JPH02210875A - 光センサアレイの製造方法 - Google Patents
光センサアレイの製造方法Info
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- JPH02210875A JPH02210875A JP1030032A JP3003289A JPH02210875A JP H02210875 A JPH02210875 A JP H02210875A JP 1030032 A JP1030032 A JP 1030032A JP 3003289 A JP3003289 A JP 3003289A JP H02210875 A JPH02210875 A JP H02210875A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、光センサアレイの製造方法に関し、詳しくは
ファクシミリ等の画像読取部に用いられ、複数の光セン
サチップを直線状に配設して構成される光センサアレイ
の製造方法に関する。
ファクシミリ等の画像読取部に用いられ、複数の光セン
サチップを直線状に配設して構成される光センサアレイ
の製造方法に関する。
[従来の技術]
一般に、光センサを用い、ファクシミリ等における原稿
読取部を構成する場合、大きく分けて2つの構成が従来
より知られている。
読取部を構成する場合、大きく分けて2つの構成が従来
より知られている。
その1つの構成では、第6図に示すように、縮小光学系
2を原稿1と半導体イメージセンサ3との間に介在させ
、原稿照射用照明の原稿1からの読取りデータを含む反
射光を半導体イメージセンサ3に結像させて画像を読取
る。この場合、イメージセンサ3は複数の受光部(以下
、受光窓)からなる1つのセンサチップによって構成さ
れるものであり、例えばA4サイズ原稿の横方向1ライ
ンを、1mmあたり12画素の分解能で読取る場合、半
導体イメージセンサは原稿の位置精度等を考え一般的に
2592画素を読取る構成でなければならない。この画
素に対応する受光窓のピッチを12μmとすると、半導
体イメージセンサの読取部(受光窓の全長)は約31m
mとなり、原稿を約177に縮小して読取ることになる
。
2を原稿1と半導体イメージセンサ3との間に介在させ
、原稿照射用照明の原稿1からの読取りデータを含む反
射光を半導体イメージセンサ3に結像させて画像を読取
る。この場合、イメージセンサ3は複数の受光部(以下
、受光窓)からなる1つのセンサチップによって構成さ
れるものであり、例えばA4サイズ原稿の横方向1ライ
ンを、1mmあたり12画素の分解能で読取る場合、半
導体イメージセンサは原稿の位置精度等を考え一般的に
2592画素を読取る構成でなければならない。この画
素に対応する受光窓のピッチを12μmとすると、半導
体イメージセンサの読取部(受光窓の全長)は約31m
mとなり、原稿を約177に縮小して読取ることになる
。
このような縮小光学系を用いた構成では、センサチップ
を多数、あるいは大きなセンサチップを必要としない利
点を有する反面、縮小光学系が介在すること等により装
置が大形化してしまうという欠点を有している。
を多数、あるいは大きなセンサチップを必要としない利
点を有する反面、縮小光学系が介在すること等により装
置が大形化してしまうという欠点を有している。
これに対し、第2の構成として、長平方向が数ミリない
し数lOミリの半導体イメージセンサチップを複数個配
列し、センサアレイを、読取る原稿と同一サイズとする
ものが知られている。この構成では、読取り画像を1対
1に結像させる光学系、例えば収束性光伝送体アレイを
用いることにより原稿とセンサアレイとを近接した構成
としたり、あるいは介在する光学系を排して密着した構
成とすることができ、この結果、読取装置を小形に構成
することが可能となる。
し数lOミリの半導体イメージセンサチップを複数個配
列し、センサアレイを、読取る原稿と同一サイズとする
ものが知られている。この構成では、読取り画像を1対
1に結像させる光学系、例えば収束性光伝送体アレイを
用いることにより原稿とセンサアレイとを近接した構成
としたり、あるいは介在する光学系を排して密着した構
成とすることができ、この結果、読取装置を小形に構成
することが可能となる。
この場合、第7図に示すように、半導体イメージセンサ
実装用基板4上に半導体イメージセンサチップSll〜
5INIS21〜S2Nを千鳥状に配置する構成と、第
1θ図に示すように半導体イメージセンサチップS l
”’ S sを直線状に配置する構成とがある。
実装用基板4上に半導体イメージセンサチップSll〜
5INIS21〜S2Nを千鳥状に配置する構成と、第
1θ図に示すように半導体イメージセンサチップS l
”’ S sを直線状に配置する構成とがある。
千鳥状に配置した構成では、センサチップSll〜S
I N 、 S 21〜S 2 sとが第7図に示すよ
うに距limだけ間隔をおくため、第8図に示すように
、同図中矢印8で示される方向に原稿が搬送される場合
、原稿読取りの同一ラインに関する画像をセンサチップ
Sll ”’SINの各々の受光窓で受光する位置と5
21 ”’52Nの各々の受光窓で受光する位置とが図
中9および9′で示すようにずれる。このため、先に原
稿を読むセンサチップSll〜SINの読取りデータと
、後に原稿を読むセンサチップ521〜52Nの読取り
データとを、メモリを用いることにより出力タイミング
を合わせて出力する。
I N 、 S 21〜S 2 sとが第7図に示すよ
うに距limだけ間隔をおくため、第8図に示すように
、同図中矢印8で示される方向に原稿が搬送される場合
、原稿読取りの同一ラインに関する画像をセンサチップ
Sll ”’SINの各々の受光窓で受光する位置と5
21 ”’52Nの各々の受光窓で受光する位置とが図
中9および9′で示すようにずれる。このため、先に原
稿を読むセンサチップSll〜SINの読取りデータと
、後に原稿を読むセンサチップ521〜52Nの読取り
データとを、メモリを用いることにより出力タイミング
を合わせて出力する。
なお、第8図において、6は原稿照明用LED、7は収
束性光伝送体アレイ、5は原稿を示す。
束性光伝送体アレイ、5は原稿を示す。
また、第8図に示した構成におけるメモリを排した構成
とするため、第9図に示すように、センサチップSll
””’SINおよびセンサチップ521〜52Nとをそ
れぞれ半導体イメージセンサ実装用基板4Aおよび4B
に分けて配置し、それぞれに対応した収束性光伝送体ア
レイ7Aおよび7Bを用い、同一の位置で読取ることも
ある。
とするため、第9図に示すように、センサチップSll
””’SINおよびセンサチップ521〜52Nとをそ
れぞれ半導体イメージセンサ実装用基板4Aおよび4B
に分けて配置し、それぞれに対応した収束性光伝送体ア
レイ7Aおよび7Bを用い、同一の位置で読取ることも
ある。
上述したような、メモリを有する構成もしくはメモリを
排するため2つの収束性光伝送体アレイを具えた構成は
、部品点数が多くなり装置が複雑になる。これに対して
第10図に示すように各半導体イメージセンサチップS
、〜SNを直線状に並べ、読取りのためのメモリを不要
とし、また、収束性光伝送体アレイを複数必要としない
構成がある。
排するため2つの収束性光伝送体アレイを具えた構成は
、部品点数が多くなり装置が複雑になる。これに対して
第10図に示すように各半導体イメージセンサチップS
、〜SNを直線状に並べ、読取りのためのメモリを不要
とし、また、収束性光伝送体アレイを複数必要としない
構成がある。
ところで、この構成では、第10図中B部の拡大図を示
す第11図に示すように、−膜内には半導体イメージセ
ンサチップS、〜SHの各々は、各センサチップ間を距
111cだけあけて配設されることが多い。このため、
各半導体イメージセンサチップの隣接部における受光窓
12のピッチは、同図中すで示すように他の受光窓ピッ
チaより大となる。
す第11図に示すように、−膜内には半導体イメージセ
ンサチップS、〜SHの各々は、各センサチップ間を距
111cだけあけて配設されることが多い。このため、
各半導体イメージセンサチップの隣接部における受光窓
12のピッチは、同図中すで示すように他の受光窓ピッ
チaより大となる。
従って、読取りの分解能によっても異なるが、正常な読
取装置を構成するにはb≦1.58、最大でもb≦28
と設定する必要があり、半導体イメージセンサチップの
基板上へのダイボンディングにおいては、Cを可能な限
り小さくしている。
取装置を構成するにはb≦1.58、最大でもb≦28
と設定する必要があり、半導体イメージセンサチップの
基板上へのダイボンディングにおいては、Cを可能な限
り小さくしている。
ところで、第1O図に示すように複数のセンサチップを
所望の回路網を有するセラミックやガラスなどよりなる
基板4上に直線状に配設する場合、まず、半導体イメー
ジセンサチップを配設する領域にダイボンディング用接
着剤転写ピンによってセンサチップと同じ幅および長さ
で接着剤を転写するか、または、印刷により接着剤を塗
布する。その後、複数の半導体イメージセンサチップを
順次ダイボンディング用コレットを用いて基板4上にダ
イボンディングする。
所望の回路網を有するセラミックやガラスなどよりなる
基板4上に直線状に配設する場合、まず、半導体イメー
ジセンサチップを配設する領域にダイボンディング用接
着剤転写ピンによってセンサチップと同じ幅および長さ
で接着剤を転写するか、または、印刷により接着剤を塗
布する。その後、複数の半導体イメージセンサチップを
順次ダイボンディング用コレットを用いて基板4上にダ
イボンディングする。
ところが、この場合、上述したように距aleを極めて
小さくし、10μm〜30μm程度とするため、各セン
サチップの間、すなわち第11図中圧部Cで示される間
隙に第12図に示すように接着剤13が入り込み、セン
サチップ上に接着剤13が盛り上がってしまう場合があ
る。
小さくし、10μm〜30μm程度とするため、各セン
サチップの間、すなわち第11図中圧部Cで示される間
隙に第12図に示すように接着剤13が入り込み、セン
サチップ上に接着剤13が盛り上がってしまう場合があ
る。
この場合、接着剤がAgペーストのような導電性のもの
であればイメージセンサチップS、および5k−1の表
面に配設される回路パターンにおいて短絡を生じさせる
ことがある。たとえ接着剤が導電性でなくとも、各セン
サチップの最端の受光窓12に接着剤が達し、その光電
変換特性に悪影晋を与える場合もある。
であればイメージセンサチップS、および5k−1の表
面に配設される回路パターンにおいて短絡を生じさせる
ことがある。たとえ接着剤が導電性でなくとも、各セン
サチップの最端の受光窓12に接着剤が達し、その光電
変換特性に悪影晋を与える場合もある。
これを避ける一般的な方法としては、例えば特開昭61
−231757号に示される方法、すなわち、第13図
に示すように各センサチップ5koSk−1の互いに隣
接する端面の角度θ衷を90”以下にすることにより、
接着剤13のセンサチップ上への盛り上がりを防ぐ方法
が提案されている。
−231757号に示される方法、すなわち、第13図
に示すように各センサチップ5koSk−1の互いに隣
接する端面の角度θ衷を90”以下にすることにより、
接着剤13のセンサチップ上への盛り上がりを防ぐ方法
が提案されている。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、この方法では、半導体イメージセンサチ
ップをウェハからチップ状に切り出す時点で特別な構成
を用いなくてはならない。
ップをウェハからチップ状に切り出す時点で特別な構成
を用いなくてはならない。
すなわち、−膜内に半導体クエへからチップを切り出す
場合には、ダイシングソーを用いるものであり、角度を
有した切削を行うには、ダイシングソーのダイヤモンド
ブレードを毎分3万〜3万5千回転で回転させるスピン
ドルの位置に関する改造、または専用のスピンドルが必
要になる。
場合には、ダイシングソーを用いるものであり、角度を
有した切削を行うには、ダイシングソーのダイヤモンド
ブレードを毎分3万〜3万5千回転で回転させるスピン
ドルの位置に関する改造、または専用のスピンドルが必
要になる。
つまり、第14図に示すように、ダイヤモンドブレード
20が装着されたスピンドル19を半導体ウェハ17を
載置した切断用テーブル18に対して角度θ2だけ傾け
、ダイシングソー本体に取り付けるといった改造が必要
になる。また、専用のダイシングソー装置を必要とする
場合もある。
20が装着されたスピンドル19を半導体ウェハ17を
載置した切断用テーブル18に対して角度θ2だけ傾け
、ダイシングソー本体に取り付けるといった改造が必要
になる。また、専用のダイシングソー装置を必要とする
場合もある。
この結果、精度が要求されるダイシングソーを改造した
り、専用のダイシングソーを用いることによりチップを
製造するコストが上昇したり、また、1度改造したダイ
シングソーは、その精度を保持する上で通常のウェハ切
断に用いることができなくなるということがあった。
り、専用のダイシングソーを用いることによりチップを
製造するコストが上昇したり、また、1度改造したダイ
シングソーは、その精度を保持する上で通常のウェハ切
断に用いることができなくなるということがあった。
本発明は上述した従来の問題点に鑑みてなされたもので
あり、その目的とするところは、ダイシングソーの改造
や専用のダイシングソーを必要とせず、センサチップ上
への接着剤の盛り上がりを防ぐことを可能にした光セン
サアレイの製造方法を提供することにある。
あり、その目的とするところは、ダイシングソーの改造
や専用のダイシングソーを必要とせず、センサチップ上
への接着剤の盛り上がりを防ぐことを可能にした光セン
サアレイの製造方法を提供することにある。
[課題を解決しようとする手段]
そのために本発明では、光電変換を行なう光センサを複
数配列した光センサチップの複数を、支持体に接着する
ことにより所定の方向に配列して形成する光センサアレ
イの製造方法において、接着のための接着剤を塗布する
領域の、光センサチップの配列方向における長さを、複
数の光センサチップの各々の、配列方向の長さより短く
したことを特徴とする。
数配列した光センサチップの複数を、支持体に接着する
ことにより所定の方向に配列して形成する光センサアレ
イの製造方法において、接着のための接着剤を塗布する
領域の、光センサチップの配列方向における長さを、複
数の光センサチップの各々の、配列方向の長さより短く
したことを特徴とする。
[作 用]
以上の構成によれば、センサチップを支持体に接着する
際に、隣接するセンサチップの隙間から接着剤がはみ出
しセンサチップ上に盛り上がることを防ぐことが可能と
なる。
際に、隣接するセンサチップの隙間から接着剤がはみ出
しセンサチップ上に盛り上がることを防ぐことが可能と
なる。
[実施例]
以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
。
。
第1図は本発明の一実施例を示し、光センサアレイを配
設する支持体としての基板の上面図である。図において
、21は半導体センサチップを配設するためのセラミッ
ク基板である。P、〜PHはそれぞれセラミック基板2
1上にセンサチップをダイボンディングによって接着す
る際の接着剤を塗布する領域であり、領域P、〜PHの
各々の長手方向の長さ℃、は、配設される各センサチッ
プの長手方向の長さに、第11図に示した隙間圧@cを
加えた長さしより短くなっている。また、第1図でl、
はfl 2− (L−Jl 1)/2で定義されるもの
であり、この長さjZ2は長さしおよび用いる接着剤の
特性に応じて定められる。
設する支持体としての基板の上面図である。図において
、21は半導体センサチップを配設するためのセラミッ
ク基板である。P、〜PHはそれぞれセラミック基板2
1上にセンサチップをダイボンディングによって接着す
る際の接着剤を塗布する領域であり、領域P、〜PHの
各々の長手方向の長さ℃、は、配設される各センサチッ
プの長手方向の長さに、第11図に示した隙間圧@cを
加えた長さしより短くなっている。また、第1図でl、
はfl 2− (L−Jl 1)/2で定義されるもの
であり、この長さjZ2は長さしおよび用いる接着剤の
特性に応じて定められる。
本実施例ではダイボンディング用接着剤を第4図に示す
スタンピングビン22により基板4に転写する。このス
タンピング より0.1〜0.2+o++程度短く設計することによ
り、転写時の接着剤の広がりが塗布領域の長さjZ、を
越えることを防ぐことが可能となる。また、スタンピン
グビン22の幅はセンサチップの幅より0.2mm程度
短くし、さらに、スタンピングビン22によって転写さ
れる接着剤厚さは30〜70μmとし、最大でも100
μlを越えないようにする。
スタンピングビン22により基板4に転写する。このス
タンピング より0.1〜0.2+o++程度短く設計することによ
り、転写時の接着剤の広がりが塗布領域の長さjZ、を
越えることを防ぐことが可能となる。また、スタンピン
グビン22の幅はセンサチップの幅より0.2mm程度
短くし、さらに、スタンピングビン22によって転写さ
れる接着剤厚さは30〜70μmとし、最大でも100
μlを越えないようにする。
本実施例に使用した接着剤は84−ILMI−51(商
品名二日本エイプルスティック株式会社)であるが、特
に接着剤の粘度が8000〜12000cps程度であ
れば、この接着剤に限定されるものではない。また、転
写された接着剤上へ各イメージセンサチップをダイボン
ディングする際の圧力は、ダイボンディング後の接着層
の厚さが10〜20μmになるよう設定する。
品名二日本エイプルスティック株式会社)であるが、特
に接着剤の粘度が8000〜12000cps程度であ
れば、この接着剤に限定されるものではない。また、転
写された接着剤上へ各イメージセンサチップをダイボン
ディングする際の圧力は、ダイボンディング後の接着層
の厚さが10〜20μmになるよう設定する。
さらに、本実施例で使用した半導体イメージセンサチッ
プのサイズは、7.8mm X 0.7++v〜35.
0II1mX1.5mmとした。
プのサイズは、7.8mm X 0.7++v〜35.
0II1mX1.5mmとした。
以上の条件下で接着剤盛り上がりのない安定したダイボ
ンディングを行う構成は、前述の長さ12を約1mmと
することで得られた。
ンディングを行う構成は、前述の長さ12を約1mmと
することで得られた。
第2図は複数の半導体イメージセンサチップを本実施例
の方法でダイボンディングして構成されるイメージセン
サアレイの断面図を示す。S、〜SNはそれぞれ読取っ
た画像の画素に対応する受光窓を有した半導体イメージ
センサチップ、P1′ 〜p 、I は接着剤である。
の方法でダイボンディングして構成されるイメージセン
サアレイの断面図を示す。S、〜SNはそれぞれ読取っ
た画像の画素に対応する受光窓を有した半導体イメージ
センサチップ、P1′ 〜p 、I は接着剤である。
第2図中A部を拡大した図が第3図であり、同図から明
らかなようにセン、サチップ上への接着剤の盛り上がり
は発生していない。
らかなようにセン、サチップ上への接着剤の盛り上がり
は発生していない。
上述の実施例ではスタンピングビンを用いた転写による
接着剤塗布を行フたが、印刷によって接着剤塗布を行う
方法もある。
接着剤塗布を行フたが、印刷によって接着剤塗布を行う
方法もある。
第5図は、この方法における印刷用マスク23を示して
おり、同図において、Lは上述の実施例と同様に各半導
体イメージセンサチップの長さにチップ間距離を加えた
長さであり、M1〜MNはそれぞれ接着剤を印刷するた
めのメツシュである。図中14は上記実施例の接着剤塗
布領域の長さと同じサイズに設計されているが、マスク
23の両端に位置する塗布領域の長さであるj2sはi
4より長くなっている。これは、長さILSが両端のセ
ンサチップダイボンディング用の領域の長さであるため
、外側部分は接着剤塗布領域を短くする必要がないこと
によるものである。
おり、同図において、Lは上述の実施例と同様に各半導
体イメージセンサチップの長さにチップ間距離を加えた
長さであり、M1〜MNはそれぞれ接着剤を印刷するた
めのメツシュである。図中14は上記実施例の接着剤塗
布領域の長さと同じサイズに設計されているが、マスク
23の両端に位置する塗布領域の長さであるj2sはi
4より長くなっている。これは、長さILSが両端のセ
ンサチップダイボンディング用の領域の長さであるため
、外側部分は接着剤塗布領域を短くする必要がないこと
によるものである。
この実施例は、スタンピングビンを用いていないため、
接着剤塗布における領域等を前記実施例よりも正確にコ
ントロールすることが可能となる。特に、接着剤の塗布
厚さのコントロールを正確に行えるため、ダイボンディ
ング時の加圧による接着剤はみ出しがさらに少なくなり
、結果的に前記実施例よりも選択可能な接着剤が多様に
なる。
接着剤塗布における領域等を前記実施例よりも正確にコ
ントロールすることが可能となる。特に、接着剤の塗布
厚さのコントロールを正確に行えるため、ダイボンディ
ング時の加圧による接着剤はみ出しがさらに少なくなり
、結果的に前記実施例よりも選択可能な接着剤が多様に
なる。
[発明の効果]
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、セン
サチップを支持体に接着する際に、隣接するセンサチッ
プの隙間から接着剤がはみしセンサチップ上に盛り上が
ることを防ぐことが可能となる。
サチップを支持体に接着する際に、隣接するセンサチッ
プの隙間から接着剤がはみしセンサチップ上に盛り上が
ることを防ぐことが可能となる。
この結果、盛り上がった接着剤による光センサの受光部
への影響を排することができ、電気的。
への影響を排することができ、電気的。
光学的にすぐれた光センサアレイを製造することが可能
となった。
となった。
また、この方法を用いることにより、ダイシングソー改
造等のコストアップとなる要因をなくすことができ、さ
らにこの方法は製造工程においても簡単に導入すること
が可能である。
造等のコストアップとなる要因をなくすことができ、さ
らにこの方法は製造工程においても簡単に導入すること
が可能である。
第1図は本発明の一実施例を示し基板上に配列するセン
サチップの接着剤塗布領域を示す模式的上面図、 第2図および第3図は第1図に示した基板およびこれに
配列されるセンサチップの縦断面図、第4図は第1図に
示した実施例に用いたスタンピングピンの模式的上面図
、 第5図は本発明の他の実施例に用いたマスクの模式的上
面図、 第6図は画像読取装置の一構成例を示す模式的斜視図、 第7図はセンサチップ配列の一例を示す上面図、 第8図および第9図は第7図に示した配列に対応した光
学系を示す模式的側面図、 第10図はセンサチップ配列の一例を示す上面図、 第11図は第1O図の部分拡大図、 第12図は第11図に示した配列の問題点を説明するた
めの側面図、 第13図および第14図は第12図に示した問題点の従
来の解決方法を示す側面図である。 21・・・実装用基板、 22・・・スタンピングピン、 S、%SN・・・半導体イメージセンサチップ、PI〜
PN・・・接着剤塗布領域、 p 、 I〜PN′ ・・・塗布された接着剤、M1〜
M、・・・印刷マスクのメツシュ、23・・・マスク。 第1図 第2図 第3図 第 図 第 図 第 図 第 図 第 図 N−1 第10図 第11 図
サチップの接着剤塗布領域を示す模式的上面図、 第2図および第3図は第1図に示した基板およびこれに
配列されるセンサチップの縦断面図、第4図は第1図に
示した実施例に用いたスタンピングピンの模式的上面図
、 第5図は本発明の他の実施例に用いたマスクの模式的上
面図、 第6図は画像読取装置の一構成例を示す模式的斜視図、 第7図はセンサチップ配列の一例を示す上面図、 第8図および第9図は第7図に示した配列に対応した光
学系を示す模式的側面図、 第10図はセンサチップ配列の一例を示す上面図、 第11図は第1O図の部分拡大図、 第12図は第11図に示した配列の問題点を説明するた
めの側面図、 第13図および第14図は第12図に示した問題点の従
来の解決方法を示す側面図である。 21・・・実装用基板、 22・・・スタンピングピン、 S、%SN・・・半導体イメージセンサチップ、PI〜
PN・・・接着剤塗布領域、 p 、 I〜PN′ ・・・塗布された接着剤、M1〜
M、・・・印刷マスクのメツシュ、23・・・マスク。 第1図 第2図 第3図 第 図 第 図 第 図 第 図 第 図 N−1 第10図 第11 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)光電変換を行なう光センサを複数配列した光センサ
チップの複数を、支持体に接着することにより所定の方
向に配列して形成する光センサアレイの製造方法におい
て、 前記接着のための接着剤を塗布する領域の、前記光セン
サチップの配列方向における長さを、前記複数の光セン
サチップの各々の、前記配列方向の長さより短くしたこ
とを特徴とする光センサアレイの製造方法。 2)前記光センサチップと、該光センサチップに対応し
た前記接着剤の塗布領域とは、互いの前記配列方向にお
ける中心が合致するよう接着することを特徴とする請求
項1に記載の光センサアレイの製造方法。 3)前記複数の光センサチップのうち、前記配列におい
て両端に位置する光センサチップ以外の光センサチップ
と、該光センサチップの各々に対応した前記接着剤の塗
布領域とは、互いの前記配列方向における中心が合致す
るよう接着することを特徴とする請求項1に記載の光セ
ンサアレイの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1030032A JPH02210875A (ja) | 1989-02-10 | 1989-02-10 | 光センサアレイの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1030032A JPH02210875A (ja) | 1989-02-10 | 1989-02-10 | 光センサアレイの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02210875A true JPH02210875A (ja) | 1990-08-22 |
Family
ID=12292478
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1030032A Pending JPH02210875A (ja) | 1989-02-10 | 1989-02-10 | 光センサアレイの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02210875A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010084596A1 (ja) * | 2009-01-23 | 2010-07-29 | キヤノン・コンポーネンツ株式会社 | 光電変換装置及び画像読み取り装置 |
-
1989
- 1989-02-10 JP JP1030032A patent/JPH02210875A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010084596A1 (ja) * | 2009-01-23 | 2010-07-29 | キヤノン・コンポーネンツ株式会社 | 光電変換装置及び画像読み取り装置 |
| JP5006453B2 (ja) * | 2009-01-23 | 2012-08-22 | キヤノン・コンポーネンツ株式会社 | 光電変換装置及び画像読み取り装置 |
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