なくとも約70%である。
このように例えば半導体の処理への応用(semico
nductor  processing appli
cation)のような広範囲にわたる用途を有する改
良された絶縁層が達成される。本発明の絶縁層は付着性
の開端を伴なうことなく、慣用的に用いられるボリイミ
Yより高められた平面化特性を示すものである。さらに
それは所望の電気的性質を与えながら熱的に安定であり
そしてクラッキング耐性であることが見い出されて−・
る。
本発明の方法を行なう際しこ起こる一般反応は理論的に
これに束縛されるものではないが、下記に示すように概
略することができると考えられる。
一般反応においてアミノアルコキシシランはアミノトリ
アルコキシシランR+HN−R2−si(oR3)。
で表わされそしてメタノールは溶媒として示さOH (“l”) OH + R+HN−R2−8i−0亀 OH (’II’) +3RsOH 生成物N″は次の縮合反応においてジオール“11′よ
りもかなり反応性が低いことに注目すべきである。従っ
て生成物“ビの縮合は顕著な生R1HN−R2−3i−
0玲 OH “T2(OH)〆 である。次いで後者を生成物″ビと自由に反応0H RlHNRz−8i −0 R+HNR2−8i −0 OH OH −5i−R2−NHR+ 0         +R50H −5i−R2−NHRl OH (“T4(OH)4”) させて下記の反応(5)を経てジオール1■2を生成さ
せる。
(1ビ) (”II’)     O R+HNR2−8i−0−81−R2−NHRlo  
   0 RlHNRz−8L−0−8i−R2−NHR1RlH
NRz−8i−0−81−R2−N’HR10HOH 化合物種T4の二量化により化合物種T8およびR20
の網状生成物が生成することに注目すべき+  R30
H さらに有意な量での・ジオール“■1の生成は反応シー
ケンス(2)〜(4)の繰返しをもたらすものと考えら
れる。8fiのシロキサン環を組み込んだ化合物種のシ
ラン1ラダーポリマー1の生成は提唱した一連のシラノ
ール縮合反応の主要な結果であることがわかる。さらに
化合物種で4−およびT8−シラノールの縮合が反応混
合物の熟成の間に起こってより高次のオリゴマーまたは
かかるオリゴマーの混合物となるであろう。熟成期間の
間の溶液中のオリゴマー化の程度は例えば選択するアミ
ノアルコキシシランモノマーおよび溶媒の特有の性質、
温度、水/モノマーのモル比、汚染物の調節などの多数
の要因に依存することは理解されよう。
熟成溶液を好適な表面上にコーティングしそして過剰の
溶媒を除去した後さらに高次のオリゴ0マー生成が起こ
ることもまた考えられる。溶液のコーティングを施した
後そしてその後の熱硬化の間に重縮合が劇的に進行して
安定で、よく整列されたラダー型シル七スキオキサンポ
リマーが生成するであろう。
下記の実施例は本発明の詳細な説明するために用意した
ものである。実施例中に明記されたすべての操作は1ク
ラス100”のクリーンルーム環境下で実行されそして
その相対湿度は50%未満に調節された。
実施例 1 172d分量の乾燥(<0.01%R20)メタノール
を清浄な乾燥したナルゲン(ポリプロピレン)ボトル中
に移した。43ゴ分量の高純度1)3−アミノプロピル
トリエトキシシラン2)をメタノールに加えそして漏液
をキャップして雰囲気への曝露を制御しながら完全に混
合した。次いで5.00−分量の脱イオン化された蒸留
水をシラン/メタノール溶液にぐるぐる回しながらゆっ
くりと加え、ボトルを密閉しそして混合物を10〜20
秒間激しく振とうした。密閉した容器を乾燥(窒素でパ
ージした)雰囲気下約48時間室温で静置(すなわち“
熟成′)シた。熟成溶液を最小の大気曝露を確実にする
条件下で0.2μのポリプロピレンフィルターを用いて
ろ過した。
約10−の熟成したこのろ過溶液を10の(直径)のシ
リコン基板のウェハーにこの基板の表面上にこの基板の
表面領域の有効的には80〜100%をカバーするよう
にポイントオブユース(poinb−of−use)の
0.2μフイルターを通して直接排出して加えた。
1)モノマー含l:)99.5%(ガスクロマトグラフ
ィー)および総イオン濃度<5ppm。
2)ユニオンカーバイP社から“A1100″トイう商
品名で商業的に入手1−うる。
施用後(pos t−applY)の約10秒の“停止
時間″(静止状態)の後、ウニ・・−をMTIスピン−
アプライツール(spin−applyもool、 M
TI社製)でスピン加速した。加速を約40Orpm 
7秒に調節して約3.ODOrpmの最終スピン−スピ
ードとし、その最終スビーPを約25秒間維持した。
ウェハーをおおよそのホットプレート曝露(hot−p
late exposure)を与えるMTIホットプ
レー ト(MTI社製゛)に移しそして空気巾約105
℃の温度で12分間焼付けて過剰の溶媒を除去した。次
いでウェハーを石英キャリヤーに移し、そして石英ファ
ーネスチューブを備えておりそしてキャリヤーのチュー
ブへの出入動作を粒子状の汚染物が最小になるように調
節するべくデデインされた自動化された片持トランスフ
ァー機構を有するCorso−Gray炉中に入れた。
炉内の一連の温度帯域(下表に示す)を通してキャリヤ
ーを移動させるために!ログラムを使用した。
オーブン硬化の間中ろ過して直径が0.2μより大きい
粒子を除去した乾燥窒素を流し、温度が150℃より高
いすべての温度帯においてチューブの酸素含有量を10
 ppo1未満1で調節することにより基板の酸化を最
小限にした。オーブンチューブを通してのランプシーケ
ンスは下記に示すとおりである。
帯 域   温度(U   時間(8)6     2
80      i 08     350     
5O N2中で(全部で)100分のオーブン硬化後、キャリ
ヤーをN2を流しながら最初の帯域(95℃)まで戻し
、そこでキャリヤーおよび基板を150℃より低い温度
まで冷却し、その温度で基板を炉から取り出した。
上記の操作により偏光解析法で測定して約4800Xの
厚みの硬化シルセスキオキサンフィルムが生成し、そし
てFTIRで測定して有意なバルク1ラダー型”構造を
有するシルセスキオキサンポリマーの特徴を含んだ赤外
線スペクトルが示された。
標準的なMOS−型基板モニターを用いてフィルムの誘
電特性を測定した。絶縁破壊(dielec tric
breakdown)は> 6 MY/cyであり、誘
電定数は約6.4(I MIHz)でありモして誘電正
接は0.1 (I MHz )であった。固有フィルム
応力はテンサイルQen−sixe)で、そしてTro
pel光学平面度テスターで測定して〈108ダイン/
L:rn2であった。
実施例 2 162m1分量の乾燥(<0.01%H20)メタノー
ルを清浄な乾燥ナルゲン(ポリプロピレン)ボトル中に
移した。40.6mノ分景の高純度1)N−β−アミノ
エチル−r−アミノプロピルトリメトキシシラン2)を
メタノールに加えそして溶液をキャップして雰囲気への
曝露を制御しながら完全に混合した。次いで5.00d
分量の脱イオン化された蒸留水をシラン/メタノール溶
液にぐるぐる回しながらゆっくりと加えボトルを密閉し
そして混合物を10〜20秒間激しく振とうした。
密閉した容器を乾燥(窒素でパージした)雰囲気下約4
8時間室温で静置(すなわち“熟成″)した。熟成溶液
を最小の大気曝露を確実にする条件下で0.2μのポリ
プロビレ/フィルターを用いてろ過した。
約10−の熟成したこのろ過溶液を10cm(直径)の
シリコン基板のウェハーにこの基板の表面上にこの基板
の表面領域の有効的には80〜100%をカバーするよ
うにポイントオブユースの0.2μフイルターを通して
直接排出して加えた。
1)モノマー含量〉995%(ガスクロマトグラフィー
)および総イオン濃度<5ppm。
2)ダウコーニング社から”Z6020’という商品名
で商業的に入手しうる。
施用後の約10秒の“停止時間″(静止状態)の後ウェ
ハーをConvacアプライ−ベークツール(appl
y−bake F、ool)でスピン加速した。加速を
約400 rpt、 7秒に調節して約3.OOOrp
mの最終スビンースビーrとしその最終スヒ−)Fヲ約
25秒間維持した。
ウェハーをおおよそのホットプレート曝露を与えるベー
クトラック(bake track)に移し、そして空
気巾約100℃の温度で10分間焼付けて過剰の溶媒を
除去した。次いでウエノ・−を石英キャリヤーに移し、
そして石英ファーネスチューブを備えており、そしてキ
ャリヤーのチューブへの出入動作を粒子状の汚染物が最
小になるように調節するべくデデインされた自動化され
た片持トランスファー機構を有するCorso−Gra
y炉中に入れた。プログラム炉内の一連の温度帯域(実
施例1の表に記載された)を通してキャリヤーを移動さ
せるためにプログラムを使用した。オーブン硬化の間中
ろ過して直径が0.2μより大きい粒子を除去した乾燥
窒素を流し、温度力150℃より高いすべての温度帯に
おいてチューブの酸素含有量を1o ppm未満まで調
節することにより基板の酸化を最小限にした。
N2 中で(全部で)100分のオーブン硬化後、キャ
リヤーをN2を流しながら最初の帯域(95℃)まで戻
し、そこでキャリヤーおよび基板を150℃より低い温
度まで冷却しその温度で基板を炉から取り出した。
上記の操作により偏光解析法で測定して約7800Xの
厚みの硬化シルセスキオキサンフィルムが生成し、そし
てFTIRで測定して有意なバルク1ラダー型“構造を
有するシルセスキオキサンポリマーの特徴を含んだ赤外
線スペクトルが示された。
標準的なMOS −i基板モニターを用いてフィルムの
誘電特性を測定した。誘電定数は約3.4(I MHz
)でありセして誘電正接は0.1 (I MHz )で
あった。固有フィルム応力はテンサイルで、そしてTr
opel光学平面度テスターで測定して<108ダイン
/ cm2であった。
以上本発明の詳細な説明したが、本発明はさらに次の実
施態様によってこれを要約して示すことができる。
1)水を溶媒中でアミノアルコキシシランモノマーと反
応させて該溶媒中の低分子量のオリゴマーの溶液を形成
させ(該反応は水/モノマーのモル比で約1.3/1〜
約t7/1の範囲を採用することによって達成される)
;縮合反応を安定化させるのに十分な時間該溶液を熟成
させ; 該熟成させた溶液の暦で表面をコーティングし;そして
本質的に酸素を含まない雰囲気中で硬化されたラダー型
シルセスキオキサンポリマーの眉を形成するような条件
下においてコーティングされた表面を加熱する、上記工
程からなる表面上に絶縁層を生成する方法3.2)反応
は水/モノマーのモル比で約1.4/1〜約1゜6/1
の範囲を採用することによって達成されるものである前
項1記載の方法。
5)反応は水/モノマーのモル比で約t4s/1〜約t
 55/1の範囲を採用することによって達成されるも
のである前項2記載の方法。
4)アミノアルコキシシランモノマーは下式(式中R1
は水素原子;1〜5個の炭素原子を有する飽和炭化水素
残基せたはアミノ置換された飽和炭化水素残基;フェニ
ル基またはアルキル基が1〜5個の炭素原子を有するア
ルキル置換されたフェニル基゛またはその誘導体であり
、 ■(2は2〜6個の炭素原子を有する飽和炭化水素残基
であり、そし゛〔 R5は1〜5個の炭素原子を有す6飽和炭化水素残基で
ある) で示されるアミノトリアルコキシシランjたはそのτ1
も合″吻であるAi1項1記載の方法。
5)溶媒はメタノール、エタノ−・ルおよびイソゾロノ
ぞノールからなるノ洋↓り選1尺き才]ろものである前
項1記載の方法。
6)アミノアルコキシシラン−←ツマ・−を最初に非水
性溶媒中に溶解して該溶媒中の千ツマー溶液を生成させ
、次いで水を該溶液に加えるものである前項1記載の方
法。
7)溶液を少なくとも約8時間の間熟成させるものであ
る前項1記載の方法。
8)コーティングされた表面は約150℃を越えて加熱
されるものである前項1記載の方法。
9)硬化されたシルセスキオキサンポリマーは少なくと
も約50%の有機含量を有するものである前項1記載の
方法。
10)非水性溶媒中でアミノトリアルコキシシランモノ
マーを溶解して該溶媒中のモノマー溶液を生成させ 〔このアミノトリアルコキシシランモノマーは下式 (式中R1は水素原子または2もしくは5個のミノ置換
された飽和炭化水素残基であり;R2は3〜6個の炭素
原イを有する飽和炭化水素残基であり;そして R3は1〜4個の炭素原子を有する飽和炭化水素残基で
ある)で示されるものまたはその混合物である〕 水を該溶液に水/モノマーのモル比で約1.4/1〜約
t6/1の範囲で加え; 縮合反応を安定化させるのに十分な時間該溶液を熟成さ
ぜ: 該熟成させた溶液の層で表面をコーティングし:そして
本質的に酸素を含せない雰囲気中で少なくとも約50%
の有機含量を有する硬化されたラダー型シルセスキオキ
サンポリマーの層を形成するような条件下においてコー
ティングされた表面を加熱する。
炭素原子を有する飽和炭化水素残基またはア上記工程か
らなる半導体デバイスの表面上に絶縁層を生成させる方
法。
11)約1.45/1〜約1.55/1の範囲の水/モ
ノマーのモル比が採用されるものである前項10記載の
方法。
1のアミノトリアルコキシシラ/モノマーはr−アミノ
デロビルトリメトキシシラン、r−アミノプロピルトリ
エトキシシラン、N−β−(アミノエチル)−γ−7ミ
ノグロビルトリメトキシシランおよびN−β−(アミノ
エチル)−r−7ミノゾロビルトリエトキシ7ランから
なる群より選択されるものである前項12記載の方法。
13)溶媒はメタノール、エタノールおよびプロ・々ノ
ールからなる群より選択され、溶液は約24〜約72時
間の間熟成され、そしてコーティングされた基板は約1
50℃を越えて加熱されるものである前項12記載の方
法。
14)反応は約1.5/1の水/モノマーのモル比を採
用することによって達成され、そして硬化されたシルセ
スキオキサンポリマーは少なくとも約70%の有機含量
を有するものである前項13記載の方法。
15)前項1記載の方法に従って製造された絶縁層。
16)前項10記載の方法に従って製造した絶縁層。
17)前項14記載の方法に従って製造した絶縁層。
特許出願人  インターナショナル・ビジネス・マシー
ンズ・コーポレーション

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)水を溶媒中でアミノアルコキシシランモノマーと反
    応させて該溶媒中の低分子量のオリゴマーの溶液を形成
    させ(該反応は水/モノマーのモル比で約1.3/1〜
    約1.7/1の範囲を採用することによつて達成される
    ); 縮合反応を安定化させるのに十分な時間該 溶液を熟成させ; 該熟成させた溶液の層で表面をコーティングし;そして
    本質的に酸素を含まない雰囲気 中で硬化されたラダー型シルセスキオキサンポリマーの
    層を形成するような条件下においてコーティングされた
    表面を加熱する、 上記工程からなる表面上に絶縁層を生成す る方法。 2)非水性溶媒中でアミノトリアルコキシシランモノマ
    ーを溶解して該溶媒中のモノマー溶液を生成させ 〔このアミノトリアルコキシシランモノマーは下式 ▲数式、化学式、表等があります▼ (式中、R_1は水素原子または2もしくは3個の炭素
    原子を有する飽和炭化水素残基またはアミノ置換された
    飽和炭化水素残基であり;R_2は3〜6個の炭素原子
    を有する飽和炭化水素残基であり;そして R_3は1〜4個の炭素原子を有する飽和炭化水素残基
    である)で示されるものまたはその混合物である〕 水を該溶液に水/モノマーのモル比で約1.4/1〜約
    1.6 /1の範囲で加え; 縮合反応を安定化させるのに十分な時間該 溶液を熟成させ; 該熟成させた溶液の層で表面をコーティングし;そして
    本質的に酸素を含まない雰囲気 中で少なくとも約50%の有機含量を有する硬化された
    ラダー型シルセスキオキサンポリマーの層を形成するよ
    うな条件下においてコーティングされた表面を加熱する
    、 上記工程からなる半導体デバイスの表面上 に絶縁層を生成させる方法。 3)上記請求項1に記載の方法に従つて製造された絶縁
    層。 4)上記請求項2に記載の方法に従つて製造された絶縁
    層。
JP1280030A 1988-11-28 1989-10-30 平面化ラダー型シルセスキオキサンポリマー絶縁層の形成方法 Granted JPH02178330A (ja)

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