JPH0218791A - 不揮発性メモリ制御回路 - Google Patents
不揮発性メモリ制御回路Info
- Publication number
- JPH0218791A JPH0218791A JP63167958A JP16795888A JPH0218791A JP H0218791 A JPH0218791 A JP H0218791A JP 63167958 A JP63167958 A JP 63167958A JP 16795888 A JP16795888 A JP 16795888A JP H0218791 A JPH0218791 A JP H0218791A
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- volatile memory
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- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 17
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は不揮発性メモリ制御回路に関し、特に新たな情
報による書込みが可能な不揮発性メモリを制御する不揮
発性メモリ制御回路に関する。
報による書込みが可能な不揮発性メモリを制御する不揮
発性メモリ制御回路に関する。
従来、マイクロプロセッサシステムの不揮発性メモリと
しては、バッテリバックアップを行っているRAMまた
は電気的に新たな情報の書込みが可能な不揮発性メモリ
であるEEPROMが使用され、これらに電源を切断し
ても記憶していることが必要な情報をマイクロプロセッ
サから書込んで保存している。
しては、バッテリバックアップを行っているRAMまた
は電気的に新たな情報の書込みが可能な不揮発性メモリ
であるEEPROMが使用され、これらに電源を切断し
ても記憶していることが必要な情報をマイクロプロセッ
サから書込んで保存している。
しかし、前者のバッテリバックアップを行っているRA
Mを使用する上述した従来の不揮発性メモリは、バッテ
リの寿命に限界があり、維持管理に手間がかかつて高価
になるという欠点がある。
Mを使用する上述した従来の不揮発性メモリは、バッテ
リの寿命に限界があり、維持管理に手間がかかつて高価
になるという欠点がある。
また、後者のE E P ROMを使用する従来の不揮
発性メモリは、書込みを行う回数に制限があり、あまり
頻繁にマイクロプロセッサによる書込みを行うと使用で
きなくなるという欠点がある。
発性メモリは、書込みを行う回数に制限があり、あまり
頻繁にマイクロプロセッサによる書込みを行うと使用で
きなくなるという欠点がある。
本発明の目的は、EEPROMなどの不揮発性メモリに
対する新たな情報による書込みを、装置電源が切断され
るときにのみ行うことによって、書込みを行う回数を少
なくして不揮発性メモリに十分の寿命を保障することが
できる不揮発性メモリ制御回路を提供することにある。
対する新たな情報による書込みを、装置電源が切断され
るときにのみ行うことによって、書込みを行う回数を少
なくして不揮発性メモリに十分の寿命を保障することが
できる不揮発性メモリ制御回路を提供することにある。
本発明の不揮発性メモリ制御回路は、
(A>電源が投入されているときには、記憶している情
報の読出しと新たな情報による書込みとが行えるととも
に、電源を切断しても記憶している情報を継続して保存
することができる不揮発性メモリ、 (B)揮発性メモリを内蔵し、電源を投入後に酵記不揮
発性メモリの内容を読出して前記揮発性メモリに書込み
、前記揮発性メモリの内容を使用してプログラム処理を
実行するマイクロプロセッサシステム、 (C)電源が切断されることを検出して、前記不揮発性
メモリに前記マイクロプロセッサシステム内の前記揮発
性メモリの内容を退避させるメモリ退避信号を送るとと
もに、少なくともその退避動作が終了するまで前記不揮
発性メモリが動作する電源を供給するメモリ退避信号発
生回路、 を備えてj:IA成されている。
報の読出しと新たな情報による書込みとが行えるととも
に、電源を切断しても記憶している情報を継続して保存
することができる不揮発性メモリ、 (B)揮発性メモリを内蔵し、電源を投入後に酵記不揮
発性メモリの内容を読出して前記揮発性メモリに書込み
、前記揮発性メモリの内容を使用してプログラム処理を
実行するマイクロプロセッサシステム、 (C)電源が切断されることを検出して、前記不揮発性
メモリに前記マイクロプロセッサシステム内の前記揮発
性メモリの内容を退避させるメモリ退避信号を送るとと
もに、少なくともその退避動作が終了するまで前記不揮
発性メモリが動作する電源を供給するメモリ退避信号発
生回路、 を備えてj:IA成されている。
次に本発明の実施例について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の不揮発性メモリ制御回路の一実施例を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
第1図の不揮発性メモリ1は、E E P ROMであ
り、電源が投入されているときには、記憶している情報
の読出しを行うことができるとともに、書込みモードを
選択することにより、新たな情報による書込みを行うこ
とができる。
り、電源が投入されているときには、記憶している情報
の読出しを行うことができるとともに、書込みモードを
選択することにより、新たな情報による書込みを行うこ
とができる。
また、不揮発性メモリ1は、電源を切断しても記憶して
いる情報を継続して保存することができる。
いる情報を継続して保存することができる。
一方、マイクロプロセッサシステム2は、E E F)
ROMである不揮発性メモリ1に一対一に対応するR
、 A Mである揮発性メモリ2−1を内蔵し、電源を
投入後に揮発性メモリ1へ、アドレス信号aおよび制御
信号Cを送って、不揮発性メモリ1の内容を読出して、
データ信号すを受けて揮発性メモリ2−1に書込み、そ
の揮発性メモリ2−1の内容を使用してプログラム処理
を実行している。
ROMである不揮発性メモリ1に一対一に対応するR
、 A Mである揮発性メモリ2−1を内蔵し、電源を
投入後に揮発性メモリ1へ、アドレス信号aおよび制御
信号Cを送って、不揮発性メモリ1の内容を読出して、
データ信号すを受けて揮発性メモリ2−1に書込み、そ
の揮発性メモリ2−1の内容を使用してプログラム処理
を実行している。
また、電源動作検出回路3は、装置電源投入時に定電圧
V ccの立上がり、および装置電源切断時に定電圧y
ccの立下がりを素早く検出して、それぞれ立上かり
および立下がりを行う電源動作検出信号dを発生して、
マイクロプロセッサシステム2およびメモリ退避信号発
生回路4に送っている。
V ccの立上がり、および装置電源切断時に定電圧y
ccの立下がりを素早く検出して、それぞれ立上かり
および立下がりを行う電源動作検出信号dを発生して、
マイクロプロセッサシステム2およびメモリ退避信号発
生回路4に送っている。
第2図は電源動作検出回路3の一例を示す回路図である
。
。
また、第3図は各信号の動作波形を示すタイムチャート
である。
である。
第2図において、ツェナダイオードD1は、電源動作検
出信号dを発生させるための基準電圧VRsr□の設定
用であり、第3図に示すように、電源スィッチのオンを
行った装置電源投入時に定電圧V ccが基準電圧V
Rer2を越えるまでは、ツェナダイオードD1がオフ
のため、トランジスタQ2のベースに抵抗R4,R5を
通じて接地電位が印加されるので、トランジスタQ2は
オフとなり、このため、トランジスタQ1のベースに抵
抗R1を通じてエミッタと同じV。。が印加されて、ト
ランジスタQ1もオフとなり、電源動作検出信号dは抵
抗R3を通して接地電位となる。
出信号dを発生させるための基準電圧VRsr□の設定
用であり、第3図に示すように、電源スィッチのオンを
行った装置電源投入時に定電圧V ccが基準電圧V
Rer2を越えるまでは、ツェナダイオードD1がオフ
のため、トランジスタQ2のベースに抵抗R4,R5を
通じて接地電位が印加されるので、トランジスタQ2は
オフとなり、このため、トランジスタQ1のベースに抵
抗R1を通じてエミッタと同じV。。が印加されて、ト
ランジスタQ1もオフとなり、電源動作検出信号dは抵
抗R3を通して接地電位となる。
また、装置電源投入時に定電圧V c(Hが基準電圧V
R@y2を越えると、ツェナダイオードD1および)−
ランジスタQ2がオンになり、V ccが抵抗R1,R
2で分割されるので、トランジスタQ1もオンになり、
電源動作検出信号dは、素早く立上がり正電位になる。
R@y2を越えると、ツェナダイオードD1および)−
ランジスタQ2がオンになり、V ccが抵抗R1,R
2で分割されるので、トランジスタQ1もオンになり、
電源動作検出信号dは、素早く立上がり正電位になる。
一方、第3図に示すように、電源スィッチのオフを行っ
た装置電源切断時には、定電圧■。。が基準電圧VRe
r2より下がると、電源動作検出信号dは、素早く立下
がり接地電位となる。
た装置電源切断時には、定電圧■。。が基準電圧VRe
r2より下がると、電源動作検出信号dは、素早く立下
がり接地電位となる。
このため、マイクロプロセッサシステム2は、装置電源
投入時で、回路動作のために供給されている定電圧V
ccの立上がり時に、電源動作検出信号dが立上がるこ
とを検出して、初期化動作を行うことができる。
投入時で、回路動作のために供給されている定電圧V
ccの立上がり時に、電源動作検出信号dが立上がるこ
とを検出して、初期化動作を行うことができる。
次に、メモリ退避信号発生回路4は、装置電源切断時で
、回路動作のために供給されている定電圧VDDの立下
がりに先行して、電源動作検出信号dが立下がることを
検出し、素早くメモリ退避抑制信号eを立下げることが
できる。
、回路動作のために供給されている定電圧VDDの立下
がりに先行して、電源動作検出信号dが立下がることを
検出し、素早くメモリ退避抑制信号eを立下げることが
できる。
このため、メモリ退避信号発生回路4は、不揮発性メモ
リ1にメモリ退避抑制信号eを送ることにより、装置電
源投入時から稼働中には、不揮発性メモリ1のメモリ退
避動作を抑制し、装置電源切断時に素早くメモリ退避抑
制信号eを立下げるので、このメモリ退避抑制信号eの
立下げがメモリ退避信号を意味することとなる。
リ1にメモリ退避抑制信号eを送ることにより、装置電
源投入時から稼働中には、不揮発性メモリ1のメモリ退
避動作を抑制し、装置電源切断時に素早くメモリ退避抑
制信号eを立下げるので、このメモリ退避抑制信号eの
立下げがメモリ退避信号を意味することとなる。
また、メモリ退避信号発生回路4は、少なくともマイク
ロプロセッサシステム2内の揮発性メモリ2−1の内容
を退避させる退避動作が終了するまで、その不揮発性メ
モリ1が動作する定電圧VRAMを不揮発性メモリ1に
供給し2ている。
ロプロセッサシステム2内の揮発性メモリ2−1の内容
を退避させる退避動作が終了するまで、その不揮発性メ
モリ1が動作する定電圧VRAMを不揮発性メモリ1に
供給し2ている。
このため、不揮発性メモリ1は、マイクロプロセッサシ
ステム2から制御信号Cにより新たな情報を書込むため
の書込みモードを選択された状態で、メモリ退避抑制信
号eの立下がりを検出することにより、マイクロプロセ
・ソサシステム2に制御信号Cを送り、マイクロプロセ
ッサシステム2が揮発性メモリ2−1の内容を読出した
アドレス信号a、データ信号すおよび制御信号Cを受け
て、退避する新たな情報の書込みを行うことができる。
ステム2から制御信号Cにより新たな情報を書込むため
の書込みモードを選択された状態で、メモリ退避抑制信
号eの立下がりを検出することにより、マイクロプロセ
・ソサシステム2に制御信号Cを送り、マイクロプロセ
ッサシステム2が揮発性メモリ2−1の内容を読出した
アドレス信号a、データ信号すおよび制御信号Cを受け
て、退避する新たな情報の書込みを行うことができる。
第4図はメモリ退避信号発生回路4の一例を示す回路図
である。
である。
第4図に示すように、定電圧回路Z1は、高い定電圧V
DDを供給されて、メモリ退避信号発生回路・1に定電
圧■8AMを供給している。
DDを供給されて、メモリ退避信号発生回路・1に定電
圧■8AMを供給している。
また、ツェナダイオードD2は、メモリ退避抑制信月(
知3発生するための基準電圧Vユ1.の設定用であり、
第3図に示すように、装置電源投入時に定電圧VDDが
基準電圧VR,r+を越えるまでは、ツェナダイオード
D2がオフのため、トランジスクQ4カベースに抵抗R
8,R9を通じて接地電位が印加されるので、トランジ
スタQ4はオフとなり、この結果、トラ〉′ジスタロ3
のベースに抵抗R7を通じて、定電圧V RAMが供給
されるので、)〜ランジスタQ3はオンとなり、メモリ
退避抑制信号eは、抵抗R6を通して電源動作検出信号
(イが供給され、電源動作検出信号(」が正電位にな−
)でも、引き続き接地電位となっている。
知3発生するための基準電圧Vユ1.の設定用であり、
第3図に示すように、装置電源投入時に定電圧VDDが
基準電圧VR,r+を越えるまでは、ツェナダイオード
D2がオフのため、トランジスクQ4カベースに抵抗R
8,R9を通じて接地電位が印加されるので、トランジ
スタQ4はオフとなり、この結果、トラ〉′ジスタロ3
のベースに抵抗R7を通じて、定電圧V RAMが供給
されるので、)〜ランジスタQ3はオンとなり、メモリ
退避抑制信号eは、抵抗R6を通して電源動作検出信号
(イが供給され、電源動作検出信号(」が正電位にな−
)でも、引き続き接地電位となっている。
また、装置電源投入時に定電圧V。Dが基準電圧VFL
ar+を越えると、ツェナダイオードD2およびトラン
ジスタQ4がオンになり、トランジスタQ3はオフにな
るので、メモリ退避抑制信号eは、抵抗R6を通して電
源動作検出信号dの正電位が供給されることとなる。
ar+を越えると、ツェナダイオードD2およびトラン
ジスタQ4がオンになり、トランジスタQ3はオフにな
るので、メモリ退避抑制信号eは、抵抗R6を通して電
源動作検出信号dの正電位が供給されることとなる。
一方、装置電源切断時には、第3図に示すように、電源
動作検出信号dが素早く正電位から接地電位になるので
、メモリ退避抑制信号eも素早く正電位から接地電位と
なる。
動作検出信号dが素早く正電位から接地電位になるので
、メモリ退避抑制信号eも素早く正電位から接地電位と
なる。
次に、本実施例全体の動作を説明する。
まず、装置電源が投入されると、マイクロプロセッサシ
ステム2は、電源動作検出信号dが立上がることを検出
して、初期化動作を行う。
ステム2は、電源動作検出信号dが立上がることを検出
して、初期化動作を行う。
一方、不揮発性メモリ1は、初期状態で書込みモードが
選択されていないので、定電圧■□、が供給されたとき
、読出しが可能となるが書込みは行われない。
選択されていないので、定電圧■□、が供給されたとき
、読出しが可能となるが書込みは行われない。
そこで、マイクロプロセッサシステム2は、不揮発性メ
モリ1の内容を読出して、揮発性メモリ2−1に書込み
、その揮発性メモリ2−1の内容を使用してプログラム
処理を実行する。
モリ1の内容を読出して、揮発性メモリ2−1に書込み
、その揮発性メモリ2−1の内容を使用してプログラム
処理を実行する。
プログラム処理の中で、揮発性メモリ2−1への新たな
データの書込みが行われると、マイクロプロセッサシス
テム2は、不揮発性メモリ1の書込みモードを選択する
。
データの書込みが行われると、マイクロプロセッサシス
テム2は、不揮発性メモリ1の書込みモードを選択する
。
しかし、メモリ退避信号発生回路4のメモリ退避抑制信
号eが立上がっているので、メモリ退避動作は行われず
抑制されることとなる。
号eが立上がっているので、メモリ退避動作は行われず
抑制されることとなる。
最後に、装置電源が切断されると、メモリ退避信号発生
回路4のメモリ退避抑制信号eが素早く立下がるので、
メモリ退避動作が可能となった不揮発性メモリ1は、速
やかにマイクロプロセッサシステム2から送られた揮発
性メモリ2−1の内容を退避する。
回路4のメモリ退避抑制信号eが素早く立下がるので、
メモリ退避動作が可能となった不揮発性メモリ1は、速
やかにマイクロプロセッサシステム2から送られた揮発
性メモリ2−1の内容を退避する。
以上述べたように、本実施例の不揮発性メモリ制御回路
は、E E P ROMなどの不揮発性メモリに対する
新たな情報による書込みを、装置電源が切断されるとき
にのみ行うことによって、書込みを行う回数を少なくし
て不揮発性メモリに十分の寿命を保障することができる
。
は、E E P ROMなどの不揮発性メモリに対する
新たな情報による書込みを、装置電源が切断されるとき
にのみ行うことによって、書込みを行う回数を少なくし
て不揮発性メモリに十分の寿命を保障することができる
。
この結果、バッテリバックアップを行っているRAMを
使用しなくとも、本実施例の不揮発性メモリ制御回路は
、EEPROMなどの不揮発性メモリを使用して、マイ
クロプロセッサシステムで常時変化する情報を保存する
ことができる。
使用しなくとも、本実施例の不揮発性メモリ制御回路は
、EEPROMなどの不揮発性メモリを使用して、マイ
クロプロセッサシステムで常時変化する情報を保存する
ことができる。
以上説明したように、本発明の不揮発性メモリ制御回路
は、EEPROMなどの不揮発性メモリに対する新たな
情報による書込みを、装置電源が切断されるときにのみ
行うことによって、書込みを行う回数を少なくして不揮
発性メモリに十分の寿命を保障することができるという
効果を有している。
は、EEPROMなどの不揮発性メモリに対する新たな
情報による書込みを、装置電源が切断されるときにのみ
行うことによって、書込みを行う回数を少なくして不揮
発性メモリに十分の寿命を保障することができるという
効果を有している。
第1図は本発明の不揮発性メモリ制御回路の一実施例を
示すブロック図、第2図は電源動作検出回路の一例を示
す回路図、第3図は各信号の動作波形を示すタイムチャ
ー1・、第4図はメモリ退避信号発生回路の一例を示す
回路図である。 1・・・・・・不揮発性メモリ、2・・・・・・マイク
ロプロセッサシステム、2−1・・・・・・揮発性メモ
リ、3・・・・・電源動作検出回路、4・・・・・・メ
モリ退避信号発生回路、a・・・・・・アドレス信号、
b・・・・・・データ信号、C・・・・・・制御信号、
d・・・・・・電源動作検出信号、e・・・・・メモリ
退避抑制信号、Di、D2・・・・・・ツェナダイオー
ド、Ql、Q2.Q3.Q4・・・・・・トランジスタ
、R1,R2、R3,R4,R5,R6゜R7,R8,
R9−抵抗、V cc 、 V DD 、 V RAM
・・・・・・定電圧、V Refl 、V Rer2・
・・・・基準電圧、zl・・・・・・定電圧回路。
示すブロック図、第2図は電源動作検出回路の一例を示
す回路図、第3図は各信号の動作波形を示すタイムチャ
ー1・、第4図はメモリ退避信号発生回路の一例を示す
回路図である。 1・・・・・・不揮発性メモリ、2・・・・・・マイク
ロプロセッサシステム、2−1・・・・・・揮発性メモ
リ、3・・・・・電源動作検出回路、4・・・・・・メ
モリ退避信号発生回路、a・・・・・・アドレス信号、
b・・・・・・データ信号、C・・・・・・制御信号、
d・・・・・・電源動作検出信号、e・・・・・メモリ
退避抑制信号、Di、D2・・・・・・ツェナダイオー
ド、Ql、Q2.Q3.Q4・・・・・・トランジスタ
、R1,R2、R3,R4,R5,R6゜R7,R8,
R9−抵抗、V cc 、 V DD 、 V RAM
・・・・・・定電圧、V Refl 、V Rer2・
・・・・基準電圧、zl・・・・・・定電圧回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (A)電源が投入されているときには、記憶している情
報の読出しと新たな情報による書込みとが行えるととも
に、電源を切断しても記憶している情報を継続して保存
することができる不揮発性メモリ、 (B)揮発性メモリを内蔵し、電源を投入後に前記不揮
発性メモリの内容を読出して前記揮発性メモリに書込み
、前記揮発性メモリの内容を使用してプログラム処理を
実行するマイクロプロセッサシステム、 (C)電源が切断されることを検出して、前記不揮発性
メモリに前記マイクロプロセッサシステム内の前記揮発
性メモリの内容を退避させるメモリ退避信号を送るとと
もに、少なくともその退避動作が終了するまで前記不揮
発性メモリが動作する電源を供給するメモリ退避信号発
生回路、 を備えることを特徴とする不揮発性メモリ制御回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63167958A JPH0218791A (ja) | 1988-07-05 | 1988-07-05 | 不揮発性メモリ制御回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63167958A JPH0218791A (ja) | 1988-07-05 | 1988-07-05 | 不揮発性メモリ制御回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0218791A true JPH0218791A (ja) | 1990-01-23 |
Family
ID=15859197
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63167958A Pending JPH0218791A (ja) | 1988-07-05 | 1988-07-05 | 不揮発性メモリ制御回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0218791A (ja) |
-
1988
- 1988-07-05 JP JP63167958A patent/JPH0218791A/ja active Pending
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