JPH02193638A - 眼科測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野コ 本発明は眼科測定装置、さらに詳細には、レーザ光を光
学系を介して眼内、特に前房の所定点に照射し、その眼
内からのレーザ散乱光を検出して眼科疾患を測定する眼
科測定装置に関する。

水掻を判定する上で極めて重要である。従来は細隙灯（
スリットランプ）顕微鏡を用いたグレーディングによる
目視判定が繁用されている一方、定量的な方法としては
写真計測法や、レーザ光を眼内に照射し、そこからの散
乱光を受光して定量分析することによって眼科測定が行
なわれている。

このようなレーザ光を発生するレーザ光源としては、−
船釣にはその手軽さからＨｅ　−Ｎ　ｅレーザ光源が多
用されているが、Ｈｅ−Ｎｅレーザ光源は、大型であり
、スペースをとること、また高圧電源が必要であるなど
の問題があるので、特開昭６３＝２２８４５号公報に開
示されているようにＩ　ｎＧａＡＬＰ系の可視域半導体
レーザが使用されている。

［発明が解決しようとする課題］ 特開昭６３−２２８４５号公報に開示されているように
Ｉ　ｎＧａＡｆＬＰ系の可視域半導体レーザを用いると
、光源が小型、軽量になり、レーザ光源の設置位置の自
由度が増加する、直接変調が可能であり、フィードバッ
ク機構によるレーザ光のパワーが安定する、直線偏光の
レーザ光が得られるなどの利点が得られるが、以下に述
べるような問題点がある。

ａ）半導体レーザが外部温度の影響を受けやすく、それ
によりレーザの発振波長がシフトしてしまう０例えば、
そのシフト量は０．２ｎｔｍ／を程度であり、２０℃温
度が変化するとレーザの発振し 波長は、約４ｎ・ｍシフトしてをまい、またモードホッ
プが発生してしまう。モードホップそれ自体は、測定精
度に影響を与えないが、モードホップが発生したときに
大きなノイズが発生し、そのため測定データの再現性を
悪くしてしまう。

ｂ）レーザのパワーを安定させるためのフィードバック
機構に用いられているフォトダイオードも外部温度の影
響を受けやすく、そのためフィードバック用の出力信号
が変化してしまう。このため、レーザの発振出力は変化
していないにもかかわらず、フォトダイオードからのフ
ィードバック信号が変化してしまうため、レーザ出力の
変化があったとしてフィードバック回路が誤動作し、レ
ーザ光源のパワーの安定度が損なわれてしまう。

従って本発明はこのような問題を解決するために成され
たもので、半導体レーザの温度制御を簡単な手段により
行ない、安定した信頼性のある正確な測定が行なえる眼
科測定装置を提供することを目的とする。

［課題を解決するための手段］ 以上の課題を解決するために、本発明においては、半導
体レーザの温度制御をベルチェ素子を用いて行なう構成
を採用した。

［作　用］ 本発明では、半導体レーザは、吸熱板に固定されベルチ
ェ素子を介して筐体に固定される。半導体レーザで発生
した熱は、吸熱板を介してベルチェ素子で吸収され筐体
を介して外部に放熱される。一方、半導体レーザの温度
が設定値より低い特には、ベルチェ素子が発熱して吸熱
板を介して温めることになる。このような構成により半
導体レーザの温度を２５プラスマイナス１℃の温度に制
御することが可能になる。

［実施例］ 以下、図面に示す実施例に基づき、本発明の詳細な説明
する。

第１図は本発明を採用した眼科測定装置の構造を上方か
ら示している。測定装置は主として符号１〜４で示され
る４つの部分によって構成されている。符号１はレーザ
投光部で、不図示の半導体レーザなどの光源、ミラー１
１、レンズ１２、偏光板１３１ミラー１４によって構成
されている。

紙面に垂直な方向からミラー１１に入射されたレーザ光
はレンズ１２、偏光板１３を経てミラー１４で反射され
、被検眼Ｅの眼房内の一点Ｐに集光される。被検眼Ｅお
よび測定装置の相対的なアライメント（位置決め）に関
しては後述する。

受光部２は集光点Ｐ付近の散乱光を観測するためのもの
で、レンズ１５、後述のアライメント指標系を結合する
ためのビームスプリッタ１６、干渉フィルタ１７、レン
ズ１８、シャッタＳ２、マスク１９および光電子増倍管
（以下フォトマルという）２０から構成される。干渉フ
ィルタ１７はレーザ投光部１のレーザ光の波長をピーク
波長にもつ狭帯域干渉フィルタから構成される。マスク
１９は不要な領域の外乱光をカットするためのもので、
マスク１９と集光点Ｐは受光部２の光学系に関して共役
な位置にある。

スリット投影部３は観察部４の前方に配置され、スリッ
ト像を被検眼Ｅ内の集光点Ｐに形成する。スリット投影
部３の主要部分は第１図の紙面に垂直な方向に配置され
ており、ここではスリット光を被検眼の方向に反射する
プリズム２９のみが図示されている。このスリット投影
部３は後述のようにレーザ投光部１、受光部２、観察部
４とある。

観察部４は２つの接眼レンズ３５を有し、検者が両眼で
測定領域を観察し、また後述のアライメントの際にアラ
イメント状態を確認することができるようになっている
。観察部４はレンズ３０．３１、プリズム３２．３３、
視野絞り３４、接眼レンズ３５から構成される。第１図
の左側の視野絞り３４の位置にはアライメント確認用の
指標３７（後述）が配置されている。

第１図に示すようにレーザ投光部１および受光部２はレ
ーザ投光部１および受光部２の被検眼Ｅに対する光軸が
ほぼ９０゛になるように観察部４に対して固定されてい
る。

続いて、第２図〜第４図を参照して上記のレーザ投光部
！、受光部２およびスリット投影部３の構造について詳
細に説明する。

第２図はレーザ投光部１の構造を示している。

光源である半導体レーザ５のレーザ光はコリメータレン
ズ６によって平行光となり、レンズ７．８から成る楕円
ビーム整形用エキスパンダによフて円形平行光となり、
その後リレーレンズ９、可動ミラー１０を介して前述の
ミラー１１に入射される。可動ミラー１０はモータなど
によって角度調節が行なえるようになっている。

半導体レーザ５は、第１０図（Ａ）、（Ｂ）に詳細に図
示したようにＬ字型の吸熱板１０１、ベルチェ素子１０
０を介してレーザ投光部の筺体１０３に固定されており
、ベルチェ素子１００、吸熱板１０１、半導体レーザ５
からなるユニットは、レーザの出射に邪魔にならないよ
うに窓１０２ａを開けた断熱材１０２によっ覆われて外
界と隔離されている。このベルチェ素子は後述するよう
に半導体レーザの温度制御を行ない半導体レーザの出力
を安定させるためのものである。

可動ミラー１０の角度は、ミラー駆動回路５０を介して
制御部５１によって制御される。この可動ミラー１０の
角度を調節することによってレーザ光を眼内において測
定点を中心にして走査することができるようになる。

制御部５１はマイクロプロセッサなどから構成され、ミ
ラー角度演算および他の制御のためのメモリ５２が接続
されている。メモリ５２には、受光部２の出力値処理用
のカウンタ５３が接続されている。

また、偏光板１３はレーザ光の偏光方向を一定に揃える
ためと、半導体レーザを回転させることゝ吊ν設定時の
光量調節が行なわれるようにするためのものである。

すなわち、半導体レーザは直接変調をかけられるので、
光量調節は注入電流で行なえばよいが、被検眼に入射さ
せる時点で３０μＷまでパワーを落している。このレベ
ルまでは注入電流でパワーを低下させると動作が不安定
となるので初期設定はレーザを回転させて行ないく半導
体レーザは直線偏光であるため）、その後のパワー変動
を直接偏光によって補正している。

第３図は受光部２およびその下部に設けられたアライメ
ント用の指標投影系の構造を側面から示している。

第３図において第１図に図示されていなかった部分は５
図の下部に符号２′により示されるアライメント用の指
標投影のための光学系で、この光学系２′はアライメン
ト用の光源２２、アライメント用の指標２３、レンズ２
４から構成される。

なお、光源２２の発光色は、後に詳述する理由でレーザ
投光部１のレーザ光色と異ならせておくのが望ましい。

アライメント指標投影系２′はビームスプリッタ１６に
よって前述の受光部２の光学系と結合されており、アラ
イメント用指標２３の像は被検眼Ｅの集光点Ｐに結像さ
れる。なお、図示のように受光部２のフォトマル２０の
出力は増幅器２１を介して第２図のカウンタ５３に入力
されている。

第４図はスリット投影部３および観察部４を含む装置全
体の構造を側面から示している。

スリット投影部３、および観察部４（レーザ投光部１と
受光部２が固定されている）は図示のようにＬ字型のフ
レームによって支持されており、これらのフレームは架
台４１の軸４０上に水平面内に回動自在に支持されてい
る。

架台４１全体はジョイスティック４２を用いて不図示の
基台上で移動することができ、被検眼Ｅに対して装置が
アライメントされた時軸４０の軸線が被検眼Ｅの集光点
Ｐに一致する。ジョイスティック４２の先端にはシャッ
タＳ１、Ｓ２の挿入、離脱あるいは開閉を制御するため
のスイッチ４３が設けられている。このような操作系の
構造は公知なので、ここではその詳細な説明は省略する
。

スリット投影部３は光源２５、レンズ２６、スリット板
２７、シャッタＳ１、レンズ２８および前述のプリズム
２９から構成される。スリット投影部３も被検眼Ｅの集
光点Ｐにスリット板２７のスリット像を形成する。この
スリット像は上述のレーザ投光部１の光が集光点Ｐに結
像された時その周囲を照明して集光点Ｐの位置を容易に
確認するために用いられる。また、このスリット投影部
３は他の部分特に観察部４と独立して軸４０上で回動で
き、これにより細隙灯顕微鏡として用いることができる
。その場合観察部４を介してスリット光によって被検眼
の断面観察を行なうことができる。

第４図では観察部４に関しては指標３７が設けられた観
察部左側の光軸周辺の構造が示されている。又、第４図
において符号３６は検者の目を示している。

次に、装置と被検眼のアライメント手順および測定手順
の全体の流れについて説明する。被検者は不図示の公知
のあと当て（装置の不図示の基台に固定）にあごを乗せ
、被検眼と装置の位置が仮に決定される。その後スリッ
ト投影部３の光源２５を点灯し、スリット板２７のスリ
ット像を被検眼Ｅに投影する。また、レーザ投光部１か
らレーザ光を被検眼Ｅの集光点Ｐに集光させる。次にア
ライメント用光源２２を点灯させ、ピンホールなどの形
状を有するアライメント用のアライメント用指標２３を
照明し、受光部２の光学系（レンズ１５、ビームスプリ
ッタ１６）を介して被検眼Ｅの方向に投射する。

次に、これらのスリット像およびアライメント用指標、
レーザ光の入射状態を観察部４を介して観察しながらジ
ョイスティック４２を操作して架台４１を移動させ、被
検眼と装置の位置を正確に合わせる。、第５図は被検眼
Ｅと装置が水平面内で正しく位置決めされた場合に観察
部４を介して観察される像を示している。

第５図において符号しはレーザ投光部１の発したレーザ
光、また符号Ａは受光部２に組み込まれたアライメント
用光学系からの光を示している。

レーザ光しいアライメント光Ａは第１図から明らかなよ
うに水平面内でほぼ９０”の位置関係を有しており、し
たがって被検眼Ｅの左右４５°の方向から角膜に入射す
る。この時、符号ａ、ｂで示すように角膜によって散乱
が生じる。この散乱光ａ、ｂの位置が観察部４の視野Ｒ
内の所定の位置に一致していれば、被検眼Ｅと装置のア
ライメントが達成されたと判定する。

一方、アライメントがずれている場合の観察部４により
観察される像を第９図に示す。第９図の左側は第６図と
同様にアライメントが合っている状態であるが、第７図
のＸ軸方向に関して被検眼と装置の距離が近すぎる場合
には散乱すの位置が第９図右上のように外側にずれる。

逆に、第７図のＸ軸方向に関して被検眼Ｅと装置の距離
が近すぎる場合には第９図の左下のように散乱ａのみが
外側にずれる。

また、第９図の右側に明らかなように、散乱の位置のみ
ならず散乱ａ、ｂの大きさも変化する。

また、第７図のｘ、ｙの合成方向にずれがある場合、散
乱領域の大きさの変化は認識しにくいが、位置のずれは
よくわかるため、散乱ａ％ｂが２つの指標３７の位置に
正確に一致すれば、アライメントが達成されたことにな
る。散乱ａ％　ｂの左右が反転せず、両方ともアライメ
ント確認用指標３７の位置にくる場所は水平面内では１
ケ所しかないため、簡単な操作によって精度よく被検眼
と装置の位置合わせを行なうことができる。

散乱の位置ａ、ｂの正しい位置を示すため、第６図に示
すように観察部４の視野絞り３４の位置に設けるアライ
メント確認用指標３７をあらかじめ設けておく。この指
揮は第６図のような十字線を２つ設けた光学ガラスによ
り構成できる。

第７図に示されるように、被検眼Ｅと装置の水平面内で
の位置決めが正しく行なわれていた時に第６図のアライ
メント確認用指標３７と散乱の位置ａ、ｂ（第５図）が
一致するようにしておけば、例えば被検眼Ｅと装置が第
８図に示すように離れすぎている場合には２つの散乱ａ
、ｂの位置が逆転する。このため、レーザ光りの色を赤
、アライメント光Ａの色を緑など異なる色に設定してお
けば、生じた散乱の色によって距餡の判定を行なえる。

なお、アライメント光Ａは受光部２内に設けられた干渉
フィルタ１７によってカットされ、フォトマル２０には
到達しないため、常時点灯させておいて構わない、なお
、干渉フィルタ１７を使用しない場合には測定中はアラ
イメント用光源２２は消灯させておく。また、先のよう
にアライメント用の光源２２に緑のＬＥＤを用い、レー
ザとして赤色のものを用いれば、これらの散乱光の識別
が容易であり、また測定中に赤色光が緑色のｂの部分を
通過すると正確な測定結果を得られなくなる可能性が高
いため、正確に測定が行なわれたかどうかの判定にも役
立つ。

アライメント用指標と集光点Ｐ１マスク１９と集光点Ｐ
は共役なので、観察部による観察時、例えば緑色（アラ
イメント光Ａ）の集光点はマスク１９の像点を表してい
る。上記構成によれば、レーザ光の集光点とアライメン
ト光Ａの集光点は集光点Ｐで一致（９０°クロス）する
はずであり、していないときは装置のセツティングエラ
ー（あるいは故障）とわかる。

以上のようにしてアライメントが達成された後、第４図
のジョイスティック４２のスイッチ４３を押下すると、
これによってシャッタＳ１が閉じてシャッタＳ２が開放
し、レーザ投光部１のレーザ光の散乱状態を受光部２を
介して測定し、被検眼前房内の蛋白濃度測定を行なうこ
とができる。

この測定においては、レーザ投光部１から被検眼Ｅの集
光点Ｐにレーザ光を投射し、一方集光点Ｐ周辺の散乱光
は受光部２によって受光される。

フォトマル２０の出力は増幅器２１を経て制御部５１に
接続されたカウンタ５３に人力され、フォトマル２０に
よって検出された散乱光強度が単位時間当たりのパルス
数としてカウントされる。このカウンタ５３による計数
値、すなわちサンプリング回数や総パルス数は各単位時
間ごとにメ干り５２内に設定された所定のメモリセル内
に格納される。このメモリ５２内に格納された測定デー
タに基づいて制御部５１が演算処理を行ない、前房的蛋
白濃度が測定される。この測定処理は公知なのでここで
はこれ以上の詳細な説明を省略する。

上記実施例で、半導体レーザは、外部温度の影響を受け
やすく、それによりレーザの発振波長が０．２ｎｍ／℃
程度シフトしてしまい、そのため測定データの再現性を
悪くしてしまう、また、レーザのパワーを安定させるた
めのフィードバック機構に用いられているフォトダイオ
ードも外部温度の影響を受けやすく、そのためフィード
バック用の出力信号が変化してしまい、レーザ光源のパ
ワーの安定度が損なわれてしまう。そこで、本発明では
、第１図、第１０図に図示したように半導体レーザ５は
、吸熱板１０１に固定されベルチェ素子１００を介して
筐体に固定される。

ベルチェ素子は、２種の異なる金属を接合して電漬を流
した場合、接合部で電流に比例した熱の発生あるいは吸
収が起こる、いわゆるベルチェ効果を利用した素子であ
り、本実施例の場合、半導体レーザの温度制御に利用さ
れる。

半導体レーザで発生した熱は、吸熱板１０１を介してベ
ルチェ素子１００で吸収され筐体を介して外部に放熱さ
れ、一方、半導体レーザ５の温度が設定値より低い時に
は、ベルチェ素子１００が発熱して吸熱板１０１を介し
て温めることになる。このような構成により半導体レー
ザ５の温度を２５プラスマイナス１℃の温度に制御する
ことが可能になる。

また、上記実施例によればレーザ光源として半導体レー
ザを使用していること、また、受光部２とアライメント
指標投影系２′の光学系を共通化していることにより装
置各部の小型軽量化が可能であり、また観察部４に容易
にレーザ投光部１、受光部２を固定し、これらを一体化
することができる。

レーザ光源として特に半導体レーザを用いる利点として
は次に列挙するようなものがある。

１）光源が軽量、小型、コンパクトなため光軸合わせが
容易である。また、装置のコンパクト化、安価、軽量化
が可能になり、さらに光源の取付位置が比較的自由にな
るので、すなわち、小型軽量なため、光学系の構成の自
由度が大きくなる。それにより、例えば上記のように投
光部と受光部を一体化することが可能になる。

２）半導体レーザは、レーザ自体を駆動するために注入
電流を流す必要があり、この注入電流により各種の制御
が可能である。すなわち、光源がレーザ光を発振するた
めには最低限必要な注入電流があり、通常それより大き
い注入電流を流して安定な発振を維持して利用する。と
ころがレーザ光の出力も注入電流に比例するので、温度
や経時変化など種々の原因で被検眼に入射するレーザ光
のパワーが変動した時、それを検知して注入電流を変え
ることによってパワーを元に戻し、これによりパワー変
動の補正が容易に行なえる点は従来のガスレーザとは大
きく異なる利点である。

３）半導体レーザは直線偏光しているので照射光学系内
に偏光板を挿入し、これを回転することでもパワー調整
が行なえる。さらに半導体レーザ自体は非常に小型、軽
量、コンパクトなので、半導体レーザ素子自体を回転さ
せることによっても同じ目的を達成することができる。

４）上記（２）、（３）に示したようにパワー調整にか
かわる手段が条件や目標にあわせて、何通りかが選択で
きること、あるいはそれらを必要に応じて併用できるこ
とは今までにない大ぎなメリットである。

上記のようなパワー変動の補正は、眼科用レーザ機器の
ように検出光が微弱な場合は大変重要である。ところが
例えば検出光の一部をモニター用として取り出し、その
データをもとにソフト的に補正していたいままでの方法
では、モニター用の光学系が必要であるという欠点があ
った。その点では、半導体レーザは、光源駆動用注入電
流を調整するだけで直接光量調整が可能であり、極めて
簡単かつ信顆性が高いという利点がある。

５）半導体レーザの温度がペルチェ素子を用いて制御さ
れるので、レーザの発振波長の温度に依存したシフトが
減少し、測定データの精度を向上させることができる。

また、この温度制御によりレーザのパワーを安定させる
ためのフィードバック機構に用いられているフォトダイ
オードの外部温度に対する影響も減少させることができ
るので、レーザ光源のパワーの安定度を向上させること
ができる。

また、従来では散乱光という微弱光を測定するためレー
ザ投光部のパワー変動に弱いという問題があり、レーザ
光の一部をモニタ用として取り出し、その光量に基づい
てソフトウェア的に測定結果を補正しなければならなか
ったが、上記実施例のように半導体レーザを光源として
用いることで直接変調が行なえるので、電気回路のみで
投光側の出力を一定に保つことができ、この意味でも装
置の簡略化、コストダウンが可能となる。

また、従来の前房的蛋白濃度測定装置はレーザ投光部と
スリット投影部、および受光部と観察部がそれぞれ一体
に構成されており、９０°側方散乱光を利用するため観
察部ではこの９０°方自からしか観察を行なえず、装置
をスリットランプとして使用することはできなかったが
、受光部と観察部を固定的に結合することによってスリ
ット投影部３はレーザ投光部１、受光部２が固定されて
とができる。

さらに、従来ではビームスプリッタを使用してスリット
光ヘレーザ光の光軸整合を行なっていたため、スリット
光、レーザ光の光量が低下するという問題があったが、
スリット投影部と１ノ一ツ投光部を分離するごとによっ
てスリット光のロスを小さくすることができる。また、
受光部と観察部の分離によって観察部の像を明るくでき
、アライメント判定および被検眼の観察が容易に行なえ
るという利点もある。さらに観察部を被検眼の正面に設
定できるため、この点でも観察が容易になる。また、受
光部にレーザ光の波長をピーク波長にもつ干渉フィルタ
を挿入しているため、これまで暗室でしか行なえなかっ
た測定を準暗室の環境で実施できるようになる。

なお、以上の実施例においてレーザ光の光軸と受光部に
含まれるアライメント用光学系の光軸は、被検眼を含む
平面内で９０°の角度を有する。この角度設定によって
、第５図〜第９図で示したアライメント判定を最も感度
よく行なえる。

しかし、アライメント判定の感度が多少低下しても構わ
ない場合は、レーザ光の光軸とアライメント用の光学系
の光軸を９０°以外の角度で交差させてもよいのはもち
ろんである。例えば、受光部とアラ・イメント用の光学
系を上記実施例のように共通と仕ず、それぞれ独立して
設けてもよい。

［発明の効果］ 以上説明したように、半導体レーザの温度制御をベルチ
ェ素子を用いて行なうようにしているので、レーザの発
振波長の温度に依存したシフトが減少し、測定データの
精度を向上させることができる。また、この温度制御に
よりレーザのパワーを安定させるためのフィードバック
機構に用いられているフォトダイオードの外部温度に対
する影響も減少させることができるので、レーザ光源の
パワーの安定度を向上させることができる。これにより
半導体レーザを使用したときの問題点を解決することが
でき、半導体レーザの種々の利点を生かすことが可能に
なり、眼科測定装置のコンパクト化、低価格化、製品の
安定化を達成することが可能になる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明を採用した眼科測定装置の構造を上方か
ら示した説明図、第２図は第１図のレーザ投光部の構造
を側方から示した説明図、第３図は第１図の受光部およ
びアライメント指標投影系の構造を示した説明図、第４
図は本発明を採用した眼科測定装置の構造を側方から示
した説明図、第５図は第１図の装置の観察部の視野を示
した説明図、第６図は第１図の装置の観察部の接眼部周
辺の構造を示した説明図、第７図、第８図はそれぞれ第
１図の装置におけるアライメント判定を示した説明図、
第９図は第１図の装置においてアライメントが狂ってい
る場合の観察部の視野を示した説明図、第１０図（Ａ）
、（Ｂ）は、半導体レーザの支持構造を示した断面図及
び斜視図である。 Ｅ・・・被検眼 １・・・レーザ投光部　　　２・・・受光部３・・・ス
リット投影部　　４・・・観察部５・・・レーザ光源 ６〜９．１２．１５．１７、・・・レンズ１１．１４・
・・ミラー １６・・・ビームスプリッタ　２０・・・フォＩ・マル
５】・・・制御部 １００・・・ベルチェ素子 １０２・・・断熱材 ５３・・・カクンタ １０１・・・吸熱板 アライメシトナリｉｆ）り兇−弓しク 第８図 ￥寿イ十し−ツ′４２文才！↑を訂ぽプｒ６ｂ瓜り第１
０図（Ａ） ｌ冥俵邪才児ず了Ｌｆ）ｊ←月ｒり 第９図 第１０図（Ｂ） 手続補正書（岐） 平成１年７月２４日 補正の内容 ｌ）明細書第２頁第１ ９行目のｒ６３−２２８ ■。 ２゜

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）レーザ光を光学系を介して眼内に照射し、眼内から
   のレーザ散乱光を検出して眼科測定を行なう眼科測定装
   置において、 直線偏光レーザ光を発生する半導体レーザ光源と、 レーザ光源からの光を眼内の所定点に集光させるレーザ
   投光部と、 前記レーザ投光部の光軸とほぼ直交する光軸上に配置さ
   れ眼内からのレーザ散乱光を受光する受光部と、 受光部からの信号を処理して眼科測定を行なう処理手段
   とを設け、 前記半導体レーザの温度制御をベルチェ素子を用いて行
   なうことを特徴とする眼科測定装置。