JPH022107A - シンクロトロン放射光露光装置 - Google Patents
シンクロトロン放射光露光装置Info
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- JPH022107A JPH022107A JP63145914A JP14591488A JPH022107A JP H022107 A JPH022107 A JP H022107A JP 63145914 A JP63145914 A JP 63145914A JP 14591488 A JP14591488 A JP 14591488A JP H022107 A JPH022107 A JP H022107A
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- JP
- Japan
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- synchrotron radiation
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- radiation
- synchrotron
- rays
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- Pending
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- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 title abstract 4
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70058—Mask illumination systems
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Particle Accelerators (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野1
本発明は、シンクロトロン放射光源から放射されるシン
クロトロン放射光を利用したシンクロトロン放射光露光
装置に関する。
クロトロン放射光を利用したシンクロトロン放射光露光
装置に関する。
[従来の技術1
近年、シンクロトロン放射光を利用した露光技術の研究
開発か急j虫に広かってさている。第2図は、従来のシ
ンクロトロン放射光露光装置の構成図であり、同様の構
成図は、例えば1984年に発行された「ネ^密機械」
第50巻、11号、51〜56真に示されている。同図
において、シンクロトロン放射光源であるストレイシリ
ング1から放tAされるシンクロトロン放射光2は、ビ
ームライン3を通して露光装置4に導かれる。ストレイ
シリング1のすぐ外側には放射光遮蔽壁5が設けられて
いる。
開発か急j虫に広かってさている。第2図は、従来のシ
ンクロトロン放射光露光装置の構成図であり、同様の構
成図は、例えば1984年に発行された「ネ^密機械」
第50巻、11号、51〜56真に示されている。同図
において、シンクロトロン放射光源であるストレイシリ
ング1から放tAされるシンクロトロン放射光2は、ビ
ームライン3を通して露光装置4に導かれる。ストレイ
シリング1のすぐ外側には放射光遮蔽壁5が設けられて
いる。
[発明が解決しようとする課題1
上記従来の構成においC1放割光改蔽壁5は、ストレイ
シリング1内を蓄積°電子流か安定に周回している場合
であっても、ストレイシリング1の外側にX線、γ線等
の漏洩かあり、人体にとって危険て゛あるため、これら
か漏洩するのを防ぐために設けられており、通常、数メ
ートル厚以内のコンクリート壁か用いられる。
シリング1内を蓄積°電子流か安定に周回している場合
であっても、ストレイシリング1の外側にX線、γ線等
の漏洩かあり、人体にとって危険て゛あるため、これら
か漏洩するのを防ぐために設けられており、通常、数メ
ートル厚以内のコンクリート壁か用いられる。
しかしながら、特に、ストレイシリングに高エネルギー
の電子流を蓄積するとぎには、ストレイシリングの外に
漏洩覆るX線、γ線等は放射光遮蔽壁があっても、壁を
通して漏れてくる可能性かあり、人体にとって危険であ
る。このような電子流蓄積の場合は、第2図の構成全体
を含む施設外に退避することが多い。また、突然電子流
がダウン(止まる)したとぎは、遮蔽壁を通して、壁の
近傍では、X線、γ線が漏れる可能性も高い。このよう
にビームラインの近傍はX線、γ線漏洩の可能性があり
、危険である。
の電子流を蓄積するとぎには、ストレイシリングの外に
漏洩覆るX線、γ線等は放射光遮蔽壁があっても、壁を
通して漏れてくる可能性かあり、人体にとって危険であ
る。このような電子流蓄積の場合は、第2図の構成全体
を含む施設外に退避することが多い。また、突然電子流
がダウン(止まる)したとぎは、遮蔽壁を通して、壁の
近傍では、X線、γ線が漏れる可能性も高い。このよう
にビームラインの近傍はX線、γ線漏洩の可能性があり
、危険である。
シンクロトロン放射光露光装置をVLSI等の生産のた
めに用いようとする場合、第2図に示したような従来の
構成の装置では上記の事項からはなはだ不都合であるこ
とか理解される。即ら、露光装置の場所においては作業
者か100%安全な状態で常に作業できる環境でな(プ
ればならない。そのためには、24時間態勢で敢剣線の
被爆を全く受ける心配なく動ける環境でないと、生産の
効率化は達成できず、大量生産によるコスト低減のメリ
ットを1することはできない。
めに用いようとする場合、第2図に示したような従来の
構成の装置では上記の事項からはなはだ不都合であるこ
とか理解される。即ら、露光装置の場所においては作業
者か100%安全な状態で常に作業できる環境でな(プ
ればならない。そのためには、24時間態勢で敢剣線の
被爆を全く受ける心配なく動ける環境でないと、生産の
効率化は達成できず、大量生産によるコスト低減のメリ
ットを1することはできない。
上記の点から、ストレイシリング近傍のX線。
γ線等を強力に受ける部分に放射光遮蔽壁を配置覆る従
来の構造は、X線等の漏洩の危険・e4か大きく、作業
者にとって危険であり、4!めで不都合であることか理
解される。
来の構造は、X線等の漏洩の危険・e4か大きく、作業
者にとって危険であり、4!めで不都合であることか理
解される。
本発明の目的は、このような従来の問題貞を解決して、
1′1業者に100%の安全性を保障し、生産効率を畠
めることの可能なシンクロトロン敢q−1光露光装置を
提供することtこある。
1′1業者に100%の安全性を保障し、生産効率を畠
めることの可能なシンクロトロン敢q−1光露光装置を
提供することtこある。
[課題を解決するための手段1
本発明は、シンクロトロン欣銅光源からの敢OJ光をビ
ームラインにより露光装置に導き、露光を(iうシンク
ロトロン放口]光露光装置において、シンクII 1−
IIン敢q4光源、ビームラインおよび露光装置の1
へてを内包する敢ql光遮蔽壁と、該放射光遮蔽壁の外
側から露光装置l\マスクおよびウェハを供給]Jる供
給機構とを備えてなることを特徴とするシンクロトロン
放射光露光装置である。
ームラインにより露光装置に導き、露光を(iうシンク
ロトロン放口]光露光装置において、シンクII 1−
IIン敢q4光源、ビームラインおよび露光装置の1
へてを内包する敢ql光遮蔽壁と、該放射光遮蔽壁の外
側から露光装置l\マスクおよびウェハを供給]Jる供
給機構とを備えてなることを特徴とするシンクロトロン
放射光露光装置である。
[作用]
本発明においては、従来ストレイシリングの外周壁のす
ぐ外側に配設されていたfi1割光鴻蔽甲を、ビームラ
インおよび露光装置をも含めて囲うようにして配設する
と共に、(の放6=1光遮蔽壁の外側から供給機構によ
りマスクおにびウェハを供給するようにして各種の漏洩
に対重る安全性を確保したちのである。
ぐ外側に配設されていたfi1割光鴻蔽甲を、ビームラ
インおよび露光装置をも含めて囲うようにして配設する
と共に、(の放6=1光遮蔽壁の外側から供給機構によ
りマスクおにびウェハを供給するようにして各種の漏洩
に対重る安全性を確保したちのである。
即ち、放射光遮蔽壁はストレイシリングから離れて、X
線等が従来J、りも弱められた場所に配設されることと
なり、該遮蔽壁の外側は100%に近い安全性か確保さ
れる。また、露光装置へのマスクおよびウェハの供給は
該遮蔽壁の外側から供給機構を通じて行われるので、露
光装置の作業者はX線、γ線等の被爆の心配かなく、常
時生産態勢を維持することかできる。
線等が従来J、りも弱められた場所に配設されることと
なり、該遮蔽壁の外側は100%に近い安全性か確保さ
れる。また、露光装置へのマスクおよびウェハの供給は
該遮蔽壁の外側から供給機構を通じて行われるので、露
光装置の作業者はX線、γ線等の被爆の心配かなく、常
時生産態勢を維持することかできる。
[実施例1
以下本発明の実施例について、図面を参照しながら説明
する。
する。
第1図は本発明の一実施例におけるシンクロトロン放射
光露光装置の構成図である。同図において、シンクロト
ロン欣射光源であるストレイシリング1から敢剣される
シンクロトロン放射光2は、ストレイシリング1に多数
接続されたビームライン3を通して露光装置4に導かれ
る。露光装置4の外側には、放射光遮蔽壁6が配設され
る。さらに、h父q・1光遮蔽壁6の外側から、マスク
とつTハを供給りる供給機構7か配設される。本構成の
ようにづれば、作業者は、放射光遮蔽壁6の外側で作業
覆ることができ、X線、γ線の被爆を完全に無くし、か
つ、マスクおよσウェハの供給機構にJ、って、生産の
効率を最大限上げることが可能となり、本発明の目的は
達成される。
光露光装置の構成図である。同図において、シンクロト
ロン欣射光源であるストレイシリング1から敢剣される
シンクロトロン放射光2は、ストレイシリング1に多数
接続されたビームライン3を通して露光装置4に導かれ
る。露光装置4の外側には、放射光遮蔽壁6が配設され
る。さらに、h父q・1光遮蔽壁6の外側から、マスク
とつTハを供給りる供給機構7か配設される。本構成の
ようにづれば、作業者は、放射光遮蔽壁6の外側で作業
覆ることができ、X線、γ線の被爆を完全に無くし、か
つ、マスクおよσウェハの供給機構にJ、って、生産の
効率を最大限上げることが可能となり、本発明の目的は
達成される。
[発明の効果]
以ト説明したとおり、本発明によれば安全かつ生産効率
の畠いシンクロトロン61i13寸光露光装置が提供さ
れ、シンクロトロン/I々q1光リソグラフィの実用化
を一層促進することができる。
の畠いシンクロトロン61i13寸光露光装置が提供さ
れ、シンクロトロン/I々q1光リソグラフィの実用化
を一層促進することができる。
第1図は本発明の一実施例の構成図、第2図は従来のシ
ンクロトロン放射光露光装置の構成図である。 1・・・ストレイシリング 2・・・シンクロトロン6H=I光 3・・・ビームライン 4・・・露光装置 5.6・・・放射光遮蔽壁 7・・・マスクおよびウェハ供給機構 代 理 人 弁理を 舘 野 壬 第1
ンクロトロン放射光露光装置の構成図である。 1・・・ストレイシリング 2・・・シンクロトロン6H=I光 3・・・ビームライン 4・・・露光装置 5.6・・・放射光遮蔽壁 7・・・マスクおよびウェハ供給機構 代 理 人 弁理を 舘 野 壬 第1
Claims (1)
- (1)シンクロトロン放射光源からの放射光をビームラ
インにより露光装置に導き、露光を行うシンクロトロン
放射光露光装置において、シンクロトロン放射光源、ビ
ームラインおよび露光装置のすべてを内包する放射光遮
蔽壁と、該放射光遮蔽壁の外側から露光装置へマスクお
よびウェハを供給する供給機構とを備えてなることを特
徴とするシンクロトロン放射光露光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63145914A JPH022107A (ja) | 1988-06-15 | 1988-06-15 | シンクロトロン放射光露光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63145914A JPH022107A (ja) | 1988-06-15 | 1988-06-15 | シンクロトロン放射光露光装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH022107A true JPH022107A (ja) | 1990-01-08 |
Family
ID=15395996
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63145914A Pending JPH022107A (ja) | 1988-06-15 | 1988-06-15 | シンクロトロン放射光露光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH022107A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02247986A (ja) * | 1989-02-24 | 1990-10-03 | Molex Inc | 平らで、しなやかなケーブルを回路ボードへ接続するためのストレーン・リリーフ構造体 |
-
1988
- 1988-06-15 JP JP63145914A patent/JPH022107A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02247986A (ja) * | 1989-02-24 | 1990-10-03 | Molex Inc | 平らで、しなやかなケーブルを回路ボードへ接続するためのストレーン・リリーフ構造体 |
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