JPH02213928A - 光ディスクコントローラ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔目次〕 概要 産業上の利用分野 従来の技術　　　　　　　　（第９〜１１図）発明が解
決しようとする課題 課題を解決するだめの手段 作用 実施例 本発明の原理説明　　　　（第１図） 本発明の一実施例　　　　（第２〜８図）発明の効果 〔概要〕 光ティスフコントローラに関し、 異なる処理であっても処理を中断させることなく実行し
、処理速度を大幅に向上させることができ、処理内容詳
細情報の再利用を可能にした光デイスクコントローラを
提供することを目的とし、光ディスクに対する処理内容
を指定するパラメータを複数個記憶可能なパラメータリ
スト記憶手段２９と、外部から与えられたコマンドを記
憶する手段３０と、該コマンドに従って、前記複数のバ
ラメータを参照して光ディスクに対する複数種類の処理
を連続的に行う手段２６とを具備するように構成する。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、光デイスクコントローラに係り、詳しくは、
処理方法の異なる処理を一括処理することのできる光デ
イスクコントローラに関する。

光ディスクのビット誤り発生率は、磁気ディスクの２〜
３桁も多い１０−’〜１０−５であり、また、誤りの性
質も異なっているので新しい方式の設計が必要である。

磁気ディスクではＳ／Ｎが悪いための読み誤りが多く、
もう−度再生を繰り返して誤りを回復するという手段が
有効である。これに対し、光ディスクは記録媒体上の欠
陥が誤りの主原因となっているので再・再生の手段は利
用されない。信号処理による誤り訂正と、記録直後の再
生で誤り状況をチエツクし、問題があれば別の場所に記
録する交替処理（または、記録直前に再生光ビームで媒
体の欠陥を調べ、欠陥が多すぎる場合は、記録する場所
を変える）などが併用される。

〔従来の技術〕

上述したように光ディスクは欠陥が多いから、通常光デ
ィスクには、連続してデータが書き込まれるユーザエリ
アの他にユーザエリアの中で欠陥があった場所の交代を
する交代エリアが設けられている。工場出荷段階で予め
欠陥が判明していればその欠陥部分（セクタ）はスキッ
プして一つづつセクタがずれるかたちとなる。また、使
用しているうちに新たな欠陥が発生すると、Ｗｒｉｔｅ
　した後Ｖｅｒｉｆｙ　（正しく書き込めたかどうかの
検証）したときにこのセクタが欠陥という判定が下され
た場合は当該セクタも不良セクタとなる。この場合は既
に他のセクタに書き込みが行われているからセクタをず
らす訳にはいかず、ユーザエリアの欠陥セクタを交代エ
リアの所定セクタに交代させる交代処理を行う。したが
って、データが現れる順番とデータの本来の順序とが必
ずしも一致しないことになるが、トラック上どこのセク
タが欠陥でその欠陥セクタの内容をどこに書き直したか
ということは欠陥情報として光ディスクの中に持ってお
り、制御する光デイスク制御装置は全てそれを分かって
いる。一般的に、交代処理が入る単位はユーザエリア２
５６セクタに対して交代エリアが１６セクタのものが多
い。すなわち、１周１トラツク１７セクタとじ１６トラ
ツクを１グループとすると、１グループの中には１６）
ラックＸ１７セクタで２７２セクタが存在することにな
り、そのうちの２５６セクタをユーザエリアとして使用
し、残りの１６セクタを交代エリアとして使用する。交
代エリアはユーザエリアにエラーがない場合には全く使
用しない。そして、どこが欠陥でそれをどこにとばした
かという情報はマツプ情報として後述する所定のマツプ
に集中的に書かれており、光ディスクを光デイスク装置
にロードしたときには直ちにそのマツプ情報を読みに行
き、光デイスク制御装置の中で蓄えている。

光ディスクからデータを読み出す際には、まず、１１］
にマツプ情報が入っているセクタを全部読んできてそれ
を、−旦、マイクロプロセッサがいつでもアクセスでき
るメモリの中に入れておく。マツプには最初にずれた欠
陥情報だけを記憶しておくプライマリマツプと使ってい
るうちに悪くなりどこで交代したかということを記憶す
るＧｒｏｗ　ｔｈマツプの２種類があり、プライマリマ
ツプは後述する第１０図（ｂ）に示すようにどこが悪い
かを示すディフェクト（欠陥）アドレスだけを記憶して
おり、Ｇｒｏｗｔｈマツプはディフェクトアドレスに加
えてどこで交代しているかを示す交代アドレスの２つの
情報を記憶している。何れにしてもマツプ上で欠陥であ
ると指摘された箇所は一連の処理の中でスキップする必
要があり、その上で交代する必要があれば（具体的には
、Ｇｒｏｗｔｈマツプに登録されている欠陥セクタがあ
れば）その交代された場所を処理して抜けてしまってい
るデータのところを埋めなければならない。

第９図は光デイスク上のセクタを直線的に表した図であ
り、１グループにおけるユーザエリアと交代エリアのセ
クタを示している。第９図■中Ｐ０−ＰＩ３はセクタの
物理アドレスを示す。光ディスクでは同図に示すように
、何セクタかを１つのグループとして扱い（同図の例で
は２０セクタ）、１グループ内をユーザエリアと交代エ
リアに分けている。データは通常、ユーザエリアにのみ
書かれる。しかし、ユーザエリアに欠陥（ディフェクト
）があった場合は、交代エリアを使用する。また、同図
■はユーザエリアに何も書かれていない状態からデータ
の書き込みを行った例である。ここで、ＬＯ−Ｌｉ２は
データの論理アドレスである。

この例は、セクタＰ５がディフェクトセクタであること
が予めわかっていたため、セクタＰ５をスキップして以
降のデータを１セクタずつスリップ（ずらす）させた例
である。さらに、同図■は■の後に、ＬＯ〜Ｌ７のデー
タを更新したときに、セクタＰ７が新たにディフェクト
セクタになってしまった場合の例である（ＬＯ’〜Ｌ７
’は更新後のデータを示す）。この場合、セクタＰ９〜
Ｐ１６は更新しないのでデータをスリップさせることは
できない。そのため、セクタＰ７に書くはずのデータＬ
６’を交代エリアのセクタＰ１７へ書き込んでいる。

第９図で説明したように、光ディスクではディフェクト
セクタがあったとき、データスリップまたは交代処理に
よってリカバリしなければならない、そのために、ディ
フェクトセクタを管理するマツプを持っており、マツプ
には第１０図（ｂ）（Ｃ）に示すようにデータスリップ
の対象となるセクタを示すプライマリマツプと交代処理
の対象となるセクタを示すＧｒｏｗｔｈマツプの２種類
がある。

プライマリマツプはディフェクトセクタの物理アドレス
（第９図の例ではＰ５）を示す、Ｇｒｏｗｔｈマツプは
ディフェクトセクタの物理アドレス（第９図の例ではＰ
７）と交代セクタ（第９図の例ではＰＩ３）を示す。な
お、第１０図（ａ）は物理アドレスと論理アドレスとの
対応を示し、同図（ｄ）は論理アドレスＬｎのデータを
記憶するデータバッファブロックアドレスを示している
。

第１０図に示す状況において、従来の光ディスク制１ｌ
ＬｓＩを用いて、データバッファ内のデータを光ディス
クヘーｒｉｔｅ　Ｌ／た後、Ｖｅｒｉｆｙ　（光ディス
クからＲｅａｄ　してチエツクする検証）を行う場合の
ホストＭＰＵの処理フローを第１１図に示す。第１１図
はＷｒｉｔｅおよびＶｅｒｉｆｙの処理を行うためのプ
ログラムを示すフローチャートであり、図中５ＴＥＰｎ
（ｎ−１，２，・・・・・・）はプログラムの各ステッ
プを示している。プログラムがスタートすると、まず、
５ＴＥＰ　１でセクタＰＯ〜Ｐ４の一括処理を指定する
とともに、Ｗｒｉｔｅコマンドを発行し、５ＴＥＰ　２
でコマンド実行が終了したか否かを判別する。コマンド
実行が終了したときは５ＴＥＰ　３でセクタＰ６の処理
を指定するとともに、Ｗｒ　ｉ　ｔｅコマンドを発行し
、５ＴＥＰ　４でコマンド実行が終了したか否かを判別
する。コマンド実行が終了したときは５ＴＥＰ　５でセ
クタＰ８〜Ｐ１６の一括処理をＩｈ定するとともに、Ｗ
ｒｉｔｅコマンドを発行し、５ＴＥＰ　６でコマンド実
行が終了したか否かを判別する。コマンド実行が終了し
たときは５ＴＥＰ’／でセクタＰ１７の処理を指定する
とともに、Ｗｒｉｔｅコマンドを発行し、５ＴＥＰ８で
コマンド実行が終了したか否かを判別し、コマンド実行
が終了したときは一連の−ｒｉｔｅ処理が終了したと判
断して５ＴＥＰ　９以下のＶｅｒｉｆｙ処理に移行する
。ここで、セクタＰｒ７の−ｒｉｔｅコマンド発行時お
よび各Ｖｅｒ　ｆ　ｆ　ｙコマンド発行時にホス１−Ｍ
ＰＵの処理時間が長いと回転待ちが発生することになる
。

５ＴＥＰ　９ではセクタｐｏ−Ｐ４の一括処理を指定す
るとともに、Ｖｅｒｉｆｙコマンドを発行し、５ＴＥＰ
ＩＯでコマンド実行が終了したか否かを判別する。コマ
ンド実行が終了したときは５ＴＥＰＩＩでセクタＰ６の
処理を指定するとともに、Ｖｅｒｉｆｙコマンドを発行
し、５ＴＥＰ１２でコマンド実行が終了したか否かを判
別する。コマンド実行が終了したときは５ＴＥＰ１３で
セクタＰ８〜Ｐ１６の一括処理を指定するとともに、Ｖ
ｅｒｉｆｙコマンドを発行し、５ＴＥＰ１４でコマンド
実行が終了したか否かを判別する。コマンド、実行が終
了したときはＳＴＩ！Ｐ１５でセクタＰ１７の処理を指
定するとともに、Ｖｅｒｉｆｙコマンドを発行し、５Ｔ
ＥＰ１６でコマンド実行が終了したときはＷｒｉｔｅお
よびＶｅｒｉｆｙ処理が終了したと判断して今回の処理
を終える。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかしながら、このような従来の光デイスクコントロー
ラにあっては、ＭＰＵから光デイスクコントローラＬＳ
Ｉに対して命令（コマンド）とパラメータを処理単位毎
に逐次与えて実行させる構成となっていたため、処理方
法が異なる処理を実行する場合にはＭＰＵが前の処理終
了を待って新たなコマンド、パラメータを与えなければ
ならず、処理が中断してしまうという問題点があった。

また、光デイスクコントローラ自身は古いコマンド、パ
ラメータを記憶しないため、パラメータの再利用できず
、毎回ＭＰＵが指示しなければならないから面倒であり
効率化が図れない。

例えば、従来の光デイスクコントローラＬＳＩではユー
ザエリアの連続処理はできるものの、その後続けて交代
エリアの処理を行うことはできない、また、欠陥領域の
情報を持たないから欠陥セクタをスキップすることがで
きず、欠陥セクタの１つ手前までの処理をまず１つのコ
マンドとしてもらい、その後該欠陥セクタをとばして次
のところから新たなコマンドをもらって処理を行うこと
になる。同じように、欠陥があればそこで一旦処理を打
ち切って次のコマンドをもらうことになるため、ホスト
のプロセッサの処理（負荷）がその都度かかることにな
る。また、命令を記憶できても、その数は１つあるいは
２つと限られているから、−旦終了したという報告をホ
ストのプロセッサに直ちに報告する必要があり、ホスト
のプロセッサは直ちに次の命令を出さないとディスクは
回転しているから該当するセクタが過ぎてしまうことに
もなり、場合によっては１回転待ちが入ってしまうとい
う不具合があった。

そこで本発明は、異なる処理であっても処理を中断させ
ることなく、処理速度を大幅に向上させることができ、
パラメータの再利用を可能にした光デイスクコントロー
ラを提供することを目的としている。

〔課題を解決するための手段〕

本発明による光デイスクコントローラは上記目的達成の
ため、光ディスクに対する処理内容を指定するパラメー
タを複数個記憶可能なパラメータリスト記憶手段２９と
、外部から与えられたコマンドを記憶する手段３０と、
該コマンドに従って、前記複数のパラメータを参照して
光ディスクに対する複数種類の処理を連続的に行う手段
２６とを具備するように構成する。

〔作用〕

本発明では、複数の処理の処理内容詳細を記憶するパラ
メータリスト領域と、欠陥領域の情報を記憶するディフ
ェクトリスト領域と、を有するＲＡＭが設けられ、外部
から入力されたコマンドに基づいてパラメータリスト領
域およびディフェクトリスト領域が参照され連続して処
理が実行される。

したがって、予め複数のパラメータが与えられるために
異なる処理であっても処理が中断することはない、また
、光デイスクコントローラ自身がパラメータリストを記
憶しているためパラメータの再利用が容易に実現する。

〔実施例〕

以下、本発明を図面に基づいて説明する。

胤ｌｋ皿 第１図は本発明の基本原理を説明するための図である。

第１図はその光デイスク制御装置の要部構成図であり、
この図において、１は光デイスクコントローラ、２に光
デイスクコントローラｌを制御するためのホストＭＰＵ
、４はデータバッファであり、光デイスクコントローラ
１はコマンドのパラメータ壱複数個記憶するパラメータ
リスト格納用ＲＡＭ５と、コマンドを起動するためのコ
マンドレジスタ６と、を含んで構成される。

このような構成において、ホス）ＭＰＵ２は、処理方法
毎に１セツトのパラメータを用意し、必要な数だけＲＡ
Ｍ５へ書き込んだうえでコマンドを発行する。そして、
光ディスクコントローラ１はパラメータを参照して次々
と処理を実行する。

したがって、予め複数のパラメータを与えることができ
るため、処理が中断しない、また、光デイスクコントロ
ーラ自身がパラメータを記憶しているため、パラメータ
の再利用ができる。

二夫施■ 第２〜８図は本発明に係る光デイスクコントローラＬＳ
Ｉの一実施例を示す図であり、本発明を情報処理等に用
いられる光デイスク制御装置内の光ディスク制？１１Ｌ
ＳＩに適用した例である。

まず、構成を説明する。第２図は光デイスク制御装置の
全体構成例を示す図である。同図において、１１は光デ
イスク制御装置、１２は光デイスク制御装置１１とイン
ターフェースＳ　ＣＳ　Ｉ　（Ｓｍａｌｌ　Ｃｏｎ１−
ｐｕｔｅｒ　Ｓｙｓｔｅｍ　Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）を介
して接続されたコンピュータ、１３．１４はインターフ
ェースＭｏｄｉｆｉｅｄＥ　Ｓ　Ｄ　Ｉ　（Ｅｎｈａｎ
ｃｅｄ　Ｓｍａｌｌ　Ｄｒｆｖｅ　Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ
）を介して接続された光デイスク装置であり、光デイス
ク制御装置１１は光デイスク制御ＬＳＩとして光デイス
クコントローラＬＳ１１５およびＥＣＣプロセッサ１６
と、マイクロプロセッサ１７と、ＤＲＡＭからなるデー
タバッファ１８と、５Ｃ３Ｉ制’４ＢＬｓ１１９と、ド
ライバレシーバ２０と、により構成され、２つのチップ
からなる光デイスクコントローラＬＳ１１５、ＥＣＣプ
ロセッサ１６は以下の処理を行う。

・光デイスク装置１３．１４への命令送信とステータス
受領 ・光ディスクへの書込みデータのフォーマット形成 ・光ディスクからの読出しデータのフォーマット解読と
エラー訂正 ・光デイスク装置１３．１４とデータバッファ１８との
間のデータ転送 ・５Ｃ３Ｉ制？１ＬＳ１１９とデータバッファ１８との
間のデータ転送 コンピュータ１２と周辺装置をつなぐインターフェース
としてＳＣ３Ｉが用いられ、５Ｃ３Ｉを通して光デイス
ク制御装置１１にコンピュータシステムが接続される。

また、光デイスク制御装置１１はＥＳＤＩを介して光デ
イスク装置１３．１４に接続され、光デイスク制御装置
１１が光ディスクを制御する。

第３．４図は光デイスク制御ＬＳＩのブロックダイヤグ
ラムであり、図中破線で囲んだ部分は光デイスク制御Ｌ
ＳＩを示している。なお、光デイスクコントローラＬＳ
１１５とＥＣＣプロセッサ１６は必ずしも別のＬＳＩで
ある必要はなく、図中破線で囲んだ部分を１つのＬＳＩ
とする態様であってもよい。第３図において、光デイス
クコントローラＬＳ１１５はホストＭＰυ（マイクロプ
ロセッサ１７）とＭＰＵインターフェースを介してコマ
ンド等の送受信を行うＭＰＵインターフェース回路２１
と、５Ｃ３Ｉ制御１Ｌｓ１１９とＤＭＡインターフェー
スを介してＤＭＡ転送の制御を行うＤＭＡ制御回路２２
と、データバッファ１８およびＥＣＣプロセッサ１６と
データバッファ／ＥＣＣＰインターフェースを介してデ
ータの送受信制御を行うデータバッファ／ＥＣＣＰＩＩ
ＪＪ！１回路２３と、データのエンコードおよびデコー
ドを行うフォーマットエンコード／デコード回路２４と
、ＥＳＤＩｌ＃制御回路２５と、内部プロセッサ２６と
、ＦＩＦＯメモリ２７．２８と、により構成され、これ
らは所定の内部バスにより接続されている。ここで、Ｍ
ＰｔＪインターフェース回路２１には、コマンドのパラ
メータおよびディフェクトセクタアドレスを複数個記憶
するパラメータリスト格納用ＲＡＭ　（以下、適宜Ｐ−
ＲＡＭと略称する）２９およびコマンドレジスタ３０が
内蔵されており、コマンドの起動はコマンドレジスタ３
０へのコマンドコード書き込みによって行われ、処理内
容の詳細は第６図に示すパラメータリストで指定される
。光デイスクコントローラＬＳＩ１５はパラメータリス
ト格納用ＲＡＭ２９を２５６バイト内蔵しており、パラ
メータリスト格納用ＲＡＭ２９はホストＭＰＵ　（マイ
クロプロセッサ１７）から−ｒ−ｉｔｅ　／Ｒｅａｄさ
れる。また、パラメータリスト格納用ＲＡＭ２９および
コマンドレジスタ３０は必ずしもＭＰＵインターフェー
ス回路２１に内蔵される必要はなく、第４図に示すよう
にＭＰＵインターフェース回路２１と独立して設けられ
る態様であってもよい。

ＭＰＵインターフェース回路２１はホストＭＰＵ（マイ
クロプロセッサ１７）との間でコマンド・処理結果の送
受信を行うとともに、コマンドの実行に必要なパラメー
タを記憶するメモリを内蔵し、ホストＭＰＵからデータ
バッファをＲｅａｄ／Ｗｒｉｔｅする場合は、データは
本インターフェース回路２１を経由して転送される。Ｄ
ＭＡ！ｌＩ４１回路２２はＤＭＡバスマスタとして、Ｄ
ＭＡ転送のハンドシェーク制御、バイトカウント制御を
行うものである。

データバッファ／ＥＣＣＰＩＩ１１回路２３はデータバ
フ７７用ＤＲＡＭのＲｅａｄ／Ｗｒｉｔｅ　、リフレッ
シュの制御およびＥＣＣプロセッサ１６との間のデータ
送受信制御を行うとともに、ホストＭＰＵ、ＤＭＡ制御
回路２２、フォーマットエンコード／デコード回路２４
および内部プロセッサ２６からのデータバッファ／ＥＣ
Ｃプロセッサアクセス要求のアービトレーションヲ行い
、データバッファバスの時分割使用を制御する。フォー
マットエンコード／デコード回路２４は光ディスクへの
書込み時には、書込みデータのパラレル−シリアル変換
、ＲＬＬ（２，７）コードへの変調を行い、５ｙｎｃ、
Ｒｅ５ｙｎｃなど同期パターンを付加して、ＥＳＤＩへ
送出する。

また、光ディスクからの読出し時には、データパターン
を解読して、同期パターンとデータとの分離、データの
復調、シリアル−パラレル変換を行う。ＥＳＤ　Ｉ制御
回路２５はＥＳＤＩ制御信号の送出、受領用レジスタ回
路とインターフェース異常検出回路などを備え、光デイ
スク装置へのコマンド送信とステータスなどの受領の制
御は本回路２５を経由して内部プロセッサ２６が行う。

内部プロセッサ２６はホストＭＰＵから与えられたコマ
ンドの解読、処理結果の報告を行うとともに複数セクタ
の連続処理および単一処理の制御をも行う。また、ＥＣ
Ｃプロセッサ１６へのコマンド発行、処理結果の受領、
解析とデータバッファ内のデータのエラー訂正をも行う
。

一方、ＥＣＣプロセッサ１６は光デイスクコントローラ
ＬＳ１１５と光デイスクコントローラインターフェース
を介してコマンド等の送受信を行うデータ転送制御回路
３１と、ＥＣＣおよびシンドロームを生成するＥＣＣ／
シンドローム生成回路３２と、ＥＣＣ／シンドローム生
成回路３２で生成したＥＣＣ／シンドロームを一時的に
格納するＥＣＣ／シンドロームバッファ３３と、誤りの
位置・数値を検出する誤り位置・数値検出回路３４と、
内部プロセッサ３５と、ＦＩＦＯメモリ３６と、により
構成され、これらは所定の内部バスにより接続されてい
る。

データ転送制御回路３１は光デイスクコントローラＬＳ
１１５との間のコマンド・処理結果の送受信を行うとと
もにＥＣＣ／シンドローム生成回路３２と外部のデータ
バッファとの間のデータ転送制御を行う。ＥＣＣ／シン
ドローム生成回路３２は光ディスクの書き込み時にはＣ
ＲＣ（ｃｙｃｌｉｃ　ｒｅｄｕｎｄａｎｃｙｃｈｅｃｈ
）、誤り訂正符号Ｅ　ＣＣ（ｅｒｒｏｒ　ｃｏｒｒｅｃ
ｔｉｏｎｃｏｄｅ）生成を行い、光ディスクからの読み
出し時にはエラーシンドローム生成、ＣＲＣチエツクデ
ータ生成ヲ行う、ＥＣＣ／シンドロームバッファ３３は
ＥＣＣ／シンドローム生成回路３２で生成したＥＣＣ／
シンドロームを一時的に格納するパンツアメモリであり
、２セクタ分のＥＣＣまたはシンドロームを格納するこ
とができる。誤り位置・数値検出回路３４は光ディスク
から読出し時にシンドロームを基にして誤りの位置と誤
りパターンを検出する。内部プロセッサ３５は光デイス
クコントローラＬＳ１１５から与えられたコマンドの解
読、処理結果の報告を行うとともに、ＥＣＣプロセッサ
１６内部での処理データの移動を行う。

このような構成において、光ディスクに書くべきデータ
がコンピュータ１２から５Ｃ３Ｉ制御ＬＳ１１９を経由
して光デイスクコントローラＬＳ１１５に送られてくる
と、このデータを一旦データバソファ１８に蓄えて必要
なデータ分を取り出して光デイスクコントローラＬＳＦ
１５で加工しながら光デイスク装置１３．１４に書く。

読み出すときには光デイスク装置１３．１４から読んだ
データを一旦データバッファ１８に蓄えである程度デー
タがたまったところで一括して５Ｃ８Ｉ制御１Ｌｓ１１
９に送る。光ディスクは非常に誤り率が高いので、ＥＣ
Ｃプロセッサ１６は書き込むときに後々誤り訂正できる
ようにエラー・チエツク・コードＥＣＣを追加し、読み
出すときはそのＥＣＣを基にして誤りの位置およびどの
ように誤っているのかを検出してデータバッファ１８上
でその誤りの部分を訂正する。第２図に示すように光デ
イスクコントローラＬＳ１１５およびＥＣＣプロセッサ
１６共そのチップ内には内部プロセッサ２６．３５を持
っており、内部は全てプログラム制御により動作する。

また、光デイスクコントローラＬＳ１１５およびＥＣＣ
プロセッサ１６をはじめとして光ディスク制御装置１１
全体はマイクロプロセッサ１７によりプログラム制御さ
れる。

そのため、マイクロプロセッサ１７との間で命令あるい
は処理結果を通知するものとしてＭＰＵインターフェー
ス回路２１が設けられており、内部プロセッサ２６はＭ
ＰＵインターフェース回路２１から命令をもらうと該命
令を解読して、例えばデータバフファ／ＥＣＣＰＩＩ御
回路２３を動作させたりあるいはＥＣＣプロセッサ１６
を起動したりする。また、ＥＣＣプロセッサ１６は光デ
イスクコントローラＬＳ１１５の指令により動作すると
ともに、ＥＣＣプロセッサ１６はデータバッファ／ＥＣ
ＣＰ制御回路２３とデータバッファ１８とをつなぐバス
上で転送されるデータを傍受してそのデータに基づいて
ＥＣＣを生成したり、読み出しのときにはその誤り位置
・数値を求めるためのシンドロームを生成する。

上記光デイスクコントローラＬＳ１１５の内部プロセッ
サ２６は具体的には第５図により示される。

第５図はエミュレーション機能を内蔵した内部プロセッ
サ２６の橢成図であり、内部プロセッサ２６の機能を中
心に説明する都合上、データバッファ／ＥＣＣＰ制御回
路２３等の記載は省略している。この図において、内部
プロセッサ２６は内部プロセッサ２６が動作するための
プログラムを格納するプログラムＲＯＭ４１と、プログ
ラムアドレスによりアドレスを指定してプログラムＲＯ
Ｍ４１からプログラムを読み出し、その内容に従って動
作するシーケンス制′ａ（シーケンサ）・ＡＬＵ演算器
４２と、ホストＭＰＵ　（マイクロプロセッサ１７）か
らの書き込みによりノーマルモード／エミュレートモー
ドを切り替えるエミュートモード信号およびデバッグを
実行するためのボルト、シングルステップ信号を出力す
るデバッグ制御レジスタ４３と、ホストＭＰＵからデバ
ッグを行うために任意のプログラムコードが書き込まれ
るエミュレーションレジスタ４４と、デバッグ制御レジ
スタ４３からのエミュレートモードに応じてプログラム
ＲＯＭ４１の出力バスあるいはエミュレーションレジス
タ４４のプログラムコード出力バスを切り替えるマルチ
プレクサＭＰＸ４５と、を含んで構成されている。また
、４６は内部バスであり、内部プロセッサ２６は内部バ
ス４６を介して各回路に命令を与えるとともに、各回路
からのデータを受は取る。例えば、内部プロセッサ２６
はＥＣＣ／シンドローム生成回路３２を動作させ、また
、内部バス４６を介してＥＣＣ／シンドロームバンファ
３３からデータを読み出す。

一般に、市販されているプロセッサにはプログラムデバ
ッグをするためにエミュレータと呼ばれるデバッグ装置
が用意されており、プロセッサの代りにそのエミュレー
タを動作させると普通はできない内部プロセッサの中の
レジスタの内容を見たり、あるいはプログラムの内容が
自由に書き替え可能になる。しかし、本発明に係る光デ
イスクコントローラＬＳ１１５の内部プロセッサ２６を
ＬＳＩチップの中に組み込んでしまう場合には、デバッ
グが一切できないということになってしまうがらそれを
避けるためにＬＳＩの外から内部のプログラムを指定し
て動作させるような機能を付加している９本実施例では
その機能をエミュレーションモードと呼び、デバッグ制
御レジスタ４３、エミュレーションレジスタ４４および
マルチプレクサＭＰＸ４５がその機能を持つ。

通常（ノーマルモード）は内部プロセッサ２６はプログ
ラムＲＯＭ４１の内容に従って動作し、エミュレートモ
ードではエミュレーションレジスタ４４の内容をプログ
ラムコードとして使用する。また、エミュレーションレ
ジスタ４４への書き込みは上述したようにホストＭＰＵ
が行う。ノーマルモード／エミュレートモードの切り替
えはホストＭＰＵからの指示を受けたデバッグ制御レジ
スタ４３のエミュレートモード信号によりＭＰＸが一方
のバスを断ち切ることによって行う。なお、本実施例で
はＭＰＸを用いているが、これに限らず、例えばプログ
ラムＲＯＭ４１のθ番地にオール″０″を書いておき、
エミュレーションモードのときはこの番地を指定するこ
とによりプログラムＲＯＭの出力を断ち切る構成として
もよい。

本実施例による回路では下記のデバッグ機能をサポート
する。

・ホルト−無条件にプロセッサを停止する。

・アドレスコンベアストップ□指定アドレス通過時にプ
ロセッサを停止する。

・アドレスコンベア割込み□指定アドレス通過時にプロ
セッサを停止させるのではなくホス）ＭＰＵに割込みを
発生する。

・アドレスコンベアトリガ□指定アドレス通過時に外部
にトリガ信号を発生する。

・シングルステップ□プロセッサ停止状態のとき、プロ
グラムＲＯＭ４１の内容に従って１命令だけ実行する。

・エミュレート□外部のホストＭＰＵから、内部プロセ
ッサ２６にプログラムコードを与えて、任意のプログラ
ムコードを１ステツプづつ実行する。

以上述べたエミュレーション機能を具備することにより
次のような利点がある。

■一般に行われている実際のスピードで動きながらのエ
ミュレーションはできないものの、内部プロセッサ２６
用のエミュレータを用意しなくとも、内部プロセッサ２
６のデバッグが可能になる。

■ホストＭＰＵのプログラムに内部プロセッサのエミュ
レート用ルーチンを用意すればオンボード（製品レベル
）でも内部プロセッサ２６のデバッグ、解析が可能にな
る。

次に、本発明のポイントであるパラメータリスト格納用
ＲＡＭ２９に内蔵されるパラメータリストおよびＤｅｆ
ｅｃｔ　（ディフェクト）リストのフォーマットを説明
する。第６図は−ｒｉｔｅ　、　Ｖｅｒｉｆｙ、　Ｒｅ
ａｄコマンドのハラメータリストフォーマットである。

本発明の基本的な考え方としてユーザーエリアは全部連
続して処理し、とばすところだけは予め教えてもらえば
よい、そのため、まず、光デイスクコントローラＬ、５
１１５にパラメータリスト格納用ＲＡＭ２９を設け、該
ＲＡＭ２９に第６図に示すようにパラメータリストおよ
び欠陥の位置を示すＤｅｆｅｃｔリストを全て格納して
おく。ディスク１面あたりのプライマリディフェクトを
４０００、Ｇｒｏｗｔｈディフェクトを１０００程度と
仮定すると、ユーザエリア２５６セクタ中に欠陥セクタ
が発生する確率は２〜３個と計算されることから、本実
施例ではパラメータリスト、Ｄｅｆｅｃｔリストとも１
２８バイトの容量としている。１２８バイト用意すると
、１セクタ分の情報が４バイトの場合は欠陥３２個分を
記憶しておくことができることから、実際に連続処理を
するには十分な値と考えられる。パラメータリストおよ
びディフェクトリストの詳細は以下のようになっている
。

定する。

複数の連続するセクタの処理を 光デイスクコントローラＬＳ１１５ が自動的に行う場合は、先頭セフ タとなる。また、Ｄｅｆｅｃｔリストでは、欠陥セクタ
の物、理アドレスを 指定する。

・５ｅｃｔｏｒ　Ｃｏｕｎｔ・・・・・・処理セクタ数
を指定する。例えば、“１”のときはｌセクタ処 理し、　　２５５　”であれば２５５セクタを処理する
。但し、“０”のとき は“２５６”が指定されたものとみな す。また、指定する値にはｒＤｅｆｅ ｃｔによるスキップセクタ」を含ま ない。

・Ｂｕｆｆｅｒ　Ａｄｄｒｅｓｓ・・・・・・データバ
ッファアドレスを指定する。単位は５１２バイトであ る。例えば、ユーザエリアで読ん だデータは通常はシーケンシャル に入っているが、途中でＧｒｏｔｖｔｈリストに登録さ
れている欠陥セクタ があった場合には、その部分だけ アドレスをとばす。そして、空け ・Ｆｌａｇ　Ｄ・・・・・・ ておいて次のセクタをどんどん入 れていき、交代エリアを読んだと きにその空いているところにデー タを埋める。５ｅｃｔｏｒ　Ｃｏｕｎｔの指定が“１″
以外の場合は先頭アドレ スとなる。Ｖｅｒｔｆｙコマンドでは指定する必要はな
い。

ディフェクトリストを参照する 必要があるかないかを指定する。

例えば、ユーザエリアを読ませた い場合でなおかつその間にディフ ェクトが含まれている場合にはデ ィフェクトリストに、まずその欠 陥の位置を書き込んでおく。その 上でこのパラメータリストに２５６ セクタ分の処理をしなさいという 指令を入れておく。その指令があ れば光ディスクのＬＳＩはこれか らはじめてそのセクタをとばして 残りの正しいセクタを処理するこ とができる。１１″のときにデイ フェクトリストを参照し、“０” のときにディフェクトリストを参 照しない。

・Ｉｄｅｎｔｉｆｉｅｒ　Ｇ・・・・・・ずれているだ
けのプライマリディフェクトなのか交代セクタの あるＧｒｏｗｔｈディフェクトなのかを区別する。“０
”のときにはプラ イマリディフェクトであり、′１” のときにはＧｒｏｗｔｈディフェクトである。プライマ
リディフェクトの ときは、当該セクタをスキップす るだけであるが、Ｇｒｏｈ　ｔｈディフェクトのときは
当該セクタをスキ７ ブしたうえで、バッファアドレス を１セクタ分進める。

・Ｉｄｅｎｔｉｆｉｅｒ　Ｅ＝　’　１″のときに、Ｄ
ｅｆｅｃｔリストの終りであることを示す。

次に、作用を説明する。

第７図を用いて光デイスクコントローラ１５の針−１ｔ
ｅ　、　Ｒｅａｄ、　Ｖｅｒｉｆｙの各動作を説明する
。

Ｗｒｉｔｅ　　　７　　　（ａ ■ＳＣ３Ｉなどを通じて、ホストコンピュータから送ら
れてきたユーザデータを一旦データバッファへ蓄える。

■データバッファに蓄えたユーザデータを１セクタ分読
み出し、変調してＢＳＤＩへ送出する。同時に、ＥＣＣ
プロセッサでＣＲＣ，ＥＣＣ生成を行う。

■空ユーザデータの転送終了後、ＥＣＣプロセッサ１６
からＣＲＣ，ＥＣＣを出力し、変調してＥＳＤＩへ送出
する。

Ｒｅａｄ（７Ｍ　　ｂ　　参 ■ＥＳＤ　Ｉを通じて光ディスクから送られてきた読み
出しデータを復調してユーザデータ部分だけをデータバ
ッファへ書き込む。同時に、ＥＣＣプロセッサ１６でエ
ラーシンドロームを演算する。

■ユーザデータ部分に続いてＣＲＣ，ＥＣＣ部分を復調
して、ＥＣＣプロセッサへ入力し、エラーシンドローム
の演算を完結させる。

■エラーシンドロームをともに、誤りの検出・訂正を行
う。誤り位置・数値の演算はＥＣＣプロセッサ１６が行
い、データバッファ内のデータ訂正は光デイスクコント
ローラ１５が行う。

誤り訂正処理を行う間に、後続セクタの■■の処理を行
う。

■訂正を終了したユーザデータをデータバッファ１８か
ら読み出して、ＤＭＡインターフェースから送出する。

Ｖｅｒｉｆ　　（７（ｃ） ■光ディスクから送られてきた読み出しデータを復調し
て、ＥＣＣプロセッサ１６へ入力し、エラーシンドロー
ムの演算を行う。

■エラーシンドロームを基に、誤りの検出を行う、ＥＣ
Ｃプロセッサ１６は誤りの数が許容範囲内が否かを判定
し、光デイスクコントローラ１５へ通知する。誤り数判
定処理を行う間に、後続セクタの■の処理を行う。

第８図は第１０図に示す状況において、データバソファ
１８内のデータを光ディスクへＷｒｉｔｅ　した後、Ｖ
ｅｒｉｆｙを行う場合のホストＭＰＵの処理フローチャ
ートであり、第１１図で示した従来例に対応するもので
ある。プログラムがスタフトとすると、まず、５ＴＥＰ
２１でパラメータリスト格納用ＲＡＭ　（Ｐ−ＲＡＭ）
２９に第８図（ｂ）に示すようなりｅｆｅｃｔリストを
書き込み、５ＴＥＰ２２でＰ−ＲＡＭ２９に同図（ｂ）
に示すようなパラメータリストを書き込む。

ここで、パラメータ１はセクタＰＯ−Ｐ１６までの処理
を一括指示し、ディフェクトセクタはディフェクトリス
トで通知する。また、パラメータ２はセクタ１７の処理
を指示する。次いで、５ＴＥＰ２３でパラメータ長とし
て“２”を指定（パラメータ長＝２）するとともに、Ｗ
ｒｉｔｅコマンドを発行し、５ＴＥＰ２４でコマンド実
行が終了したか否かを判別する。コマンド実行が終了し
たときには５ＴＥＰ２５でパラメータ長＝２を指定する
とともに、Ｖｅｒｉｆｙコマンドを発行し、５ＴＥＰ２
６でコマンド実行が終了したか否かを判別する。コマン
ド実行が終了したときには今回の処理を終える。

したがって、本実施例ではパラメータ１の処理とパラメ
ータ２の処理は連続して行われるので、セクタＰＯ〜Ｐ
１７の処理は各々１回のコマンドで、かつ１回転で終了
する。また、Ｖｅｒ　ｉ　ｆ　ｙコマンド用のパラメー
タ、ディフェクトリストはＷｒ　ｉ　ｔｅコマンド用と
同じでよいので、改めてＰ−ＲＡＭ２９に書く必要がな
い。その結果、ディフェクトがある度に一旦そこで処理
が途切れていた、あるいはユーザエリアから交代エリア
に行くときに処理が途切れていた従来装置に比べて処理
速度を格段に向上させることができる。

なお、本実施例ではパラメータリストとＤｅｆｅｃｔリ
ストをパラメータリスト格納用ＲＡＭ２９に格納してい
るが、データバッファ１８の一部に置くようにしてもよ
い。このようにすれば更に多くの処理を指定することが
できる。

〔発明の効果〕

本発明によれば、異なる処理であっても処理を中断させ
ることなく、処理速度を大幅に向上させることができ、
かつパラメータの再利用を可能にすることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理説明図、 第２〜８図は本発明に係る光デイスクコントローラの一
実施例を示す図であり、 第２図はその光デイスク制御装置の全体構成図、第３図
はその光デイスク制御ＬＳＩのブロック構成図、 第４図はその他の光ディスク制′ａＬＳ■のブロック構
成図、 第５図はその光デイスクコントローラＬＳＩのエミュレ
ーション機能を内蔵した内部プロセッサの構成図、 第６図はそのパラメータリストフォーマットを示す図、 第７図はそのＷｒｔｔｅ　５ＲｅａｄＳＶｅｒｉｆｙの
各動作を説明するための図、 第８図はその−ｒｉｔｅおよびＶｅｒｉｆｙ処理を行う
ためのプログラムを示すフローチャート、第９〜１１図
は従来の光デイスクコントローラを示す図であり、 第９図はその光デイスク上のセクタを直線的に表した図
、 第１０図はそのセクタ、プライマリマツプ、Ｇｒｏｗｔ
ｈマツプおよびデータバッファブロックアドレスを示す
図、 第１１図はその−ｒｉｔｅおよびＶｅｒｉｆｙ処理を行
うためのプログラムを示すフローチャートである。 １・・・・・・光デイスクコントローラ、２・・・・・
・ホストＭＰＵ。 ４・・・・・・データバッファ、 ５・・・・・・パラメータリスト格納用ＲＡＭ、６・・
・・・・コマンドレジスタ、 １１・・・・・・光デイスク制御装置、１２・・・・・
・コンピュータ、 １３．１４・・・・・・光デイスク装置、１５・・・・
・・光デイスクコントローラＬＳＩ、１６・・・・・・
ＥＣＣプロセッサ、 １７・・・・・・マイクロプロセッサ、１８・・・・・
・データバッファ、 １９・・・・・・５Ｃ３Ｉ；１ｌｌ１１１ＬｓＩ。 ２０・・・・・・ドライバレシーバ、 ２１・・・・・・ＭＰＵインターフェース回路、２２・
・・・・・ＤＭＡ制御回路、 ２３・・・・・・データバフファ／ＥＣＣＰ制御回路、
２４・・・・・・フォーマットエンコード／デコード回
路、２５・・・・・・ＥＳＤＩ制御回路、 ２６・・・・・・内部プロセッサ、 ２７．２８．３６・・・・・・ＦＩＦ○メモリ、２９・
・・・・・パラメータリスト格納用ＲＡＭ　（Ｐ−ＲＡ
Ｍ）、 ３０・・・・・・コマンドレジスタ、 ３１・・・・・・データ転送制御回路、３２・・・・・
・ＥＣＣ／シンドローム生成回路、３３・・・・・・Ｅ
ＣＣ／シンドロームバッファ、３４・・・・・・誤り位
置・数値検出回路、３５・・・・・・内部プロセッサ、 ４１・・・・・・プログラムＲＯＭ。 ４２・・・・・・シーケンス制御・ＡＬＵ演算器、４３
・・・・・・デバッグ制御レジスタ、４４・・・・・・
エミエレーションレジスタ、４５・・・・・・マルチプ
レクサ（ＭＰＸ）、４６・・・・・・内部バス。 ５・１５ 第 図 ２：ホストＭＰＵ ６：コマンドレジスタ 第５図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 光ディスクに対する処理内容を指定するパラメータを複
   数個記憶可能なパラメータリスト記憶手段（２９）と、 外部から与えられたコマンドを記憶する手段（３０）と
   、 該コマンドに従って、前記複数のパラメータを参照して
   光ディスクに対する複数種類の処理を連続的に行う手段
   （２６）とを具備することを特徴とする光ディスクコン
   トローラ。