JPH0222577B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0222577B2 JPH0222577B2 JP58213923A JP21392383A JPH0222577B2 JP H0222577 B2 JPH0222577 B2 JP H0222577B2 JP 58213923 A JP58213923 A JP 58213923A JP 21392383 A JP21392383 A JP 21392383A JP H0222577 B2 JPH0222577 B2 JP H0222577B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- reversal
- display
- circuit
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- Prior art date
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L43/00—Arrangements for monitoring or testing data switching networks
- H04L43/50—Testing arrangements
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Selective Calling Equipment (AREA)
- Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、遠方監視制御装置の反転試験自動チ
エツク方法に関するものである。
エツク方法に関するものである。
［従来の技術］
遠方監視制御装置は、第１図に示すように、制
御対象機器４の情報を集め表示信号として制御所
に伝送する子局（被制御装置）３と、制御指令を
制御信号として子局３に伝送する親局（制御所装
置）２とからなる。
御対象機器４の情報を集め表示信号として制御所
に伝送する子局（被制御装置）３と、制御指令を
制御信号として子局３に伝送する親局（制御所装
置）２とからなる。
制御信号は、制御卓１から制御入力回路５に入
力して編集され、制御送信回路６でパラレル／シ
リアル変換され、変調回路７で周波数変調等の変
調を受けた後、制御伝送回線１７により被制御装
置３に送信される。被制御装置３に受信された制
御信号は、復調回路８により復調され、制御受信
回路９でシリアル／パラレル変換された後、制御
出力回路１０で出力信号として編集され、制御対
象機器４に出力される。
力して編集され、制御送信回路６でパラレル／シ
リアル変換され、変調回路７で周波数変調等の変
調を受けた後、制御伝送回線１７により被制御装
置３に送信される。被制御装置３に受信された制
御信号は、復調回路８により復調され、制御受信
回路９でシリアル／パラレル変換された後、制御
出力回路１０で出力信号として編集され、制御対
象機器４に出力される。
制御対象機器４からの表示信号も、制御信号と
同様なデータ処理により、表示入力回路１１、表
示送信回路１２、変調回路１３、表示送信回線１
８、復調回路１４、表示受信回路１５、表示出力
回路１６を経て、制御卓１に表示出力される。
同様なデータ処理により、表示入力回路１１、表
示送信回路１２、変調回路１３、表示送信回線１
８、復調回路１４、表示受信回路１５、表示出力
回路１６を経て、制御卓１に表示出力される。
親局２と子局３とが対向した状態で正常に動作
しているか否かを判定する手段として、表示反転
試験がある。親局２から子局３に対して表示反転
試験「入」の指令を与えると、子局３からは等価
的に表示入力信号が反転した状態で親局２に伝送
される。親局２では、子局３から送られてくる表
示符号が試験前とは反転した状態であるため、制
御卓１の表示器はそれまでと逆の状態を表示す
る。
しているか否かを判定する手段として、表示反転
試験がある。親局２から子局３に対して表示反転
試験「入」の指令を与えると、子局３からは等価
的に表示入力信号が反転した状態で親局２に伝送
される。親局２では、子局３から送られてくる表
示符号が試験前とは反転した状態であるため、制
御卓１の表示器はそれまでと逆の状態を表示す
る。
親局すなわち制御所装置２の表示出力回路１６
の詳細を第２図に示す。表示受信回路１５からの
表示信号は、状態記憶回路１９により状態を記憶
される。状態変化が生じまたは反転試験による逆
の状態が送られてくると、排他的ORゲート２０
はその状態変化を検出し、状態変化検出メモリ２
１に状態変化有りをセツトする。ランプドライバ
２２は、状態記憶回路１９に記憶された状態値と
状態変化検出メモリ２１からの状態変化有りの信
号とにより、制御卓１の表示器を点灯またはフリ
ツカさせ、運転員に状態および状態変化発生を知
らせる。
の詳細を第２図に示す。表示受信回路１５からの
表示信号は、状態記憶回路１９により状態を記憶
される。状態変化が生じまたは反転試験による逆
の状態が送られてくると、排他的ORゲート２０
はその状態変化を検出し、状態変化検出メモリ２
１に状態変化有りをセツトする。ランプドライバ
２２は、状態記憶回路１９に記憶された状態値と
状態変化検出メモリ２１からの状態変化有りの信
号とにより、制御卓１の表示器を点灯またはフリ
ツカさせ、運転員に状態および状態変化発生を知
らせる。
子局すなわち被制御装置３の表示入力回路１１
および表示送信回路１２の詳細を第３図に示す。
図において、２３は表示入力接点、２４は表示入
力リレー、２５は反転試験メモリ、２６は反転試
験用リレーである。制御出力回路１０からの反転
試験「入」の指令により、反転試験メモリ２５に
反転試験開始をセツトする。反転試験開始がセツ
トされると、反転試験用リレー２６が動作し、送
信回路１２からの走査信号により、表示入力接点
を等価的に反転した状態を送信回路１２に取り込
み、親局３に送信する。親局３からの試験「切」
の指令が入力されるか反転試験中に表示入力接点
２３が変化すると、反転試験メモリ２５と反転試
験用リレー２６とがリセツトされ、正規の監視状
態に復帰する。
および表示送信回路１２の詳細を第３図に示す。
図において、２３は表示入力接点、２４は表示入
力リレー、２５は反転試験メモリ、２６は反転試
験用リレーである。制御出力回路１０からの反転
試験「入」の指令により、反転試験メモリ２５に
反転試験開始をセツトする。反転試験開始がセツ
トされると、反転試験用リレー２６が動作し、送
信回路１２からの走査信号により、表示入力接点
を等価的に反転した状態を送信回路１２に取り込
み、親局３に送信する。親局３からの試験「切」
の指令が入力されるか反転試験中に表示入力接点
２３が変化すると、反転試験メモリ２５と反転試
験用リレー２６とがリセツトされ、正規の監視状
態に復帰する。
［発明が解決しようとする課題］
この方式は、非常に単純ではあるが、効果的で
あるので、大変よく使われている。
あるので、大変よく使われている。
しかし、反転試験良否の判定は、運転員が目視
で監視するため、反転試験前の表示状態を記憶し
ておいて、判定しなければならない。従来は小規
模のシステムが多かつたので、あまり問題ではな
かつたが、最近は大規模システムが増えてきてお
り、このようなシステムの場合、監視項目が多く
なり、大きな労力が必要となる。また、監視項目
が多くなれば、反転試験良否の判断に時間がかか
り、反転試験中に、実際の状態変化が発生する確
率も高くなる。一方、状態変化が発生すれば、反
転試験は自動的にリセツトされるため、反転試験
良否の判別が中断されてしまい、反転試験を繰り
返すことになる欠点があつた。
で監視するため、反転試験前の表示状態を記憶し
ておいて、判定しなければならない。従来は小規
模のシステムが多かつたので、あまり問題ではな
かつたが、最近は大規模システムが増えてきてお
り、このようなシステムの場合、監視項目が多く
なり、大きな労力が必要となる。また、監視項目
が多くなれば、反転試験良否の判断に時間がかか
り、反転試験中に、実際の状態変化が発生する確
率も高くなる。一方、状態変化が発生すれば、反
転試験は自動的にリセツトされるため、反転試験
良否の判別が中断されてしまい、反転試験を繰り
返すことになる欠点があつた。
このため、反転試験の良否チエツクを運転員が
目視でするのではなく、装置自体で短い時間に自
動チエツクすべきだとの要求が強い。
目視でするのではなく、装置自体で短い時間に自
動チエツクすべきだとの要求が強い。
そこで、例えば特開昭58−105688号に記載のよ
うに、非状態変化検出信号を出力するゲート手段
を設け、このゲート手段の出力により当該非状態
変化検出信号の表示ランプをフリツカ表示させ、
かつ警報を出す方式が知られている。
うに、非状態変化検出信号を出力するゲート手段
を設け、このゲート手段の出力により当該非状態
変化検出信号の表示ランプをフリツカ表示させ、
かつ警報を出す方式が知られている。
これらの方式では、反転試験の結果が一旦得ら
れても、反転試験中であることを示す試験中デー
タがある限り、試験が継続され、反転試験は自動
化されたものの、運転員が試験終了を指示しない
場合は、上記従来例と同様に、反転試験中に、実
際の状態変化が発生する確率が高くなる欠点が依
然としてあつた。
れても、反転試験中であることを示す試験中デー
タがある限り、試験が継続され、反転試験は自動
化されたものの、運転員が試験終了を指示しない
場合は、上記従来例と同様に、反転試験中に、実
際の状態変化が発生する確率が高くなる欠点が依
然としてあつた。
本発明の目的は、反転試験を必要最小限の時間
すなわちサイクルで完了し、その結果のみを運転
員に知らせるとともに、通常の監視動作に速やか
に自動復帰可能な反転試験自動チエツク方法を提
供することである。
すなわちサイクルで完了し、その結果のみを運転
員に知らせるとともに、通常の監視動作に速やか
に自動復帰可能な反転試験自動チエツク方法を提
供することである。
［課題を解決するための手段］
本発明は、上記目的を達成するために、親局か
ら子局に表示反転試験指令を与え、子局から親局
に等価的に表示入力信号を反転したデータを伝送
し、親局が子局から伝送されたデータと試験前デ
ータとの反転の有無により系統の健全性をチエツ
クする反転試験機能を持つ遠方監視制御装置にお
いて、前記子局が、反転試験開始後の伝送サイク
ル数をカウントし、所定伝送サイクル数の間のみ
反転データを伝送し、その後は正規の監視データ
の伝送に復帰する反転試験自動チエツク方法を提
案するものである。
ら子局に表示反転試験指令を与え、子局から親局
に等価的に表示入力信号を反転したデータを伝送
し、親局が子局から伝送されたデータと試験前デ
ータとの反転の有無により系統の健全性をチエツ
クする反転試験機能を持つ遠方監視制御装置にお
いて、前記子局が、反転試験開始後の伝送サイク
ル数をカウントし、所定伝送サイクル数の間のみ
反転データを伝送し、その後は正規の監視データ
の伝送に復帰する反転試験自動チエツク方法を提
案するものである。
［作用］
本発明においては、親局で反転試験「入」の操
作を行うと、子局では反転したデータを親局に例
えば３サイクル伝送した後、自動的に反転試験を
解除する。親局では、例えば２サイクル内に表示
出力回路の全ての状態変化検出メモリに状態変化
有りがセツトされているか否かを見て、反転試験
の良否をチエツクし、自動的に反転試験を解除す
る。
作を行うと、子局では反転したデータを親局に例
えば３サイクル伝送した後、自動的に反転試験を
解除する。親局では、例えば２サイクル内に表示
出力回路の全ての状態変化検出メモリに状態変化
有りがセツトされているか否かを見て、反転試験
の良否をチエツクし、自動的に反転試験を解除す
る。
したがつて、運転員の負担が大幅に軽減される
とともに、反転試験自体が極めて短時間に完了す
るので、正規の監視動作に与える影響も殆ど無視
できる。
とともに、反転試験自体が極めて短時間に完了す
るので、正規の監視動作に与える影響も殆ど無視
できる。
［実施例］
第４図は、本発明による反転試験判別回路を備
えた親局２の関連部分を示す図である。親局反転
試験判別回路は、各状態変化検出メモリ２１の出
力の論理積を演算するANDゲート２７と、その
演算結果を記憶する反転試験判定メモリ２８と、
判定試験報告ランプ２９と、表示受信回路１５か
らの最終ワードの信号をカウントし、試験開始後
所定サイクル例えば２サイクルが経過したとき、
前記ANDゲート２７に論理積の一条件となる信
号を送るカウンタ３０とからなる。
えた親局２の関連部分を示す図である。親局反転
試験判別回路は、各状態変化検出メモリ２１の出
力の論理積を演算するANDゲート２７と、その
演算結果を記憶する反転試験判定メモリ２８と、
判定試験報告ランプ２９と、表示受信回路１５か
らの最終ワードの信号をカウントし、試験開始後
所定サイクル例えば２サイクルが経過したとき、
前記ANDゲート２７に論理積の一条件となる信
号を送るカウンタ３０とからなる。
この親局２は、反転試験「入」操作により、子
局３から逆のデータが送られてくるため、反転試
験が正しく行われていれば、状態変化検出メモリ
２１に状態変化有りがセツトされる。すべての反
転試験位置で状態変化を検出すれば、例えば２サ
イクル経過までにANDゲート２７の出力は「１」
となり、反転試験判定メモリ２８に「良」をセツ
トする。反転しない位置がある場合、ANDゲー
ト２７の出力は「０」となり、反転試験判定メモ
リ２８に「不良」をセツトする。反転試験良否の
判定結果は、判定試験報告ランプ２９により、運
転員に示される。なお、判定試験を確実に実行す
る一方で、正規の監視に早急に戻る必要もあると
ころから、ここでは、判定試験良否のチエツク
は、表示受信回路１５からの最終ワードの信号を
カウンタ３０によりカウントし、試験開始後、２
サイクルとしている。
局３から逆のデータが送られてくるため、反転試
験が正しく行われていれば、状態変化検出メモリ
２１に状態変化有りがセツトされる。すべての反
転試験位置で状態変化を検出すれば、例えば２サ
イクル経過までにANDゲート２７の出力は「１」
となり、反転試験判定メモリ２８に「良」をセツ
トする。反転しない位置がある場合、ANDゲー
ト２７の出力は「０」となり、反転試験判定メモ
リ２８に「不良」をセツトする。反転試験良否の
判定結果は、判定試験報告ランプ２９により、運
転員に示される。なお、判定試験を確実に実行す
る一方で、正規の監視に早急に戻る必要もあると
ころから、ここでは、判定試験良否のチエツク
は、表示受信回路１５からの最終ワードの信号を
カウンタ３０によりカウントし、試験開始後、２
サイクルとしている。
第５図は、本発明による反転試験回路を備えた
子局３の関連部分を示す図である。本実施例の反
転試験回路は、表示伝送回路１８の出力をカウン
トし、試験開始後所定サイクル例えば３サイクル
が経過したとき、前記反転試験メモリ２５を自動
的にリセツトするカウンタ３０を備えている。
子局３の関連部分を示す図である。本実施例の反
転試験回路は、表示伝送回路１８の出力をカウン
トし、試験開始後所定サイクル例えば３サイクル
が経過したとき、前記反転試験メモリ２５を自動
的にリセツトするカウンタ３０を備えている。
親局２から反転試験「入」の信号を受信する
と、反転試験メモリ２５がセツトされ、反転試験
状態となるが、表示伝送回路１８からの最終ワー
ド信号をカウンタ３０が例えば３回カウントする
と、反転試験メモリ２５を自動的にリセツトする
ため、反転試験が解除され、その後は正規の監視
データを親局２に送る。
と、反転試験メモリ２５がセツトされ、反転試験
状態となるが、表示伝送回路１８からの最終ワー
ド信号をカウンタ３０が例えば３回カウントする
と、反転試験メモリ２５を自動的にリセツトする
ため、反転試験が解除され、その後は正規の監視
データを親局２に送る。
これにより、従来の方式では、運転員が全点チ
エツクしていたため、少なくとも10分はかかつて
いた反転試験を、３サイクルの時間（1200ボーで
は100ms程度）で完了し、運転員の負担を大幅に
軽減できるとともに、装置の異常の有無を容易に
検出できる。
エツクしていたため、少なくとも10分はかかつて
いた反転試験を、３サイクルの時間（1200ボーで
は100ms程度）で完了し、運転員の負担を大幅に
軽減できるとともに、装置の異常の有無を容易に
検出できる。
［発明の効果］
本発明によれば、運転員の負担を大幅に軽減す
るとともに、例えば数サイクルの短時間でかつ正
確に反転試験良否の判別ができ、高信頼度のシス
テムを構成可能な反転試験自動チエツク方法が得
られる。
るとともに、例えば数サイクルの短時間でかつ正
確に反転試験良否の判別ができ、高信頼度のシス
テムを構成可能な反転試験自動チエツク方法が得
られる。
第１図は従来の遠方監視制御装置の構成の一例
を示す図、第２図は従来の表示出力回路の一例を
示す図、第３図は従来の表示入力回路および表示
送信回路を示す図、第４図は本発明による反転試
験判別回路を備えた親局の関連部分を示す図、第
５図は本発明による反転試験回路を備えた子局の
関連部分を示す図である。 １……制御卓、２……制御所装置（親局）、３
……被制御装置（子局）、４……制御対象機器、
５……制御入力回路、６……制御送信回路、７…
…変調回路、８……復調回路、９……制御受信回
路、１０……制御出力回路、１１……表示入力回
路、１２……表示送信回路、１３……変調回路、
１４……復調回路、１５……表示受信回路、１６
……表示出力回路、１７……制御伝送回線、１８
……表示送信回線、１９……状態記憶回路、２０
……排他的ORゲート、２１……状態変化検出メ
モリ、２２……ランプドライバ、２３……表示入
力接点、２４……表示入力リレー、２５……反転
試験メモリ、２６……反転試験用リレー、２７…
…ANDゲート、２８……反転試験判定メモリ、
２９……判定試験報告ランプ、３０……カウンタ
回路。
を示す図、第２図は従来の表示出力回路の一例を
示す図、第３図は従来の表示入力回路および表示
送信回路を示す図、第４図は本発明による反転試
験判別回路を備えた親局の関連部分を示す図、第
５図は本発明による反転試験回路を備えた子局の
関連部分を示す図である。 １……制御卓、２……制御所装置（親局）、３
……被制御装置（子局）、４……制御対象機器、
５……制御入力回路、６……制御送信回路、７…
…変調回路、８……復調回路、９……制御受信回
路、１０……制御出力回路、１１……表示入力回
路、１２……表示送信回路、１３……変調回路、
１４……復調回路、１５……表示受信回路、１６
……表示出力回路、１７……制御伝送回線、１８
……表示送信回線、１９……状態記憶回路、２０
……排他的ORゲート、２１……状態変化検出メ
モリ、２２……ランプドライバ、２３……表示入
力接点、２４……表示入力リレー、２５……反転
試験メモリ、２６……反転試験用リレー、２７…
…ANDゲート、２８……反転試験判定メモリ、
２９……判定試験報告ランプ、３０……カウンタ
回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 親局から子局に表示反転試験指令を与え、子
局から親局に等価的に表示入力信号を反転したデ
ータを伝送し、親局が子局から伝送されたデータ
と試験前データとの反転の有無により系統の健全
性をチエツクする反転試験機能を持つ遠方監視制
御装置において、 前記子局が、前記反転試験開始後の伝送サイク
ル数をカウントし、所定伝送サイクル数の間のみ
反転データを伝送し、その後は正規の監視データ
の伝送に復帰することを特徴とする反転試験自動
チエツク方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58213923A JPS60107934A (ja) | 1983-11-16 | 1983-11-16 | 反転試験自動チエツク方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58213923A JPS60107934A (ja) | 1983-11-16 | 1983-11-16 | 反転試験自動チエツク方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60107934A JPS60107934A (ja) | 1985-06-13 |
| JPH0222577B2 true JPH0222577B2 (ja) | 1990-05-21 |
Family
ID=16647279
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58213923A Granted JPS60107934A (ja) | 1983-11-16 | 1983-11-16 | 反転試験自動チエツク方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60107934A (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58105688A (ja) * | 1981-12-18 | 1983-06-23 | Hitachi Ltd | 遠方監視制御装置 |
-
1983
- 1983-11-16 JP JP58213923A patent/JPS60107934A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60107934A (ja) | 1985-06-13 |
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