JPH02183152A - 感光体検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は複写機、プリンタ等に用いられる感光体の検査
装置に関する。

〔従来の技術〕

複写機、プリンタ等に用いられる感光体は、感光体表面
にキズがあると、感光体表面電位にばらつきが生じ、画
質不良の原因となる。また、表面電位が適当な状態でな
いと、満足な画像濃度が得られない等の問題が生じる。

このように感光体表面電位の状態は極めて重要であるか
ら、感光体の品質検査を行うに当たっては、該感光体の
表面電位を評価する必要がある。

そして、この評価によって、感光体の良否を知る必要が
ある。

このように感光体表面電位の評価をとおして感光体の良
否を検査する装置は、例えば特開昭５９−４９５７３号
公報に見られるように、従来から知られており、該装置
は、感光体表面電位を感光体検査用電位針のプローブに
おける検出電極で検出することにより感光体表面状態を
知ることができるように構成されている。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかし、かかる電位計プローブの検出電極は、その寸法
（断面径）が固定されており、検出能力が自ずと限られ
ている。

例えば、検出電極径が小さい場合には、検出範囲が狭く
なり、狭くて電位差が大きいビンホールのような微細な
キズの検出には適しているが、プローブ出力が小さいた
め電位差に対する感度が悪く、従って感光体形成時の感
光層塗布むらによって生じるような広くて電位差が小さ
いキズの検査には適していない。

逆に、検出電極径が大きい場合には、広くて電位差が小
さいキズの検出は可能であるが、ピンホールのような微
細なキズの検出には適していない。

そこで本発明は、ピンホールのような微細なキズ、広く
て電位差が小さいキズを含め、従来検査装置よりも種々
の感光体上のキズを、検出することができる感光体検査
装置を提供することを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

本発明はこの目的にしたがい、感光体表面電位を感光体
検査用電位計によって測定することにより感光体表面状
態を検査する感光体検査装置において、前記電位計のプ
ローブが異なる検出能力を有する複数の電極を一組とす
る組電極を少なくとも一つ備えており、該各組電極にお
いて個々の電極は感光体の被検査表面の同じ位置に順次
臨むように配置されていることを特徴とする感光体検査
装置を提供するものである。

〔作　用〕

本発明感光体検査装置によると、感光体の被検査表面の
個々の部分は、該感光体の回転にともなって検出能力の
異なる複数の検出電極により順次検査を受ける。

〔実　施　例〕

以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。

第１図は一実施例の概略断面を示している。

この感光体検査装置は、ケーシング１００を備えており
、さらに、該ケーシング内の定位置に被検査感光体１０
を支持して回転させるための感光体支持装置９を備えて
いる。

また、支持装置９に支持される感光体１０の周囲に臨む
ように、帯電チャージャｌ、絶対電位計２、露光ランプ
３、絶対電位計４、検査用電位計５０のプローブ５、転
写チャージャ６、分離チャージャ７およびイレーザラン
プ８が順次配置されている。

第１図および第３図に示すように、感光体支持装置９の
構造および該装置による感光体の支持状態は次のとおり
である。

該装置９はケーシング１００を貫通してケーシング内へ
突出するシャフト９１を有する。シャツ）９１はケーシ
ング１００の外側における部分がベルト伝動装置９７を
介してモータ９８によって駆動される。

シャフト９１のうちケーシング１００内に突出した細径
部分９１１の根部には、シャフト９１と同心の円形チャ
ック部材９２が嵌合されており、該部材の外周に設けら
れた段部９２１に被検査感光体１０の端部１０１が脱離
可能に嵌められる。

チャック部材９２の中央部には、シャフト９１と同心で
、シャフト細径部９１１に外嵌する円筒体９３の端部９
３１が片持ち支持されている。

感光体１０がチャック部材９２に嵌められたあと、シャ
フト細径部９１１の自由端部９１１ａにはもう一つのチ
ャック部材９４が嵌められ、該チャック部材の中央部ね
じ部９４１が円筒体９３端部の雌ねじ部９３２に取り外
し可能に係合される。

また、同時にチャック部材９４の外周段部９４２に感光
体１０の端部１０２が嵌まる。

最後にボルト９５が、チャック部材孔からシャフト細径
部９１１端の雌ねじ孔９１１ｂにねじ込まれ、緊締され
る。

・かくして被検査感光体１０はケーシング内の定位置に
支持され、モータ９８にて矢印六方向に回転駆動される
。

なお、９６は感光体１０の内面に接触する絶縁破壊用ピ
ンである。

前述の絶対電位計２．４はそれぞれ、グランドを零とし
た場合の感光体表面の絶対電位をモニタするためのもの
である。

前記検査用電位計５０は直流増幅型表面電位計群からな
り、図示例のものは、第２図から判るように、その電位
計プローブ５が複数の組電極５Ａを備えている。

電位計プローブ５は例えばローラテーブル５０１のよう
な案内手段によって、感光体１０の回転軸線方向に移動
可能であり、プローブに連結した雌ねじ部５０′２にね
じ棒５０３を係合させ、該ねじ棒をモータ５０４にて駆
動するようにした駆動装置５００により駆動される。

各組電極５Ａは検出電極５ａとその下方の検出電極５ｂ
とからなっている。プローブ５全体としてみると、電極
５ａ群および電極５ｂ群はそれぞれ、感光体１０の回転
軸線方向に実質上平行に等間隔！で配列されている。

また、各組電極において上下の電極５ａ、５ｂは、感光
体ＩＯを回転させつつプローブ５をその駆動手段５００
にて感光体回転軸線方向に移動させつつ検査を行う際に
、第２Ａ図に示すように、上側電極５ａの走査ラインＬ
上に下側電極５ｂが位置するように配置されている。こ
の配置関係によって、感光体１０の被検査面の個々の部
分は、上側電極５ａによって検査されたのち、下側電極
５ｂによって検査される。

本実施例の場合、上側電極５ａの直径は１ｍｍであり、
下側電極５ｂの直径は０．５ｍｍである。

電ｉ５ａおよび５ｂの特性を比較すると、第４図および
第５図のようになる。

すなわち、径の大きい電極５ａは、分布特性の広がりが
大きく、検出範囲が広く、出力も太き（、Ｓ／Ｎ比が良
好なので感度がよい。径の小さい電極５ｂは、検出範囲
は狭く、出力も小さい。

感光体表面上のキズには小さいピンホールのようなキズ
から大きいもや状のキズまで種々あるが、本実施例によ
ると、比較的面積が大きく、電位さの小さい浅いキズは
感度の良い電極５ａによって検出され、比較的面積が小
さく、電位差の大きいピンホールのような微細なキズは
電極５ｂによって検出される。また、大きく、深いキズ
は電極５ａ、５ｂの双方によって検出される。

以上のとおりであるから、モータ９８により感光体１０
を図上矢印Ａ方向に定位置で回転させつつ、帯電チャー
ジャ１、露光ランプ３、転写チャージャ６、分離チャー
ジャ７およびイレーザランプ８を作動させるとともに、
プローブ５を少なくとも隣合う組電極５Ａ間距離ｌを駆
動装置５００で駆動させることにより、感光体１０の被
検査表面の各部は上側の電極５ａ群および下側電極５ｂ
群の双方によって検査され、感光体表面上の種々のキズ
の有無について検査される。

本発明は前記実施例に限定されるものではなく、他にも
様々の態様で実施することができる。

前記実施例では上側電極５ａおよび下側電極５ｂが一つ
のプローブ５に一体的に組み込まれているが、プローブ
５を第６図に示すように、電極５ａを有する小プローブ
５ａＳ、電極５ｂを有する小プローブ５ｂＳを上下２段
に配置して構成してもよい。

また、前記実施例では電極５ａおよび５ｂからなる組電
極５Ａは複数組備えられているが、これは−組であって
もよい、この場合には、この−組で感光体の被検査表面
全域を検査することになる。

また、前記実施例では各組電極５Ａは２種類の電極５ａ
、５ｂを有するのみであるが、さらに異なる検出能力を
有する電極を電極５ａの上方、電極５ｂの下方、または
電極５ａと５ｂの間に配置してもよい。第６図に示すプ
ローブの場合には、例えば異なる能力の小プローブ５ｃ
Ｓを適宜付加することができる。

〔発明の効果〕

本発明によると、感光体表面電位を感光体検査用電位計
によって測定することにより感光体表面状態を検査する
タイプの感光体検査装置であって、ピンホールのような
微細なキズ、広くて電位差が小さいキズを含め、従来検
査装置よりも種々の感光体上のキズを検出することがで
きる感光体検査装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図から第３図は本発明の一実施例を示すもので、第
１図は全体の概略断面図、第２図は電位計プローブの斜
視図、第２Ａ図は各組電極における上下電極の位置関係
を示す図、第３図は感光体支持装置の一部の断面図であ
る。第４図および第５図は上下電極の特性説明図である
。第６図は本発明の他の実施例における電位計の構成を
示す図である。 ｌＯ・・・感光体、 ５０・・・検査用電位計、 ５・・・電位計プローブ、 ５Ａ・・・組電極、 ５ａ、５ｂ・・・検出電極、 ５ａＳ、５ｂＳ、５ｃＳ＝小プローブ。 出　願　人　ミノルタカメラ株式会社

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）感光体表面電位を感光体検査用電位計によって測
   定することにより感光体表面状態を検査する感光体検査
   装置において、前記電位計のプローブが異なる検出能力
   を有する複数の電極を一組とする組電極を少なくとも一
   つ備えており、該各組電極において個々の電極は感光体
   の被検査表面の同じ位置に順次臨むように配置されてい
   ることを特徴とする感光体検査装置。