JPH03283105A - エラー検出基準電圧補正回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野コ この発明は、エラーを検出する基準電圧の補正方式に関
し、詳しくは磁気ディスク検査装置において、エラー検
出用のアナログコンパレータに対する基準電圧を補正す
る方式に関するものである。

［従来の技術］ 情報処理装置に使用されるハード磁気ディスク（以下単
に磁気ディスクまたはディスクという）は記録密度がま
すます向上し、これに対応して記録媒体の性能検査はさ
らに厳密に行われている。

第２図（ａ）、（ｂ）、（Ｃ）は磁気ディスクの検査方
法を説明するもので、図（ａ）のディスク１の表裏の両
面には同心円のトラックＴＲが設定されており、検査時
間を短縮するために、媒体エリアを外周部と内周部に２
分割し、両面の各エリアのトラックに対して磁気ヘッド
ｌａ＋　　ｌａ　　＋　　ｌｂ、ｔｂ’により、図（ｂ
）に示す一定の振幅で適当な周波数のパルスによりテス
ト信号が書き込まれる。テスト信号が読み出されると、
図（ｃ）に示す正弦波またはこれに近い波形かえられる
。媒体に欠陥があるときは信号波形が脱落するミッシン
グエラー（Ｍｉｓ）が生じ、また、媒体の不均一やディ
スクの湾曲などにより波形の振幅が変動するモジュレー
ションエラー（ＭＯＤ）が発生する。また、図示を省略
するがテスト信号を消去しても、読み出しに伴って疑似
信号が湧きだすエキストラエラー（ＥＸＴ）などがある
。コンパレータに適当なレベルの基準電圧を設定し、こ
れと読み出されたテスト信号とを比較して各エラーが検
出される。この基準電圧としてテスト信号のトラックの
１周における平均電圧（ＡＶＥ）が使用されている。

第３図（ａ）は、エリア分割両面並列検査方式による単
板検査装置の一部のブロック構成を示す。

４個の磁気ヘッド１ａ＋　　ｌｂｔ　　ｌａ’ｔ　　ｌ
ｂ’に対して図示のエラー検出回路がそれぞれ設けられ
る。以下、磁気ヘッド１ａに対する回路を説明すると、
磁気ヘッド１ａにより読み出されたテスト信号はＡＧＣ
アンプ２によりほぼ一定振幅の電圧ｅが、また固定利得
のアンプ３により、人、実電圧に比例して振幅が変化す
る電圧ｅ′がそれぞれ出力される。このように、ＡＧＣ
アンプによるテスト信号と固定利得アンプによるテスト
信号の両者を検査対象とする理由は、例えばＭＯＤの場
合、電圧ｅは媒体そのものによる振幅の変動が消去され
ているためエラーが正しく検出できない。そこでＡＧＣ
をかけない状態でエラーを検出する。

方、実用の磁気ディスク装置でデータ信号を読み出す場
合は、ＡＧＣが使用されるので、これと同一条件でエラ
ーを検出することが適当であり、このためにＭＩＳやＥ
ＸＴについては、八〇Ｃをかけたテスト信号のエラー検
出を行う。ただし、必要によってはＡＧＣをかけない状
態でエラー検出を行うことができるように両者に対する
回路が構成されている。各アンプ２または３の出力電圧
ｅ。

ｅ′はＡＶＥ検出回路４ａ、４ｂにより、トラックの１
周に対する平均電圧ＡＶＥおよびＡＶＥ’が求められる
。ＡＶＥおよびＡＶＥ’はバッファアンプ５ａ、５ｂの
調整抵抗ＶＲｓ　ａ　、ＶＲｓ　ｂにより正しい平均電
圧ＥＯおよびＥＯ’に調整され、これらのいずれかがス
イッチＳＷ２、マルチプライングＤ／Ａ変換器（Ｍ−Ｄ
／Ａ）６、ＳＷａを経てアンプ７ａに入力し、調整抵抗
ＶＲ７ａにより再度調整されてアナログコンパレータ８
ａ（７）−端子に基準電圧Ｅａとして与えられる。ここ
で、Ｍ−Ｄ／Ａ６はよく知られているもので、アナログ
の入力電圧に対して、設定されたデジタルの係数が乗ぜ
られてアナログの出力電圧かえられるものであり、ここ
では係数が１％刻みで設定できるものが使用されている
。Ｍ−Ｄ／Ａ６ａはＭＩＳに対応して平均電圧ＥＯまた
はＥＯ’に係数［５Ｍ１（％）を乗ずものであり、Ｍ−
Ｄ／Ａ６ｂはＥＸＴに対応して係数［ＳＥ］を乗するも
のである。

以上と同様に、平均電圧ＥＯ’がＰ−ＭＯＤに対するＭ
　−Ｄ　／　Ａ　６　ｃと、Ｎ−ＭＯＤに対するＭ−Ｄ
／Ａ６ｄに並列に入力してそれぞれに係数［ＳＦ３．　
　［ＳＷｌが乗ぜられ、アンプ７ｂ、７ｃの調整抵抗Ｖ
Ｒ７ｂ　、ＶＨ２ｃによりレベル調整され、アナログコ
ンパレータ８ｂ、８ｃに基準電圧Ｅ　ｂ　、　Ｅ　ｃと
して与えられる。なお、ＭＯＤは平均電圧より大きい振
幅と小さい振幅が区別され、上記のＰ−ＭＯＤとＮ−Ｍ
ＯＤはこれである。

次に、テスト信号の電圧ｅに対してＭＩＳまたはＥＸＴ
を検出する場合は、スイッチＳＷｌを切り替えて電圧ｅ
がコンパレータ８ａに与えられ、これと上記の基準電圧
Ｅａが比較される。また、電圧ｅ′に対するＭＩＳとＥ
ＸＴの検出の場合は、ＳＷｌを切り替えて同様に行われ
る。Ｐ−ＭＯＤとＮ−ＭＯＤに対しては、電圧ｅ′に対
してエラー検出が行われる。各コンパレータ８により検
出されたエラーのパルスは、それぞれのフリップフロッ
プ９を経て各カウンタＩＯによりカウントされ、インタ
フェース■を介してマイクロプロセッサ（ＭＰＣ）１２
ａに入力して所定の処理がなされて出力される。なお、
以上における係数［ＳＭコなどは予めメモリ（ＭＥＭ）
１２ｂに記憶され、ＭＰＣ１２ａにより読み出されてバ
ス１３を通して各Ｍ−Ｄ／八〇に与えられる。

第３図（ｂ）は、上記の単板検査装置において、Ｍ−Ｄ
／ＡＥ３の係数を１％刻みで変化したときのエラーの個
数の実例を示す。横軸の％は係数すなわち平均電圧ＥＯ
またはＥＯ’に対する基準電圧の比で、例えばＰ−ＭＯ
Ｄ、Ｎ−ＭＯＤは１００％の上下にほぼ対称的に個数が
変化し、いずれも僅かな％の変化に対して個数が急激に
変化する。

すなわち、ＭＯＤの検出には基準電圧の微小の変化が大
きく影響することが判る。他のＭＩＳやＥＸＴも同様で
ある。

次に、上記のエラー検出回路の各バッファアンプ５およ
び７に対する利得調整の方法を説明する。

まず、各Ｍ−Ｄ／Ａ６の係数［Ｓ］を１００％として電
圧Ｅ、、Ｅｏ　’を各バッファアンプ７に入力し、その
出力値を同一値、すなわち１００％の電圧ＥＯおよびＥ
Ｏ’　となるように調整抵抗ＶＲ７を調整する。エラー
検査においては、Ｍ−Ｄ／Ａの各係数を変化して基準電
圧Ｅａ、Ｅｂ、Ｅｃを作り、これをコンパレータ８に設
定するものである。

［解決しようとする課題］ 以上の調整は基準電圧に対するものであるが、一方、ア
ナログコンパレータ８に対してはなんらの調整がなされ
ない。一般にアナログコンパレータには温度などによる
動作点の変動があり、これによりテスト信号と基準電圧
が相対的にシフトして正しい比較がなされず、従って検
出されたエラーの個数の信頼性が低下する欠点がある。

このような欠点に対して、従来においてはシンクロスコ
ープなどにより適時に信号波形を観測して、バッファア
ンプ７の調整抵抗ＶＲ７により基準電圧Ｅａ−Ｅｃをそ
れぞれ調整し、実効的に正しい比較を行う方法が行われ
ている。しかしながら、調整抵抗ＶＲフをいちいち調整
することは容易でなく、また正確を期し難い。これに対
して、良好な作業効率により基準電圧を正確に補正する
方法が望まれている。

［課題を解決するための手段］ この発明は被検査の磁気ディスクのトラックに対して書
込み／読出しされたテスト信号の、上記トラックの１周
に対するそれぞれの平均電圧を求め、各平均電圧に対し
て一定の係数を乗じて基準電圧とし、この基準電圧と、
上記のテスト信号の電圧とをアナログコンパレータによ
り比較して、テスト信号のエラーを検出する磁気ディス
ク検査装置における基準電圧補正回路であって、温度な
どによるアナログコンパレータの動作点の変動に対して
、マイクロプロセッサにより基準電圧を補正し、実効的
に正しい比較が行われる。

上記の基準電圧補正回路は、マルチプライングＤ／Ａ変
換器（Ｍ−Ｄ／Ａ）により構成され、メモリに記憶され
た１％またはそれ以下の刻みのデジタル補正係数をマイ
クロプロセッサによす読み出して設定し、入力したアナ
ログ量の上記基準電圧を補正して出力するものである。

［作用］ 以上の基準電圧補正回路においては、アナログコンパレ
ータの動作点が温度などにより変動したときは、基準電
圧に対して、メモリに記憶されているデジタルの補正係
数がマイクロプロセッサにより乗ぜられて補正される。

補正回路を構成するＭ−Ｄ／Ａは、１％またはそれ以下
の微小な刻みで基準電圧を正確に補正するので、テスト
信号電圧と基準電圧が実効的に正しく比較されてエラー
検出の信頼性が向上するものであり、また従来行われた
バッファアンプの調整抵抗による調整方法より作業性が
良好である。

［実施例］ 第１図（ａ）この発明によるエラー検出基準電圧補正回
路を示す。基準電圧補正回路１４はＭ−Ｄ／Ａにより構
成され、これに対して前記した第３図（ａ）のバッファ
アンプ７よりのアナログ量の基準電圧ＥａまたはＥｂま
たはＥｃが入力する。メモＩＪ１２ｂには１％またはそ
れ以下の刻みのデジタル補正係数が予め記憶され、これ
が必要によりＭＰＣＩ２ａにより読み出されてＭ−Ｄ／
ＡＩ４に与えられて基準電圧が補正され、補正されたア
ナログ量の基準電圧Ｅａ’ｔＥｂ’　　）ｉ：ｃ／がア
ナログコンパレータ８に設定される。

第１図（ｂ）は前記した第３図（ａ）の一部を省略し、
この発明の基準電圧補正回路１４を適用した単板検査装
置のブロック構成図を示す。４個の磁気ヘッドＩａ、ｌ
ｂｔ　　ｌａ　　＋　　ｔｂ’に対して図示のエラー検
出回路がそれぞれ設けられ、以下、前記したように、磁
気ヘッド１ａにより読み出されたテスト信号はＡＧＣア
ンプ２によりほぼ一定振幅の電圧ｅが、また固定利得の
アンプ３により入力電圧に比例して振幅が変化する電圧
ｅ′がそれぞれ出力される。各出力電圧ｅ、ｅ’がＡＶ
Ｅ検出回路４ａ、４ｂに入力してトラックの１周に対す
る平均電圧ＡＶＥおよびＡＶＥ’が求められる。

コレラはバッファアンプ５ａ、５ｂの調整抵抗ＶＲ５ａ
　、　ＶＲｓ　ｂにより正しい平均電圧ＥＯおよびＥＯ
’　とされ、いずれかがスイッチＳ　Ｗ２　、Ｍ　−Ｄ
／Ａｅ、ＳＷ３、バッファアンプ７ａを経てコンパレー
タ８ａに基準電圧Ｅａとして与えられる。

ここで、Ｍ　−Ｄ　／　Ａ　６　ａ　、　６　ｂはＭＩ
ＳとＥＸＴに対するもので、１％刻みの補正係数［：Ｓ
Ｍ］、　　［８Ｅ］が設定される。また、平均電圧ＥＯ
’はＭ−Ｄ／Ａ６ｃ、６ｄに入力して係数［ＳＰコ、　
　［ＳＮコが乗ぜられ、バッファアンプ７　ｂ　＋　７
　ｃを経てコンパレータ８ｂ、８ｃに基準電圧Ｅｂ、Ｅ
ｃとして与えられる。テスト信号電圧ｅまたはｅ′に対
するＭＩＳ。

ＥＸＴ、またはＰ−ＭＯＤ、Ｎ−ＭＯＤの検出と、検出
されたエラーデータの処理は前記と同様である。

以上に対して、この発明においては各バッファアンプ７
と各コンパレータ８の間にそれぞれ、上記の基準電圧補
正回路１４ａ　、　１４ｂ　、　１４ｃを設ける。シン
クロスコープなどによりアナログコンパレータ８に入力
するテスト信号電圧ｅまたはｅ′と、基準電圧Ｅａ、Ｅ
ｂ、Ｅｃの比較動作点を観察し、これがシフトしている
ことが判明したときは、ＭＰＣ１２ａによりメモ１月２
ｂの前記の補正係数を読み出して補正回路１４に与え、
基準電圧がＥａ′またはＥｂ’　またはＥＣ′に補正さ
れる。

［発明の効果コ 以上の説明により明らかなように、この発明によるエラ
ー検出基準電圧補正回路を適用した磁気ディスク検査装
置においては、温度などによるアナログコンパレータの
動作点のシフトに対して、従来バッファアンプの調整抵
抗をいちいち調整して行われた基準電圧の補正が、コン
ピユータ化されてＭ−Ｄ／Ａによる補市回路により、１
％またはそれ以下の刻みの高精度で正確、かつ容易に行
われるもので、磁気ディスク検査の信頼性と作業性の向
上に寄与する効果が大きい。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）および（ｂ）は、この発明によるエラー検
出基準電圧補正回路と、これを適用した磁気ディスク装
置のブロック構成図、第２図（ａ）、（ｂ）および（Ｃ
）は、磁気ディスクのエラー検出方法の説明図、第３図
（ａ）および（ｂ）は、従来の単板検査装置のブロック
構成図と、これにより検出されたエラーの個数の実測デ
ータ図である。 １・・・磁気ディスク、 ｌａ　ｖ　　ｌｂ　ｇ　　ｌａ’　　　ｌ　ｂ　’　”
・磁気ヘ−）ド、２・・・ＡＧＣアンプ、　　　３・・
・固定利得アンプ、４・・・ＡＶＥ検出回路、５，７・
・・バッファアンプ、ＶＲｓ　ＶＲフ・・・調整抵抗、 ６・・・マルチプライングＤ／Ａ変換器（Ｍ−Ｄ／Ａ）
、８・・・アナログコンパレータ、 ９・・・フリップフロップ、ｌＯ・・・カウンタ、＋１
・・・インタフェース、 １２ａ・・・マイクロプロセッサ（ＭＰＣ）、１２ｂ・
・・メモリ（ＭＥＭ）、 １３・・・バス、１４・・・基準電圧補正回路。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）被検査の磁気ディスクのトラックに対して書込み
   ／読出しされたテスト信号の、上記トラックの１周に対
   するそれぞれの平均電圧を求め、該各平均電圧に対して
   一定の係数を乗じて基準電圧とし、該基準電圧と、上記
   テスト信号の電圧とをアナログコンパレータにより比較
   して、該テスト信号のエラーを検出する磁気ディスク検
   査装置において、温度などによる上記アナログコンパレ
   ータの動作点の変動に対して、マイクロプロセッサによ
   り上記基準電圧を補正して実効的に正しい上記比較を行
   うことを特徴とする、エラー検出基準電圧補正回路。
2. （２）上記において、マルチプライングＤ／Ａ変換器に
   より構成され、メモリに記憶された１％またはそれ以下
   の刻みのデジタル補正係数をマイクロプロセッサにより
   読み出して設定し、入力したアナログ量の上記基準電圧
   を補正して出力する、請求項１記載のエラー検出基準電
   圧補正回路。