JPH02227162A - 塗布装置 - Google Patents
塗布装置Info
- Publication number
- JPH02227162A JPH02227162A JP1046964A JP4696489A JPH02227162A JP H02227162 A JPH02227162 A JP H02227162A JP 1046964 A JP1046964 A JP 1046964A JP 4696489 A JP4696489 A JP 4696489A JP H02227162 A JPH02227162 A JP H02227162A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resist
- cup
- semiconductor wafer
- temperature
- coating agent
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Coating Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、レジスト液および現像液等の塗布装置に関す
る。
る。
(従来の技術)
半導体ウェハ等の被処理体に対してのレジストの塗布お
よび現像液の塗布等の処理は、垂直層流を絶えず供給し
て微細な埃等の発生を防止したクリーンルーム内におい
て行われている。
よび現像液の塗布等の処理は、垂直層流を絶えず供給し
て微細な埃等の発生を防止したクリーンルーム内におい
て行われている。
第2図は、このようなりリーンルーム内で用いられる装
置の一例として、半導体ウェハの表面へレジストを塗布
する際に用いられるレジスト塗布装置を示すものである
。
置の一例として、半導体ウェハの表面へレジストを塗布
する際に用いられるレジスト塗布装置を示すものである
。
同図に示すように、レジスト塗布装置には、上部に開口
部1を有し内側に傾斜した形状のカップ2が備えられて
いる。このカップ2の下面の縁部には、端部が図示しな
い排気機構に連設された円筒状排気、管3および端部が
使用後のレジストを収容する塩化ビニル製等からなるド
レインボックス4に連設された円筒状排出管5が設けら
れている。
部1を有し内側に傾斜した形状のカップ2が備えられて
いる。このカップ2の下面の縁部には、端部が図示しな
い排気機構に連設された円筒状排気、管3および端部が
使用後のレジストを収容する塩化ビニル製等からなるド
レインボックス4に連設された円筒状排出管5が設けら
れている。
またカップ2の中央には、スピンドル挿入孔6が形成さ
れている。
れている。
スピンドル挿入孔6には、半導体ウェハ7を吸着可能に
保持する樹脂製等からなるウェハチャック8が挿入され
ており、このウェハチャック8の下部には出力軸9を介
して例えば0〜8000rpmの範囲内で動作するスピ
ンドルモータ10が取付けられている。
保持する樹脂製等からなるウェハチャック8が挿入され
ており、このウェハチャック8の下部には出力軸9を介
して例えば0〜8000rpmの範囲内で動作するスピ
ンドルモータ10が取付けられている。
カップ2の開口部1の上方には、四弗化エチレン樹脂製
またはSO8製等からなるレジスト供給バイブ11が配
されており、このレジスト供給バイブ11の一端部にレ
ジストの温度を調節するレジスト温度調節器12が取付
けられ、その他端部には開口部1から半導体ウェハ7の
中心に向けてその表面にレジストを滴下するレジスト滴
下ノズル13が設けられている。
またはSO8製等からなるレジスト供給バイブ11が配
されており、このレジスト供給バイブ11の一端部にレ
ジストの温度を調節するレジスト温度調節器12が取付
けられ、その他端部には開口部1から半導体ウェハ7の
中心に向けてその表面にレジストを滴下するレジスト滴
下ノズル13が設けられている。
さらにカップ2の開口部1の上方には、図示を省略した
。天井から供給される垂直層流14を強制的に取込んだ
後、その温度および湿度等をコントロールする温湿度コ
ントロール部15が配されている。
。天井から供給される垂直層流14を強制的に取込んだ
後、その温度および湿度等をコントロールする温湿度コ
ントロール部15が配されている。
そしてこのような構成のレジスト塗布装置により半導体
ウェハ7にレジストを塗布する場合、まず温湿度コント
ロール部15内に垂直層流14を強制的に取込み、この
取込んだ垂直層流14の温湿度をコントロールして排出
し、カップ2内に送込む。
ウェハ7にレジストを塗布する場合、まず温湿度コント
ロール部15内に垂直層流14を強制的に取込み、この
取込んだ垂直層流14の温湿度をコントロールして排出
し、カップ2内に送込む。
次いで、半導体ウェハ7をベルト等によってウェハチャ
ック8上まで搬送した後、ウェハチャック8上の所定の
位置に載置し、しかる後、図示しない真空機構により吸
着力を得て吸着保持する。
ック8上まで搬送した後、ウェハチャック8上の所定の
位置に載置し、しかる後、図示しない真空機構により吸
着力を得て吸着保持する。
このとき、半導体ウェハ7の搬送を容易にするために、
予めカップ2が下降しており、半導体ウェハ7を吸着保
持した後には、そのカップ2が上昇する。
予めカップ2が下降しており、半導体ウェハ7を吸着保
持した後には、そのカップ2が上昇する。
この後、この吸着保持された半導体ウェハ7の中心部に
レジスト滴下ノズル13からレジストを滴下する。
レジスト滴下ノズル13からレジストを滴下する。
ここでこのレジストは、図示しないレジスト倶給源から
レジスト温度調節器12に送られ、このレジスト温度調
節器12内部での恒温水の循環等により、例えば24℃
程度に調節される。このとき、約10cc程度のレジス
トが一度に温度調節されるが、そのレジストを蛇管状ま
たは螺旋状に循環させることにより温調容量が増えるの
で、よりその温度調節を効率的に行うこともできる。
レジスト温度調節器12に送られ、このレジスト温度調
節器12内部での恒温水の循環等により、例えば24℃
程度に調節される。このとき、約10cc程度のレジス
トが一度に温度調節されるが、そのレジストを蛇管状ま
たは螺旋状に循環させることにより温調容量が増えるの
で、よりその温度調節を効率的に行うこともできる。
そして、レジスト温度調節器12により設定温度に調節
したレジストをレジスト滴下ノズル13から半導体ウェ
ハ7の表面に約3cc程度滴下する。
したレジストをレジスト滴下ノズル13から半導体ウェ
ハ7の表面に約3cc程度滴下する。
この後、スピンドルモータ10を例えば400Orpm
程度で駆動させて出力軸9を介し半導体ウェハ7を高速
回転させ、滴下したレジストを遠心力により拡散する。
程度で駆動させて出力軸9を介し半導体ウェハ7を高速
回転させ、滴下したレジストを遠心力により拡散する。
このような処理中においてのカップ2内の換気は、設定
されたプログラムにより排気管3を介し図示しない排気
機構によって行う。
されたプログラムにより排気管3を介し図示しない排気
機構によって行う。
また半導体ウェハ7の回転により飛散したレジストは、
内側に傾斜したカップ2の内面によって下方へ跳返える
ので、これを排出管5を介してドレインボックス4に収
容する。
内側に傾斜したカップ2の内面によって下方へ跳返える
ので、これを排出管5を介してドレインボックス4に収
容する。
これをさらに続けて、半導体ウェハ7上に拡散したレジ
ストを乾燥させる。
ストを乾燥させる。
続いて、表面にレジストを塗布乾燥させた半導体ウェハ
7を図示しない露光装置側へベルト等によって搬送し、
ここでその表面にパターン露光を施す。
7を図示しない露光装置側へベルト等によって搬送し、
ここでその表面にパターン露光を施す。
さらにパターン露光を施した半導体ウェハ7を図示しな
い現像処理装置側へベルト等によって搬送し、ここでそ
の半導体ウェハ7の被現像面を上側に向けた状態でウェ
ハチャックにより吸着保持する。そしてウェハチャック
に接続されたモータを停止または低速回転させつつ、そ
の被現像面に現像液をスプレーノズル等で供給し、しか
る後、半導体ウェハ7をモータの駆動力に・より高速で
回転させる。これにより、その被現像面に供給された現
像液は遠心力によって排除され、厚さが約数μmのパタ
ーンが形成される。
い現像処理装置側へベルト等によって搬送し、ここでそ
の半導体ウェハ7の被現像面を上側に向けた状態でウェ
ハチャックにより吸着保持する。そしてウェハチャック
に接続されたモータを停止または低速回転させつつ、そ
の被現像面に現像液をスプレーノズル等で供給し、しか
る後、半導体ウェハ7をモータの駆動力に・より高速で
回転させる。これにより、その被現像面に供給された現
像液は遠心力によって排除され、厚さが約数μmのパタ
ーンが形成される。
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら、上述した従来の塗布装置では、半導体ウ
ェハ7がスピンドルモータ10の駆動力により例えば4
000rpmといったように高速で回転すめため、カッ
プ2内に乱気流が発生する。このため、その乱気流によ
り、半導体ウェハ7の回転によって飛散しカップ2の内
面によって下方へ跳返えったレジストが舞い上り、半導
体ウェハ7の表面に付着してしまう。
ェハ7がスピンドルモータ10の駆動力により例えば4
000rpmといったように高速で回転すめため、カッ
プ2内に乱気流が発生する。このため、その乱気流によ
り、半導体ウェハ7の回転によって飛散しカップ2の内
面によって下方へ跳返えったレジストが舞い上り、半導
体ウェハ7の表面に付着してしまう。
このように、半導体ウェハ7の表面にレジストが付着し
た場合には、レジストの膜厚が不均一となったり露光装
置での露光のピンボケが生じたりしてしまい、半導体ウ
ェハ7の品質、歩留りおよび生産性が低下してしまうと
いう問題があった。
た場合には、レジストの膜厚が不均一となったり露光装
置での露光のピンボケが生じたりしてしまい、半導体ウ
ェハ7の品質、歩留りおよび生産性が低下してしまうと
いう問題があった。
本発明は、このような事情に対処して成されたもので、
被処理体の品質、歩留りおよび生産性を向上させること
ができる塗布装置を提供することを目的とする。
被処理体の品質、歩留りおよび生産性を向上させること
ができる塗布装置を提供することを目的とする。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
本発明の塗布装置は、カップ内で高速回転する被処理体
の被処理面に液状塗布剤を塗布拡散させ、過剰な前記液
状塗布剤を外部に排出するとともに、カップ内の換気を
排気するようにした塗布装置において、塗布剤排出系の
排気をするものである。
の被処理面に液状塗布剤を塗布拡散させ、過剰な前記液
状塗布剤を外部に排出するとともに、カップ内の換気を
排気するようにした塗布装置において、塗布剤排出系の
排気をするものである。
(作 用)
本発明の塗布装置では、過剰な塗布剤排出系の排気を行
うことにより、排出系の内部を負圧にすることができる
ため、カップの内側の側壁によって下方へ跳返った液状
塗布剤を確実に取込むことができ、これにより飛散した
液状塗布剤の被処理体への付着を防止することができる
。
うことにより、排出系の内部を負圧にすることができる
ため、カップの内側の側壁によって下方へ跳返った液状
塗布剤を確実に取込むことができ、これにより飛散した
液状塗布剤の被処理体への付着を防止することができる
。
(実施例)
以下、本発明の塗布装置をレジスト処理装置に適用した
場合の一実施例の詳細を図面に基づいて説明する。
場合の一実施例の詳細を図面に基づいて説明する。
上部に開口部16を有し内側に傾斜した形状のカップ1
7の下面の縁部には、端部が図示しない排気機構に連設
された円筒状排気管18が設けられている。またその下
面の縁部には、端部が使用後のレジストを収容する塩化
ビニル製等からなるドレインボックス19に連設された
円筒状排出管20が設けられている。円筒状排出管20
には、内部にレジストの舞い戻りを阻止する傾斜片21
を有したトラップ22が取付けられており、このトラッ
プ22およびバイブ23を介して円筒状排出管20およ
び円筒状排気管18が連通している。
7の下面の縁部には、端部が図示しない排気機構に連設
された円筒状排気管18が設けられている。またその下
面の縁部には、端部が使用後のレジストを収容する塩化
ビニル製等からなるドレインボックス19に連設された
円筒状排出管20が設けられている。円筒状排出管20
には、内部にレジストの舞い戻りを阻止する傾斜片21
を有したトラップ22が取付けられており、このトラッ
プ22およびバイブ23を介して円筒状排出管20およ
び円筒状排気管18が連通している。
またカップ17の中央には、スピンドル挿入孔24が形
成されている。
成されている。
スピンドル挿入孔24には、半導体ウェハ25を吸着可
能に保持する樹脂製等からなるウェハチャック26が挿
入されており、このウェハチャック26の下部には出力
軸27を介して例えば0〜8000rp麿の範囲内で動
作するスピンドルモータ28が取付けられている。
能に保持する樹脂製等からなるウェハチャック26が挿
入されており、このウェハチャック26の下部には出力
軸27を介して例えば0〜8000rp麿の範囲内で動
作するスピンドルモータ28が取付けられている。
カップ17の開口部16の上方には、四弗化エチレン樹
脂製またはSUS製等からなるレジスト供給バイブ29
が配されており、このレジスト供給パイプ29の一端部
にレジストの温度を調節するレジスト温度調節器30が
取付けられ、その他端部には開口部16から半導体ウェ
ハ25の中心に向けてその表面にレジストを滴下するレ
ジスト滴下ノズル31が設けられている。
脂製またはSUS製等からなるレジスト供給バイブ29
が配されており、このレジスト供給パイプ29の一端部
にレジストの温度を調節するレジスト温度調節器30が
取付けられ、その他端部には開口部16から半導体ウェ
ハ25の中心に向けてその表面にレジストを滴下するレ
ジスト滴下ノズル31が設けられている。
さらにカップ17の開口部16の上方には、図示を省略
した天井から供給される垂直層流32を強制的に取込ん
だ後、その温度および湿度等をコントロールする温湿度
コントロール部33が配されている。
した天井から供給される垂直層流32を強制的に取込ん
だ後、その温度および湿度等をコントロールする温湿度
コントロール部33が配されている。
次に、このような構成のレジスト塗布装置の動作につい
て説明する。
て説明する。
半導体ウェハ25にレジストを塗布する場合、まず温湿
度コントロール部33内に垂直層流32を強制的に取込
み、この取込んだ垂直層流32の温湿度をコントロール
して排出し、カップ17内に送込む。
度コントロール部33内に垂直層流32を強制的に取込
み、この取込んだ垂直層流32の温湿度をコントロール
して排出し、カップ17内に送込む。
次いで、半導体ウェハ25をベルト等によってウェハチ
ャック26上まで搬送した後、ウェハチャック26上の
所定の位置に載置し、しかる後、図示しない真空機構に
より吸着力を得て半導体ウェハ25を吸着保持する。こ
のとき、半導体ウェハ25の搬送を容易にするために、
予めカップ17が下降しており、半導体ウェハ25を吸
着保持した後には、そのカップ17が上昇する。
ャック26上まで搬送した後、ウェハチャック26上の
所定の位置に載置し、しかる後、図示しない真空機構に
より吸着力を得て半導体ウェハ25を吸着保持する。こ
のとき、半導体ウェハ25の搬送を容易にするために、
予めカップ17が下降しており、半導体ウェハ25を吸
着保持した後には、そのカップ17が上昇する。
この後、この保持された半導体ウェハ25の中心部にレ
ジスト滴下ノズル31からレジストを滴下する。
ジスト滴下ノズル31からレジストを滴下する。
ここでこのレジストは、図示しないレジスト供給源から
レジスト温度調節器30に送られ、このレジスト温度調
節器30内部での恒温水の循環等により、例えば24℃
程度に調節される。このとき、約10cc程度のレジス
トが一度に温度調節されるが、そのレジストを蛇管状ま
たは螺旋状に循環させることにより温調容量が増えるの
で、よりその温度調節を効率的に行うこともできる。
レジスト温度調節器30に送られ、このレジスト温度調
節器30内部での恒温水の循環等により、例えば24℃
程度に調節される。このとき、約10cc程度のレジス
トが一度に温度調節されるが、そのレジストを蛇管状ま
たは螺旋状に循環させることにより温調容量が増えるの
で、よりその温度調節を効率的に行うこともできる。
そして、レジスト温度調節器30により設定温度に調節
したレジストをレジスト滴下ノズル31から半導体ウェ
ハ25の表面に約3cc程度滴下する。この後、スピン
ドルモータ28を例えば4000rp−程度で駆動させ
て出力軸27を介し半導体ウェハ25を高速回転させ、
滴下したレジストを遠心力により拡散する。
したレジストをレジスト滴下ノズル31から半導体ウェ
ハ25の表面に約3cc程度滴下する。この後、スピン
ドルモータ28を例えば4000rp−程度で駆動させ
て出力軸27を介し半導体ウェハ25を高速回転させ、
滴下したレジストを遠心力により拡散する。
このような処理中においてのカップ17内の換気は、設
定されたプログラムにより排気管18を介し図示しない
排気機構によって行う。また半導体ウェハ25の高速回
転によって飛散したレジストはカップ17の内面によっ
て下方へ跳返えった後、円筒状排出管20を介してドレ
インボックス19に収容される。
定されたプログラムにより排気管18を介し図示しない
排気機構によって行う。また半導体ウェハ25の高速回
転によって飛散したレジストはカップ17の内面によっ
て下方へ跳返えった後、円筒状排出管20を介してドレ
インボックス19に収容される。
このとき、円筒状排出管20は、パイプ23を介して排
気管18に連通されているので、排気管18に取付けら
れた図示しない排気機構による吸引・力により円筒状排
出管20の内部が負圧状態となる。これにより、カップ
17の内面によって下方へ跳返えった後、円筒状排出管
20の内部に入込んだレジストは、半導体ウェハ25の
高速回転によって生じる乱気流により舞い戻されること
なくドレインボックス19に収容される。また円筒状排
出管20に取付けたトラップ22の傾斜片21により、
円筒状排出管20の内部に一旦入込んだレジストの舞い
戻りをさらに確実に阻止することができる。
気管18に連通されているので、排気管18に取付けら
れた図示しない排気機構による吸引・力により円筒状排
出管20の内部が負圧状態となる。これにより、カップ
17の内面によって下方へ跳返えった後、円筒状排出管
20の内部に入込んだレジストは、半導体ウェハ25の
高速回転によって生じる乱気流により舞い戻されること
なくドレインボックス19に収容される。また円筒状排
出管20に取付けたトラップ22の傾斜片21により、
円筒状排出管20の内部に一旦入込んだレジストの舞い
戻りをさらに確実に阻止することができる。
これをさらに続けて、半導体ウェハ25上に拡散された
レジストを乾燥させる。
レジストを乾燥させる。
続いて、表面にレジストを塗布乾燥させた半導体ウェハ
25を図示しない露光装置側へベルト等によって搬送し
、ここでその表面にパターン露光を施す。
25を図示しない露光装置側へベルト等によって搬送し
、ここでその表面にパターン露光を施す。
さらにパターン露光を施した半導体ウェハ25を図示し
ない現像処理装置側へベルト等によって搬送し、ここで
その半導体ウェハ25の被現像面を上側に向けた状態で
ウェハチャックにより吸着保持する。そしてウェハチャ
ックに接続されたモータを停止または低速回転させつつ
、その被現像面に現像液をスプレーノズル等で供給し、
しかる後、半導体ウェハ25をモータの駆動力により高
速で回転させる。これにより、その被現像面に供給され
た現像液は遠心力によって排除され、厚さが約数μmの
パターンが形成される。
ない現像処理装置側へベルト等によって搬送し、ここで
その半導体ウェハ25の被現像面を上側に向けた状態で
ウェハチャックにより吸着保持する。そしてウェハチャ
ックに接続されたモータを停止または低速回転させつつ
、その被現像面に現像液をスプレーノズル等で供給し、
しかる後、半導体ウェハ25をモータの駆動力により高
速で回転させる。これにより、その被現像面に供給され
た現像液は遠心力によって排除され、厚さが約数μmの
パターンが形成される。
このように、本実施例では、パイプ23を介して円筒状
排出管20および円筒状排気管18を連通させたので、
円筒状排出管20の内部が排気管18に取付けられた図
示しない排気機構による吸引力により負圧状態となるた
め、カップ17の内面によって下方へ跳返えったレジス
トを確実に取込むことができ、これにより半導体ウェハ
25のレジストの付着を防止することができる。
排出管20および円筒状排気管18を連通させたので、
円筒状排出管20の内部が排気管18に取付けられた図
示しない排気機構による吸引力により負圧状態となるた
め、カップ17の内面によって下方へ跳返えったレジス
トを確実に取込むことができ、これにより半導体ウェハ
25のレジストの付着を防止することができる。
この結果、レジストの膜厚を均一にすることができるた
め、次工程で用いられる露光装置での露光のピンボケを
防止することもでき、さらに次工程で用いられる現像装
置での現像の均一性を向上させることもでき、これによ
り半導体ウェハ25の品質、歩留りおよび生産性を向上
させることができる。またそのトラップ22の傾斜片2
1により、円筒状排出管20の内部に一旦入込んだレジ
ストの舞い戻りをさらに確実に阻止することもできる。
め、次工程で用いられる露光装置での露光のピンボケを
防止することもでき、さらに次工程で用いられる現像装
置での現像の均一性を向上させることもでき、これによ
り半導体ウェハ25の品質、歩留りおよび生産性を向上
させることができる。またそのトラップ22の傾斜片2
1により、円筒状排出管20の内部に一旦入込んだレジ
ストの舞い戻りをさらに確実に阻止することもできる。
また本実施例のレジスト塗布装置は、この装置に具備し
た温湿度コントロール部33により、クリーンルーム内
の温度や湿度が変動した場合であっても、カップ17内
の雰囲気を一定に保つこともできる。
た温湿度コントロール部33により、クリーンルーム内
の温度や湿度が変動した場合であっても、カップ17内
の雰囲気を一定に保つこともできる。
なお、本実施例では、本発明をレジスト塗布装置に適用
した場合について説明したが、この例に限らず現像装置
等の他の塗布装置に適用してもよく、この場合には現像
の均一性を向上させることもできる。
した場合について説明したが、この例に限らず現像装置
等の他の塗布装置に適用してもよく、この場合には現像
の均一性を向上させることもできる。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明の塗布装置によれば、飛散
したレジストの被処理体への付着を防止することができ
るので、被処理体の品質、歩留りおよび生産性を向上さ
せることができる。
したレジストの被処理体への付着を防止することができ
るので、被処理体の品質、歩留りおよび生産性を向上さ
せることができる。
第1図は本発明の塗布装置をレジスト塗布装置に適用し
た場合の一実施例を示す図、第2図は従来のレジスト塗
布装置を示す図である。 16・・・開口部、17・・・カップ、18・・・円筒
状排気管、19・・・ドレインボックス、20・・・円
筒状排出管、21・・・傾斜片、22・・・トラップ、
23・・・パイプ、24・・・スピンドル挿入孔、25
・・・半導体ウェハ、26・・・ウェハチャック、27
・・・出力軸、28・・・スピンドルモータ、29・・
・レジスト供給パイプ、30・・・レジスト温度調節器
、32・・・垂直層流、33・・・温湿度コントロール
部 出願人 東京エレクトロン株式会社 同 チル九州株式会社 代理人 弁理士 須 山 佐 −
た場合の一実施例を示す図、第2図は従来のレジスト塗
布装置を示す図である。 16・・・開口部、17・・・カップ、18・・・円筒
状排気管、19・・・ドレインボックス、20・・・円
筒状排出管、21・・・傾斜片、22・・・トラップ、
23・・・パイプ、24・・・スピンドル挿入孔、25
・・・半導体ウェハ、26・・・ウェハチャック、27
・・・出力軸、28・・・スピンドルモータ、29・・
・レジスト供給パイプ、30・・・レジスト温度調節器
、32・・・垂直層流、33・・・温湿度コントロール
部 出願人 東京エレクトロン株式会社 同 チル九州株式会社 代理人 弁理士 須 山 佐 −
Claims (1)
- カップ内で高速回転する被処理体の被処理面に液状塗布
剤を塗布拡散させ、過剰な前記液状塗布剤を外部に排出
するとともに、前記カップ内の換気を排気するようにし
た塗布装置において、前記塗布剤排出系の排気をするこ
とを特徴とする塗布装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1046964A JP2645742B2 (ja) | 1989-02-28 | 1989-02-28 | 塗布装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1046964A JP2645742B2 (ja) | 1989-02-28 | 1989-02-28 | 塗布装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02227162A true JPH02227162A (ja) | 1990-09-10 |
| JP2645742B2 JP2645742B2 (ja) | 1997-08-25 |
Family
ID=12761957
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1046964A Expired - Lifetime JP2645742B2 (ja) | 1989-02-28 | 1989-02-28 | 塗布装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2645742B2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62142842U (ja) * | 1986-03-03 | 1987-09-09 |
-
1989
- 1989-02-28 JP JP1046964A patent/JP2645742B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62142842U (ja) * | 1986-03-03 | 1987-09-09 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2645742B2 (ja) | 1997-08-25 |
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