JPH02190750A - はんだ付け検査装置 - Google Patents

はんだ付け検査装置

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JPH02190750A
JPH02190750A JP1133689A JP1133689A JPH02190750A JP H02190750 A JPH02190750 A JP H02190750A JP 1133689 A JP1133689 A JP 1133689A JP 1133689 A JP1133689 A JP 1133689A JP H02190750 A JPH02190750 A JP H02190750A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
signal
coordinate
outputs
signals
Prior art date
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Pending
Application number
JP1133689A
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English (en)
Inventor
Masahiko Nagao
政彦 長尾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔従来の技術〕 本発明は、はんだ付け検査装置に関し、特にプリント基
板にはんだ付けされたチップ部品やS。
PやQFP等の表面実装部品のはんだ付け状態の検査に
使用するのに適するはんだ付け検査装置に関する。
〔従来の技術〕
プリント基板にはんだ付けされたチップ部品やSOPや
QEP等の表面実装部品のはんだ付け状態を検査するた
めの従来のはんだ付け検査装置は、はんだ付け部に一定
の角度で光を照射する照明能と、そのはんだ付け部の画
像を撮影するカメラと、このカメラから送出される画像
からはんだ付け部からの反射光の有無を判定する判定部
とを備えて構成されている。
第3図は、このような従来のはんだ付け検査装置の一例
を示すブロック図である。第3図において、チップ部品
20は、その電極21がはんだ付けされてフィレット2
2が形成されている。照明23からは、照射光pがフィ
レット22に対して照射されている。カメラ24は、フ
ィレット22の画像を撮影し、その画像を判定部25に
対して画像信号qとして出力する0判定部25は、画像
信号qを入力し、その中に、極端に輝度が高い個所があ
るかないかを判断して照射光pの正反射光がカメラ24
に入射しているか否か判定し、正反射光がカメラ24に
入射していると判定したときは正常であり、そうでない
ときは欠陥であると判定している。
〔発明が解決しようとする課題〕 上述したような従来のはんだ付け検査装置は、カメラに
入射する正反射光の有無によってはんだ付け部の良否の
判定を行っているため、はんだ過多の欠陥のときにも正
反射光がカメラに入射して良品であると判定するため、
はんだ過多不良の検出ができないという欠点がある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明のはんだ付け検査装置は、検査対象のはんだ付け
部分に対して互いに異なる角度を有するように設けられ
て異なる波長の光を発射する第一および第二の照明と、
前記第一および第2の照明のそれぞれを点灯させる第一
および第二の照明駆動回路と、前記第一および第二の照
明からの光が前記検査対象の前記はんだ付け部分で反射
した反射光を入射してその画像を撮影するカラーカメラ
と、前記カラーカメラからのカラー画像信号を入力して
前記第一および第二の照明のそれぞれの波長の信号を分
離して出力するカラー分離回路と、前記カラー分離回路
で分離された第一および第二の画像信号を入力して2値
化を行ってそれぞれ第一および第二の2値画像信号とし
て出力する第一および第二の2値化回路と、前記第一お
よび第二の2値画像信号のそれぞれを入力して前記反射
光の座標を検出して第一および第二の座標信号を出力す
る第一および第二の座標検出回路と、前記第一および第
二の座標信号を入力してそれらの座標の差をとった値を
比較座標信号として出力する座標比較回路と、前記比較
座標信号を入力して検査結果の判定を行う判定回路と、
前記判定回路からの終了信号を入力して前記第一および
第二の照明駆動回路と前記カラー分離回路とに対して制
御信号を出力する制御回路とを備えている。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である0本
実施例は、チップ部品をはんだ付けしな場合の例である
第1図において、チップ部品1は、その電極2がプリン
ト基板3上のパッド4にはんだ付けされてはんだフィレ
ット(フィレット)5が形成されている。第一の照明6
と第二の照明7とは、それぞれ検査対象のフィレット5
に対して互いに異なる角度を有するように配設されて異
なる波長の光を発射する0本実施例では第一の照明6は
赤色の光を、第二の照明7は緑色の光を発射する。
第一の照明6は、第一の照明駆動回路8からの駆動信号
aによって点灯し、第二の照明7は第二の照明駆動回路
9からの第二の照明駆動信号すによって点灯する。第一
の照明6から発せられた赤色の照射光Cは、フィレット
5の表面で反射して反射光Cにとなり、第二の照明7か
ら発せられた緑色の照射光dは、フィレット5の表面で
反射して反射光dRとなる。カラーカメラ8は、反射光
CRおよび反射光dRを共に入射する位置に設けられて
おり、検査対象のはんだ付け部分を撮影する。カラーカ
メラ8から出力されるカラー画イ象信号eは、カラー分
離回路9に入力して赤色および緑色および青色の3色の
信号に分離される。このカラー分離回路9は、通常市販
されているデコーダ回路を用いて構成することができる
0本実施例では、照射光Cに対応した赤色画像信号f、
と、照射光dに対応した緑色画像信号fbとがカラー分
離回路9から出力され、それらはそれぞれ第一の2値化
回路10および第二の2値化回路11に入力する。
第一の2値化回路10および第二の2値化回路11は、
それぞれ入力した赤色画像信号f、および緑色画像信号
fbをあらかじめ設定しである2値化レベルによって2
値画像信号に変換し、それぞれを第一の2値画像信号g
1および第一の2値画像信号gbとして出力する。この
2値化レベルは、反射光cRまたは反射光dRが存在す
る場所が白色に、その他の場所が黒色になるように設定
する。第一の2値画像信号g1および第二の2値画像信
号gbは、それぞれ第一の座標検出回路12および第二
の座標検出回路13の入力する。
第一および第二の座標検出回路12および13は、入力
した第一または第二の2値画像信号g。
またはgbからそれぞれ対応する反射光CRおよび反射
光dRの場所に相当する白色の部分の座標を検出する。
第一の座標検出回路12からは第一の座標信号り、が、
第二の座標検出回路13からは第二の座標信号hbが出
力される。白色の部分の座標の検出は、例えば全エリア
中の白画素の縦方向および横方向のそれぞれ平均値を求
めることで簡易的に求めることができる。なお、フィレ
ット5が正常に形成されていない場合は、反射光cRま
たはdRがカラーカメラ8に入射しないため、第一の2
値画像信号g、または第二の2値画像信号gbには白色
の部分が含まれない、従って、この場合は、第一の座標
信号り、または第二の座標信号hbは白色の部分が含ま
れていないという意味の信号となるようにしておく、こ
れは、例えば発生し得ない大きな値を入れておくことで
実現できる。
座標比軸回路14は、第一の座標信号り、と第二の座標
信号hbとを入力し、これらから座標の差をとってその
値を示す比較座標信号iを出力する。第一の座標信号り
、または第二の座標信号hbが、白色の部分が含まれて
いないという意味の信号であれば、比較座標信号iも白
色の部分が含まれていないという意味の信号にしておく
。判定回路15は、比較座標信号iを入力して反射光c
Rの位置が反射光dλの位置よりもチップ部品1の電極
2に近いことを示していれば、はんだの盛り過ぎである
としてはんだ不良と判定する。比較座標信号iが白色部
分が含まれていないという意味の信号であれば、はんだ
不良として判定する。
判定回路15は、判定動作が終了すると判定終了信号j
を制御回路16に対して出力する。制御回路16は、終
了信号jを入力して次のチップ部品の検査のなめに第一
の照明駆動回路8に第一の点灯タイミング信号に1を、
第二の照明駆動回路9に第二の点灯タイミング信号kb
を出力して照明6および照明7の点灯を指示すると共に
、カラー分離回路9に処理タイミング信号1を出力して
処理の開始を指示する。
次に第2図を参照してはんだの盛り過ぎを検出する場合
の動作について説明する。
第2図(a−1)および(a−2)は正常にはんだ付け
された場合のチップ部品のフィレットの正面図および平
面図、第2図(b−1)および(b−2)ははんだの盛
り過ぎの場合のチップ部品のフィレットの正面図および
平面図で、いずれの場合もチップ部品1の電極2がプリ
ント基板3上のパッド4にはんだ付けされている場合の
図である。
第2図(a−1)および(a−2)に示すように、正常
にはんだ付けが行われている場合、はんだ付け部分であ
るフィレット5は、凹面を形成している。従って電極2
に近い部分はどはんだの表面の傾斜が急になっており、
水平方向に対する照射角度が大きい照射光Cの反射光C
Rがカラーカメラ8に入射する反射部分mは、水平方向
に対して照射角度が小さい照射光dの反射光dRが力ラ
ーカメラ8に入射する反射部分nよりも電極2から離れ
た位置に見える(第2図(a−2)参照)。
これに対して、第2図(b−1)および(b−2)に示
すように、はんだの盛り過ぎの場合は、フィレット5は
凸面を形成している。従って電極2から離れている部分
はどはんだの表面の傾斜が急になっており、水平方向に
対する照射角度が大きい照射光Cの反射光CRがカラー
カメラ8に入射する反射部分mは、水平方向に対する照
射角度が小さい照射光dの反射光diがカラーカメラ8
に入射する反射部分nよりも電極2に近い位置に見える
。このことから、反射部分mと反射部分nとの位置関係
で、反射部分mの方が電極2に近いときははんだの盛り
過ぎであると判定することができる。上述の実施例では
、角度の急な照明が赤色であり、角度のゆるやかな照明
が緑色であるので、赤色画像信号で、を2値化した第一
の2値画像信号g、の白色部分の座標の方が緑色画像信
号fbを2値化した第二の2値画像信号gbの白色部分
の座標よりも電極2に近ければはんだの盛り過ぎである
と判定する。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明のはんだ付け検査装置は、
照明光の照射角度と波長の異なる二つの照明によって検
査対象のはんだ付け部分を照射し、その反射光がカメラ
に入射するときの反射部分の相対位置によってはんだ付
け状態の検査を行うことができるという効果があり、従
ってはんだがない場合やはんだが不足の場合の他に、は
んだの盛り過ぎの場合も検出することができるという効
果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
第1図の実施例の動作を説明するための説明図、第3図
は従来のはんだ付け検査装置の一例を示すブロック図で
ある。 1・20・・・チップ部品、2・21・・・電極、3・
・・プリント基板、4・・・パッド、5・22・・・フ
ィレット、6・7・23・・・照明、8・・・カラーカ
メラ、9・・・カラー分離回路、10・11・・・2値
化回路、12・13・・・座標検出回路、14・・・座
標比較回路、15・・・判定回路、16・・・制御回路
、17・・・第一照明駆動回路、18・・・第二照明駆
動回路、24・・・カメラ、25・・・判定部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 検査対象のはんだ付け部分に対して互いに異なる角度を
    有するように設けられて異なる波長の光を発射する第一
    および第二の照明と、前記第一および第2の照明のそれ
    ぞれを点灯させる第一および第二の照明駆動回路と、前
    記第一および第二の照明からの光が前記検査対象の前記
    はんだ付け部分で反射した反射光を入射してその画像を
    撮影するカラーカメラと、前記カラーカメラからのカラ
    ー画像信号を入力して前記第一および第二の照明のそれ
    ぞれの波長の信号を分離して出力するカラー分離回路と
    、前記カラー分離回路で分離された第一および第二の画
    像信号を入力して2値化を行ってそれぞれ第一および第
    二の2値画像信号として出力する第一および第二の2値
    化回路と、前記第一および第二の2値画像信号のそれぞ
    れを入力して前記反射光の座標を検出して第一および第
    二の座標信号を出力する第一および第二の座標検出回路
    と、前記第一および第二の座標信号を入力してそれらの
    座標の差をとった値を比較座標信号として出力する座標
    比較回路と、前記比較座標信号を入力して検査結果の判
    定を行う判定回路と、前記判定回路からの終了信号を入
    力して前記第一および第二の照明駆動回路と前記カラー
    分離回路とに対して制御信号を出力する制御回路とを備
    えることを特徴とするはんだ付け検査装置。
JP1133689A 1989-01-20 1989-01-20 はんだ付け検査装置 Pending JPH02190750A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0329807A (ja) * 1989-06-28 1991-02-07 Rozefu Technol:Kk 画像処理による半田量判別方法
US7505149B2 (en) 2004-02-27 2009-03-17 Omron Corporation Apparatus for surface inspection and method and apparatus for inspecting substrate

Cited By (3)

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