JPH02195684A - 薄膜el素子 - Google Patents
薄膜el素子Info
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- JPH02195684A JPH02195684A JP1015256A JP1525689A JPH02195684A JP H02195684 A JPH02195684 A JP H02195684A JP 1015256 A JP1015256 A JP 1015256A JP 1525689 A JP1525689 A JP 1525689A JP H02195684 A JPH02195684 A JP H02195684A
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- layer
- thin film
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- high dielectric
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- Pending
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Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明は、交流駆動の薄膜EL(エレクトロルミネセン
ス)素子に関するものである。
ス)素子に関するものである。
(従来の技術)
一般に、この種の薄膜EL素子は、例えば特開昭63−
170891号公報に開示され第4図に示すように二重
絶縁層構造を有し、ガラス等の透明絶縁板から成る基板
l上に蒸着法やスパッタリング法等の適当な方法を用い
てITO等の透明導電材料を素材とする透明電極2を形
成し、次いでこの上に絶縁破壊を防ぐため、SiO2,
AQ201. YzO+、 Taxes等の酸化物絶縁
材料を素材とする第1の絶縁層3、ZnS等の母体材料
内にMn等の発光中心を添加した螢光材料を素材とする
発光層4、第1の絶縁層3と同様な材料から成る第2の
絶縁層5、及び前記透明電極2と対向すると共に反射性
を有する電極としてへa等の導電材料を素材とする背面
電極6をこの順序で順次蒸着法やスパッタリング法等の
適当な方法を用いて積層形成して成るものである。
170891号公報に開示され第4図に示すように二重
絶縁層構造を有し、ガラス等の透明絶縁板から成る基板
l上に蒸着法やスパッタリング法等の適当な方法を用い
てITO等の透明導電材料を素材とする透明電極2を形
成し、次いでこの上に絶縁破壊を防ぐため、SiO2,
AQ201. YzO+、 Taxes等の酸化物絶縁
材料を素材とする第1の絶縁層3、ZnS等の母体材料
内にMn等の発光中心を添加した螢光材料を素材とする
発光層4、第1の絶縁層3と同様な材料から成る第2の
絶縁層5、及び前記透明電極2と対向すると共に反射性
を有する電極としてへa等の導電材料を素材とする背面
電極6をこの順序で順次蒸着法やスパッタリング法等の
適当な方法を用いて積層形成して成るものである。
そして、透明電極2と背面電極6との間に交流電圧を印
加すると、電極2.6間に発生する電界により発光N4
が発光し、基板lを通って外部へ照射される。
加すると、電極2.6間に発生する電界により発光N4
が発光し、基板lを通って外部へ照射される。
(発明が解決しようとする課題)
このような薄膜EL素子においては、発光層4に安定し
た電界を加え、かつ素子の耐圧を高め消費電力や発熱を
少な(するために、絶縁層3.5は通常SiO□やSi
3N、等の高抵抗率で誘電体損の小さい高誘電体材料を
単体でスパッタリングや蒸着などの方法により形成して
いた。しかし、これらの材料は高抵抗率であるため絶縁
層3.5の耐圧が高くなる長所はあるが、逆に、画電極
2.6間に加わる電圧のうち発光層4に分圧される電圧
が少なくなり、EL素子の輝度が低くなる問題があった
。
た電界を加え、かつ素子の耐圧を高め消費電力や発熱を
少な(するために、絶縁層3.5は通常SiO□やSi
3N、等の高抵抗率で誘電体損の小さい高誘電体材料を
単体でスパッタリングや蒸着などの方法により形成して
いた。しかし、これらの材料は高抵抗率であるため絶縁
層3.5の耐圧が高くなる長所はあるが、逆に、画電極
2.6間に加わる電圧のうち発光層4に分圧される電圧
が少なくなり、EL素子の輝度が低くなる問題があった
。
そこで、本発明は前記問題に基づいて成されたものであ
り、素子の高耐圧を維持しながら輝度の向上を達成でき
る薄膜EL素子を提供することを目的とするものである
。
り、素子の高耐圧を維持しながら輝度の向上を達成でき
る薄膜EL素子を提供することを目的とするものである
。
(課題を解決するための手段)
本発明は、対向配設された透明電極と背面電極との間に
少な(とも−側に絶縁層を積層した発光層を設けた薄膜
EL素子において、前記絶縁層が複数種の高誘電体層を
電子ビーム蒸着法により積層して形成されたものである
。
少な(とも−側に絶縁層を積層した発光層を設けた薄膜
EL素子において、前記絶縁層が複数種の高誘電体層を
電子ビーム蒸着法により積層して形成されたものである
。
(作用)
複数種の高誘電体層を電子ビーム蒸着法により積層して
形成された絶縁層は低抵抗率層となり、発光層との接合
面からの電子注入が高まり、高耐圧を維持しながら発光
輝度を向上できる。
形成された絶縁層は低抵抗率層となり、発光層との接合
面からの電子注入が高まり、高耐圧を維持しながら発光
輝度を向上できる。
(実施例)
以下、図面に基づいて本発明の一実施例を詳述する。尚
、本実施例において、第4図で示した従来例と同一機能
を有する箇所には同一符号を付しその詳細な説明は省略
する。第1図は第1実施例を示しており、透光性のガラ
ス基板1 (N A −40)上には従来例と同様な方
法例えばスパッタリング法により透明電極2を膜厚20
00人で形成し、この透明電極2を所望のパターンにバ
ターニングし、その上にスパッタリング法でBaTi0
+を膜厚6000 人積層し第1の絶縁層3を形成し、
さらにその上にZnS : TbFをスパッタリング法
により5000人積層し発光N4を形成する。そして、
真空中で350℃。
、本実施例において、第4図で示した従来例と同一機能
を有する箇所には同一符号を付しその詳細な説明は省略
する。第1図は第1実施例を示しており、透光性のガラ
ス基板1 (N A −40)上には従来例と同様な方
法例えばスパッタリング法により透明電極2を膜厚20
00人で形成し、この透明電極2を所望のパターンにバ
ターニングし、その上にスパッタリング法でBaTi0
+を膜厚6000 人積層し第1の絶縁層3を形成し、
さらにその上にZnS : TbFをスパッタリング法
により5000人積層し発光N4を形成する。そして、
真空中で350℃。
1時間の熱処理を行った後、電子ビーム蒸着法により先
ず高誘電体であるHfO□(酸化ハフニュウム)層7を
400人の膜厚で、次に5t(h(酸化ケイ素)N8を
600人の膜厚で、最後にHf(hWi7を800人の
膜厚で順次積層することにより複数種の高誘電体をサン
ドインチ状に積層した第2の絶縁層5を形成する。この
場合、oroz層7の膜厚は200〜2000人。
ず高誘電体であるHfO□(酸化ハフニュウム)層7を
400人の膜厚で、次に5t(h(酸化ケイ素)N8を
600人の膜厚で、最後にHf(hWi7を800人の
膜厚で順次積層することにより複数種の高誘電体をサン
ドインチ状に積層した第2の絶縁層5を形成する。この
場合、oroz層7の膜厚は200〜2000人。
Sin、層8の膜厚は100〜2000人の範囲内であ
る。
る。
その後、第2の絶縁層5の上に能等により背面電極6を
膜厚2000人形成して薄膜EL素子が形成される。
膜厚2000人形成して薄膜EL素子が形成される。
以上のように構成される本発明の薄膜EL素子は、第2
の絶縁層5を電子ビーム蒸着法により異なる高誘電体で
あるHf01層7とSi02層8との積層構造で形成し
たものである。この場合、電子ビーム蒸着法によりHf
O,Jii 7とSiO□層8とを積層すると第2の絶
縁層5が10”Ω1程度の低抵抗層となり、従って、こ
の第2の絶縁層5と発光層4との接合面からの電子注入
が高まり、発光輝度及び発光効率が第2図に示すように
、従来の例えばTatOsの単層構造を用いたものと比
較して約2倍に向上する。尚、第2図の輝度(L)の目
盛りは対数であり・従来のTaxesをスパッタリング
で形成するとその抵抗率は10′6〜1012Ω0とな
っている。また、第2の絶縁層5は耐圧の高い5inz
層8を含んでいるので、素子の耐圧は充分高い、そして
、このSiO□層8の膜厚は300〜1200人の範囲
内とすると特に良好な特性を得られるが、これより厚く
すると発光輝度は低下し、これより薄くすると絶縁破壊
が起き易くなる。このようにして、本発明によれば高耐
圧を維持しながら発光輝度の向上を達成できる。
の絶縁層5を電子ビーム蒸着法により異なる高誘電体で
あるHf01層7とSi02層8との積層構造で形成し
たものである。この場合、電子ビーム蒸着法によりHf
O,Jii 7とSiO□層8とを積層すると第2の絶
縁層5が10”Ω1程度の低抵抗層となり、従って、こ
の第2の絶縁層5と発光層4との接合面からの電子注入
が高まり、発光輝度及び発光効率が第2図に示すように
、従来の例えばTatOsの単層構造を用いたものと比
較して約2倍に向上する。尚、第2図の輝度(L)の目
盛りは対数であり・従来のTaxesをスパッタリング
で形成するとその抵抗率は10′6〜1012Ω0とな
っている。また、第2の絶縁層5は耐圧の高い5inz
層8を含んでいるので、素子の耐圧は充分高い、そして
、このSiO□層8の膜厚は300〜1200人の範囲
内とすると特に良好な特性を得られるが、これより厚く
すると発光輝度は低下し、これより薄くすると絶縁破壊
が起き易くなる。このようにして、本発明によれば高耐
圧を維持しながら発光輝度の向上を達成できる。
第3図は第2実施例を示しており、第1実施例における
SiO□N8の代わりにTames(酸化タンタル)層
9を積層したものであり、同様に電子ビーム蒸着法によ
り形成される。この場合、Tames [9の膜厚は6
00人であり、好ましくは100〜2000人の範囲で
ある。そして、第2実施例の電圧と輝度の特性も第2図
に示すように従来より2倍程度輝度が向上している。
SiO□N8の代わりにTames(酸化タンタル)層
9を積層したものであり、同様に電子ビーム蒸着法によ
り形成される。この場合、Tames [9の膜厚は6
00人であり、好ましくは100〜2000人の範囲で
ある。そして、第2実施例の電圧と輝度の特性も第2図
に示すように従来より2倍程度輝度が向上している。
以上、本発明の実施例を詳述したが、本発明の要旨の範
囲内で適宜変形できる。例えば、前記実施例では第2の
絶縁層5を3層の積層構造としたが少なくとも2層構造
でも良い。また、第1の絶縁層3も同様に複数種の高誘
電体の積層構造にしても良い。さらに、高誘電体の種類
は前記実施例に限定されない。また、絶縁層3.5のど
ちらか一方だけを有する薄膜EL素子にも適用できる。
囲内で適宜変形できる。例えば、前記実施例では第2の
絶縁層5を3層の積層構造としたが少なくとも2層構造
でも良い。また、第1の絶縁層3も同様に複数種の高誘
電体の積層構造にしても良い。さらに、高誘電体の種類
は前記実施例に限定されない。また、絶縁層3.5のど
ちらか一方だけを有する薄膜EL素子にも適用できる。
以上詳述したように本発明によれば、対向配設された透
明電極と背面電極との間に少なくとも一側に絶縁層を積
層した発光層を設けた薄膜EL素子において、前記絶縁
層が複数種の高誘電体層を電子ビーム蒸着法により積層
して形成されたことにより、素子の高耐圧を維持しなが
ら輝度の向上を達成できる薄膜EL素子を提供すること
ができる。
明電極と背面電極との間に少なくとも一側に絶縁層を積
層した発光層を設けた薄膜EL素子において、前記絶縁
層が複数種の高誘電体層を電子ビーム蒸着法により積層
して形成されたことにより、素子の高耐圧を維持しなが
ら輝度の向上を達成できる薄膜EL素子を提供すること
ができる。
第1図は本発明の第1実施例を示す断面図、第2図は印
加電圧と輝度の特性を示すグラフ、第3図は第2実施例
を示す断面図、第4図は従来例を示す断面図である。 2・・−透明電極 4−発光層 5−第2の絶縁層 6−背面電極 7−・HfO2層(高誘電体層) 3−−−5iOz層(高誘電体層)
加電圧と輝度の特性を示すグラフ、第3図は第2実施例
を示す断面図、第4図は従来例を示す断面図である。 2・・−透明電極 4−発光層 5−第2の絶縁層 6−背面電極 7−・HfO2層(高誘電体層) 3−−−5iOz層(高誘電体層)
Claims (1)
- (1) 対向配設された透明電極と背面電極との間に少
なくとも一側に絶縁層を積層した発光層を設けた薄膜E
L素子において、前記絶縁層が複数種の高誘電体層を電
子ビーム蒸着法により積層して形成されたことを特徴と
する薄膜EL素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1015256A JPH02195684A (ja) | 1989-01-25 | 1989-01-25 | 薄膜el素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1015256A JPH02195684A (ja) | 1989-01-25 | 1989-01-25 | 薄膜el素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02195684A true JPH02195684A (ja) | 1990-08-02 |
Family
ID=11883776
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1015256A Pending JPH02195684A (ja) | 1989-01-25 | 1989-01-25 | 薄膜el素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02195684A (ja) |
-
1989
- 1989-01-25 JP JP1015256A patent/JPH02195684A/ja active Pending
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