JPH02205334A - 半導体装置の製造方法 - Google Patents

半導体装置の製造方法

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JPH02205334A
JPH02205334A JP1025241A JP2524189A JPH02205334A JP H02205334 A JPH02205334 A JP H02205334A JP 1025241 A JP1025241 A JP 1025241A JP 2524189 A JP2524189 A JP 2524189A JP H02205334 A JPH02205334 A JP H02205334A
Authority
JP
Japan
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solvent
semiconductor element
bump
finger
film carrier
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1025241A
Other languages
English (en)
Inventor
Ikuo Endo
遠藤 郁夫
Yuji Yamaguchi
雄二 山口
Yoshimasa Hiruma
比留間 義昌
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Orient Watch Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH02205334A publication Critical patent/JPH02205334A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/701Tape-automated bond [TAB] connectors

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、フィルムキャリアを用いた半導体装置の製造
方法に関するものである。
(従来の技術) 従来、フィルムキャリアを用いた半導体装置の製造方法
には、第2図に示すように、ボンディングステージ16
の上に半導体素子15を搭載した後、ボンディングステ
ージ16により半導体素子を予備加熱し、その後相対す
る半導体素子15のバンプ14とフィルムキャリア13
のフィンガー12とを位置合わせして、ボンディングツ
ール11を押し下げて加圧加熱して、大気中で接合する
方法が知られていた。
(発明が解決しようとする課H) しかし、このような半導体装置の製造方法において、予
備加熱をする場合、ボンディングステージ内のヒーター
による半導体素子の加熱なので。
半導体素子から外気へ逃げる熱量が場所によって違う為
に、半導体素子の熱分布が不均一となり。
またフィルムキャリアには予備加熱されないので安定し
た接合部が得られない欠点があった。
さらに、予備加熱を大気中で行う為に、接合部が酸化し
、安定した接合部が得られず1歩留りの低下を招くとい
う欠点があった。
そこで1本発明は、従来のこのような欠点を解決する為
、半導体素子とフィルムキャリアを共に均一な温度に予
備加熱し、かつ接合部の酸化のない安定した接合部を得
ることを目的としている。
(課題を解決するための手段) 前記課題を解決する為にこの発明は、半導体素子とフィ
ルムキャリアを溶剤の飽和蒸気内に保持することにより
、溶剤の気化潜熱にて予備加熱した後に、ボンディング
ツールにより加圧加熱して接合するようにした。
(作用) このような方法により、半導体素子とフィルムキャリア
を温度が均一な溶剤の飽和蒸気内に保持すると、溶剤の
気化潜熱が半導体素子とフィルムキャリアに伝わり、そ
の結果均一な予備加熱が得られ、その後にボンディング
ツールによる加圧加熱で安定した接合が14られる。そ
れに、飽和蒸気内の接合は、酸素が希薄である為、フラ
フクスなしでも酸化が防げる。
(実施例) 以下に本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図は2本発明の一実施例を示す断面図である。ボン
ディングステージ6は、ステンレス槽7の中に設けられ
る。半導体素子5をボンディングステージ6に配置する
。ステンレス槽7の下部には、ヒーター9を設けてあり
、溶剤8を入れである。溶剤8は、ヒーター9により5
0〜150“Cに加熱され、気化する。溶剤8の蒸気は
、ボンディングステージ6上に配置されたバンプ4を有
する半導体素子5と、そのバンプ4に相対する如く配置
されたフィンガー2を有するフィルムキャリア3まで充
満する。予備加熱は、半導体素子5と予め5はんだ、ス
ズ等の溶融金属のめっきが施しであるフィルムキャリア
3を、溶剤の気化潜熱により、溶融金属が熔融しない温
度で、1秒間保持する。その後1位置合わせしたバンプ
4とフィンガー2に300〜500℃に加熱したボンデ
ィングツールlを押し下げて、加圧しながら0.5秒間
保持することにより、フィンガー4とバンプ6を接合す
る。ステンレス槽7の上部には、溶剤8の蒸気を外気に
逃さない為に、冷却管10が付設しである。
尚1本発明における推奨溶剤としてベルフルオリ酸塩ア
ミンをあげる。以下推奨溶剤の住友3M社商品名を記す
商品名          沸点 フロリナート FC−7256℃ 〃   FC−8480℃ FC−7797℃ FC−75102℃ F(、−40155°C (発明の効果) 本発明は以上説明したように。
溶剤の気化潜熱 で半導体素子とフィルムキャリアを予備加熱する方法に
することにより、半導体素子とフィルムキャリアの予備
加熱を均一に行うことができ、7g剤の飽和蒸気内の接
合なので、酸素が希薄な為、接合部を酸化することなく
良好な接続ができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は1本発明の一実施例を示す断面図である。第2
図は、従来の方法を示す断面図である。 ボンディングツール フィンガー フィルムキャリア バンプ 半導体素子 溶剤

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半導体素子のバンプとフィルムキャリアに形成さ
    れたフィンガーを予備加熱した後、ボンディングツール
    による加圧および加熱により前記バンプと前記フィンガ
    ーを接合するフィルムキャリアの製造方法において、前
    記予備加熱を溶剤の気化潜熱により行うことを特徴とす
    る半導体装置の製造方法。
  2. (2)溶剤がベルフリオル酸塩アミンである請求項1記
    載の半導体装置の製造方法。
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Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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