JPH02228083A - レーザーダイオードの光出力モニタ回路 - Google Patents
レーザーダイオードの光出力モニタ回路Info
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- JPH02228083A JPH02228083A JP1048260A JP4826089A JPH02228083A JP H02228083 A JPH02228083 A JP H02228083A JP 1048260 A JP1048260 A JP 1048260A JP 4826089 A JP4826089 A JP 4826089A JP H02228083 A JPH02228083 A JP H02228083A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 20
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 4
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 3
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 abstract description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Theoretical Computer Science (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はレーザーダイオードの光出力モニタ回路に関す
るものである。
るものである。
従来、レーザーダイオードの保守、点検等を行うために
、光出力モニタする際には光パワーメータを用いること
が知られている。
、光出力モニタする際には光パワーメータを用いること
が知られている。
しかしながら、従来では、光パワーメータは実際に運用
されているシステムに設けられているものではなく、計
測の都度に接続する必要があり、システムの運用状態で
レーザーダイオードを七〇二。
されているシステムに設けられているものではなく、計
測の都度に接続する必要があり、システムの運用状態で
レーザーダイオードを七〇二。
夕できない問題点があった。
そこで本発明は、システムの運用状態での光出力モニタ
が可能であり、しかも、簡単に光出力をモニタすること
のできるレーザーダイオードの光出力モニタ回路を提供
することを目的とする。
が可能であり、しかも、簡単に光出力をモニタすること
のできるレーザーダイオードの光出力モニタ回路を提供
することを目的とする。
[課題を解決するための手段]
本発明に係るレーザーダイオードの先出カモ。
夕回路は、レーザーダイオードへ駆動信号を与えたとき
に流れる電流を電圧に変換する電流/電圧変換部と、外
部操作により出力信号値を変化させるシフト、11整信
号出力部と、増幅部とを備え、この増幅部は外部操作に
よりゲインを変化させるゲイン可変部を有し、電流/電
圧変換部の出力電圧を増幅して出力する帰還型増幅部で
あって、シフト調整信号出力部の出力信号を帰還経路に
取り込むようにしたことを特徴とする。
に流れる電流を電圧に変換する電流/電圧変換部と、外
部操作により出力信号値を変化させるシフト、11整信
号出力部と、増幅部とを備え、この増幅部は外部操作に
よりゲインを変化させるゲイン可変部を有し、電流/電
圧変換部の出力電圧を増幅して出力する帰還型増幅部で
あって、シフト調整信号出力部の出力信号を帰還経路に
取り込むようにしたことを特徴とする。
本発明に係るレーザーダイオードの光出力モニタ回路は
、以上の通りに構成されるので、レーザーダイオードの
光出力とレーザーダイオードに流れる電流とが比例する
から、レーザーダイオードの光出力と得られる電圧とが
比例する。
、以上の通りに構成されるので、レーザーダイオードの
光出力とレーザーダイオードに流れる電流とが比例する
から、レーザーダイオードの光出力と得られる電圧とが
比例する。
しかも、増幅部のゲインを変えることにより、電圧値と
光出力との関係を示す特性曲線であるゲイン曲線は第2
図における矢印A−Aの方向へ傾き、帰還回路へ与える
シフト調整信号を変化させることにより上記特性曲線は
第2図における矢印B−Bの方向へ平行移動(シフト)
する。従って、シフト調整信号出力部とゲイン可変部と
を外部操作するならば、例えば1vが1mW(第2図)
というように簡単な対応で光出力をモニタできる。
光出力との関係を示す特性曲線であるゲイン曲線は第2
図における矢印A−Aの方向へ傾き、帰還回路へ与える
シフト調整信号を変化させることにより上記特性曲線は
第2図における矢印B−Bの方向へ平行移動(シフト)
する。従って、シフト調整信号出力部とゲイン可変部と
を外部操作するならば、例えば1vが1mW(第2図)
というように簡単な対応で光出力をモニタできる。
以下、添付図面の第1図、第2図を参照して、本発明の
一実施例に係るレーザーダイオードの光出力モニタ回路
を説明する。
一実施例に係るレーザーダイオードの光出力モニタ回路
を説明する。
第1図は本発明の一実施例に係るレーザーダイオードの
光出力モニタ回路を示す。同図において、レーザーダイ
オード(LD)1は、アノード側のLD駆動部2により
駆動信号を与えられて発光する。LDIのアノードとL
D駆動部2との間には抵抗R1が設けられ、抵抗R1に
発生する電圧をオペアンプ3が電圧に変換して、増幅部
を構成するオペアンプ4の非反転端子へ送出する。抵抗
R1,R2はLDIのバイアスルートともなっている。
光出力モニタ回路を示す。同図において、レーザーダイ
オード(LD)1は、アノード側のLD駆動部2により
駆動信号を与えられて発光する。LDIのアノードとL
D駆動部2との間には抵抗R1が設けられ、抵抗R1に
発生する電圧をオペアンプ3が電圧に変換して、増幅部
を構成するオペアンプ4の非反転端子へ送出する。抵抗
R1,R2はLDIのバイアスルートともなっている。
電流/電圧変換部を構成するオペアンプ3の反転入力端
子には+Vccと抵抗R2とで決まる電圧が与えられ、
出力電圧調整がされている。
子には+Vccと抵抗R2とで決まる電圧が与えられ、
出力電圧調整がされている。
オペアンプ4の反転入力端子には、レベル調整信号出力
部を構成する可変抵抗VRIにより分圧された+Vcc
、−Vccで決まる電圧が与えられる。オペアンプ4は
非反転入力端子に与えられた検出電圧を増幅する。ここ
で、オペアンプ4の出力端子と反転入力端子との間には
可変抵抗VR2が設けられ、この可変抵抗VR2は抵抗
値を可変してゲインを調整できるゲイン、可変部となっ
ている。オペアンプ4の出力は出力端子5から得られ、
例えば電圧計に接続され、または、所定の基準値と比較
してアラームを発生する警報部や、LDIのバイアスを
調整する手段に導かれるこのようなモニタ回路では、例
えば光パワーメータによって1111定しながら、1
m W s Om WとなるLDIの出力状態を作り出
し、出力端子5に電圧計を接続してOmWのとき可変抵
抗VRIを操作してOvとなるようにした後、1mWの
ときに可変抵抗VR2を操作して1vとなるように調整
を行う。このような調整後に、LDIを実際のシステム
で運用しながら、出力端子5に電圧計を接続して電圧値
を読めば、その値が光出力のmWに対応することになる
。
部を構成する可変抵抗VRIにより分圧された+Vcc
、−Vccで決まる電圧が与えられる。オペアンプ4は
非反転入力端子に与えられた検出電圧を増幅する。ここ
で、オペアンプ4の出力端子と反転入力端子との間には
可変抵抗VR2が設けられ、この可変抵抗VR2は抵抗
値を可変してゲインを調整できるゲイン、可変部となっ
ている。オペアンプ4の出力は出力端子5から得られ、
例えば電圧計に接続され、または、所定の基準値と比較
してアラームを発生する警報部や、LDIのバイアスを
調整する手段に導かれるこのようなモニタ回路では、例
えば光パワーメータによって1111定しながら、1
m W s Om WとなるLDIの出力状態を作り出
し、出力端子5に電圧計を接続してOmWのとき可変抵
抗VRIを操作してOvとなるようにした後、1mWの
ときに可変抵抗VR2を操作して1vとなるように調整
を行う。このような調整後に、LDIを実際のシステム
で運用しながら、出力端子5に電圧計を接続して電圧値
を読めば、その値が光出力のmWに対応することになる
。
すなわち、第2図の出力特性図に示すように、可変抵抗
VRIを操作して出力端子5からの出力特性の矢印B−
B方向へのシフトを行い、可変抵抗VR2を操作して同
出力特性の矢印A−Aへの傾き調整を行うことで、その
後は簡単に光出力がモニタできるようになる。従って、
最も好適なのは電圧計のIVがLDIの光出力の1rn
Vに対応するというように、単位だけを代えるようにで
きればよいが、1:2や1:3等の比較的簡単な比例関
係を作ってもよい。
VRIを操作して出力端子5からの出力特性の矢印B−
B方向へのシフトを行い、可変抵抗VR2を操作して同
出力特性の矢印A−Aへの傾き調整を行うことで、その
後は簡単に光出力がモニタできるようになる。従って、
最も好適なのは電圧計のIVがLDIの光出力の1rn
Vに対応するというように、単位だけを代えるようにで
きればよいが、1:2や1:3等の比較的簡単な比例関
係を作ってもよい。
本発明は以上の実施例に限定されるものではなく、様々
な変形が可能である。
な変形が可能である。
シフト調整信号出力部は電圧を変化させてオペアンプ4
の反転端子に与え、帰還ループの信号量を増減するもの
であればよいから、電圧ではなく電流を上記反転端子に
可変的に与える構成であってもよい。
の反転端子に与え、帰還ループの信号量を増減するもの
であればよいから、電圧ではなく電流を上記反転端子に
可変的に与える構成であってもよい。
以上、詳細に説明したように本発明によれば、レーザー
ダイオードの光出力を電圧に変換して増幅し、かつ、ゲ
イン調整及びシフト調整により出力電圧が光出力と簡単
な対応関係となるようにでき、レーザーダイオードが可
動状態でも電圧値から簡単に光出力をモニタすることが
できる。
ダイオードの光出力を電圧に変換して増幅し、かつ、ゲ
イン調整及びシフト調整により出力電圧が光出力と簡単
な対応関係となるようにでき、レーザーダイオードが可
動状態でも電圧値から簡単に光出力をモニタすることが
できる。
第1図は本発明の一実施例に係るモニタ回路の構成図、
第2図は第1図の一実施例で得られる出力特性を示す図
である。 l・・・レーザーダイオード、2・・・LD駆動部、3
.4・・・オペアンプ、5・・・出力端子、R1,R2
・・・抵抗、VRl、VH2・・・可変抵抗。 特許出願人 住友電気工業株式会社
第2図は第1図の一実施例で得られる出力特性を示す図
である。 l・・・レーザーダイオード、2・・・LD駆動部、3
.4・・・オペアンプ、5・・・出力端子、R1,R2
・・・抵抗、VRl、VH2・・・可変抵抗。 特許出願人 住友電気工業株式会社
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 レーザーダイオードへ駆動信号を与えたときに前記レー
ザーダイオードへ流れる電流を電圧に変換する電流/電
圧変換部と、 外部操作により出力信号値を変化させるシフト調整信号
出力部と、 外部操作によりゲインを変化させるゲイン可変部を有し
、前記電流/電圧変換部の出力電圧を増幅して出力する
帰還型増幅部であって、前記シフト調整信号出力部の出
力信号を帰還経路に取り込む増幅部と を備えたことを特徴とするレーザーダイオードの光出力
モニタ回路。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1048260A JPH02228083A (ja) | 1989-02-28 | 1989-02-28 | レーザーダイオードの光出力モニタ回路 |
| US07/735,261 US5208513A (en) | 1989-02-28 | 1991-07-24 | Monitoring circuit for a light emission device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1048260A JPH02228083A (ja) | 1989-02-28 | 1989-02-28 | レーザーダイオードの光出力モニタ回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02228083A true JPH02228083A (ja) | 1990-09-11 |
Family
ID=12798471
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1048260A Pending JPH02228083A (ja) | 1989-02-28 | 1989-02-28 | レーザーダイオードの光出力モニタ回路 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5208513A (ja) |
| JP (1) | JPH02228083A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007053236A (ja) * | 2005-08-18 | 2007-03-01 | Dx Antenna Co Ltd | モニタ回路 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CA2168941A1 (en) * | 1996-02-06 | 1997-08-07 | Barna Szabados | Dimmer for fluorescent lighting |
| US6907055B2 (en) * | 2001-11-13 | 2005-06-14 | Analog Devices, Inc. | Method and circuit for measuring the optical modulation amplitude (OMA) in the operating region of a laser diode |
| WO2013147754A1 (en) * | 2012-03-27 | 2013-10-03 | Intel Corporation | Optical link handshake techniques and configurations |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5358789A (en) * | 1976-11-08 | 1978-05-26 | Western Electric Co | Automatic bias control circuit for injection laser |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3566266A (en) * | 1967-03-09 | 1971-02-23 | Nat Instr Lab Inc | Voltmeter |
| US3705316A (en) * | 1971-12-27 | 1972-12-05 | Nasa | Temperature compensated light source using a light emitting diode |
| US3781693A (en) * | 1972-03-29 | 1973-12-25 | Itek Corp | Logarithmic amplification circuit |
| DE2847182C3 (de) * | 1978-10-30 | 1986-07-10 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Verfahren zur Modulationsstromregelung von Laserdioden |
| US4374359A (en) * | 1979-10-04 | 1983-02-15 | IREQ--Institut de Recherche de l'Hydro-Quebec | System and method of sensing current in high voltage transmission lines utilizing the transmission of digital information by optical fibers |
| GB2137036B (en) * | 1983-03-11 | 1986-12-17 | Electronic Components Ltd | Lamp monitoring circuit |
| US4763334A (en) * | 1985-01-30 | 1988-08-09 | Ricoh Company, Ltd. | Laser beam emitting apparatus |
| US4792701A (en) * | 1987-04-01 | 1988-12-20 | American Sterilizer Company | Failure compensation circuit with thermal compensation |
| JPH02280083A (ja) * | 1989-04-20 | 1990-11-16 | Nec Corp | 水蒸気量・雨量測定装置 |
-
1989
- 1989-02-28 JP JP1048260A patent/JPH02228083A/ja active Pending
-
1991
- 1991-07-24 US US07/735,261 patent/US5208513A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
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| JPS5358789A (en) * | 1976-11-08 | 1978-05-26 | Western Electric Co | Automatic bias control circuit for injection laser |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5208513A (en) | 1993-05-04 |
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