JPH02215146A - Ｔａｂテープ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、半導体亀積回路素子を実装するＴＡＢテープ
に関し、特に、素子検査時の検査装置との位置関係に関
する。

従来の技術 従来、半導体素子を実装するＴＡＢテープにおいては、
第２図に示すように、ＴＡＢテープ５上のパッドとして
は検査装置との電気的インタフェースをとる信号線パッ
ドや検査後の素子の属性を示す為のパッド（例えば、不
良品に対しては特定パッドに孔をあける等）を有するの
が一般的である。

発明が解決しようとする課題 上述した従来のＴＡＢテープにおいては、検査装置との
間の相対的な位置関係を示す情報がない為に、検査時に
おける検査装置とＴＡＢテープ間の微妙な位置ずれを発
見する手段がない、この為に、位置ずれをおこした場合
には、ＴＡＢテープと検査装置の電極間に正常なインタ
フェースが保たれず、ＴＡＢテープ上の素子が良品であ
っても不良品と判断されてしまう、　ＴＡＢテープ上に
実装の素子は、第３図に示すようにドラムに巻かれて連
続かつ多量に検査される為に、位置ずれの為に不良とな
ると大量に不良品が発生してしまう、又、検査装置では
、第３図に示すように上からＴＡＢテープを押さえつけ
てパッドと電極間の接触を保つのが一般的である為に、
微妙な位置ずれを目視で確認することも困難である。

本発明は従来の上記実情に鑑みてなされたものであり、
従って本発明の目的は、従来の技術に内在する上記欠点
を解消することを可能とした新規なＴＡＢテープを提供
することにある。

発明の従来技術に対する相違点 上述した従来のＴＡＢテープにおいては、検査装置との
間の位置ずれを検出する機能を有していないのに対し、
本発明のＴＡＢテープでは、位置ずれを検出する為の専
用のパッドを有しているという相違点がある。

課題を解決するための手段 前記目的を達成する為に、本発明に係るＴＡＢテープは
、検査装置間との相対的な位置ずれを検出する為のパッ
ドを有している。

実施例 次に、本発明をその好ましい一実施例について図面を参
照して具体的に説明する。

第１図は本発明の一実施例を示す図である。

第１図において、テープ１上に半導体素子３が実装され
、パッド４−１〜４−１６と接続されている。

位置検出用バッド２−１及び２−２はパタン２−３によ
ってテープ１上で接続されている。このパッド２−１及
び２−２はパッド４−１〜４−１６よりも小さい寸法で
つくられている。

第３図はテープ１上に実装された半導体素子３が検査さ
れる様子を示す図である。

第３図において、テープ１はリール８−１及び８−２に
巻かれており、ドラム９−１及び９−２にガイドされて
いる。テープ１上のパッド２−１．２−２及び４−１．
４−１６はインタフェースポード１１上に立てられた信
号ビン（図示せず）によって検査装置１３とインタフェ
ースをとっており、線１２によってインタフェースポー
ド１１と検査装置１３の間が接続されている。又押え治
具１０によりテープ１を押さえ、上記信号ビンとパッド
２−１．２−２及び４−１〜４−１６間との良好な接触
を保っている。

第４図はインタフェースポード１１上に立てられた信号
ビンを上から見た図である。パッド２−１２−２及び４
−１〜４−１６に対応した位置に信号ビン１４−１．１
４−２及び１５−１〜１５−１６が立っている。信号ビ
ン１４−１．１４−２はパッド２−１．２−２に対応し
、信号ビン１５−１へ１５−１６はパッド４〜１〜４−
１６に対応する。

以上のような構成で本発明の一実施例を更に詳しく説明
する。

第５図は検査装置Ｅ１３の動作フローを示すフローチャ
ートである。

第５図に示すように、検査装置１３は実際の検査に先立
ち、信号ビン１４−１．１１４−２ｆの導通を調べる。

信号ビン１４−１．１４−２がパッド２−１．２−２上
に乗っていれば、パッド２−１と２−２間はテープ１上
で接続されているので、信号ビン１４−１．１４−２間
は導通があることになる。このとき、検査装置１３は信
号ビン１５−１〜１５−１６が正確にテープ１上のパッ
ド４−１〜４−１６上にあると判断し、実際の半導体素
子３に対する検査を実行する０反対に信号ビン１４−１
．１４−２間に導通がなければ信号ビンｌ５−１〜１５
−１６はパッド４−１〜４−１６上に正確に位１してい
ないと判断し、検査を中止してアラームを発生する。尚
、位置検出用パッド２−１．２−２はパッド４−１〜４
−１６より小さくつくられている為に、信号ビン１４−
１．１４−２間に導通があるにもかかわらす信号ビン１
５−１〜１５−１６がパッド４−１〜４−１６上に位置
しないということはない。

上記した本実施例においては、パッド２−１．２−２間
の導通を調べることによって位置検出を行ったが、代案
として、第３図におけるインタフェースポード１１及び
押え治具１０上に発光ダイオードと光センサを配置する
ことにより、位置検出を行うことも可能である。

発明の詳細 な説明したように、本発明によればＴＡＢテープ上に位
置検出用のパッドを設けることにより、ＴＡＢテープと
検査装置間の位置ずれを発見することができるので、位
置ずれにより正しく検査が実施されず、被検査素子が良
品であるにもかかわらず不良品と判定されてしまうよう
な事態を防止することができるという効果が得られる。

又、゛不良が発生したときに、不良原因が位置ずれによ
るものか他の要因であるかを容易に切り分けることがで
きる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を表わす概略図、第２図は従
来技術を表わす概略図、第３図は検査時の状態を表わす
図、第４図は信号ビンの配置を表わす図、第５図は検査
装置の動作フローを表わす図である。 １．５・・・テープ、２−１．２−２・・・位置検出用
パッド、２−３・・・接続バタン、３．７・・・半導体
素子、４−１〜４−１６．６−１〜６−１６・・・信号
パッド、８−１．８−２・・・リール、９−１．９−２
・・・ドラム、１０・・・押さえドラム、１１・・・イ
ンタフェースポード、１２・・・線、１３・・・検査装
置、１４−１．１４−２．１５−１〜１５−１６・・・
信号ビン特許出願人　　日本電気株式会社 代　理　人　　弁理士　熊谷雄太部 第 図 ＋５−１５、。 ＋５−１４　。 ＋５−１３゜ 、Ｊ５＝６ 、〜１５−７ 、−１５−８ 第 図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 半導体素子を実装する為のＴＡＢテープであって、該半
   導体素子を検査する際に、前記ＴＡＢテープと、前記半
   導体素子を検査する為の検査装置間の相対的な位置ずれ
   を検出する為のパッドを有することを特徴とするＴＡＢ
   テープ。