JPH02226812A - プログラム可能な論理装置 - Google Patents

プログラム可能な論理装置

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JPH02226812A
JPH02226812A JP1329790A JP32979089A JPH02226812A JP H02226812 A JPH02226812 A JP H02226812A JP 1329790 A JP1329790 A JP 1329790A JP 32979089 A JP32979089 A JP 32979089A JP H02226812 A JPH02226812 A JP H02226812A
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JP
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coupled
cell
input
eprom
memory
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JP1329790A
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Michael J Allen
マイケル・ジエイ・アレン
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Original Assignee
Intel Corp
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Publication date
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    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1015Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
    • G11C7/1036Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port using data shift registers
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
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    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
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    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
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    • H03K19/177Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using elementary logic circuits as components arranged in matrix form
    • H03K19/17704Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using elementary logic circuits as components arranged in matrix form the logic functions being realised by the interconnection of rows and columns
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    • H03K19/17712Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using elementary logic circuits as components arranged in matrix form the logic functions being realised by the interconnection of rows and columns using an AND matrix followed by an OR matrix, i.e. programmable logic arrays one of the matrices at least being reprogrammable

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はプログラム可能な論理装置の分野に関するもの
であp1更に詳しくいえばEPROMプレイの性能向上
に関するものである。
〔従来の技術〕
消去可能かつプログラム可能か読出し専用メモリ(EF
ROM)が良く知られている。最近、EPROM装置が
プログラム可能な論理プレイに組合わされて、プログラ
ム可能な論理装置(PLD)として−般に知られている
装置が構成されるように々つ九。
多くの場合に、PLDは消去可能でもあるから、PLD
は消去可能でかつプログラム可能な論理装置(EPLD
 )と呼ばれてきた。
一般に、各装置の九めのメモリ素子はプレイに構成され
、PLDへの各入力は反転入力と非反転入力に分けられ
る。各入力はメモリアレイマトリックスの一対の行線を
形成する。行線は典型的には語線と呼ばれる。メモリセ
ルの各列は列線によりー緒に結合される。列線は典型的
にはビット線と呼ばれる。アレイのそれらのビット線は
メモリアレイから出力を供給するために用いられる。し
九がって、それらのビット線の出力はノアゲートの出力
であるが、プール変換を介してn項積項と呼ばれる。次
に、それらの積出力は論理和をとられてそれらの積出力
の和を生ずる。入力端子が種々の行線に設けられるメモ
リアレイを用いる技術と、プレイの列からの積出力を加
え合わせる技術とは従来の技術において周知である。そ
れらの技術は米国特許第4,609,986号、第4,
617,479号、第4,124,899号の明細書に
記載されている。
各種のPLDが従来知られているが、それらのPLD 
は、lPROMセルをアクセスするために入力線を結合
することを要する。一般に、入力線は浮動ケー) EP
ROMセルの制御ゲートへ結合され、セルの出力は、浮
動ゲートのプログラムされ次状態ま次はプログラムされ
ていない状態(消去状態)と、消去状態にある時は入力
信号の状態とに依存する。メモリアレイの入力端子から
出力端子へ信号路がたどられるものとすると、EPRO
Mセルはその信号路内に含まれることに注目されたい。
すなわち、入力信号は、PLOから出力を得ることがで
きる前にEPROMをアクセスしなければならない。信
号路中にlPROMセルに存在するとPLDの性能、と
くに速度と電力の性能が阻害される。
こうなる理由は、出力を得ることができる前に、与えら
れたEFROMをアクセスする必要があること、および
制御ゲートに入力信号が存在した後でのみEPROMセ
ルをアクセスできることである。
PLD の信号路からメモリセルを除くことができるな
らば、PLDの性能を向上できることがわかる。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は、信号路からメモリを除くことによりプログラ
ム可能な論理装置の性能を向上させるための新規なアー
キテクチャについて記述するものである。−実施例にお
いては、バッファされた信号と、その信号の補数信号を
供給するために、レベル変換器とバッファの組合わせへ
入力信号が結合される。プレイの各メモリセルの状態が
それに対応する適切なバッファの可能化を制御するよう
に、プレイのメモリが対応するノ(ンファへ結合される
。入力信号が供給される前にメモリセルを読出すことが
できるから、入力信号に応じてPLOから出力を発生す
るのに要する時間が短くなる。
別の実施例においては、パン7アから一対の信号を受け
るためにマルチプレクサが結合される。
メモリセルは信号路から再び除去され、入力信号と、そ
の入力信号の補数信号との間で選択する之めにメモリセ
ルのそれぞれのマルチプレクサを制御するためにメモリ
セルの状態が用いられる。
別の実施例においては、メモリセルの状態がレジスタに
保持されるように、メモリセルの出力端子がシフトレジ
スタへ結合される。保持された情報は、バッファを可能
状態にする友めに用いられ、または先に述べた実施例の
マルチプレクサを動作させる九めに用いられる。複数の
シフトレジスタを直列に結合できる。バッファまたはマ
ルチプレクサを動作させるために外部プログラミング信
号をシフトレジスタに結合できる。シフトレジスタを介
して外部プログラミングを用いることにより、メモリセ
ルを実際にプログラミングすることなしにPLD にプ
ログラムされたセルの状!l1pL。
にエミュレートさせることができる。
最後に、バッファ操作を行う部品が、メモリアレイへの
入力端子の所の代シにメモリセルの場所に直接置かれる
ように、分布バッファ技術が用いられる。
以下に、信号路からメモリセルを除くことによりプログ
ラム可能な論理装置(PLD )の性能を向上させる新
規なアーキテクチャについて説明する。
本発明を完全に理解できるようにするために、以下の説
明においては、特定のメモリセルおよび回路部品等のよ
うか特定の事項の詳細について数多く述べである。しか
し、そのような特定の詳細事項なしに本発明を実施でき
ることが画業者には明らかであろう。その他の場合には
、本発明を不必要に詳しく説明して本発明をあいまいに
しないようにするために、周知の回路は詳しく説明しな
い。
〔実施例〕
PLD の基本的な部品を示すブロック図が示されてい
る第1図を参照する。メモリアレイ10への入力端子と
して複数の入力端子I0〜In が結合される。各入力
端子!。〜I、が信号をマトリックスの行線へ供給する
ように、マトリックスプレイ状に配置された複数のメモ
リセルでメモリアレイ10が構成される。メモリセルの
出力端子はそれの適切な列線へ結合され、それらの列線
は検出増幅器11へ結合される。検出増幅器11は列か
らの出力を検出し、列線の状態に対応する出力を供給す
る。検出増幅器11の出力は各種の方法で用いられる。
典型的なPLOにおいては、検出増幅器11からの出力
がマクロセル12へ結合される。
典型的には、各マクロセル12は、通常は論理和される
所定数の積項(p項)、に応答して積項の和を供給する
。マクロセル12からの出力はPLDへ外部で結合され
、メモリセル10へ帰還入力を供給するためにメモリア
レイ10へ結合される。
第4図にはマクロセル12が4つだけ示されているが、
実際の数は設計上の選択の問題であり、メモリアレイ1
0のサイズとメモリアレイ10のp項の群化とに依存す
る。検出増幅器10とマクロセル12との動作は周知で
ある。
次に、複数のメモリセル2Tで構成され、典型的にはメ
モリアレイ10で構成される従来の回路20の一部が示
されている第2図を参照する。従来の回路20において
は、各入力!。〜Inがレベル変換器21への入力とし
て結合される。第2図に示されているレベル変換器21
はインバータでもある。レベル変換器21の出力端子は
反転バッファ22の入力端子と非反転バッファ230入
力端子へ結合される。各入力端子のために一対の行線を
供給するために、各バッファ22ま九は23の出力端子
がそれぞれの行線へ結合される。次とえば、入力I。に
対して、それの対応するバッファ22の出力がメモリア
レイの行O・線へ供給され、バッファ23の出力が行O
/線へ供給される(記号/l−ここでは補数を示す究め
に用いる)。通常は、行線はその行のEPROMセルの
制御ゲートへ結合される。更に、はとんどのメモリアレ
イは、入力信号の補数に関連する別の行線を有する。そ
の別の行線は、この場合には、バッファ23の出力端子
へ結合される行線として示されている。
第2図においては初めの2段と終段だけが示されている
。初段は入力端子Aを有するものとして示され、第2段
は入力端子Bl有するものとして示されている。また、
第2図の回路20は列0のそれらのメモリセル24だけ
を示す。列0のメモリセル24の出力端子は全て線26
へ一緒に結合される。その線26はピント線と一般に呼
ばれる。
列0の全てのメモリセル24を一緒に結合すると全ての
入力と、それらの入力の補数入力の全てとのプール・ア
ンド機能が得られる。第2図の例においては、lPRO
Mセル30は行01列Oの位置を示すが、EPROMセ
ル31は行Oの補数、列Oの位置を示す。EPROMセ
ル32は行1、列0の位置を示し、EPROMセル33
は行1の補数、列0位置を示す。入力端子AとBに対す
るメモリセルの列を示す等価0M08回路が第3図に示
されている。
次に動作を説明する。セル24の列を形成する各EPR
OMセル27は、装置がプログラミング中にプログラム
され、または消去されたままである。
与えられたセル27が消去されている状態すなわちプロ
グラムされていない状態にあるものとすると、そのセル
27の導通と非導通は、それの制御ゲートへ加えられる
入力信号の状態に依存する。
しかし、与えられたEPROMセル2Tがプログラムさ
れた状態にあるものとすると、そのセルは導通状態にさ
れない。し友がって、それらの消去されたセルだけが、
それの制御ゲートへ加えられた入力信号に応答する。E
FROM 27の動作は周知である。
入力信号の状態と、与えられたビット線26へ結合され
ている各EP ROMセルの格納されている状態とに依
存するある出力を従来の回路20がそのビット線へ供給
することに注目すべきである。
また、与えられたEPROMセル27がメモリアレイの
実際の信号路中にあることにも注目すべきである。次と
えば、入力I。に対応する回路200部分を調べると、
EPROM 30と31が実際の信号路に存在すること
がわかる。すなわち、入力線Ioに信号人が存在すると
、その信号は、lPROMセル30と31の少くとも一
方からの出力をビット線26へ供給できる前に、その信
号AはEPROM30.31の制御ゲートへ加えられる
。入力信号の九めにEPROM 30と31の少くとも
一方の導通状態を変えねばならないとすると、そのメモ
リセルから適切な出力を供給できる前に、セルのトラン
ジスタがそれの状態を、非導通状態から導通状態という
ように、変えねばならない。トランジスタの状態を導通
状態から非導通状態へ、またはその逆に変えるためにい
くらかの時間を要する。
ビット線26の電圧の振れがより高い電圧とアース電位
の間で振れさせられるならば、その状態変化に要する時
間が大幅に長くなることがある。すなわち、5ボルトと
アース電位の間の振れに要する時間は、15ボルトとア
ース、電位の間の振れに要する時間より短い。更に、与
えられ次列のある数のセルが同時に導通し次とすると、
ビット線26にかなりの電流が流れ出すことがあや、そ
の結果として、検出増幅器がそれの定常状態へ復帰でき
るまでの時間が長くなる。
メモリセル27の応答時間を短くする友め、し九がって
、PLDの全体の速度を高くするために、回路20のよ
うな従来の回路はビット線をドライブする電流ドライバ
の使用を実現した。#!2図において、電流ドライバ2
9が電源vCCとビット線26の間に結合されている様
子が示されている。
典型的にはトランジスタ装置である電流ドライバ29は
、装置の高速動作モード中に定常電流を供給するために
オン状!14t−維持する。定常状態の下においては、
ビット線は所定のバイアス点へバイアスされる。メモリ
セルが導通状態になると、ビット線26へ結合されてい
る検出増幅器はそのバイアス点からの変化をビット線2
6における状態変化として検出する。しかし、この技術
には大きな欠点がある。より高速の動作を行うことがで
きるが、電流ドライバ29が連続して動作するからPL
D のために非常に大きい電流を必要とする。
この電流増加はより多くの電力と付加電力を消費する必
要があることを意味する。
次に、EFROMセル27mを信号路から除去する本発
明のアーキテクチャが示されている第4図を参照する。
EPROM 30a、31a、32a、33aは第2図
と第3図に示すEPROMセル30〜33に等しいが、
添字aをつけて表す。しかし、第4図の回路においては
、各lPROMセルの制御ゲートへは5ボルトのような
電圧が供給される。その電圧は、そのセルが消去されて
いるならば、そのセルを導通状態にする。レベル変換器
/バッファ(以下、単にバッファと記す)37または3
8を可能状態にするために、種々のセル27&の出力端
子はビット線ではなくてそれぞれのバッファ37または
38へ結合される。各人カニ。−1n (i4図にはI
!、だけが示されている)が反転レベル変換器/バッフ
ァ3Tへ結合され、各入力は非反転レベル変換器/バッ
ファ38へも結合される。バッファ37と38は別々の
レベル賢換器および別々のバッファで構成できる。バッ
ファ37.38の出力端子は、同じ列の他のバッファ3
7.38からの出力端子とともにビット線26mへ結合
される。第4図に示す回路においては、各出力端子対は
一緒に結合され、それからアンドゲートの入力端子とし
て結合される。そのアンドゲートはそれの入力端子へ供
給される全ての項の論理積をとる。第4図において、2
つの入力!。と11が出力端子においてアンドゲート3
5により組合わされて、信号AとBに対する演算子論理
を決定するための積項を供給する。
各EPROMセル27mが消去されている時だけ、バッ
ファ37または38を可能状態にするために、各EPR
OMセル27aはバッファ37または38へ結合される
。たとえば、第4図において、バッファ41はセル30
aの状態により可能状態にされ、バッファ42はセルa
taの状態により可能状態にされる。Aが入力I。とし
て示されている。セル30aの消去された状態のために
バッファ41が可能状態にされたとするとA/が出力端
子に現われ、セル31mの消去された状態のためにバッ
ファ42が可能状態にされたとするとAが出力端子に現
われる。メモリセル30mと31&がプログラムされた
とすると、入力信号は出力に対して何の作用も及ぼさな
い。何らかの理由でメモリセル30&と31mが消去状
態にあるとすると、2つの直列p形トランジスタ39m
、39bが導通状態にあるためにバッファ41.42の
出力線が引下げられる。トランジスタ39m、39bの
ゲートはメモリセル30m、31mへそれぞれ結合され
る。各入力に対する各メモリセル対は同等に動作する。
アンドゲート35を使用することにより、論理積をとら
れる所定数の入力が選択される。
第4図にはEPROM 27&だけが示されておp1図
示を簡単にするためにそれの負荷トランジスタは示して
いないことに注目すべきである。しかし、!4図および
後の図に示されているlPROMセルは正しく動作する
ために負荷トランジスタを必要とする。それらの負荷ト
ランジスタは第3図に装置29として示され、第8図に
は装置61として示されている。
本発明のアーキテクチャは装置の信号路からlPROM
 メモリセル27&を除くことがわかるゆすなわち、各
lPROMセル27mはそれぞれのバッファ3Tまたは
38の可能化を制御する。EPROMセル27&は信号
路から除かれるから、メモリアレイの入力端子に入力信
号が供給される前に、各EPROMはそれのそれぞれの
バッファ37またけ38の可能化または不能化を行うこ
とができる。
七れから、与えられた入力線!。−In に入力が供給
されると、ビット線26aへ正しい出力を供給するため
に、それぞれのバッファを介してそれを結合する必要が
あるだけである。入力信号が供給される前にEPROM
セル27mをアクセスできるから速度を高くできる。
次に、本発明を実施する別の回路40が示されている第
5図を参照する。各入力端子は、第4図の回路と同様に
、バッファ37.38へ結合される。第5図にはただ2
つの入力I0と工、が示されているが、入力の実際の数
は純粋に設計上の選択である。各バッファ37.38は
入力信号を反転した出力と、反転しない出力をそれぞれ
供給する。
バッファ37.38の出力端子は、第4図の回路とは異
って、−緒には結合されない。その代りに、バッファ3
7.38の各セットはマルチプレクサ(MUX143へ
の入力として結合される。マルチプレクサ43のどの入
力端子がそれの出力端子へ結合するかの選択は、それの
MUX43へ結合されているEPROMセル27bの格
納されている状態により決定される。たとえば、入力I
。に対して、セル27bがプログラムされた状態にある
とすると、それはMUX4B に入力AまたはA/の1
つを選択させ、セル47が消去された状態にあるとする
と、それは他の入力AまたはA/をそれぞれ選択する。
回路40において、与えられた列−行位置に対してMU
X43 の動作を制御するために1つのlPROMセル
27bが利用されることに注目されたい。MUX43の
出力はそれのそれぞれのアンドゲート44への入力とし
て結合される。その出力は積項を検出増幅器へ供給する
。与えられたアンドゲート44へ結合される入力の数は
積項の数を決定すること、およびそれは単なる設計上の
選択であることを理解すべきである。回路40は信号路
中にマルチプレクサ43に関して付加装置を含むが、あ
る入力と、その入力の複数の間で選択するために各MU
X43を選択するのに2つのEPROMセルを必要とす
るから、EPROMセルの実際の数は半分に減少させら
れたことに注目されたい。また、PLOの速度を高くす
るためにlPROMセル27bは信号路からいぜんとし
て除されることに注目すべきである。
次に、第4図の回路の別の実施例が示されている!6図
を参照する。また、ただ2つの入力がAおよびBとして
示されているが、実際の数は設計上の選択の問題である
。第6図の回路45の各入力端子はバッファ37.38
へ結合され、それらの入力は入力信号の反転出力と非反
転出力をそれぞれ供給する。それらの出力は一緒に結合
されて入力をアンドゲート49へ供給する。アンドゲー
ト49の出力はオアゲート48への入力として結合され
る。その出力は積項の和を供給する。いくつかの等しい
アンドゲートの出力がオアゲート48への入力として結
合される。積項の実際の構成は再び任意であり、第6図
に示されているアンドゲートの構成は単なる例である。
プール変換により他の論理ゲートが等しい論理機能を提
供できることに注目されたい。
回路45の別の実施例は、各バッファ37または38を
可能状態にするために、シフトレジスタをEPROMセ
ル27mと組合わせて用いる。第4図に示す回路とは異
って、各EPROMセル2711をバッファ37または
38へ直結する代シに、EPROM27mの出力はシフ
トレジスタ49へ結合される。
すなわち、セル30畠は出力をシフトレジスタ5゜へ供
給するために結合され、セル31&はシフトレジスタ5
1へ結合され、セル32&はシフトレジスタ52へ結合
され、セル33&はシフトレジスタ53へ結合される。
各シフトレジスタ49の出力はそれの対応するバッファ
31または38へ結合される。タトえば、シフトレジス
タ50はバッファ41へ結合され、シフトレジスタ51
はバッファ52へ結合される。更に、EPROMセルの
与えられた列が全て直列結合されて、シフトレジスタ5
0の出力がバッファ41へ結合されるばかシでなく、シ
フトレジスタ51への入力としても結合される。
シフトレジスタ51の出力はバッファ42と、列の次の
バッファに対する対応するシフトレジスタ等とへ結合さ
れる。列の第1のメモリセル30&ニ対応する最初のレ
ジスタ50は外部入力を受け、列の最後のメモリセルに
対応する最後のレジスタは外部で使用する出力を供給す
る。各メモリ列に対して一連のシフトレジスタ49が設
けられる。
動作時には、入力信号を供給する前にEPROMセル2
7mの出力をそれのそれぞれのバッファ3Tまたは38
に保持するためにシフトレジスタ49が用いられる。各
EPROMセル27mの格納されている状態は、各メモ
リセル27mの出力をそれの対応するシフトレジスタ4
Sに保持させることにより決定される。シフトレジスタ
49がそれの対応するメモリセル27&からの出力を保
持すると、各メモリセルの読出しが終らされ、読出し動
作を終了できる。すなわち、情報がシフトレジスタ49
に保持されたとすると、メモリセル27mはもはや導通
する必要はなく、全てのセルの動作を停止させることが
できる。メモリセル27&の動作を停止させることによ
りミ力が節約される。その保持された情報は各シフトレ
ジスタ49からの出力として対応するバッファ37また
は38へ供給される。
この点で、入力信号を入力端子へ供給できる。メモリセ
ル27mは信号路に再びないことに注目されたい。
保持がシフトレジスタ49から必要とされる全てである
とすると、シフトレジスタ49の代りにラッチを使用で
きる。しかし、この別の実施例においては、シフトレジ
スタ49は付加目的のために用いられる。試験、評価お
よびデバッギングのようなある目的のためには、PLD
のプログラミング動作を迅速に変更することが有利であ
ることを理解すべきである。たとえば、EPROMセル
を用いる従来のPLD装置においては、装置の性能評価
を行うために、与えられたプログラミングパターンを各
種のlPROMセルにプログラムする必要がある。この
プログラミングパターンを変更するものとすると、セル
を消去し、それから再プログラムしなければならない。
典型的な紫外線(VV)IPROMにおいては、消去し
、新しいパターンを再プログラムするために1時間かか
る。最近の7ラツシユlPROMセルを用いても、消去
およびパターンの再プログラムに1秒かかることがある
本発明の回路により、再プログラミングに要する時間を
1パターン当り10  秒のオーダーまでも短縮できる
パターンの再プログラミングに要する時間をそのように
短くするためにシフトレジスタ49が用いられる。セル
27mを再プログラミングする代りに、希望のプログラ
ミングパターンが外部から入力される。メモリセルから
の出力をエミュレートするために、情報はレジスタ列4
9に直列に桁送りされる。メモリセル27aを再プログ
ラミングする代りに、情報は各シフトレジスタに保持さ
れる。
この保持動作が終ると、回路45は、メモリセル27a
がプログラムされるかのように、入力信号に応答する。
EPROMセルの消去とプログラミングよりはるかに速
くシフトレジスタは動作するから、速度性能が得られる
更に、回路45のlPROMセル27mとシフトレジス
タ49の構成は、与えられたメモリセルから保持され、
かつ後で異なる行の列素子に対応するバッファへ加えら
れた情報を密送シすることもできる。また、直列結合さ
れているシフトレジスタ49の列がメモリセルの各列の
ために設けられることも理解すべきである。更に、シフ
トレジスタ列中の最後のシフトレジスタの出力端子は出
力を装置の外部へ供給できる。その出力は、lPROM
セル27mに格納されている情報に対応するデータ列を
供給する。
次に、第5図に示されている回路40のシフトレジスタ
の構成が示されている第7図を参照する。
レベル変換器/バッファ37.38と、MUX43と、
アンドゲート44とは第5図に示されている回路5に含
まれているそれらの素子とそれぞn等しく機能する。し
かし、回路55においては、MUX43がEPROMセ
ル27bへ直結される代りにEPROMセル27bの出
力がシフトレジスタ49bに保持される。lPROM 
27bとシフトレジスタ49bは第6図に示されている
同じ部品と等しく機能する。しかし、第7図においては
、回路におけるのと同様に、MUX43 を制御するた
めに1つのEPROMセルだけが用いられる。EPRO
Mセル27bの出力はそれの対応するシフトレジスタ4
9bに保持される。それは、各MUX43 の2つの入
力のうち、それの出力端子へ結合すべき1つの入力を選
択する。
第6図の回路と同様に、外部入力をシフトレジスタへ供
給できる。シフトレジスタ49bへ供給すれた外部入力
により、個々のlPROMセル27bにプログラミング
情報を格納する必要なしに、より高速のプログラミング
動作を行うことができる。また、アンドゲート44が4
つの入力端子を有するものとして示されているが、積項
を形成する入力の実際の数は設計上の選択の問題である
次に、第6図の回路45を相補金属−酸化物一半導体(
CMOS )回路で構成した例を示す第8図を参照する
。回路60は1つの信号路、図示の例ではAoに対応す
る部品だけを示す。電圧vceと、。
この場合にはアースであるv、、の間で、EPROMメ
モリセル27bと直列にp形トランジスタ61が結合さ
れる。そのトランジスタ61とセル27bはクロック制
御される0MO8)ランジスタ対として動作する。クロ
ック信号φ2がトランジスタ61のゲートと7リツプ7
0ツブ62の負荷入力端子とへ加えられる。メモリセル
27bの出力端子(メモリセル27bのドレインにある
)はDL入方とじてD形7リツプフロツプ62へ結合さ
れる。フリップ70ツブ62はφ2によりロードされる
ラッチとして動作するが、それのDB入方端子は前段の
入力端子へ結合され、それの出力端子は次段のD8入力
端子へ結合されて、D形7リツプフロツプ62がシフト
レジスタとして動作できるようにする。第2のクロック
信号φ1がD形フリップ70ツブ62へ結合されて、そ
のフリップ70ツブをクロック制御する。
トランジスタ63〜66はMUX 43  として動作
する。トランジスタ63と65はn形であり、トランジ
スタロ4と66はp形である。トランジスタ63と84
は一緒に導通状態になって、信号人を送ることができる
ようにする。トランジスタ65と66は交互に導通して
信号A/を出力端子へ結合できるようにする。レジスタ
62の非反転出力端子がトランジスタ63.66のゲー
トへ結合される。レジスタ62の反転入力端子がトラン
ジスタ64.65のゲートへ結合される。したがって、
動作時には、非反転出力Qが高いとするとトランジスタ
63と64が導通し、他の状態ではトランジスタ65.
86が導通する。
動作時には、クロック信号φ2が低くなると、メモリセ
ル27bに格納されている情報が用いられる。メモリセ
ル27bは消去状態にあれば導通し、プログラムされて
おれば導通しない。メモリセル27bの出力が安定させ
られると、クロック信号φ2はその情報をレジスタ62
に保持させる。そうすると、メモリセル27bに格納さ
れている情報の読出しを継続するためにはクロック信号
φ2を高い状態に保つ必要はない。レジスタ62に保持
されている情報は一対の0MO8)ランジスタロ3−6
4または65−66を導通させて、信号AまたはA/を
通させる。
次に、第1図に示されているメモリアレイ10に等しい
メモリアレイ10&が示されている第9図を参照する。
このメモリアレイ10mは、列71に並べられた複数の
メモリセル27cを有する。従来のアーキテクチャ、た
とえば第2図の回路20においては、ただ1組のレベル
変換器21およびバッファ22.23が工。のような名
人力線のために用いられる。バッファ22,23の出力
端子がそれぞれの行線72.73へ結合される。それら
の後練は対応するセル行へ結合される。この従来技術は
本発明の回路により容易に実現できるが、第10図に用
いる別のアーキテクチャが用いられる。
次に、列71aに配置された複数のメモリセル27dを
有するメモリアレイtObが示されている第10図を参
照する。入力線I。が各列71a内の対応するメモリセ
ル27dの行へ結合される。しかし、との別のアーキテ
クチャでは、バッファ37.38が各メモリセル領域T
4に分布されるから、第9図に示されているような完全
な行線のために一対のバッファを有する代りに、第10
図のアーキテクチャは、破線75で示すように各メモリ
場所74にバッファ37.38を含む。第10゛図に示
す分布アーキテクチャは、第9図に示す2本の行線72
゜73ではなくて、1本の行線76を要する。この分布
により、行線の数が減少することと、各メモリ場所T4
に異なるバッファ構成を設けることができるという利点
が得られる。好適な実施例ではバッファ37と38を分
布させ、かつMUX43 とシフトレジスタ4gを用い
るならばそれらの装置も分布させるが、本発明を実施す
るために従来の2本の線72と73を用いる技術を容易
に実現できることを理解すべきである。
本発明のアーキテクチャを用い、 EPROMセルをそ
れの信号路から除いた特定のPLDについて説明したが
、この技術は他の装置で容易に実現でき、PLOに限定
されるものではないことを理解すべきである。更に、説
明したメモリセルのためにEFROM以外のメモリ装置
を容易に使用できる。
ま九、第4図乃至第7図に示すEPROMセルは正しい
動作を行うために負荷トランジスタを必要とするが、図
面を複雑にしないために負荷トランジスタは含めなかっ
た。EPROM装置のためのそのような負荷装置は周知
である。第8図にはトランジスタ61がCMOSトラン
ジスタとして示されている。したがって、第4図乃至第
7図においてトランジスタとして0MO8)ランジスタ
を用いるためには、負荷装置として動作させるためにp
形トランジスタがvccと各メモリセルの出力端子の間
に結合される。更に、第4図にトランジスタ39mと3
9bにより示されている実施例を他の図に示す回路に容
易に用いることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はプログラム可能な論理装置の基本的な部品を示
すブロック図、第2図はメモリセルが信号路中にあるよ
うなメモリアレイの素子を示す従来の技術の回路図、第
3図はメモリアレイへの2入力に対する第2図の等価回
路図、第4図は信号路からメモリセルが除かれている本
発明のアーキテクチャを示す回路図、第5図は信号路か
らメモリセルが除かれ、信号路中のマルチプレクサを制
御するためにメモリセルを用いる本発明の別の実施例の
回路図、第6図はメモリセルに格納されている状態を保
持するためにシフトレジスタを用いる、第4図に示すア
ーキテクチャを示す回路図、第7図はメそリセルの状態
を保持するためにシフトレジスタを用いる、第5図に示
すアーキテクチャの回路図、第8図は第7図に示すアー
キテクチャにおいてランチを用いる1つの実施例を示す
回路図、第9図はメモリアレイへの1つの入力端子にお
ける非分布バッファ段の実施例を示す略図、第10図は
本発明で用いられる分布バッファ技術を示すブロック図
である。 10・・・・メモリアレイ、11・・・・検出増幅L 
 12・・・・マクロセル、27a−c・・・・メモリ
セル、30m、31m、32m、、33m  ・・・・
EPROM セル、37,38.42・・・・パン7ア
、(49) 50.51,52.53・・7トレジスタ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)複数の入力端子と、それらの入力端子において動
    作する内蔵プログラムにより決定される複数の出力端子
    とを有するプログラム可能な論理装置(PLD)におい
    て、 前記プログラムを格納する複数のメモリセルと、直列に
    配置された複数のレジスタと、 前記入力端子をバッファする複数のバッファと、を備え
    、各レジスタは、それのメモリセルの格納されている状
    態を保持するために、それの対応するメモリセルへ結合
    され、各前記入力端子は少くとも1つの前記バツフアへ
    結合され、前記バッファの可能化は前記対応するメモリ
    セルの前記格納されている状態により決定されるように
    、各前記バッファはそれの対応するメモリセルへもそれ
    の対応するレジスタを介して結合されることを特徴とす
    るプログラム可能な論理装置。
  2. (2)複数の入力端子と、それらの入力端子において動
    作する内蔵プログラムにより決定される複数の出力端子
    とを有するプログラム可能な論理装置(PLD)におい
    て、 前記プログラムを格納する複数のメモリセルと、直列に
    配置された複数のレジスタと、 前記入力端子をバッファする複数のバッファと、前記入
    力端子およびそれの補入力端子を受けるために対応する
    一対のバッファへおのおの結合される複数のマルチプレ
    クサ(MUX)と、 を備え、各レジスタは、それのメモリセルの格納されて
    いる状態を保持するために、それの対応するメモリセル
    へ結合され、各前記入力端子は一対の前記バッファへ結
    合され、前記一対はインバータと非インバータであり、
    前記入力端子と補入力端子の間の選択が前記対応するメ
    モリセルの前記格納されている状態により決定されるこ
    とを特徴とするプログラム可能な論理装置。
JP1329790A 1988-12-30 1989-12-21 プログラム可能な論理装置 Pending JPH02226812A (ja)

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