JPH02210210A - 面ブレセンサ - Google Patents

面ブレセンサ

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Publication number
JPH02210210A
JPH02210210A JP3185089A JP3185089A JPH02210210A JP H02210210 A JPH02210210 A JP H02210210A JP 3185089 A JP3185089 A JP 3185089A JP 3185089 A JP3185089 A JP 3185089A JP H02210210 A JPH02210210 A JP H02210210A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
disk
rotating disk
slit
slit light
Prior art date
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Pending
Application number
JP3185089A
Other languages
English (en)
Inventor
Hitoshi Inoue
仁 井上
Mikio Kyomasu
幹雄 京増
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hamamatsu Photonics KK
Original Assignee
Hamamatsu Photonics KK
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Publication date
Application filed by Hamamatsu Photonics KK filed Critical Hamamatsu Photonics KK
Priority to JP3185089A priority Critical patent/JPH02210210A/ja
Publication of JPH02210210A publication Critical patent/JPH02210210A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、正反射率が高い回転円盤の面ブレ量を検出
する面ブレセンサに関するものである。
〔従来技術〕
第5図は、従来のチルトセンサを示すものである。この
チルトセンサは、回転円盤1に光を照射するLED2と
、その反射光を受光する為に、LED2の側方に配置さ
れた位置検出素子3を備えて構成されている。この回転
円盤1とLED2、及び回転円盤1と位置検出素子3と
の間には、投光レンズ4及び受光レンズ5が設けられて
いる。
LED2から出射された光は、投光レンズ4で平行光線
に近付けられ、回転円盤1で反射する。この反射光の一
部は受光レンズ5で集光され、位置検出素子3の受光面
に入射する。例えば、回転円盤1とLED2との間の距
離が変化すると、位置検出素子3の受光面における集光
位置が移動するので、この位置ズレを検出することによ
り、回転円盤1とLED2との間の距離や面プレ量を検
出することができる。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、従来の面ブレセンサによると、回転円盤
1がチルトする状態では誤差が生じ、正確に回転円盤1
までの距離をalll定することができなかった。この
欠点を補う為には、センサを複数個使用しなければなら
ず非経済的である。
また、投光レンズ4、受光レンズ5等のレンズ光学系を
持つ為、光軸合わせ等の調整が必要になり、センサ自体
が高価になっていた。
そこで本発明は、光学系調整機構が不要な面ブレセンサ
を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
上記課題を達成する為、この発明はスリット光源、位置
検出素子、及び演算手段を備え、正反射率が高い回転円
盤の面ブレ量を検出する面ブレセンサを構成する。ここ
で、スリット光源は回転円盤の接線方向に沿って、スリ
ット光を当該回転円盤に照射し、位置検出素子はスリッ
ト光の反射光を受光する為に回転円盤の半径方向に延在
した受光面を有し、演算手段は受光面における反射光の
位置に基づき、回転円盤の面プレ量を検出する。
〔作用〕
この発明は、以上のように構成されているので、スリッ
ト光源から出射され、回転円盤で反射されたスリット光
は、位置検出素子の受光面が延在する方向と直交する方
向に投射される。演算手段では、回転円盤が面ブレのな
い時の投射位置(基準位置)と、面ブレが発生した時の
投射位置を比較することにより、回転円盤の面プレ量が
検出さ・れる。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例に係る面ブレセンサを添附図
面に基づき説明する。なお、説明において同一要素には
同一符号を使用し、重複する説明は省略する。
第1図は、この実施例に係る面ブレセンサを示す斜視図
である。この面ブレセンサは、基本的にスリット光源6
、位置検出素子7、及び演算処理部(演算手段)(図示
せず)を備えて構成されている。スリット光源6及び位
置検出素子7は、回転円盤8と対面するように配置され
ており、演算処理部は位置検出素子7に内蔵されている
スリット光FA6は、LED (図示せず)上に細長い
スリット6aを備えて構成されている。この場合、スリ
ット6aはLEDと回転円盤8との間に設けられている
ので、LEDから出射された光はスリット状に回転円盤
8へ投射される。回転円盤8は、少なくとも、スリット
光源6が対向する位置に正反射率の大きい反射面(図示
せず)を円周方向に備えており、スリット光R6からの
スリット光を位置検出素子7の受光面へと反射する。
位置検出素子7は、受光面としてPSD(Positi
on−8ensitive Detectors) 7
 a及びpsD用ヘッドアンプ7bを含んで構成されて
おり、このPSD7a上に投射されたスリット光から、
その投射位置を検出することができる。具体的には、P
SD7aにスリット光が入射すると、入射位置には光エ
ネルギに比例した電荷が発生する。
この発生した電荷は光電流として抵抗層(図示せず)を
通り、電極より出力される。この抵抗層は全面に均一な
抵抗値を持つように作られているので、光電流は電極ま
での距離(抵抗値)に逆比例して分割され、電極から取
り出される。この電極から取り出される電流の差または
比を演算処理部で求めることにより、入射光エネルギと
は無関係に、光の入射位置を求めることができる。演算
処理部は、例えば演算処理回路を組み込んだICで構成
されており、スリット光の投射位置に対応する電圧値V
1を出力することができる。なお、上記LEDにはLE
D用ドライバ9がドライバ用トランジスタ10及び電流
設定用抵抗11を介して接続されている。
第2図は、本発明の基本原理を示す側面図である。スリ
ット光源6から出射されたスリット光は、回転円盤8の
接線方向に沿って回転円盤8の反射面に照射され、位置
検出素子7のPSD7aに投射される。従って、例えば
回転円盤8の反射面と直交する方向におろした垂線に対
して、一定の傾斜角をもって照射される。
例えば、回転円盤8が面ブレしていないときのPSD7
aに投射されたスリット光の位置を基準位置とすれば、
回転円盤8がΔLだけ面ブレした場合、PSDTa上の
位置ずれ量はΔXになる(第1図参照)。ここで、スリ
ット光源6から回転円盤8までの距離をL1基準位置か
らスリット6aまでの距離をBとすれば、 ΔX−B・ΔL/L・・・(1) が成立する。ここで、PSD7aの長手方向の長さをC
1全光電流を電圧に変換した時の電圧値をVOとすれば
、ΔXとの関係式は vl −vo  (0,5−、ΔX/C)    ・ 
(2)になる。この(2)式に(1)式を代入すると、
Vl −VO(0,5−B−ΔL/(L−C))が得ら
れる。従って、スリット光の投射位置に対応する電圧値
v1から回転円盤8の面プレ量ΔLを算出することがで
きる。
なお、PSD7aにおけるダイボンド上の誤差は、ΔX
の代わりに、その誤差を考慮して(Δχ±α)を使用す
ることにより補正することができる。この場合、出力電
圧値v1は、 Vl −VO(0,5−B−AL/ (L−C))±V
Oα/C で与えられる為、±vOα/CだけPSD7aをオフセ
ットにして調節すればよい。従って、光学的調整が不要
になるので、面ブレセンサの製造が容易になる。
第3図は、回転円盤8に対する面ブレセンサの配置例を
示す平面図である。ここで重要なことは、回転円盤8の
接線方向に沿ってスリット光が回転円盤8に照射される
ように、スリット6aの長手方向と接線方向がほぼ一致
している点、反射光の長手方向とPSD7aの延在方向
とが直交するように、PSD7aの延在方向と半径方向
がほぼ一致している点である。このように配置すれば、
回転円盤8がチルトしている場合でも、このチルト成分
による変化は反射光の位置をPSD7aの延在方向と直
交する方向に移動させるにすぎず、位置検出素子の受光
面におけるスポット光の位置の変化を小さくすることが
できる。その為、面ブレ成分のみを検出することができ
る。
第4図は、非球面レンズ付きLEDの指向特性を示すも
のである。スリット光源として、シリンドリカルレンズ
等の非球面レンズ12を有するLEDチップ13に、ス
リットを組み合わせて使用することにより、レンズ光学
系が不要になる。通常のLEDでは、パッケージから光
が出射される段階で散乱が生じ、被測定物に当る光は点
光源にならないので設計が困難であった。しかし、非球
面レンズ付きLEDを使用すれば点光源が容易に実現で
き、スポットサイズの予測が可能になり設計が容易にな
る。この場合、LEDチップ13の大きさをl)、LE
Dチップ13と非球面レンズ12までの距離をL′、非
球面レンズ12から非測定物までの距離りとすれば、L
EDチップ13のスポットサイズは、(L/L’ )N
で与えられる。
なお、この発明は上記実施例に限定されるものではない
。例えば、この実施例では面プレ量を検出することがで
きるが、原理的にはスリット光の移動距離を検出してい
るので、距離センサとして利用できる。
また、位置検出素子としてPSDを使用しているが、二
分割ホトダイード等を使用することができる。
〔発明の効果〕
この発明は1、以上説明したように構成されているので
、光学系の調節を必要としない面ブレセンサを提供する
ことができる。
また、レンズ光学系を持たないので、小型化にすること
が容易であり、回転円盤の面プレ検出だけではなく、反
射率の異なる物体の距離検出に使用することができる。
その為、例えば両面コピー等の普及により要求が強くな
ってきたコピーの紙送り検出センサとして利用できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係る面ブレセンサを示す斜
視図、第2図は本発明の基本原理を示す側面図、第3図
は回転円盤に対する面ブレセンサの配置例を示す平面図
、第4図は非球面レンズ付きLEDの指向特性を示す説
明図、第5図は従来技術に係る面ブレセンサを示す説明
図である。 1.8・・・回転円盤、2・・・LED、3.7819
位置検出素子、4・・・投光レンズ、5・・・受光レン
ズ、6・・・スリット光源、9・・・LED用ドライバ
、10・・・ドライバ用トランジスタ、11・・・電流
設定用抵抗、12・・・非球面レンズ、13・・・LE
Dチップ。 特許出願人  浜松ホトニクス株式会社代理人弁理士 
  長谷用  芳  樹間          山  
  1)   行    −本発明の基本原理 第2図 面プレセンサ 第1図 面ブレセンサの配置例 第3図 非球面レンズ付’LEDの指向特性 第4図 従 来 技 術 第 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 正反射率が高い回転円盤の面ブレ量を検出する面ブレセ
    ンサにおいて、 前記回転円盤の接線方向に沿って、スリット光を当該回
    転円盤に照射するスリット光源と、前記スリット光の反
    射光を受光する為に前記回転円盤の半径方向に延在した
    受光面を有する位置検出素子と、 前記受光面における前記反射光の位置に基づき、前記回
    転円盤の面ブレ量を検出する演算手段とを備えて構成さ
    れている面ブレセンサ。
JP3185089A 1989-02-10 1989-02-10 面ブレセンサ Pending JPH02210210A (ja)

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JP3185089A JPH02210210A (ja) 1989-02-10 1989-02-10 面ブレセンサ

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JP3185089A JPH02210210A (ja) 1989-02-10 1989-02-10 面ブレセンサ

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JP3185089A Pending JPH02210210A (ja) 1989-02-10 1989-02-10 面ブレセンサ

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61228306A (ja) * 1986-01-20 1986-10-11 Hitachi Ltd 面振れ測定装置
JPS62172202A (ja) * 1986-01-25 1987-07-29 Nissan Motor Co Ltd 距離および角度の測定方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61228306A (ja) * 1986-01-20 1986-10-11 Hitachi Ltd 面振れ測定装置
JPS62172202A (ja) * 1986-01-25 1987-07-29 Nissan Motor Co Ltd 距離および角度の測定方法

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