JPH067608B2 - 半導体レ−ザ光出力調整装置 - Google Patents

半導体レ−ザ光出力調整装置

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JPH067608B2
JPH067608B2 JP60159696A JP15969685A JPH067608B2 JP H067608 B2 JPH067608 B2 JP H067608B2 JP 60159696 A JP60159696 A JP 60159696A JP 15969685 A JP15969685 A JP 15969685A JP H067608 B2 JPH067608 B2 JP H067608B2
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JP
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semiconductor laser
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variable resistor
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light output
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勝史 堀畑
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Kyocera Mita Industrial Co Ltd
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Mita Industrial Co Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/068Stabilisation of laser output parameters
    • H01S5/0683Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters

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  • Physics & Mathematics (AREA)
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  • Optical Head (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)
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  • Laser Beam Printer (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、半導体レーザ素子を駆動させる駆動回路など
において、半導体レーザ素子の光出力を調整する装置に
関するものである。
(従来技術) 従来から、たとえば、ビデオディスクやレーザプリンタ
等に用いられている半導体レーザ素子を駆動させる回路
は、一般に例えば特開昭57−92884号公報に示さ
れるようなものがある。この駆動回路において、レーザ
ダイオードからのレーザ光はフォトダイオードに与えら
れ、そのフォトダイオードの出力は抵抗を介して演算増
幅器の反転入力に与えられる。そして、前記演算増幅器
は、その非反転入力端子に抵抗を介して接続されている
非反転入力側の可変抵抗の調整で設定される基準電圧
と、その反転入力端子に抵抗を介して接続されている反
転入力側の可変抵抗の調整で設定される前記フォトダイ
オードの出力電圧とを比較増幅している。
ところで、前記反転入力側の可変抵抗は、演算増幅器の
反転入力端子に与えられるフォトダイオードからの出力
電圧を調整している。すなわち、レーザダイオードは動
作特性により光出力が異なり、それによってフォトダイ
オードを流れる電流が変化し、演算増幅器の反転入力端
子に与えられる電圧も変化する。したがって、前記反転
入力側の可変抵抗でもって、演算増幅器の反転入力端子
に与えられる電圧が所定レベルに調整され、また、前記
非反転入力側の可変抵抗でもって、演算増幅器の増幅度
を決定する基準電圧が調整され、かかる演算増幅器の出
力によりレーザダイオードの光出力が決定されている。
このように従来回路では、1個の演算増幅器に対して2
個の可変抵抗により、レーザダイオードの光出力を調整
している。したがって、レーザダイオードの特性のばら
つきがあった場合、前記反転入力側の可変抵抗を調整
し、それに伴って演算増幅器の動作特性も変わるので前
記非反転入力側の可変抵抗も調整しなければならないと
いった問題を有している。さらには、1個の演算増幅器
で比較増幅しているので、その増幅率を大きくすれば回
路の異常発振動作等が発生するので、可変抵抗による出
力電圧の調整範囲が狭くなり、光出力調整の作業が困難
であるという問題を有していた。
(発明の目的) 本発明は上記従来の問題点に鑑みてなされたもので、半
導体レーザ素子の動作特性のばらつきがあっても、半導
体レーザ素子の光出力を簡単に調整することができる半
導体レーザ光出力調整装置を提供することを目的とす
る。
(発明の構成) 本発明は、半導体レーザ素子からのレーザ光を受光する
受光素子に流れる電流の大きさに対応した第1出力電圧
と、所定の第1基準電圧とを比較増幅し、第2出力電圧
を導出する第1増幅回路と、上記第1増幅回路の増幅度
を可変させ、上記半導体レーザ素子特性のばらつきによ
り生じる上記第2出力電圧の変化を所定レベルに調整す
る第1可変抵抗と、上記第2出力電圧と所定の第2の基
準電圧とを比較増幅し、上記半導体レーザ素子からの光
出力を決定するレーザ光出力電圧を導出する第2増幅回
路と、上記第2増幅回路の増幅度を可変させ、上記半導
体レーザ素子の光出力を調整する第2可変抵抗とを有す
るものである。
この構成により、半導体レーザ素子特性のばらつきによ
るその光出力の変動は第1可変抵抗で調整することがで
き、半導体レーザ素子の光出力は第2可変抵抗で調整す
ることができる。
(実施例) 第1図は、本発明の一実施例による半導体レーザ光出力
調整装置の全体構成を示すブロック図である。第1図に
おいて、半導体レーザ素子であるレーザダイオードLD
は、トランジスタTRの能動状態において変調回路Aか
らの変調信号に応答して、レーザ光を受光素子であるフ
ォトダイオードPDに与える。増幅回路Bは、後述する
ような増幅動作を行なって、抵抗R1間の電圧を所定レ
ベルに増幅する。サンプルホールド回路Cは、サンプリ
ング信号発生回路Fからのサンプリング信号に応答して
増幅回路Bからの出力をサンプルホールドする。比較増
幅器Dは、所定の基準電圧とサンプルホールド回路Cか
らの出力とのレベル比較を行ない、増幅する。演算増幅
器Gは、比較増幅器Dからの出力を増幅し、トランジス
タTRを能動化させ、レーザダイオードLDを駆動す
る。
第2図は、本発明の特徴である第1図で示す増幅回路B
の電気回路図である。
第2図において、レーザダイオードLDは、前述したよ
うな動作によりレーザ光を出力する。フォトダイオード
PDは、レーザダイオードLDからのレーザ光を受光
し、抵抗R1にモニタ電流I1を流す。したがって、フ
ォトダイオードPDのアノードと抵抗R1の接続点に
は、抵抗R1の抵抗値とモニタ電流I1とにより決定さ
れる第1出力電圧V1が発生し、その第1出力電圧V1
は第1増幅回路である第1演算増幅器1の非反転入力端
子に与えられる。第1演算増幅器1の反転入力端子に
は、第1可変抵抗VR1と抵抗R2とにより設定される
第1基準電圧E1が与えられている。第1可変抵抗VR
1は、レーザダイオードLDの動作特性のばらつきで、
モニタ電流I1が変化しても、第1演算増幅器1の出力
である第2出力電圧V2が予め定めたレベルになるよう
に第1基準電圧E1を調整するためのものである。した
がって、第1演算増幅器1は、第1可変抵抗VR1の調
整により設定された第1基準電圧E1と、非反転入力端
子に与えられる第1出力電圧V1とをレベル比較し増幅
して第2出力電圧V2を導出する。
第2増幅回路である第2演算増幅器2は、その非反転入
力端子に与えられた第2出力電圧V2と、第2可変抵抗
VR2と抵抗R3とにより設定される第2基準電圧E2
とをレベル比較し増幅して、レーザダイオードLDから
のレーザ光に応答したレーザ光出力電圧V3を導出す
る。第2演算増幅器2の出力端子とその反転入力端子と
に接続されている第2可変抵抗VR2は、その反転入力
端子に与えられる第2基準電圧E2のレベルを調整する
ことにより、第2演算増幅器2の増幅度を変化させ、そ
の出力端子から導出されるレーザ光出力電圧V3のレベ
ルを調整するものである。
ここで、増幅回路Bの増幅動作を関係式を用いて説明す
る。
第1演算増幅器1において、その非反転入力端子に与え
られる電圧をV1、その出力端子に与えられる電圧をV
2、抵抗R2の抵抗値をr2、第1可変抵抗VR1の抵
抗値をVr1とすると、 V1=r2/(r2+Vr1)・V2…(1) となる。
第2演算増幅器2において、その非反転入力端子に与え
られる電圧をV2、その出力端子に導出する電圧をV
3、抵抗R3の抵抗値をr3、第2可変抵抗VR2の抵
抗値をVr2とすると、 V2=r3/(r3+Vr2)・V3…(2) となる。
また、第1式の電圧V1は、次の第3式により求められ
る。
V1=r1・I1 …(3) ただし、r1は抵抗R1の抵抗値であり、I1は抵抗R
1を流れる電流である。
或るレーザダイオードLDの光出力がP0で、その時フ
ォトダイオードPDおよび抵抗R1を流れるモニター電
流がI0とすると、 P0=αI0 …(4) ただし、αはレーザダイオードLDの動作特性により定
まる比例定数である。
したがって、任意のレーザダイオードLDの光出力は、
前記第1式〜第4式より、 P=αI1 =P0/I0・V1/r1 =P0/I0・V3/r1・r2/(r2 +Vr1)・r3/(r3+Vr2)…(5) となる。この第5式において、P0/I0・V3/r1
・r2/(r2+Vr1)は、レーザダイオードLDの
動作特性のばらつきによるモニタ電流I0を第1可変抵
抗VR1で調整されるもので、r3/(r3+Vr2)
は、レーザダイオードLDの光出力を第2可変抵抗VR
2により調整されるものである。
次に、具体的なレーザダイオードLDの光出力調整操作
について説明する。
たとえば、レーザダイオードLDの最大光出力を5mW
とし、抵抗R1,R2,R3の抵抗値を1KΩ、第1可
変抵抗VR1,VR2の抵抗値を30KΩとする。ま
た、第2演算増幅器2の出力電圧V3を第1図に示す比
較増幅器Dに与えられる基準電圧とほぼ等しくなるよう
に3Vと設定する。また、或るレーザダイオードLDの
光出力、すなわち第4式で示したP0を3mWとする。
したがって、任意のレーザダイオードLDの駆動状態に
おける光出力は、第5式により P=3/I0・3/1・1/(1+Vr1)・1/(1+Vr2) …(6) たとえば、レーザダイオードLDの使用最大出力を4m
Wに設定する場合、第6式の右辺の第1項〜第3項の値
が数値4であればよい。すなわち、 9/I0(1+Vr1)=4 …(7) となる。この第7式の関係により、レーザダイオードL
Dの動作特性のばらつきによってモニタ電流I0が変化
しても第1可変抵抗VR1の抵抗値Vr1を調整するこ
とでレーザダイオードLDの最大出力を一定に保つこと
ができる。たとえば、I0=0.1,0.3,1.0の
ときVr1=21.5,6.5,1.25となるように
第1可変抵抗VR1を調整すればよい。また、このよう
に第1可変抵抗VR1が調整されるとき、レーザダイオ
ードLDの光出力は第2可変抵抗VR2でたとえば4m
Wから0.13mWまで調整することができる。
以上述べたように、第1可変抵抗VR1でレーザダイオ
ードLDの動作特性のばらつきによるレーザダイオード
LDの光出力の変動を調整することができ、第2可変抵
抗VR2でレーザダイオードLDの光出力を調整するこ
とができる。
なお、第1演算増幅器1および第2演算増幅器2の動作
に必要な抵抗R2,第1可変抵抗VR1および抵抗R
3、第2可変抵抗VR2の接続は上記実施例構成に限ら
れず、同様な動作を行なう種々の接続構成が適用でき
る。
(発明の効果) 以上のように本発明によれば、半導体レーザ素子からの
レーザ光を受光する受光素子に流れる電流の大きさに対
応した第1出力電圧と、所定の第1基準電圧とを比較増
幅し第2出力電圧を導出する第1増幅回路の増幅度を可
変させる第1可変抵抗で、上記半導体レーザ素子特性の
ばらつきにより生じる上記第2出力電圧の変化を所定レ
ベルに調整することができ、上記第2出力電圧と所定の
第2基準電圧とを比較増幅し、上記半導体レーザ素子か
らの光出力を決定するレーザ光出力電圧を導出する第2
増幅回路の増幅度を可変させる第2可変抵抗で上記半導
体レーザ素子の光出力を調整することができる。
したがって、半導体レーザ素子特性のばらつきの調整
と、半導体レーザ素子の光出力の調整とを分担して行な
うことができるので、使用時や製造時の調整作業が簡単
になる。また、同じ使用規格の半導体レーザ素子に限ら
ず、他の使用規格の半導体レーザ素子であっても、前述
したような調整を行なえば同様に使用することができる
ので、半導体レーザ素子の使用範囲が広くなる。
また、半導体レーザ素子の光出力を、第1増幅回路と第
2増幅回路との2段で増幅し、第1可変抵抗と第2可変
抵抗とでそれぞれ増幅度調整を行なっているので、第
1、第2増幅回路の各増幅度が低い範囲で動作させるこ
とができ、異常発振動作が生じにくくなり、回路動作が
安定する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例による半導体レーザ光出力調
整装置の全体構成を示すブロック図、第2図は第1図に
示す増幅回路Bの電気回路図である。 1…第1演算増幅器、2…第2演算増幅器、LD…レー
ザダイオード、PD…フォトダイオード、VR1…第1
可変抵抗、VR2…第2可変抵抗。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体レーザ素子からのレーザ光を受光す
    る受光素子に流れる電流の大きさに対応した第1出力電
    圧と、所定の第1の基準電圧とを比較増幅し、第2出力
    電圧を導出する第1増幅回路と、上記第1増幅回路の増
    幅度を可変させ、上記半導体レーザ素子特性のばらつき
    により生じる上記第2出力電圧の変化を所定レベルに調
    整する第1可変抵抗と、上記第2出力電圧と所定の第2
    の基準電圧とを比較増幅し、上記半導体レーザ素子から
    の光出力を決定するレーザ光出力電圧を導出する第2増
    幅回路と、上記第2増幅回路の増幅度を可変させ、上記
    半導体レーザ素子の光出力を調整する第2可変抵抗とを
    有することを特徴とする半導体レーザ光出力調整装置。
JP60159696A 1985-07-18 1985-07-18 半導体レ−ザ光出力調整装置 Expired - Lifetime JPH067608B2 (ja)

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JPH02246027A (ja) * 1989-03-17 1990-10-01 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体レーザ駆動回路
CN117895325B (zh) * 2024-01-05 2025-02-07 瀚湄信息科技(上海)有限公司 一种半导体激光器恒功率驱动电路

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