JPH02232957A - 樹脂封止型半導体装置用のリードフレーム - Google Patents

樹脂封止型半導体装置用のリードフレーム

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Publication number
JPH02232957A
JPH02232957A JP1053230A JP5323089A JPH02232957A JP H02232957 A JPH02232957 A JP H02232957A JP 1053230 A JP1053230 A JP 1053230A JP 5323089 A JP5323089 A JP 5323089A JP H02232957 A JPH02232957 A JP H02232957A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
lead frame
semiconductor device
lead
gate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1053230A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiro Morimura
政弘 森村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yamada Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Yamada Seisakusho KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yamada Seisakusho KK filed Critical Yamada Seisakusho KK
Priority to JP1053230A priority Critical patent/JPH02232957A/ja
Publication of JPH02232957A publication Critical patent/JPH02232957A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C45/00Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
    • B29C45/14Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor incorporating preformed parts or layers, e.g. injection moulding around inserts or for coating articles
    • B29C45/14639Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor incorporating preformed parts or layers, e.g. injection moulding around inserts or for coating articles for obtaining an insulating effect, e.g. for electrical components
    • B29C45/14655Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor incorporating preformed parts or layers, e.g. injection moulding around inserts or for coating articles for obtaining an insulating effect, e.g. for electrical components connected to or mounted on a carrier, e.g. lead frame

Landscapes

  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は樹脂封止型半導体装置用のリードフレームに関
する. (従来の技術) 樹脂封止型半導体装置は、リードフレームのダイバフド
部上に半導体素子を搭載し、この半導体素子と内部リー
ド部先端との間で必要なワイヤボンディングを施したの
ち、半導体素子と内部リード部とを樹脂により封止して
いる. この場合に耐湿性を向上させるため、特に内部リード部
表面と樹脂との境界部からの湿気の侵入を防止するため
、用いる樹脂はリードフレームとの密着力が大なるもの
が使われる. この種の樹脂において、リードフレームとの密着力の調
整は樹脂中に混入する各種助剤により行える. (発明が解決しようとする課題) ところで、製品の外観を向上させるため、一般的に樹脂
注入路を上型と下型のパーティング面上に形成して、ゲ
ート部が樹脂封止部のサイド面に位置するようなされる
場合が多い.この場合に、リードフレームにはサイドレ
ール部が存在することから樹脂注入路はサイドレール面
に沿うこととなる。
樹脂封止後、ランナーやゲートを樹脂封止部から分離除
去する必要があるが、前記のごとく、使用される樹脂が
リードフレームに対する接着力の大きなものであるため
、上記リードフレームに沿う樹脂注入路に対応するラン
ナー、ゲートが当該リードフレーム上に強固に密着して
しまい、ランナー、ゲートの除去が良好に行えない問題
点がある.ランナー、ゲートの除去にはランナーをリー
ドフレーム面から離れる方向に持ち上げてゲート部分で
折り取るようにするのであるが(通常自動機で行われる
)、ランナー、ゲートがリードフレームと強固に密着し
ているので、ランナーの中途で折れてしまうなど、特に
ゲート部分が樹脂本体部に残りやすい。このため別途人
手により除去する後処理工程が必要となり、作業性が劣
り、またコスト上昇を招くという問題があった。特に銅
主体のリードフレームではこの問題が多発していた。
このように、昨今の樹脂が、リードフレームに対して密
着性に優れるものが使用されているために、ランナー、
ゲートの除去が容易に行えない。
しかしリードフレームとの密着力の低い樹脂を用いれば
耐湿性に問題が生じるという相反する問題があるのであ
る。
そこで本発明は上記問題点を解消すべくなされたもので
あり、その目的とするところは、ランチ、ゲートを樹脂
本体部に残すことなく、きれいに除去することのできる
リーEフレームを提供するにある。
(課題を解決するための手段) 上記目的による本発明では、上型と下型のバーティング
面上にキャビティに通じる樹脂流入路が形成された成形
金型により、組み込まれたリードフレームの少なくとも
サイドレール面に沿う前記樹脂流入路からキャビティ内
に樹脂が流入される樹脂封止型半導体装置用のリードフ
レームにおいて、前記樹脂流入路に対応するフレーム面
を含む範囲に樹脂との密着力が低いメッキ皮膜を形成し
たことを特徴とする。
あるいは、リードフレーム面に対する密着力の低いメッ
キ皮膜を・対応するフレーム面とに形成するのでもよい
. (作用) 樹脂注入路に対応するリードフレーム面上に樹脂との密
着力の低いメッキ皮膜が形成されているので、当該リー
ドフレーム面上に残るランナーゲートを樹脂本体部に残
すことなくきれいに除去することができる. あるいはリードフレーム面との密着力の低いメッキ皮膜
を形成しておくことにより、メッキ皮膜と共にランナー
、ゲートを剥離・除去できる。
(実施例) 以下には本発明の好適な実施例を添付図面に基づいて詳
細に説明する。
第1図はDIPタイプの半導体装置に用いるリードフレ
ーム10を示す。
図において、l2はダイパγト部であり、サポートパー
14によってサイドレ〒ル部16、16に支持されてい
る。18は内部リード部であり、その先端がグイパッド
部12を取り囲むように配置されている。20は内部リ
ード部18から外方に向けて延設される外部リード部で
あり、ダムパー22によってサイドレール部16、16
に支持される。24はタイバーである。また26、28
はサイドレール部l6、16上に設けたパイロットホー
ルである。
内部リード部18先端にはワイヤボンディングのための
メッキ、例えば銀メッキ皮膜が形成される. 上記のグイパッド部12上には半導体素子(図示せず)
が搭載され、この半導体素子と内部リード部l8先端と
の間にワイヤボンディングがなされてのち、公知の手段
により半導体素子と内部リード部18とが樹脂により封
止されるのである。
破線はその際の樹脂封止領域を示す。また30はランナ
ー、32はゲートである。樹脂注入路は成形金型の上型
と下型のパーティング面に形成される。したがってラン
ナー30,ゲート32はリードフレーム10のサイドレ
ール部16上に残る。
本実施例では、上記のランナー30、ゲート32が付着
する部位を含むリードフレーム部分(本実施例ではサイ
ドレール部)に、樹脂との密着性の低いメッキ皮膜Aを
形成しておくのである。
したがって、ランナー30、ゲート32をリードフレー
ム面と離れる方向に折り曲げてゲート部分で折り取る際
に、ランナー30,ゲート32がリードフレーム面上に
付着したまま残ることがなく、きれいに除去することが
できる。
上記リードフレーム部分に形成するメッキ皮膜Aは、銀
メッキ、クロムメッキ、ニッケルメッキが好適である。
特にクロムメッキ、ニッケルメッキは樹脂との密着力が
低いので好適である。
なお一般的に、樹脂注入路は、グイパッド部12の素子
付け面とは反対側のリードフレーム(サイドレール部)
面に沿わせて形成されるので、当該部分へのメッキは、
内部リード部18先端に形成するメッキとは別工程で行
う。
しかし、樹脂注入路を上記の素子付け面と同じ側に設け
るようにすれば、内部リード部18先端に部分メッキを
施す際同時に、上記リードフレーム部分に内部リード部
先端と同一のメッキを施すようにしてもよい。
また上記実施例においては、リードフレーム部分に樹脂
の密着力の低いメッキ皮膜Aを形成するようにしたが、
このメッキ皮膜はリードフレームとの密着力の低いメッ
キ皮膜Aに形成して、ランナー30、ゲート32を除去
する際、メッキ皮膜Aがリードフレーム面から剥離する
ようにしてもよい。
第2図はQFPタイプのリードフレームを示す。
QFPタイプのリードフレームでは、四方に外部リード
部20が延出するので、隣接する外部リ一ド部群とのコ
ーナ一部に相当するリードフレーム部分(サイドレール
部を含む)の表面に沿って樹脂が注入されるよう、樹脂
注入路が形成される.本実施例においても上記の樹脂注
・入路に対応するリードフレーム部分に樹脂の密着力の
低いメッキ皮膜Aあるいはリードフレーム面との密着力
の低いメッキ皮膜Aを形成しておくのである。
以上、本発明の好適な実施例について種々述べてきたが
、本発明はこの実施例に限定されるものではなく、発明
の精神を逸脱しない範囲内でさらに多くの改変を施し得
るのはもちろんのことである. (発明の効果) 以上のように本発明に係るリードフレームによれば、リ
ードフレーム自体に対する密着力の良好な樹脂を用いて
、得られる半導体装置の耐湿性の向上を図れ、一方、ラ
ン・ナー、ゲートは容易に除去可能となる著効を奏する
【図面の簡単な説明】
第1図はDIPタイプのリードフレームの説明図、第2
図はQFPタイプのリードフレームの説明図を示す。 10・・ パッド部、 工6・ ・ 一ド部、 22・ 32・ 12・ ・ ・ダイ トバー 18・・・内部リ ド部、 ・・ランナー ・リードフレーム、 14・・・サポー ・サイドレール部、 20・・・外部リー ・・ダムパー  30・ ・ ・ゲート。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、上型と下型のパーティング面上にキャビティに通じ
    る樹脂流入路が形成された成形金型により、組み込まれ
    たリードフレームの少なくともサイドレール面に沿う前
    記樹脂流入路からキャビティ内に樹脂が流入される樹脂
    封止型半導体装置用のリードフレームにおいて、前記樹
    脂流入路に対応するフレーム面を含 む範囲に樹脂との密着力が低いメッキ皮膜を形成したこ
    とを特徴とする樹脂封止型半導体装置用のリードフレー
    ム。 2、上型と下型のパーティング面上にキャビティに通じ
    る樹脂流入路が形成された成形金型により、組み込まれ
    たリードフレームの少なくともサイドレール面に沿う前
    記樹脂流入路からキャビティ内に樹脂が流入される樹脂
    封止型半導体装置用のリードフレームにおいて、前記樹
    脂流入路に対応するフレーム面を含 む範囲に、フレーム面に対する密着力の低いメッキ皮膜
    を形成したことを特徴とする樹脂封止型半導体装置用の
    リードフレーム。
JP1053230A 1989-03-06 1989-03-06 樹脂封止型半導体装置用のリードフレーム Pending JPH02232957A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04326561A (ja) * 1991-04-26 1992-11-16 Mitsubishi Electric Corp リードフレーム
WO2020148879A1 (ja) * 2019-01-18 2020-07-23 三菱電機株式会社 半導体装置、半導体装置の製造方法及び電力変換装置

Cited By (3)

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JPWO2020148879A1 (ja) * 2019-01-18 2021-09-27 三菱電機株式会社 半導体装置、半導体装置の製造方法及び電力変換装置

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