JPH0277228A - 眼科測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は眼科測定装置、特に被検眼にレーザ光を投光し
被検眼内の前記レーザ光の散乱状態を介して所定の測定
量を出力する眼科測定装置に関するものである。

［従来の技°術］ 前房内蛋白濃度測定は眼内炎症すなわち血液房水槽を判
定する上で極めて重要である。従来は細隙灯（スリット
ランプ）顕微鏡を用いたグレーディングによる目視判定
が繁用されている一方、定量的な方法としては写真計測
法が報告されているが、容易に臨床応用できる方法はま
だできていない。

従来の目視判定では個人差によって判定基準が異なり、
データの信頼性に欠けるという問題点があるので、これ
を解決するためにレーザ光を眼内に照射し、そこからの
散乱光を受光して定量分析することによって眼科測定が
行なわれている。

Ｃ発明が解決しようとする課題］ このように眼科測定にレーザ光の散乱光を利用する場合
、散乱光の強度が非常に微弱であるため、測定対象以外
からの光、すなわちノイズに弱いという欠点がある。例
えば前房の測定を例にとると、測定部位が水晶体に近づ
きすぎる場合、水晶体からの散乱光がノイズとして入り
、測定結果は測定部位に影響される。

また、角膜は強いレンズ効果をもっているため、法線方
向から入射した先具外は角膜面で屈折される。従って、
入射部位が変化すると屈折量も変化するため、測定部位
（レーザ集光部）と受光部（マスク）の関係がずれてし
まう。例えば前房水の深さは３ｍｍ程度なので、中間部
の１〜２ｍｍの間にレーザ光を集光させ、この測定部位
からの散乱光を正確に受光するようにしなければならな
い、このためには装置と被検眼の特に水平面内における
正確なアライメント（位置合わせ）およびアライメント
の達成状態の確認方法が必要になる。

従って本発明はこのような問題を解決するために成され
たもので、被検眼と装置のアライメントを容易にとるこ
とができる眼科測定装置を提供することを目的とする。

［題を解決するための手段］ 以上のＬｍ題を解決するために、本発明においては、被
検眼にレーザ光を投光し被検眼内の前記レーザ光の散乱
状態を介して所定の測定量を出力する眼科測定装置にお
いて、レーザ光源が発生したレーザ光を被検眼内の所定
点に集光するレーザ投光部と、被検眼内からのレーザ散
乱光を受光する光電変換素子を備えた受光部と、装置と
被検眼のアライメント判定のための指標像を被検眼内の
前記所定点に結像させるアライメント指標投影部と、前
記レーザ光および前記アライメント指標の結像光の被検
眼での状態を観察する観察部と、前記観察部を介して観
察される前記レーザ光および前記アライメント指標の結
像光の被検眼角膜での散乱の位置が前記観察部の視野内
で所定の位置を占めるべく操作者により行なわれる操作
に応じ被検眼と装置間の相対位置を制御する手段を設け
た構造を採用した。また、上記構成に加え、装置と被検
眼の相対位置が所定のアライメント状態にある場合前記
レーザ光および前記アライメント指標の結像光の被検眼
角膜での散乱の位置が前記観察部の視野内で占めるべき
位置を示す指標を前記観察部に設ける構成、あるいは前
記レーザ光とアライメント指標の結像光の色を異ならせ
る構成、また、前記アライメント指標投影部の光軸と前
記受光部の光軸の少なくとも一部が共通化された構成、
あるいは所定光源により照明されたスリット像を被検眼
内に投影するスリット投影部を有し、このスリット投影
部を前記レーザ投光部、受光部、指標投影部、および観
察部と独立して被検眼に対して位置決めする手段を設け
た構成を用いることができる。

［作　用］ 以上の構成によれば、前記レーザ光およびアライメント
指標の結像光の被検眼角膜での散乱位置は、装置と被検
眼のアライメントが達成されていれば一義的に一定の位
置を占めるため、この散乱位置を介して装置と被検眼の
アライメント状態を判定できる。また、観察部の視野内
における前記レーザ光およびアライメント指標の結像光
のアライメント達成時に一義的に定まる散乱位置を示す
指標を設ける、あるいはレーザ光およびアライメント指
標の結像光の色を異ならせることで、上記判定が容易に
なる。さらに、アライメント指標投影部の光軸と前記受
光部の光軸の少なくとも一部を共通化することで、装置
の小型軽量化、装置設計の自由度が増し、また、前記レ
ーザ投光部、受光部、指標投影部、および観察部と独立
して被検眼に対して位置決め可能なスリット投影部を設
けることで本装置を細隙灯顕微鏡として用いることが可
能である。

［実施例］ 以下、図面に示す実施例に基づき、本発明の詳細な説明
する。

第１図は本発明を採用した眼科測定装置の構造を上方か
ら示している。測定装置は主として符号１〜４で示され
る４つの部分によって構成されている。符号１はレーザ
投光部で、不図示の半導体レーザなどの光源、ミラー１
１、レンズ１２、偏光板１３、ミラー１４によって構成
されている。

紙面に垂直な方向からミラー１１に入射されたレーザ光
はレンズ１２、偏光板１３を経てミラー１４で反射され
、被検眼Ｅの眼房内の一点Ｐに集光される。被検眼Ｅお
よび測定装置の相対的なアライメント（位置決め）に関
しては後述する。

受光部２は集光点Ｐ付近からの散乱光を受光するための
もので、レンズ１５、後述のアライメント指標系を結合
するためのビームスプリッタ１６、干渉フィルタ１７、
レンズ１８、シャッタＳ２、マスク１９および光電子増
倍管（以下フォトマルという）２０から構成される。干
渉フィルタ１７はレーザ投光部１のレーザ光の波長をピ
ーク波長にもつ狭帯域干渉フィルタから構成される。マ
スク１９は不要な領域の外乱光をカットするためのもの
で、マスク１９と集光点Ｐは受光部２の光学系に関して
共役な位置にある。

スリット投影部３は観察部４の前方に配置され、スリッ
ト像を被検眼Ｅ内の集光点Ｐに形成する。スリット投影
部３の主要部分は第１図の紙面に垂直な方向に配置され
ており、ここではスリット光を被検眼の方向に反射する
プリズム２９のみが図示されている。このスリット投影
部３は後述のようにレーザ投光部１、受光部２、観察部
４と独立して移動できるように構成され、これにより装
置を細隙灯顕微鏡としても使用できるようにしである。

観察部４は２つの接眼レンズ３５．３５を有し、検者３
６が両眼で測定領域を観察し、また後述のアライメント
の際にアライメント状態を確認することができるように
なっ”ている、観察部４はレンズ３０．３１、プリズム
３２．３３、視野絞り３４、接眼レンズ３５から構成さ
れる。第１図の左側の視野絞り３４の位置にはアライメ
ント確認用の指標３７（後述）が配置されている。

第１図に示すようにレーザ投光部１および受光部２はレ
ーザ投光部１および受光部２の被検眼Ｅに対する光軸が
ほぼ９０”　になるように観察部４に対して固定されて
いる。

続いて、第２図〜第４図を参照して上記のレーザ投光部
１、受光部２およびスリット投影部３の構造について詳
細に説明する。

第２図はレーザ投光部１の構造を示している。

光源である半導体レーザ５のレーザ光はフリメータレン
ズ６によって平行光となり、レンズ７．８から成る楕円
ビーム整形用エキスパンダによって円形平行光となり、
その後リレーレンズ９、可動ミラー１０を介して前述の
ミラー１１に入射される。可動ミラー１０はモータなど
によって角度調節が行なえるようになっている。

可動ミラー１０の角度は、ミラー駆動回路５０を介して
制御部５１によって制御される。この可動ミラー１０の
角度を調節することによってレーザ光を走査するもので
ある。

制御部５１はマイクロプロセッサなどから構成され、ミ
ラー角度演算および他の制御のためのメモリ５２が接続
されている。メモリ５２には、受光部２の出力値処理用
のカウンタ５３が接続されている。

また、偏光板１３はレーザ光の偏光方向を一定に揃える
ためと、半導体レーザを回転させることで初期設定時の
光ｆｆｉ調節が行なえるようにするためのものである。

すなわち、半導体レーザは直接変調をかけられるので、
光量調節は注入電流で行なえばよいが、被検眼に入射さ
せる時点で３０μＷ程度までパワーをおとしている。こ
のレベルまで注入電流でパワーを低下させると動作が不
安定となるので初期設定はレーザを回転させて行な（半
導体レーザは直線偏光であるため）い、その後のパワー
変動を直接変調によって補正している。

第３図は受光部２およびその下部に設けられたアライメ
ント用の指標投影系の構造を側面から示している。

第３図において第１図に図示されていなかった部分は、
図の下部に符号２′により示されるアライメント用の指
標投影のための光学系で、この光学系２゛はアライメン
ト用の光源２２、アライメント用の指標２３、レンズ２
４から構成される。

なお、光源２２の発光色は、後に詳述する理由でレーザ
投光部１のレーザ光の色と異ならせておくのが望ましい
。

アライメント指標投影系２′はビームスプリッタ１６に
よって前述の受光部２の光学系と結合されており、アラ
イメント用指標２３の像は被検眼Ｅの集光点Ｐに結像さ
れる。なお、図示のように受光部２のフォトマル２０の
出力は増幅器２１を介して第２図のカウンタ５３に人力
されている。

第４図はスリット投影部３およびａ基部４を含む装置全
体の構造を側面から示している。

スリット投影部３、および観察部４（レーザ投光部１と
受光部２が固定されている）は図示のようにＬ字型のフ
レームによって支持されており、これらのフレームは架
台４１の軸４０上に水平面内に回動自在に指示されてい
る。

架台４１全体はジョイスティック４２を用いて不図示の
基台上で移動することができ、被検眼Ｅに対して装置が
アライメントされた時軸４０の補線が被検眼Ｅの集光点
Ｐに一致する。ジョイスティック４２の先端にはシャッ
タＳ１、Ｓ２の挿入、離脱あるいは開閉を制御するため
のスイッチ４３が設けられている。このような操作系の
構造は公知なのでここでは詳細な説明は省略する。

スリット投影部３は光源２５、レンズ２６、スリット板
２７、シャッタＳ１、レンズ２８および前述のプリズム
２９から構成される。スリット投影部３も被検眼Ｅの集
光点Ｐにスリット板２７のスリット像を形成する。この
スリット像は上述のレーザ投光部１の光が集光点Ｐに結
像された時その周囲を照明して集光点Ｐの位置を容易に
確認するために用いられる。また、このスリット投影部
３は他の部分特に観察部４と独立して軸４０上で回動で
き、これにより細、隙灯顕微鏡として用いることができ
る。その場合観察部４を介してスリット光によって被検
眼の断面観察を行なうことができる。

第４図では観察部４に関しては指標３７が設けられた観
察部左側の光和周辺の構造が示されている。また、第４
図において符号３６は検者の眼を示している。

次に、装置と被検眼のアライメント手順および測定手順
の全体の流れについて説明する。被検者は不図示の公知
のあと当て（装置の不図示の基台に固定）にあごを乗せ
、被検眼と装置の位置が仮に決定される。その後スリッ
ト投影部３の光源２５を点灯し、スリット板２７のスリ
ット像を被検眼Ｅに投影する。また、レーザ投光部１か
らレーザ光を被検眼Ｅの集光点Ｐに集光させる０次にア
ライメント用光源２２を点灯させ、ピンホールなどの形
状を有するアライメント用のアライメント用指標２３を
照明し、受光部２の光学系（レンズ１５、ビームスプリ
ッタ１６）を介して被検眼Ｅの方向に投射する。

次に、これらのスリット像およびアライメント用指標、
レーザ光の入射状態を観察部４を介して観察しながらジ
ョイスティック４２を操作して架台４１を８勤させ、被
検眼と装置の位置を正確に合わせる。第５図は被検眼Ｅ
と装置が水平面内で正しく位置決めされた場合に観察部
４を介して観察される像を示している。

第５図において符号りはレーザ投光部１の発したレーザ
光、また符号Ａは受光部２に組み込まれたアライメント
用光学系２′からの光を示している。レーザ光Ｌ５アラ
イメント光Ａは第１図から明らかなように水平面内でほ
ぼ９０°の位置関係を有しており、したがって被検眼Ｅ
の左右４５゜の方向から角膜に入射する。この時、符号
ａ、　ｂで示すように角膜によって散乱が生じる。この
散乱光ａ、ｂの位置が観察部４の視野Ｒ内の所定の位置
に一致していれば、被検眼Ｅと装置のアライメントが達
成されたと判定する。

一方、アライメントがずれている場合の観察部４により
観察される像を第９図に示す。第９図の左側は第６図と
同様にアライメントが合っている状態であるが、第７図
のｘ＠ｊ方向に関して被検眼と装置の距離が近すぎる場
合には散乱すの位置が第９図右上のように外側にずれる
。逆に、第７図のｙ軸方向に関して被検眼Ｅと装置の距
離が近すぎる場合には第９図の左下のように散乱ａのみ
が外側にずれる。

また、第９図の右側に明らかなように、散乱の位置のみ
ならず散乱ａ、ｂの大きさも変化する。

また、第７図のｘ、ｙの合成方向にずれがある場合、散
乱領域の大きさの変化は認識しにくいが、位置のずれは
よくわかるため、散乱ａ、ｂが２つの指標３７の位置に
正確に一致すれば、アライメントが達成されたことにな
る。散乱ａ、ｂの左右が反転せず、両方ともアライメン
ト確認用指標３７の位置にくる場所は水平面内では１ケ
所しかないため、簡単な操作によって精度よく被検眼と
装置の位置合わせを行なうことができる。

散乱の位置ａ％ｂの正しい位ｌを示すため、第６図に示
すように観察部４の視野絞り３４の位置に設けるアライ
メント確認用指標３７をあらかじめ設けておく。この指
標は第６図のような十字線を２つ設けた光学ガラスなど
により構成できる。

第７図に示されるように、被検眼Ｅと装置の水平面内で
の位置決めが正しく行なわれていた時に第６図のアライ
メント確認用・指標３７と散乱の位置ａ、ｂ（第５図）
が一致するようにしておけば、例えば被検眼Ｅと装置が
第８図に示すように離れすぎている場合には２つの散乱
ａ％ｂの位置が逆転する。このため、レーザ光りの色を
赤、アライメント光Ａの色を緑など異なる色に設定して
おけば、生じた散乱の色によって距離の判定を行なえる
。

なお、アライメント光Ａは受光部２内に設けられた干渉
フィルタ１７によってカットされ、フォトマル２０には
到達しないため、常時点灯させておいて構わない。なお
、干渉フィルタ１７を使用しない場合には測定中はアラ
イメント用光源２２は消灯させておく、また、先のよう
にアライメント用の光源２２に緑のＬＥＤを用い、レー
ザとして赤色のものを用いれば、これらの散乱光の識別
が容易であり、また測定中に赤色光が緑色のｂの部分を
通過すると正確な測定結果を得られなくなる可能性が高
いため、正確に測定が行なわれたかどうかの判定にも役
立つ。

アライメント用指標と集光点Ｐ１マスク１９と集光点Ｐ
は共役なので、観察部による観察時、（例えば）緑色（
アライメント光Ａ）の集光点はマスク１９の像点を表し
ている。上記構成によれば、レーザ光の集光点とアライ
メント光Ａの集光点は集光点Ｐで一致（９０°クロス）
するはずであり、していない時は装置のセツティングエ
ラー（あるいは故障）とわかる。

以上のようにしてアライメントが達成された後、第４図
のジョイスティック４２のスイッチ４３を押下すると、
これによってシャッタＳ１が閉じてシャッタＳ２が開放
し、レーザ投光部１のレーザ光の前房的蛋白による散乱
を受光部２を介して測定し、被検眼前房内の蛋白濃度測
定を行なうことができる。

この測定においては、レーザ投光部１から被検眼Ｅの集
光点Ｐにレーザ光を没射し、一方集光点Ｐ周辺の散乱光
は受光部２によって受光される。

フォトマル２０の出力は増幅器２１を経て制御部５１に
接続されたカウンタ５３に入力され、フォトマル２０に
よって検出された散乱光強度が単位時間当たりのパルス
数としてカウントされる。このカウンタ５３による計数
値、すなわちサンプリング回数や総パルス数は各単位時
間ごとにメモリ５２内に設定された所定のメモリセル内
に格納される。このメモリ５２内に格納された測定デー
タに基づいて制御部５１が演算処理を行ない、前房内蛋
白濃度が測定される。この測定処理は公知なのでここで
はこれ以上の詳細な説明を省略する。

以上の実施例によれば、レーザ光とアライメント光の散
乱の位置が観察光学系の視野内の所定位置にそれぞれ一
致することで被検眼Ｅと装置のアライメントを検出する
ようにしており、簡単かつ確実に被検眼と装置のアライ
メント判定を行なうことができる。

また、−上記実施例によればレーザ光源として半導体レ
ーザを使用していること、また、受光部２とアライメン
ト用光学系２′の光学系を共通化していることにより装
置各部の小型＠量化が可能であり、また観察部４に容易
にレーザ投光部１、受光部２を固定し、これらを−量化
することができる。

レーザ光源として特に半導体レーザを用いる利点として
は次に列挙するようなものがある。

１）光源が軽量、小型、コンパクトなため、光軸合わせ
が容易である。

・装置のコンパクト化、安価、＠量化が可能である。

・光源の（取り付け）位置が比較的自由になるので（小
型・＠母なため）光学系構成の自由度が増す（例えば上
記のように投光部と受光部の一体化等）。

２）半導体レーザは、レーザ自体を駆動するために注入
電流を流す必要があり、この注入電流により各種の制御
が可能である。

・光源がレーザ光を発振するために最低限必要な注入電
流があり、通常それより大きい注入電流を流して安定な
発振を維持して利用する。

ところがレーザ光の出力も注入電流に比例して変化する
ので、温度や経時変化他種々の原因で被検眼に入射する
レーザ光のパワーが変動した時、それを検知して注入電
流を変えることによってパワーを元に戻し、これにより
パワー変動の補正が容易に行なえる点は従来のガスレー
ザとは大きく異なる利点である。

３）半導体レーザは直ｉ！ｉ！偏光しているので照射光
学系内に偏光板を挿入し、これを回転することでもパワ
ー調整が行なえる。さらに半導体レーザ自体は非常に小
型、軽量、ロンバクトなので、半導体レーザ素子自体を
回転させることによっても同じ目的を達成できる。

４）２）、３）に示したようにパワー調整に関わる手段
が条件や目標に合わせて、何通りかが選択できること、
あるいはそれらを必要に応じて併用できることは今まで
にない大ぎなメリットである。

・上記のようなパワー変動の補正は、眼科用レーザ機器
のように検出光が微弱な場合は大変重要である。ところ
が例えば検出光の一部をモニタ用として取り出し、その
データをもとにソフト的に補正していた今までの方法で
は、モニタ用光学系が必要であると・いう欠点があった
。

その点では、半導体レーザは、光源駆動用注入電流を調
整するだけで直接光量調整が可能であり、大変簡単かつ
信頼性が高いという利点がある。

また、従来では散乱光という微弱光を測定するためレー
ザ投光部のパワー変動に弱いという問題があり、レーザ
光の一部をモニタ用として取り出し、その光量に基づい
てソフトウェア的に測定結果を補正しなければならなか
ったが、上記実施例のように半導体レーザを光源として
用いることで直接変調が行なえるので、電気回路のみで
投光側の出力を一定に保つことができ、この意味でも装
置の簡略化、コストダウンが可能となる。

また、従来の前房肉蛋白濃度測定装置はレーザ投光部と
スリット投影部、および受光部と観察部がそれぞれ一体
に構成されており、９０”側方散乱光を利用するため観
察部ではこの９０°方自からしか観察を行なえず、装置
をスリットランプとして使用することはできなかったが
、受光部２と観察部４を固定的に結合することによって
スリット投影部３はレーザ投光部１、受光部２が固定さ
れている観察部４とは無関係に回転することができ、従
って装置を細隙灯顕微鏡としても充分使用することがで
きる。

さらに、従来ではビームスプリッタを使用してスリット
光とレーザ光の光＠Ｉｌ整合を行なっていたため、スリ
ット光、レーザ光の光量が低下するという問題があった
が、スリット投影部とレーザ投光部を分離することによ
ってスリット光のロスを小さくすることができる。また
、受光部２と観察部３の分離によって観察部の像を明る
くでき、アライメント判定および被検眼の観察が容易に
行なえるという利点もある。さらに観察部４を被検眼Ｅ
の正面に設定できるため、この点でも観察が容易になる
。また、受光部にレーザ光の波長をピーク波長にもつ干
渉フィルタを押入しているため、これまで暗室でしか行
なえなかった測定を準暗室の環境で実施できるようにな
る。

なお、以上の実施例においてレーザ光の光軸と受光部に
含まれるアライメント用光学系２′の被検眼での光軸は
、被検眼Ｅを含む平面内で約９０”の角度を有する。こ
の角度設定によって、第５図〜第９図で示したアライメ
ント判定を最も感度よく行なえる。しかし、アライメン
ト判定の池度が多少低下しても構わない場合は、レーザ
光の光軸とアライメント用光学系２′の光軸を９０’以
外の角度で交差させてもよいのはもちろんである。例え
ば、受光部とアライメント用光学系２′を上記実施例の
ように共通とせず、それぞれ独立して設けてもよい。

［発明の効果］ 以上から明らかなように、本発明によれば、被検眼にレ
ーザ光を投光し被検眼内の前記レーザ光の散乱状態を介
して所定の測定量を出力する眼科測定装置において、レ
ーザ光源が発生したレーザ光を被検眼内の所定点に集光
するレーザ投光部と、被検眼内からのレーザ散乱光を受
光する光電変換素子を備えた受光部と、装こと被検眼の
アライメント判定のための指標像を被検眼内の前記所定
点に結像させるアライメント指標投影部と、前記レーザ
光および前記アライメント指標の結像光の被検眼での状
態を観察する観察部と、前記観察部を介して観察される
前記レーザ光および前記アライメント指標の結像光の被
検眼内での散乱の位置が前記観察部の視野内で所定の位
置を占めるべく操作者により行なわれる操作に応じ被検
眼と装置間の相対位置を制御する手段を設けた構造を採
用した。また、上記構成に加え、装置と被検眼の相対位
置が所定のアライメント状態にある場合前記レーザ光お
よび前記アライメント指標の結像光の被検眼角膜での散
乱の位置が前記観察部の視野内で占めるべき位置を示す
指標を前記観察部に設ける構成、あるいは前記レーザ光
とアライメント指標の結像光の色を異ならせる構成を採
用しているので、前記レーザ光およびアライメント指標
の結像光の被検眼内での散乱位置は、装置と被検眼のア
ライメントが達成されていれば一義的に一定の位置を占
めるため、この散乱位置を介して装置と被検眼のアライ
メント状態を簡単かつ確実に判定し、装置と被検眼を正
確にアライメントでき、これに基づぎ正確な眼科測定が
可能になるという優れた効果がある。また、観察部の視
野内における前記レーザ光およびアライメント指標の結
像光のアライメント達成時に一義的に定まる散乱位置を
示す指標を設け、レーザ光およびアライメント指標の結
像光の色を異ならせることで、上記判定がさらに容易に
なる。また、アライメント指標投影部の光軸と前記受光
部の光軸の少なくとも一部を共通化することで、装置の
小型！ｌ　ｉ　（ピが図れ、装置設計の自由度が増し、
また、前記レーザ投光部、受光部、指標投影部、および
観察部と独立して被検眼に対して位置決め可能なスリッ
ト投影部を設けることで本装買を細１凍灯顕微鏡として
用いることが可能であるなどの優れた効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明を採用した眼科測定装置の構造を上方か
ら示した説明図、第２図は第１図のレーザ投光部の構造
を側方から示した説明図、第３図は第１図の受光部およ
びアライメント指標投影系の構造を示した説明図、第４
図は本発明を採用した眼科測定装置の構造を側方から示
した説明図、第５図は第１図の装置の観察部の視野を示
した説明図、第６図は第１図の装置の観察部の接眼部周
辺の構造を示した説明図、第７図、第８図はそれぞれ第
１図の装置における。アライメント判定を示した説明図
、第９図は第１図の装置においてアライメントが狂って
いる場合の観察部の視野を示した説明図である。 Ｅ・・・被検眼　　　　　ｌ・・・レーザ投光部２・・
・受光部　　　　　３・・・スリット投影部４・・・観
察部　　　　　５・・・レーザ光源６〜９．１２．１５
．１７、・・・レンズ１１．１４・・・ミラー　１６・
・・ビームスプリッタ２０・・・フォトマル　　５１・
・・制御部５３・・・カウンタ 代理人　　弁理±　７］Ｄ　　Ｉ＋φ　早　・　、・コ
、ニー、・ アライ／シ＝ｆｆ”ｊｒＬグ１詰を明しり第８図 甑慣キｎａ丁テシ２誹り目〔り 第９図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）被検眼にレーザ光を投光し被検眼内の前記レーザ光
   の散乱状態を介して所定の測定量を出力する眼科測定装
   置において、 レーザ光源が発生したレーザ光を被検眼内の所定点に集
   光するレーザ投光部と、 被検眼内からのレーザ散乱光を受光する光電変換素子を
   備えた受光部と、 装置と被検眼のアライメント判定のための指標像を被検
   眼内の前記所定点に結像させるアライメント指標投影部
   と、 前記レーザ光および前記アライメント指標の結像光の被
   検眼での状態を観察する観察部と、 前記観察部を介して観察される前記レーザ光および前記
   アライメント指標の結像光の被検眼内での散乱の位置が
   前記観察部の視野内で所定の位置を占めるべく操作者に
   より行なわれる操作に応じ被検眼と装置間の相対位置を
   制御する手段を設けたことを特徴とする眼科測定装置。 ２）装置と被検眼の相対位置が所定のアライメント状態
   にある場合前記レーザ光および前記アライメント指標の
   結像光の被検眼角膜での散乱の位置が前記観察部の視野
   内で占めるべき位置を示す指標を前記観察部に設けたこ
   とを特徴とする特許請求の範囲第１項に記載の眼科測定
   装置。 ３）前記レーザ光とアライメント指標の結像光の色を異
   ならせたことを特徴とする特許請求の範囲第１項または
   第２項に記載の眼科測定装置。 ４）前記アライメント指標投影部の光軸と前記受光部の
   光軸の少なくとも一部が共通化されていることを特徴と
   する特許請求の範囲第１項から第３項までのいずれか１
   項に記載の眼科測定装置。 ５）所定光源により照明されたスリット像を被検眼内に
   投影するスリット投影部を有し、このスリット投影部を
   前記レーザ投光部、受光部、指標投影部、および観察部
   と独立して被検眼に対して位置決めする手段を設けたこ
   とを特徴とする特許請求の範囲第１項から第４項までの
   いずれか１項に記載の眼科測定装置。 ６）前記レーザ光源として半導体レーザ素子を用いるこ
   とを特徴とする特許請求の範囲第１項から第５項までの
   いずれか１項に記載の眼科測定装置。