JPH02191430A - 眼検査用光学測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野】

本発明は被検眼の種々の光学的特性（眼屈折度や角膜曲
率等）を自動的に測定する眼検査用光学測定装置に関す
る。

【従来技術およびその課題】

上述のような眼検査用光学測定装置としては、例えばオ
ートレフラクトメータ（自動眼屈折度測定装置）やオー
トケラトメータ（自動角膜曲率測定装置）等の装置が知
られている。これらの各装置では、装置の光軸」二の所
定の位置に被検眼を配置することにより、被検眼を含ん
だ測定光学系を形成Ｖる。被検眼の配置は、装置の光軸
が被検眼の光軸に一致させられること、４゛なわち照準
か合わせられること、及び、装置内のモニタ用カメラ光
学系自体の焦点が測定光学系の被検眼位置と一致させる
こと、すなわち距離合わせが達成されること、の２つの
条件が満足されねばならない。オートレフラクトメータ
を例に説明すれば、レフラクトメータの装置原理は、被
検眼の眼底即ち網膜上に結像された光源（測定光）を光
学系を通して観測し、眼の屈折度を測定する装置であり
、オートレフラクトメータはその測定を自動的に行うし
のであるが、実際にその測定を行うためには、測定光投
光の前の準備段階として装置側の測定用光学系と被検眼
との位置関係を測定可能な状態（照準・距離合わせが達
成された状態）に調整される。 従来のオートレフラクトメータにおけるこの上うな萌段
階の調整操作では、モニタ画面上に表示される照準マー
ク（レチクルパターン）と照準光源の角膜反射像の位置
が一致するように測定装置自体を被検眼に対して上下左
右に操作することによって照準が行なわれ、また、装置
と被検眼との距離合わせをすることによってモニタ用カ
メラ光学系自体の焦点が、測定光学系の被検眼位置と一
致せしめられる。このようにモニタ画面上で照準及び距
離合わせが達成されたことを測定者が認識し、その上で
測定者が測定開始スイッチを入れて実際の測定を行って
いた。 ところが、上述のような照準・距離合わせの手法により
測定を開始する場合は、まず、被検音が照準・距離合わ
せの状態を一定に保持することは困難であり、また測定
者が測定開始スイッチを人れるタイミングにも熟練を要
し、実際に照準及び距離台イつＵ・が完了したタイミン
グに合わせて上記スイッチを入れるのは極めて困％Ｃで
あった。

【発明の目的】

本発明の目的は、測定タイミングを逃さない照準・距離
合わせ機構を備えた眼検査用光学測定装置を提供するこ
とにある。

【課題を解決するための手段】

本発明に係る眼検査用光学測定装置は、上述のごとき従
来技術の課題を解決し、その目的を達成するために以下
のような構成を備えている。 すなわち、この光学測定装置は、測定光を被検眼に向け
て投射する測定光投光系と、被検眼反射光を受光する受
光センサを含む測定光受光系と、被検眼に対する眼検査
用光学測定装置の照準合わせと距離合わせとを行うため
の照準・距離合わＵ光学系を含む照準・距離合わせ手段
と、測定光を被検眼に投射するとともに測定光受光系に
得られた被検眼反射光に基づいて被検眼を測定する測定
手段とを有する。 上記受光センサは、測定光受光系の受光系光軸が受光セ
ンサ」−のＸ軸とＹ軸の交点と一致ケろように配置され
る。 一ヒ記照準・距離合わせ光学系は、被検眼に向って、光
束を照射する１対の照準光源手段を有し、１対の照準光
源手段は、受光系光軸に対して上記Ｘ軸方向に対称に配
置され、かっ、被検眼のａ１膜に対して十分に細い光束
を照射するしのであって、」二足距離合わせおよび照準
合わせが所定範囲内で達成されたときのみ、上記角膜反
射光が上記受光センサに受光されるへく配置されろ。 上記照準・距離合わせ手段は、 受光センサに結像された２つの角膜反射光の像の信号レ
ベルと基準値とを比較する比較手段と、比較手段により
、２つの角膜反射像の信号レベルが基準値より大きいと
判別されたとき、２つの角膜反射像が上記受光センサの
Ｘ軸上に受光されたかどうかを判別する判別手段と、 上記受光センサのＸ軸上ｊこ受光された２つの各角膜反
射像と上記受光センサのＹ軸間の距離を夫々算出する算
出手段と、 上記算出手段により算出された２つの距離を比較すると
ともにその差が許容範囲内にあるとき、測定装置に測定
光投射開始信号を出力する第２比較手段とを有する。

【作用・効果】

上記構成においては、被検眼に対する測定装置の距離合
わせが不適正である場合には、照準光の角膜反射光は受
光センサに受光されないか、或いは受光されたとしても
受光センサよりの照準光の角膜反射像の信号レベルが基
準値よりも低い、この状態は第１比較手段により判別さ
れる。これにより距離合わＵ゛を達成することができる
。また、被検眼に対する測定装置の照準合わせの誤差が
大きい場合も照準光の角膜反射光は受光センサに受光さ
れず、この状態は第１比較手段により判別される。照準
合わせの誤差が微小である場合、受光センサにおいてＸ
軸方向のずれとＹ軸方向のずれの２つの状態が考えられ
るが、Ｙ軸方向のずれは、判別手段により判別され、Ｘ
軸方向のずれは算出手段及び第２比較手段により判別さ
れ、これにより正確な照準合わせが行なわれる。そして
、第２比較手段よりは、距離合わせと照準合わせの両者
が達成されたときに、測定装置に、測定光投射開始信号
が出力される。 従って、上記構成によれば、距離合わせ及び照準合わせ
が達成されたとき、自動的に直ちに測定が開始されるの
で、常に最適な測定タイミングか得られる。

【実施例】

以下に本発明の好適な一実施例について、第１図ないし
第９図を参照して１悦明ずろ。 第１図は本発明の眼検査用光学測定装置に係る一実施例
としてオートレフラクトメータの全体の光学系を模式的
に示す図である。第２図は第１図における測定光の投光
光学系、第３図は第１図における測定光の受光光学系、
第４図は第１図における照準・距離合わせ光学系をそれ
ぞれ模式的に示す。 測定差の投光光学系ｌの投光系光軸Ａは光源２から第１
ハーフミラ−３に向けて伸びかつ第１ハーフミラ−３の
ところで直角に曲かって被検眼Ｅの方に延びている。光
源２には赤外線発光ダイオードか用いられている。光沢
１２から第１ハーフミラ−３まで真っずぐ上方へ伸びる
光軸部分ａ１に沿って各種光学要素が配置されている。 そして、第１ハーフミラ−３で直角に反射される測定光
は光軸部分ａ、に沿って本装置から出る。したか−。 て、この先軸ａ、上に被検眼Ｅの光軸ａＥを位置さける
ことによって、測定光を被検眼Ｅ内に投光することかで
きる。光源２から第１ハーフミラ−；３までの間の光軸
部分ａｔ上には、光源２側から順にコリメータレンズ４
．ピラミッド形状の４角錐プリズム５．絞り６．投光リ
レーレンズ７４穴ミラー８．接眼レンズ９が配置されて
いる。４角錐プリズム５は、測定光の４点のスポットパ
ターンを形成するために、光源２からコリメータレンズ
４を経た赤外光を光軸ａ、の回りに中心角９０°毎の位
置を通る４本の光束に分離さＵ゛る。絞り６は投光リレ
ーレンズ７の焦点位置に配置されており、４角錐プリズ
ム５から出た４本の光束は絞り６を通過した後に投光リ
レーレンズ７へ入射し、それぞれが光軸部分ａ、に平行
な光束となって・１点のスポットパターンを形成する。 ４穴ミラー８は、後述する測定光の受光光学系１０にお
ける網膜反射光である測定光を直ｆｑに反射さｌ゛ろた
めのミラーであって、その上側の反射面が光軸部分ａ、
に対して４５°傾斜しており、投光光学系１において投
光スポットパターンの光路を遮断しないように、その光
路に相当する部分に小さな穴が４箇所に形成されている
。従って、４穴ミラー８の各式を通過した測定光は、４
点スポットパターンとなって接眼レンズ９に入射し、第
１ハーフミラ−３で直ｆｔｔに反射されて被検眼Ｅ内に
入る。 尚、受光系光軸Ｂの被検眼Ｅから４穴ミラー８までの光
軸部分ｂ　、、　ｂ　、は投光系光軸Ａの光軸部分ａ　
２＋　ａ　Ｉと一致している。 測定光の受光光学系ＩＯでは、測定光の網膜反射光は被
検眼Ｅから４穴ミラー８まで光軸部分ｂ　ｌ＋　ｂ　、
に沿って逆行し、４穴ミラー８で直角に反射される。こ
の反射光の光軸す、上には、４穴ミラー８と平行な反射
面を持つマイクロミラー１１が配置されており、このマ
イクロミラー１１によって測定反射光がさらに下方へ直
角に反射される。マイクロミラー１１の下方には光軸部
分ｂ４に沿って結像レンズ１２および撮像素子マトリッ
クスとしてＣ０Ｄ（電荷結合素子）により構成された受
光センサ１３が配置されている。受光センサ１３は、そ
の中央に光軸部分り４が通るように配置されているので
、受光センサ１３が検知できる光の通る空間の平面的広
がりを被写界とずろと、その被写界中心は上記受光光学
系１０における受光系光軸Ｂ上に位置している。換言す
れば、受光センサ１３のＸ軸とＹ軸との交点に光軸ｂ４
つまり光軸１３が一致している。 照準・距離合わせ光学系１５では、赤外線発光ダイオー
ドよりなる１対の照準光源２１が、上記光軸部分ａ、に
対して水平方向で軸対称な位置に配置されており、これ
ら軸対称の照準光源２１を通る直線の方向は、上述の受
光センサ１３により被写界が走査される方向に一致させ
られている。 通常は、この画像をモニタリングする場合にはモニタ画
面の横方向へ走査しながら順に上から下へその走査線が
移動して行くが、ここで言う走査方向は上記横方向を意
図している。そして、本実施例では、走査方向は被検眼
に向って左から右方向である。照準光源２１から出る照
準光は、照準光源２１の前に配置されたコリメータレン
ズ２２によって十分に細い光束のビーム光線にされ、測
定に適切な位置にある被検眼Ｅに対しては、その角膜反
射光が光軸部分ａ　！＋　ｂ　＋と平行な光路を採るビ
ーム光線となって受光センサ１３に検知されろ。 第５図（ａ　）、（ｂ　）、（ｃ　）は、それぞれ照準
光源２１と被検眼Ｅとの位置関係により種々穴なる反射
光の反射方向を示す図である。第５図（ａ）は照準光源
２１と被検眼Ｅとの間の距離が遠過ぎる場合、第５図（
ｂ）は照準光源２１と被検眼Ｅとの間の距離がちょうど
良い場合、第５図（ｃ　）は照塾光源２１と被検眼Ｅと
の間の距離が近過ぎる場合を示している。各図から分か
るように、各照準光源のビーム光線は十分に細く、ビー
ム光線が被検眼Ｅの角鋼に当たるスポットは非常に小さ
いため、角膜反射光も細くて拡がらないため、照準光源
２１は被検眼Ｅに対して遠過ぎてし近過ぎてもその角膜
反射光は光軸ａ、から離れて行き、らようど良い距離の
位置で光軸ａ　１　＋　ｌ）　ｔに大略平行に進んで受
光センサ１３に到達する。本実施例では、第５図（１）
）の状態で、モニタ用カメラ光学系自体の焦点が被検眼
Ｅに一致するように構成されている。 尤ら、距離合わせの誤差か非常に小さい場合には、たと
え照準が合っている場合であっても、受光センサ１３に
受光される。また、照準誤差が大きな場合も、上記と同
様に、受光センサ１３には受光されない。 以下、照準光源２１の角膜反射光（以下、照準光と称す
）の光路を構成する部分について説明する。第１ハーフ
ミラ−３を部分的に透過する照準光は、第２ハーフミラ
−１４によって直角下方へ反射され、モニタリレーレン
ズ１６を通過する。 モニタリレーレンズ１６の下方には第１の４５゜ミラー
１７が配置され、その反射光路上にはレグ−クルパター
ンの書かれた透明ガラスのレチクル板１８が配置されて
いる。このレチクル板１８は、モニタリレーレンズ１６
に関して被検眼Ｅと共役な位置に配置されている。第１
の４５°　ミラーＩ７からレチクル板１８を通過した位
置には第２の４５°　ミラー１９が、これに入射した照
準光を直角下方へ反射させるように配置されている。第
２の４５°　ミラーＩ９の下方の光軸部分は、測定光受
光光学系ＩＯにおけるマイクロミラー１１以下の光軸部
分ｂ４と共通となっており、結像レンズ１２および受光
センサ１３をも共通となっている。 従ってこの照準・距離合わせ光学系１５は、モニタ用レ
チクル光学系がモニタ用カメラ光学系内に組み込まれた
形に構成されている。尚、照準・距離合わせ光学系１５
においてマイクロミラー１１は極めて小さく、照準光は
その周辺部分を通過するので、その存在は支障を来さな
い。第１図において、測定光の投光光学系ｌにおける光
軸ａ、の延長上に配置されているのは、測定時の被検眼
に遠点を見させるための視標２０である。 第６図は、本オートレフラクトメータのブロック回路図
である。測定光の被検眼反射光も照準光も受光センサ１
３に検知され受光センサ１３の走査により順次画像信号
（電気信号）に変換される。 この画像信号は、走査の同期信号とともに、コンパレー
タ３１、同期分離回路３４、画像処理装置５２及びモニ
タ５３に入力される。 コンパレータ３１に人ノＪされた画像信号は、コンパレ
ータ３１に設定されている、照準光源の輝度に対応する
基準値よりも高いレベルの画像信号と低いレベルの画像
信号とが２値化されて取り出され、アンド回路３３へ出
力される。すなわち、被検眼反射像の画像信号は基準値
より低いレベルであり、照準光反射像の画像信号は基準
値よりも高いレベルである。一方、同期分離回路３２に
入力された同期信号は、水平同期信号と垂直同期信号と
に分離されて水平同期信号はＸ軸基準発生回路３４及び
Ｘ軸基準発生回路３５へ、垂直同期信号はＸ軸基準発生
回路３４へおのおの入力される。 Ｘ！ＩＩＩ基準発生回路３４では、水平同期信号と垂直
同期信号の両者から、光軸中心を通るＸ軸を示すタイミ
ング信号が発生せしめられてアンド回路３３に入力され
る。一方、Ｘ軸基準発生回路３５は、クロックパルス発
生回路及びパルスカウンターを含んでおり、水平同期信
号入力時点からのパルス数が、光軸中心を通るＹ軸に一
致したとき、そのＹ軸を示すタイミング信号がアント回
路４１及びＹ軸−右側反射像幅カウンタ−３８へ入力さ
れろ。 アンド回路３３は、コンパレータ３１からの出力信号が
Ｘ軸基準上にあるときのみ信号を右側反射像検出回路３
６、左側反射像検出回路３７及び左側反射像−Ｙ軸幅カ
ウンター３９に出力する。１対の照準光源２１のうちの
一方（右側）の角膜反射光の信号は、その位置を検出す
る右側反射像検出回路３６から出力され、他方（左側）
の角膜反射光の信号が左側反射像検出回路３７から出力
される。 すなわち、左側反射像検出回路３７は１値カウンターで
構成されており、アンド回路３３より１つのパルス信号
が入力されたとき、パルス信号をアンド回路４１に出力
づ−る。また、右側反射像検出回路３６は２値カウンタ
ーで構成されており、アンド回路３３より２つのパルス
信号が入力されたとき、パルス信号をＹ軸−右側反射像
幅カウンタ−３８に出力する。各カウンター３８３９は
Ｙ軸と各角膜反射像との間の距離を計測するものである
。カウンター３９においては、アンド回路３３よりの信
号により計測がスタートせしめられ、アンド回路４１よ
りの信号で計測が停止せしめられる。アンド回路４１は
、検出回路３７とＸ軸基準発生回路３５の両者より信号
が入力されたときに、カウンター３９にストップ信号を
出力する。 これによりカウンター３９の計算は停止せしめられる。 このカウンター３９は左側角膜反射像からＹ軸までの距
離に対応するカウント値を比較回路４０に出力する。 一方、カウンター３８においては、Ｘ軸基準発生回路３
５よりの信号で計数が開始され、検出回路３６よりの信
号で計数が停止せしめられる。このカウンター３８はＹ
軸から右側角膜反射像までの距離に対応するカウント値
を比較回路４０に出力する。比較回路・１０では、両カ
ウント値か許容範囲内で近似しているか否かつまり、左
右のＭ　脱灰射像がＹ軸に対して対称位置にあるかが判
断され、許容範囲内であればマイクロコンピュータ５１
へ測定開始を命令する信号が出力される。マイクロコン
ピュータ５１からは測定光投光系１に測定光の投射を命
令する信号が出力される。 第７〜９図は、照準・距離合わせのそれぞれの状態にお
ける、モニタ５３に映し出されるモニタ表示画像（ａ）
、受光センサ１３のＸ軸基準（後述）上での画像信号（
ｂ）、その画像信号の２値化信号（ｃ　）のおのおのを
示す図であり、第７図は照準及び距離が双方とも合って
いる状態、第８図は距離は合っているが照準は合ってい
ない状態、第９図は照準は合っているが距離が合ってい
ない状態をそれぞれ示している。 照準も距離も合っている状態では、そのモニタ画像には
第７図（ａ）に示すように、被検眼も照準光の像もモニ
タ画像の中心に明確に現れ、特に各照準光の像による点
光源パターンＰ１．．は明確に２点現れる。つまり、点
光源パターンＰ、１．の信号（受光センサ１３よりの信
号）は第７図（ｂ）に示すように、２点ずつの点光源パ
ターンの部分でそのレベルが明確なピークＰＬ、、を示
し、コンパレータ３１に適当な基準値１’Ｌを設定して
信号を２値化することにより（コンパレータ３１の信号
）、第７図（ｃ　）に示すような各点光源パターンに応
じた２つのパルス信号ＰＳ＋　、　ｔかＸ軸基準上で得
られる（アンド回路３３よりの信号）。 尚、照準誤差があってもそれが非常に小さい場合には、
第７図（ｂ）　、　（ｃ）の場合と同様に、２つのパル
ス信号ＰＳ、、、がコンパレータ３１より出力される。 しかしこの場合は、その誤差がＹ軸方向の乙のであれば
、照準光の像はＸ輔」二にないことになるため、アンド
回路３３からはパルスが出力されない。これによりＹ軸
方向の照準が判別される。 一方、その誤差かＸ軸方向のものである場合には、各照
準光の像とＹ軸間との距離が比較回路４０において相互
に比較され、これによりＸ軸方向の照準が判別される。 また、距離は合っているが照準が合っていない状態（照
準誤差が非常に小さい場合は除く）では、その誤差が大
きい場合には、被検眼の像はモニタ画面上で明確に現れ
るが、照準光の像はモニタ画面上に現れない。したがっ
てＸ軸基準上で取ったその画像信号は、はとんど平坦で
あるか、或いは多少のピーク信号があるとしても、第８
図（ｂ）に示すように、コンパレータ３１において基準
値を超えるような顕著なレベルのピークを有する信号と
はならず、２値化した信号においてら第８図（ｃ）に示
すように全くパルスが得られない。 次に照準は合っているが距離が合っていない状態では、
第９図（ａ）に示すように、被検眼の像がモニタ画面の
中心には在るがぼやけた状態で現れ、照準光の像は全く
現れない。これは、第５図に従って前に述べたように、
角膜反射像が受光センサ１３に達しないからである。し
たがってＸ軸基準上で取ったその信号は第９図（ｂ）に
示すように、全般にレベルが低く且つ殆どピークのない
信号しか得られず、２値化した信号においてら第９図（
ｃ　）に示すように全くパルスが得られない。 尤し、距離合わせ誤差が非常に小さな場合には、照準光
がモニタ画面に現れろとともに一定のピークを（−ｆす
る信号がコンパレータ３１に入力されるか、そのピーク
値は基準値より小さく、コンパレータ３１からはパルス
が出力されない。 ′以上のように、構成され作用する照壁・距離合わせ機
構をもったオートレフラクトメータでは、モニタ画像を
見ながら第８図または第９図の状態から第７図の状態と
なるように測定者が装置本体を前後左右に移動調整する
だけで、照準及び距離が合ったタイミングで自動的に測
定が開始されるので、良好な測定タイミングを逃さず測
定が行える。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の１実施例に係る眼検査用光学測定装置
のオートレフラクトメータの光学系を模式的に示す図、
第２図は第１図における測定光の投光光学系を模式的に
示す図、第３図は第１図における測定光の受光光学系を
模式的に示す図、第４図は第１図における照準・距離合
わせ光学系を模式的に示す図、第５図（ａ　）、（ｂ　
）、（ｃ　）はそれぞれ、第１図のオートレフラクトメ
ータにおける照準光源と被検眼との位置関係を示す図、
第６図は第１図のオートレフラクトメータのブロック回
路図、第７図は照準及び距離が双方とも合っている状態
を示し、（ａ）はモニタ画像を示す図、（ｂ）はＸ軸基
準上の画像信号を示す図、（ｃ）はＸｌ１ＩＩ基準上の
２値化された画像信号を示す図、第８図は距離は合って
いるが照準が合っていない状態を示し、（ａ）はモニタ
画像を示す図、（ｂ）はＸ軸基準上の画像信号を示す図
、（ｃ）はＸ軸基準上の２値化された画像信号を示す図
、第９図は照準は合っているが距離が合っていない状態
を示し、（ａ）はモニタ画像を示す図、（ｂ）はＸ軸基
準上の画像信号を示す図、（ｃ）はＸ軸基準上の２値化
された画像信号を示す図である。 Ｅ・・・被検眼、ａＥ・・・被検眼の光軸、ａ、・・測
定光の光軸、１３・・・受光センサ、１５・・・照準・
距離合わせ光学系、２１照準光源、 ４０・・・比較回路

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、測定光を被検眼（Ｅ）に向けて投射する測定光投光
   系（１）と、 被検眼反射光を受光する受光センサ（１３）を含む測定
   光受光系（１０）と、 被検眼（Ｅ）に対する眼検査用光学測定装置の照準合わ
   せと距離合わせとを行うための照準・距離合わせ光学系
   （１５）を含む照準・距離合わせ手段と、測定光を被検
   眼に投射するとともに測定光受光系（１０）に得られた
   被検眼反射光に基づいて被検眼を測定する測定手段とを
   有する眼検査用光学測定装置において、 上記受光センサ（１３）は、測定光受光系（１０）の受
   光系光軸（Ｂ）が受光センサ（１３）上のＸ軸とＹ軸の
   交点と一致するように配置され、 上記照準・距離合わせ光学系（１５）は、被検眼（Ｅ）
   に向って光束を照射する１対の照準光源手段（２１、２
   ２）を有し、１対の照準光源手段（２１、２２）は、受
   光系光軸（Ｂ）に対して上記Ｘ軸方向に対称に配置され
   、かつ、被検眼（Ｅ）の角膜に対して十分に細い光束を
   照射するものであって、上記距離合わせおよび照準合わ
   せが所定範囲内で達成されたときのみ、上記角膜反射光
   が上記受光センサ（１３）に受光されるべく配置され、 上記照準・距離合わせ手段は、 受光センサ（１３）に結像された２つの角膜反射光の像
   の信号レベルと基準値とを比較する第１比較手段（３１
   ）と、 第１比較手段（３１）により、２つの角膜反射像の信号
   レベルが基準値より大きいと判別されたとき、２つの角
   膜反射像が上記受光センサ（１３）のＸ軸上に受光され
   たかどうかを判別する判別手段（３１、３２、３３、３
   ４）と 上記受光センサ（１３）のＸ軸上に受光された２つの各
   角膜反射像と上記受光センサ（１３）のＹ軸間の距離を
   夫々算出する算出手段（３５、３６、３７、３８、３９
   、４１）と、 上記算出手段（３５、３６、３７、３８、３９、４１）
   により算出された２つの距離を比較するとともにその差
   が許容範囲内にあるとき、測定装置に測定光投射開始信
   号を出力する第２比較手段（４０）とを有することを特
   徴とする眼検査用光学測定装置。 ２、測定光を被検眼（Ｅ）に向けて投射する測定光投光
   系（１）と、 被検眼反射光を受光する受光センサ（１３）を含む測定
   光受光系（１０）と、 被検眼（Ｅ）に対する眼検査用光学測定装置の照準合わ
   せと距離合わせとを行うための照準・距離合わせ光学系
   （１５）を含む照準・距離合わせ手段と、測定光を被検
   眼に投射するとともに測定光受光系（１０）に得られた
   被検眼反射光に基づいて被検眼を測定する測定手段とを
   有する眼検査用光学測定装置において、 上記受光センサ（１３）は、測定光受光系（１０）の受
   光系光軸（Ｂ）が受光センサ（１３）上のＸ軸とＹ軸の
   交点と一致するように配置され、 上記照準・距離合わせ光学系（１５）は、被検眼（Ｅ）
   に向って光束を照射する１対の照準光源手段（２１、２
   ２）を有し、１対の照準光源手段（２１、２２）は、受
   光系光軸（Ｂ）に対して上記Ｘ軸方向に対称に配置され
   、かつ、被検眼（Ｅ）の角膜に対して十分に細い光束を
   照射するものであって、上記距離合わせおよび照準合わ
   せが所定範囲内で達成されたときのみ、上記角膜反射光
   が上記受光センサ（１３）に受光されるべく配置され、 上記照準・距離合わせ手段は、 受光センサ（１３）よりの画像信号の信号レベルを基準
   値と比較して第１、第２の照準光源手段より発せられる
   各光束に対応する第１、第２の角膜反射光の像を表わす
   画像信号をパルス信号として出力するコンパレータ（３
   １）と、 受光センサ（１３）より画像信号とともに出力される同
   期信号を水平同期信号と垂直同期信号とに分離する同期
   分離回路（３２）と、 同期分離回路（３２）よりの水平同期信号と垂直同期信
   号に基づいて、受光センサ（１３）よりの画像信号が受
   光センサ（１３）のＸ軸上であることを表わすＸ軸基準
   信号を発生するＸ軸基準発生回路（３４）と、 コンパレータ（３１）よりのパルス信号とＸ軸基準発生
   回路（３４）よりのＸ軸基準信号とが入力されたときパ
   ルス信号を出力する第１アンド回路（３３）と、 第１アンド回路（３３）よりのパルス信号を計数して、
   第１のパルス信号を計数したときにパルス信号を出力す
   る第１反射像検出回路（３７）と、同期分離回路（３２
   ）よりの水平同期信号に基づいて、受光センサ（１３）
   よりの画像信号が受光センサ（１３）のＹ軸上であるこ
   とを表わすＹ軸基準信号を発生するＹ軸基準信号発生回
   路（３５）と、第１反射像検出回路（３７）よりのパル
   ス信号とＹ軸基準発生回路（３５）よりのＹ軸基準信号
   とが入力されたときストップ信号を出力する第２アンド
   回路（４１）と、 第１アンド回路（３３）よりのパルス信号により計数を
   開始する一方第２アンド回路（４１）よりのストップ信
   号により計数を停止して、第１角膜反射像（Ｐ＿１）と
   Ｙ軸間の距離を示す第１距離信号を出力する第１反射像
   −Ｙ軸幅カウンタ（３９）と第１アンド回路（３３）よ
   りのパルス信号を計数して、第２パルス信号を計数した
   ときパルス信号を出力する第２反射像検出回路（３６）
   と、Ｙ軸基準発生回路（３５）よりのＹ軸基準信号によ
   り計数を開始する一方、第２反射像検出回路（３６）よ
   りのパルス信号により計数を停止して、第２角膜反射像
   （Ｐ＿２）とＹ軸間の距離を示す第２距離信号を出力す
   る第２反射像−Ｙ軸幅カウンタ（３８）と、 第１、第２の反射像−Ｙ軸幅カウンタ（３９、３８）か
   らの第１、第２距離信号に基づいて、第１距離と第２距
   離とを比較するとともに、その差が許容範囲内にあると
   き、測定装置に測定光投射開始信号を出力する比較回路
   （４０）とを有することを特徴とする眼検査用光学測定
   装置。