JPH02228509A - 位置ずれ検査装置 - Google Patents
位置ずれ検査装置Info
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- JPH02228509A JPH02228509A JP1049693A JP4969389A JPH02228509A JP H02228509 A JPH02228509 A JP H02228509A JP 1049693 A JP1049693 A JP 1049693A JP 4969389 A JP4969389 A JP 4969389A JP H02228509 A JPH02228509 A JP H02228509A
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- Japan
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- light
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
この発明は、例えば電子部品などが位置ずれすることな
(、プリント配線基+7iE (以下、単に「基板」と
いう)上の所定位置に正しく実装されているか否かを検
査するのに用いられる位置ずれ検査装置に関する。
(、プリント配線基+7iE (以下、単に「基板」と
いう)上の所定位置に正しく実装されているか否かを検
査するのに用いられる位置ずれ検査装置に関する。
〈従来の技術〉
従来、基板上の実装部品につき位置ずれなどの実装不良
を検査するのに、検査員が部品実装基板を手・に取り、
これを拡大レンズを用いて四方より観察するという方法
が一般に行われている。ところがこの手作業による検査
方法は、検査に熟練を要するとともに、作業能率が著し
く悪く、部品の実装不良が見逃されるおそれがある。
を検査するのに、検査員が部品実装基板を手・に取り、
これを拡大レンズを用いて四方より観察するという方法
が一般に行われている。ところがこの手作業による検査
方法は、検査に熟練を要するとともに、作業能率が著し
く悪く、部品の実装不良が見逃されるおそれがある。
そこで近年、実装部品の位置ずれなどを光学的な方法で
検査する各種の方法が提案され、これにより検査作業の
能率化と精度の向上とがはかられている。
検査する各種の方法が提案され、これにより検査作業の
能率化と精度の向上とがはかられている。
通常、この種の位置ずれ検査に際して、第9図に示す如
く、部品1の実装位置に対し、その部品外形の周囲に一
定のずれ許容幅Δdを設けて、位置ずれ許容範囲2を設
定している。そして部品1の外形全体が位置ずれ許容範
囲2内に含まれていれば、実装状態が良好であると判断
するのに対し、第10図(1)のように部品1のいずれ
か辺や第10図(2)のように部品1のいずれか隅部が
位置ずれ許容範囲2よりはみ出たときには、実装状態が
不良であると判断するものである。
く、部品1の実装位置に対し、その部品外形の周囲に一
定のずれ許容幅Δdを設けて、位置ずれ許容範囲2を設
定している。そして部品1の外形全体が位置ずれ許容範
囲2内に含まれていれば、実装状態が良好であると判断
するのに対し、第10図(1)のように部品1のいずれ
か辺や第10図(2)のように部品1のいずれか隅部が
位置ずれ許容範囲2よりはみ出たときには、実装状態が
不良であると判断するものである。
第11図は、位置ずれ、許容範囲2から部品1がはみ出
たことを検出する方法の一例を示している。
たことを検出する方法の一例を示している。
同図の方法は、部品1に対し複数のスリット光源(図示
せず)によりスリット光を照射する方式のものであり、
部品1の上面から基板の上面にわたり各スリット光が交
わる光切断線3〜5を生成し、各光切断線3〜5を図示
しないカメラで観測して部品1の端点A−Fを検出する
。
せず)によりスリット光を照射する方式のものであり、
部品1の上面から基板の上面にわたり各スリット光が交
わる光切断線3〜5を生成し、各光切断線3〜5を図示
しないカメラで観測して部品1の端点A−Fを検出する
。
そして各端点の位置から部品1の各隅点G−Jの位置を
計算で求め、各端点A−Fや各隅点G〜Jの位置が位置
ずれ許容範囲2内に存在するか否かを判断する。
計算で求め、各端点A−Fや各隅点G〜Jの位置が位置
ずれ許容範囲2内に存在するか否かを判断する。
第12図は、部品1のはみ出しを検出する他の方法を示
している。
している。
同図の方法は、部品1を−様な照明下でカメラ(図示せ
ず)により撮像する方式であり、その画像につき部品1
の電極部分6とパッケージ部分7との間のコントラスや
、部品1と基板8との間のコントラストとから部品1の
位置や姿勢を検出して、その部品1が位置ずれ許容範囲
内に存在するか否かを判断する。
ず)により撮像する方式であり、その画像につき部品1
の電極部分6とパッケージ部分7との間のコントラスや
、部品1と基板8との間のコントラストとから部品1の
位置や姿勢を検出して、その部品1が位置ずれ許容範囲
内に存在するか否かを判断する。
〈発明が解決しようとする問題点〉
しかしながら第11図に示す方法では、部品1の4隅点
G−Jを求めるための演算を必要とするため、演算に時
間がかかり、またこの演算に際し、端点間の距離(例え
ばCE間およびDF間の各距離)が部品長さに対して小
さいため、隅点G〜Jの算出に大きな誤差が生じて、精
度が低下するという問題がある。
G−Jを求めるための演算を必要とするため、演算に時
間がかかり、またこの演算に際し、端点間の距離(例え
ばCE間およびDF間の各距離)が部品長さに対して小
さいため、隅点G〜Jの算出に大きな誤差が生じて、精
度が低下するという問題がある。
また第12図に示す方法では、部品1の各部間のコント
ラストや部品1と基板8との間のコントラストが得られ
ない場合や、基板8の配線パターンが複雑であるような
場合には、処理が複雑となって時間がかかり、安定した
判定が困難である。
ラストや部品1と基板8との間のコントラストが得られ
ない場合や、基板8の配線パターンが複雑であるような
場合には、処理が複雑となって時間がかかり、安定した
判定が困難である。
この発明は、上記問題に着目してなされたもので、スリ
ット光を検査対象の位置ずれ許容範囲に沿って照射し、
その光切断線を検出対象が越えたか否かを判別すること
により、位置ずれを容易かつ安定して検出できる新規な
位置ずれ検査装置を提供することを目的とする。
ット光を検査対象の位置ずれ許容範囲に沿って照射し、
その光切断線を検出対象が越えたか否かを判別すること
により、位置ずれを容易かつ安定して検出できる新規な
位置ずれ検査装置を提供することを目的とする。
く問題点を解決するための手段〉
この発明の位置ずれ検査装置では、検査対象が所定の位
置ずれ許容範囲内に位置するか否かを検査するのに、検
査対象を支持する面上へスリット光を照射して前記位置
ずれ許容範囲に沿う光切断線を生成する投光手段と、前
記光切断線をスリット光に沿う平面より外れた上方位置
で1最像するための撮像手段と、撮像手段で得た画像か
ら光切断線の形状的特徴を抽出して位置ずれ許容範囲か
らの検査対象のはみ出しを判別する判定手段とを具備さ
せている。
置ずれ許容範囲内に位置するか否かを検査するのに、検
査対象を支持する面上へスリット光を照射して前記位置
ずれ許容範囲に沿う光切断線を生成する投光手段と、前
記光切断線をスリット光に沿う平面より外れた上方位置
で1最像するための撮像手段と、撮像手段で得た画像か
ら光切断線の形状的特徴を抽出して位置ずれ許容範囲か
らの検査対象のはみ出しを判別する判定手段とを具備さ
せている。
〈作用〉
検査対象を支持する面上へスリット光を照射して位置ず
れ許容範囲に沿う光切断線を生成した場合において、検
査対象が位置ずれ許容範囲を越えて位置ずれするとき、
光切断線は検査対象の表面と検査対象を支持する面とに
わたって形成され、しかもその光切断線には段差が生ず
ることになる。従ってこの光切断線をI星像装置で撮像
してその画像から光切断線の形状的特徴を抽出すること
により、検査対象が位置ずれ許容範囲からはみ出してい
るか否かを容易かつ確実に判別できる。
れ許容範囲に沿う光切断線を生成した場合において、検
査対象が位置ずれ許容範囲を越えて位置ずれするとき、
光切断線は検査対象の表面と検査対象を支持する面とに
わたって形成され、しかもその光切断線には段差が生ず
ることになる。従ってこの光切断線をI星像装置で撮像
してその画像から光切断線の形状的特徴を抽出すること
により、検査対象が位置ずれ許容範囲からはみ出してい
るか否かを容易かつ確実に判別できる。
〈実施例〉
図面は、プリント配線基板上に実装された電子部品が適
正位置より位置ずれしているか否かを判別するための装
置例であるが、この発明はこれに限らず、電子部品以外
の物体の位置ずれを検査するのにも適用できることは勿
論である。
正位置より位置ずれしているか否かを判別するための装
置例であるが、この発明はこれに限らず、電子部品以外
の物体の位置ずれを検査するのにも適用できることは勿
論である。
第1図は、この発明の一実施例にかかる実装部品の位置
ずれ検査装置の全体構成を示している。
ずれ検査装置の全体構成を示している。
図示例において、XY子テーブルり成る測定テーブル1
0上に検査対象11(基板上に部品が実装されたもの)
が載置され、その上方位置に4個のスリット光源12a
〜12dより成る投光部12と、4台のカメラ13a〜
13dより成る盪像部13とが配備されている。
0上に検査対象11(基板上に部品が実装されたもの)
が載置され、その上方位置に4個のスリット光源12a
〜12dより成る投光部12と、4台のカメラ13a〜
13dより成る盪像部13とが配備されている。
4個のスリット光源12a〜12dは、第2図に示す如
く、検査すべき部品1が実装された基板上へそれぞれス
リット光17a〜17dを真下方向へ照射して、部品1
の位置ずれ許容範囲2の境界に沿う光切断線18a〜1
8dを生成するためのものである。
く、検査すべき部品1が実装された基板上へそれぞれス
リット光17a〜17dを真下方向へ照射して、部品1
の位置ずれ許容範囲2の境界に沿う光切断線18a〜1
8dを生成するためのものである。
この実施例の場合、位置ずれ許容範囲2は部品外形に沿
う矩形状をなしており、各スリット光源12a〜12d
による光切断線18a〜18dは前記矩形の各辺を構成
する。
う矩形状をなしており、各スリット光源12a〜12d
による光切断線18a〜18dは前記矩形の各辺を構成
する。
4台のカメラ13a〜13dは、各光切断線18a 〜
18dをスリット光17a 〜17dに沿う平面より外
れた上方位置、すなわちこの実施例では、各光源12a
〜12dの外側位置で撮像して、それぞれ光切断線18
a〜18dの画像を生成するためのものである。
18dをスリット光17a 〜17dに沿う平面より外
れた上方位置、すなわちこの実施例では、各光源12a
〜12dの外側位置で撮像して、それぞれ光切断線18
a〜18dの画像を生成するためのものである。
第1図に戻って、撮像部13.投光部12および、測定
テーブル10はマイクロコンピュータより成る演算制御
装置14に接続されており、この演算制御装置14はプ
ログラムを解読実行して、カメラ13a〜13dの撮像
動作、スリット光源12a〜12dの投光動作、測定テ
ーブル10の移動などを制御信号により一連に制御する
。また演算制御装置14は、各カメラ13a〜13dよ
り映像信号を取り込み、各画像から光切断線18a〜1
8dの形状的特徴を抽出して、位置ずれ許容範囲2内に
部品1が正しく位置するか否かを判別する。
テーブル10はマイクロコンピュータより成る演算制御
装置14に接続されており、この演算制御装置14はプ
ログラムを解読実行して、カメラ13a〜13dの撮像
動作、スリット光源12a〜12dの投光動作、測定テ
ーブル10の移動などを制御信号により一連に制御する
。また演算制御装置14は、各カメラ13a〜13dよ
り映像信号を取り込み、各画像から光切断線18a〜1
8dの形状的特徴を抽出して、位置ずれ許容範囲2内に
部品1が正しく位置するか否かを判別する。
第3図は、部品1の一偶部が位置ずれ許容範囲2よりは
み出した状態を示すもので、この部品1の表面と基板の
表面との間に前記光切断線を生成して、それぞれ光切断
線を対応する4台のカメラ13a〜13dで斜め上方よ
り観測している。
み出した状態を示すもので、この部品1の表面と基板の
表面との間に前記光切断線を生成して、それぞれ光切断
線を対応する4台のカメラ13a〜13dで斜め上方よ
り観測している。
第4図(1) 〜(4)は、これらカメラ13a 〜1
3dで得た各光切断線の画像18a′〜18d′を示す
もので、3台のカメラ13 a、 13b、 13dに
よる光切断線の画像18a’、18b’18d′は真っ
直ぐな直線状であるのに対し、他のカメラ13cによる
光切断線の画像180′にはその中間位置に段差19が
現れている。
3dで得た各光切断線の画像18a′〜18d′を示す
もので、3台のカメラ13 a、 13b、 13dに
よる光切断線の画像18a’、18b’18d′は真っ
直ぐな直線状であるのに対し、他のカメラ13cによる
光切断線の画像180′にはその中間位置に段差19が
現れている。
第5図は、この段差19の有無を検出する方法を例示し
ているが、このような段差19の検出は同図に示す方法
以外の方法でも可能であることは勿論である。
ているが、このような段差19の検出は同図に示す方法
以外の方法でも可能であることは勿論である。
同図の方法は、XY座標系を当てはめた画像180′に
つきY軸方向の明るさのヒストグラム20をとるもので
あり、このヒストグラム20に対して所定のしきい値T
Hを設定し、そのしきい値THを越えるピークが一個だ
け存在すれば段差はないと判断し、二個存在すれば段差
があると判断する。
つきY軸方向の明るさのヒストグラム20をとるもので
あり、このヒストグラム20に対して所定のしきい値T
Hを設定し、そのしきい値THを越えるピークが一個だ
け存在すれば段差はないと判断し、二個存在すれば段差
があると判断する。
第6図は、演算制御装置14による部品の位置ずれ検査
の手順を示すもので、同図のステップ1(図中rsTI
Jで示す)では第1のカメラ13aによる画像につき段
差の有無を判断しており、その結果、ステップ2の「段
差ありか?」の判定力<”Ygs”であれば、ステップ
10で部品1が位置ずれしていると判断して検査を終了
させる。
の手順を示すもので、同図のステップ1(図中rsTI
Jで示す)では第1のカメラ13aによる画像につき段
差の有無を判断しており、その結果、ステップ2の「段
差ありか?」の判定力<”Ygs”であれば、ステップ
10で部品1が位置ずれしていると判断して検査を終了
させる。
もしステップ2の判定が°“NO”であれば、ステップ
3へ進み、つぎに第2のカメラ13bによる画像につき
段差の有無を判断する。その結果、ステップ4の判定が
“YES”であれば、部品1が位置ずれしていると判断
し、また“”NO”であれば、つぎのステップ5へ進む
ことになる。
3へ進み、つぎに第2のカメラ13bによる画像につき
段差の有無を判断する。その結果、ステップ4の判定が
“YES”であれば、部品1が位置ずれしていると判断
し、また“”NO”であれば、つぎのステップ5へ進む
ことになる。
以下、ステップ5では第3のカメラ13cによる画像に
つき、またステップ7では第4のカメラ13dによる画
像につき、それぞれ段差の有無を判断しており、ステッ
プ6またはステップ8の判定が“YES″であれば、部
品1が位置ずれしていると判断し、ステップ6およびス
テップ8の判定がいずれも“’NO”であれば、ステッ
プ9で部品1は位置ずれしていないと判断して、検査を
終了させる。
つき、またステップ7では第4のカメラ13dによる画
像につき、それぞれ段差の有無を判断しており、ステッ
プ6またはステップ8の判定が“YES″であれば、部
品1が位置ずれしていると判断し、ステップ6およびス
テップ8の判定がいずれも“’NO”であれば、ステッ
プ9で部品1は位置ずれしていないと判断して、検査を
終了させる。
なお第1図中、モニタ部15はカメラ13a〜13dで
得た画像をモニタするためのもの。
得た画像をモニタするためのもの。
また表示部16は検査結果を表示するためのものである
。
。
第7図は、スポット光を出力する1台のスポット光源2
1と、スリット光17を生成する二個のガルバノミラ−
22,23とで投光部12を構成して、スリット光17
を位置ずれ許容範囲2に対して走査するようにしたもの
で、この実施例によれば、前記第1実施例に比べて光源
数を節約できるという利点がある。
1と、スリット光17を生成する二個のガルバノミラ−
22,23とで投光部12を構成して、スリット光17
を位置ずれ許容範囲2に対して走査するようにしたもの
で、この実施例によれば、前記第1実施例に比べて光源
数を節約できるという利点がある。
第8図は、1台のカメラ24より成る撮像部13を検査
すべき部品lの真上に位置させるとともに、4個のスリ
ット光源12a〜12dを検査すべき部品lの斜め上方
位置(第1実施例の各カメラ位W)に配備して、スリッ
ト光17a〜17dの照射は斜め上方から、また光切断
線18a〜18dの撮像は真上から、それぞれ行うよう
にしたもので、この実施例によれば、前記第1実施例に
比べてカメラ数を節約できるという利点がある。
すべき部品lの真上に位置させるとともに、4個のスリ
ット光源12a〜12dを検査すべき部品lの斜め上方
位置(第1実施例の各カメラ位W)に配備して、スリッ
ト光17a〜17dの照射は斜め上方から、また光切断
線18a〜18dの撮像は真上から、それぞれ行うよう
にしたもので、この実施例によれば、前記第1実施例に
比べてカメラ数を節約できるという利点がある。
〈発明の効果〉
この発明は上記の如く、スリ7ト光を検査対象の位置ず
れ許容範囲に沿って照射し、その光切断線を撮像してそ
の画像の形状的特徴を抽出することにより、検査対象が
光切断線を越えたか否かを判別するようにしたから、部
品の隅点位置を計算する従来例に比較して部品の位置ず
れを正確かつ容易に検出でき、しかも画像のコントラス
トを利用する従来例に比較して簡単な処理により部品の
位置ずれを安定して検出できるなど、発明目的を達成し
た顕著な効果を奏する。
れ許容範囲に沿って照射し、その光切断線を撮像してそ
の画像の形状的特徴を抽出することにより、検査対象が
光切断線を越えたか否かを判別するようにしたから、部
品の隅点位置を計算する従来例に比較して部品の位置ず
れを正確かつ容易に検出でき、しかも画像のコントラス
トを利用する従来例に比較して簡単な処理により部品の
位置ずれを安定して検出できるなど、発明目的を達成し
た顕著な効果を奏する。
第1図はこの発明の一実施例にかかる位置ずれ検査装置
の全体構成を示す説明図、第2図は投光部および撮像部
の配置を示す斜面図、第3図は部品の位置ずれ状態と各
カメラの位置関係を示す平面図、第4図は各カメラで得
た光切断線の画像を示す説明図、第5図は段差検出方法
の一例を示す原理説明図、第6図は位置ずれ検査の手順
を示すフローチャート、第7図はこの発明の第2実施例
にかかる投光部および撮像部の配置を示す斜面図、第8
図はこの発明の第3実施例にかかる投光部および撮像部
の配置を示す斜面図、第9図は部品の位置ずれ許容範囲
を示す平面図、第10図は部品の位置ずれ状態を示す平
面図、第11図および第12図は従来の位置ずれ検査方
法を示す平面図である。 ■・・・・部品 2・・・・位置ずれ許゛容範囲1
2・・・・投光部 13・・・・撮像部14・・・・
演算制御装置
の全体構成を示す説明図、第2図は投光部および撮像部
の配置を示す斜面図、第3図は部品の位置ずれ状態と各
カメラの位置関係を示す平面図、第4図は各カメラで得
た光切断線の画像を示す説明図、第5図は段差検出方法
の一例を示す原理説明図、第6図は位置ずれ検査の手順
を示すフローチャート、第7図はこの発明の第2実施例
にかかる投光部および撮像部の配置を示す斜面図、第8
図はこの発明の第3実施例にかかる投光部および撮像部
の配置を示す斜面図、第9図は部品の位置ずれ許容範囲
を示す平面図、第10図は部品の位置ずれ状態を示す平
面図、第11図および第12図は従来の位置ずれ検査方
法を示す平面図である。 ■・・・・部品 2・・・・位置ずれ許゛容範囲1
2・・・・投光部 13・・・・撮像部14・・・・
演算制御装置
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 検査対象が所定の位置ずれ許容範囲内に位置するか否か
を検査するための装置であって、検査対象を支持する面
上へスリット光を照射して前記位置ずれ許容範囲に沿う
光切断線を生成する投光手段と、 前記光切断線をスリット光に沿う平面より外れた上方位
置で撮像するための撮像手段と、撮像手段で得た画像か
ら光切断線の形状的特徴を抽出して位置ずれ許容範囲か
らの検査対象のはみ出しを判別する判定手段とを具備し
て成る位置ずれ検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1049693A JP2739739B2 (ja) | 1989-03-01 | 1989-03-01 | 位置ずれ検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1049693A JP2739739B2 (ja) | 1989-03-01 | 1989-03-01 | 位置ずれ検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02228509A true JPH02228509A (ja) | 1990-09-11 |
| JP2739739B2 JP2739739B2 (ja) | 1998-04-15 |
Family
ID=12838268
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1049693A Expired - Fee Related JP2739739B2 (ja) | 1989-03-01 | 1989-03-01 | 位置ずれ検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2739739B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN118670312A (zh) * | 2024-06-07 | 2024-09-20 | 赛诺威盛科技(北京)股份有限公司 | 一种测试ct探测器位置的方法及装置 |
-
1989
- 1989-03-01 JP JP1049693A patent/JP2739739B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN118670312A (zh) * | 2024-06-07 | 2024-09-20 | 赛诺威盛科技(北京)股份有限公司 | 一种测试ct探测器位置的方法及装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2739739B2 (ja) | 1998-04-15 |
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