JPH02254151A - TiNのイオンプレーテイング方法及びTiNをプレーテイングされた素材物 - Google Patents
TiNのイオンプレーテイング方法及びTiNをプレーテイングされた素材物Info
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- JPH02254151A JPH02254151A JP7388989A JP7388989A JPH02254151A JP H02254151 A JPH02254151 A JP H02254151A JP 7388989 A JP7388989 A JP 7388989A JP 7388989 A JP7388989 A JP 7388989A JP H02254151 A JPH02254151 A JP H02254151A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、例えばC8等の成分を含Of!ii1等の鉄
基材の表面にT、Nをイオンプレーティングする方法及
びこの方法により製造された金属の素+3物に関し、詳
しくは、イオンプレーティング時のCR等の酸化物の被
膜の生成の防止に関する。
基材の表面にT、Nをイオンプレーティングする方法及
びこの方法により製造された金属の素+3物に関し、詳
しくは、イオンプレーティング時のCR等の酸化物の被
膜の生成の防止に関する。
(従来の技術)
工具等は、硬度を増すために、TiN(窒化チタン層)
をコーティングするのが通常である。このTiNのコー
ティング方法に関する技術に、例えば、特開昭55−2
715号がある。これは、放電空間中で化学反応を行な
わせ、基体表面に48族金属の窒化物(例:T、N)の
薄層を被膜して耐摩耗性を向上させようというものであ
る。
をコーティングするのが通常である。このTiNのコー
ティング方法に関する技術に、例えば、特開昭55−2
715号がある。これは、放電空間中で化学反応を行な
わせ、基体表面に48族金属の窒化物(例:T、N)の
薄層を被膜して耐摩耗性を向上させようというものであ
る。
(発明が解決しようとする課題)
ところで、CRを高濃度に含む合金鋼、例えば、5KD
II(冷間ダイス鋼)や5US304鋼(ステンレス鋼
)等に、従来のPVD法(スパッタリング等の物理蒸着
法)によりT、Nコーテインクを施す過程では、これら
の鋼母材に含まれる高いCR酸成分安定した酸化被膜を
母材表面に形成してしまうために、TiNコーティング
かうまくいかず、’r+Nと母材との密着力が低下して
しまうという問題が発生している。そのため、製品を使
用時に、T、N膜の剥離等の問題か生じていた。そのた
めに、従来では、T、Nコーティングの前に上記酸化被
膜を除去するためのボンバード処理を必要としていた。
II(冷間ダイス鋼)や5US304鋼(ステンレス鋼
)等に、従来のPVD法(スパッタリング等の物理蒸着
法)によりT、Nコーテインクを施す過程では、これら
の鋼母材に含まれる高いCR酸成分安定した酸化被膜を
母材表面に形成してしまうために、TiNコーティング
かうまくいかず、’r+Nと母材との密着力が低下して
しまうという問題が発生している。そのため、製品を使
用時に、T、N膜の剥離等の問題か生じていた。そのた
めに、従来では、T、Nコーティングの前に上記酸化被
膜を除去するためのボンバード処理を必要としていた。
第5図は、この従来法に係る一例のT、Nコーティング
の過程を示したものである。第6図は、この従来法に係
る工程を、コーティング炉内の圧力を縦軸にして示した
ものである。このボンバード処理は、低圧(0゜I T
Orr)のアルゴンガス雰囲気中で、一定の時間(5分
)の間に亙って、電流(約2.2A)をワークに流しな
がら、500度Cで焼き入れするというものである。し
かも、この焼き入れは第6図に示すように、2度行なう
必要がある。このように、このボンバード処理は、従来
から、製造工程の短縮のあしかせとなっていた。
の過程を示したものである。第6図は、この従来法に係
る工程を、コーティング炉内の圧力を縦軸にして示した
ものである。このボンバード処理は、低圧(0゜I T
Orr)のアルゴンガス雰囲気中で、一定の時間(5分
)の間に亙って、電流(約2.2A)をワークに流しな
がら、500度Cで焼き入れするというものである。し
かも、この焼き入れは第6図に示すように、2度行なう
必要がある。このように、このボンバード処理は、従来
から、製造工程の短縮のあしかせとなっていた。
また、5US304や、Aj2.Cu等やそれらの合金
は、母材自体の硬度か低いために、その上にいくらT、
Nコーティングを行なっても、製品としての使用時にコ
ーティングが容易に剥離するという問題も発生していた
。
は、母材自体の硬度か低いために、その上にいくらT、
Nコーティングを行なっても、製品としての使用時にコ
ーティングが容易に剥離するという問題も発生していた
。
本発明は上述従来例の欠点を除去するために提案された
ものでその目的は、T、N層の剥離のないイオンプレー
ティング方法、及び、T、Nをプレーティングされた素
材物を提案するところにある。
ものでその目的は、T、N層の剥離のないイオンプレー
ティング方法、及び、T、Nをプレーティングされた素
材物を提案するところにある。
(課題を達成するだめの手段及び作用)上記課題を達成
するための本発明のT、Hのイオンプレーティング方法
の構成は、酸化物となり易い成分を含む基材の表面にT
、Nをプレーティングする方法において、上記基材の表
面にニッケル系メッキを無電界で施す第1の工程と、こ
の表面をメッキされた基材上に、”F、Nをイオンプレ
ーティングする第2の工程とからなることを特徴とする
。
するための本発明のT、Hのイオンプレーティング方法
の構成は、酸化物となり易い成分を含む基材の表面にT
、Nをプレーティングする方法において、上記基材の表
面にニッケル系メッキを無電界で施す第1の工程と、こ
の表面をメッキされた基材上に、”F、Nをイオンプレ
ーティングする第2の工程とからなることを特徴とする
。
また、本発明のプレーティングされた素材物に係る本発
明の構成は、酸化物となり易い成分を含む基材層の上に
、ニッケル系メッキ層が形成され、更にその上に、T、
N層が形成されたことを特徴とする。
明の構成は、酸化物となり易い成分を含む基材層の上に
、ニッケル系メッキ層が形成され、更にその上に、T、
N層が形成されたことを特徴とする。
(実施例)
以下添付図面を参照して、本発明を、鉄基材として5K
DIIを使用し、ニッケル系メッキとしてNI Pとし
た場合の実施例を説明する。
DIIを使用し、ニッケル系メッキとしてNI Pとし
た場合の実施例を説明する。
第1図はこの実施例の製造方法を図示するものである。
また、第2図はこの実施例に用いられるT、Hのイオン
プレーティング装置を示し、第3A図は、主にこの実施
例のイオンプレーティングに係る工程を、コーティング
炉内の圧力を縦軸にして示したものである。第1図のス
テップS20、S21では、鉄基材を例えばバイト等の
工具の形状に機械加工してワークとし、これを洗浄する
。ステップS22では、このワークにN、 −Pメッキ
を施す。メッキ条件は以下のようである。
プレーティング装置を示し、第3A図は、主にこの実施
例のイオンプレーティングに係る工程を、コーティング
炉内の圧力を縦軸にして示したものである。第1図のス
テップS20、S21では、鉄基材を例えばバイト等の
工具の形状に機械加工してワークとし、これを洗浄する
。ステップS22では、このワークにN、 −Pメッキ
を施す。メッキ条件は以下のようである。
温度 :90度C
時間 ・30分
Nl−メッキ厚=4μm
尚、メッキ液として、I’J+ Pの他に、N、 −
Bでもよい。メッキ液を無電界としたのは、メッキ層の
厚さが均一になるからである。また、ニッケル系のメッ
キ液としたのは、鉄基材との密着性が高いからである。
Bでもよい。メッキ液を無電界としたのは、メッキ層の
厚さが均一になるからである。また、ニッケル系のメッ
キ液としたのは、鉄基材との密着性が高いからである。
こうして、5KD1.1の基材からなるワーク表面にN
、−Pメッキ層が形成された。
、−Pメッキ層が形成された。
第2図はT、Nコーティング炉100の断面を模式的に
示した図である。この炉100は、内部を、シャッタ1
02により分割され、この分割された上部空間がボンバ
ード処理に使われ、下部空間がT、Nイオンプレーティ
ングに使われる。ワーク10は治具1.01に炉100
の上部に固定され、ワーク10には、外部の電源107
から所定の電圧が印加されるようになっている。103
はアルゴンガスの注入口であり、これによりボンバード
処理が行なわれる。尚、本発明では、ボンハメッキ液
・酸性無電界NIメッキ浴ド処理は本質的に必要で
はない。第2図の炉100は従来例に使用されている炉
を転用したものである。このように、本実施例で、炉に
ボンバード処理部分を設けたものを使用しているのは、
後述するように、本発明の処理過程に、ボンバード処理
を行なっても、ホンバード処理無しよりも、TAN層と
基材との密着性は若干低下するものの、従来例によるよ
りもより強い密着性が得られたからである。
示した図である。この炉100は、内部を、シャッタ1
02により分割され、この分割された上部空間がボンバ
ード処理に使われ、下部空間がT、Nイオンプレーティ
ングに使われる。ワーク10は治具1.01に炉100
の上部に固定され、ワーク10には、外部の電源107
から所定の電圧が印加されるようになっている。103
はアルゴンガスの注入口であり、これによりボンバード
処理が行なわれる。尚、本発明では、ボンハメッキ液
・酸性無電界NIメッキ浴ド処理は本質的に必要で
はない。第2図の炉100は従来例に使用されている炉
を転用したものである。このように、本実施例で、炉に
ボンバード処理部分を設けたものを使用しているのは、
後述するように、本発明の処理過程に、ボンバード処理
を行なっても、ホンバード処理無しよりも、TAN層と
基材との密着性は若干低下するものの、従来例によるよ
りもより強い密着性が得られたからである。
第2図において、104は、T、Nプレーティングを行
なうための窒素ガスN2を炉内に導くための注入口であ
る。金属T、109のイオン化は、EB(電子ビーム)
ガン106によるTIの溶融により行なわれる。
なうための窒素ガスN2を炉内に導くための注入口であ
る。金属T、109のイオン化は、EB(電子ビーム)
ガン106によるTIの溶融により行なわれる。
さて、第1図のステップS23.S24では、ワークを
治具1.01にセットしたものを、炉100の所定位置
にセットする。
治具1.01にセットしたものを、炉100の所定位置
にセットする。
以下、第1図及び第2図さらには、第3A図をも参照し
て説明を行なう。ステップS25で、炉内のガス(空気
)を排気する。炉内圧力が5×10−7゜rr程度にな
ったところで、不図示のヒータで炉100を予熱する。
て説明を行なう。ステップS25で、炉内のガス(空気
)を排気する。炉内圧力が5×10−7゜rr程度にな
ったところで、不図示のヒータで炉100を予熱する。
炉内温度を500度Cにして、その状態を2時間はど保
ち、ステップS27でイオンプレーティングを始める。
ち、ステップS27でイオンプレーティングを始める。
このイオンプレーティングは、炉内圧力を9×−丁。r
rの圧力に保って、前述したように、T1をEBガン1
11により溶融してガス化し、このガスと窒素ガスとを
電界中に導いてイオン化する。一方、ワーク10にも電
界がかけられ、このイオンガスはワーク側に引き寄せら
れ、ワーク表面で電子を失って、ワーク表面にT、Nと
して析出する。これがT、Nコーティングである。この
TiNコーティング処理過程は、第3A図に示すように
、500度Cの雰囲気中で25分間続けられる。
rの圧力に保って、前述したように、T1をEBガン1
11により溶融してガス化し、このガスと窒素ガスとを
電界中に導いてイオン化する。一方、ワーク10にも電
界がかけられ、このイオンガスはワーク側に引き寄せら
れ、ワーク表面で電子を失って、ワーク表面にT、Nと
して析出する。これがT、Nコーティングである。この
TiNコーティング処理過程は、第3A図に示すように
、500度Cの雰囲気中で25分間続けられる。
T、Nコーティングが終了すると、炉100を冷却し、
ワークを取出す。
ワークを取出す。
第3B図は、第3A図の手法では施さなかったボンバー
ド処理を、N、−Pメッキを施したワークに施すという
ような変形手法を行なうときの工程図である。この変形
手法に係るボンバード処理は、第1図では、ステップ3
26とステップS27の間で行なえばよい。尚、この変
形実施例におけるボンバード処理の条件は、従来のボン
バード処理の条件と同じであり、0.l□。rrのアル
ゴン雰囲気中で、2.2Aの電流を流すというものであ
る。
ド処理を、N、−Pメッキを施したワークに施すという
ような変形手法を行なうときの工程図である。この変形
手法に係るボンバード処理は、第1図では、ステップ3
26とステップS27の間で行なえばよい。尚、この変
形実施例におけるボンバード処理の条件は、従来のボン
バード処理の条件と同じであり、0.l□。rrのアル
ゴン雰囲気中で、2.2Aの電流を流すというものであ
る。
第4A図は、本実施例で得られたワークについての、T
AN層と基材との密着性を実際に評価したときのテスト
結果である。対比のために、第4B図に、従来例に係る
工程(即ち、N、−Pメッキ工程の無い)により製作さ
れたワークの密着性のテスト結果を示す。ここで、本実
施例と従来例とに共通な試験条件を説明する。試験機は
スクラッチ試験機を用いた。その感度は10,0である
6ワークにスクラッチを形成するときのテーブル速度は
10mm/分であり、荷重速度は1ON/分である。ま
た、被試験対象のワークの形状は50φX10mmの円
柱状であり、5つのサンプルとした。ワークの材料は5
KDIIである。また、硬度は、HRCで58.5であ
る。また、ワークの表面粗さは最大でH□、が0.4μ
mである。
AN層と基材との密着性を実際に評価したときのテスト
結果である。対比のために、第4B図に、従来例に係る
工程(即ち、N、−Pメッキ工程の無い)により製作さ
れたワークの密着性のテスト結果を示す。ここで、本実
施例と従来例とに共通な試験条件を説明する。試験機は
スクラッチ試験機を用いた。その感度は10,0である
6ワークにスクラッチを形成するときのテーブル速度は
10mm/分であり、荷重速度は1ON/分である。ま
た、被試験対象のワークの形状は50φX10mmの円
柱状であり、5つのサンプルとした。ワークの材料は5
KDIIである。また、硬度は、HRCで58.5であ
る。また、ワークの表面粗さは最大でH□、が0.4μ
mである。
さらに、T、N膜厚は2.5μmとした。
また、第4A図の試験結果が得られた本実施例の方法で
は、Nl Pメッキ層の厚さを、4μmとした。
は、Nl Pメッキ層の厚さを、4μmとした。
Nl −Pメッキ工程の無い従来例の方法では、ボンバ
ード処理を行なっても、スクラッチの発生する臨界荷重
の平均値は35.8Nにュートン)であり、ボンバード
処理を行なわないと、30.4Nと更に低くなってしま
った。
ード処理を行なっても、スクラッチの発生する臨界荷重
の平均値は35.8Nにュートン)であり、ボンバード
処理を行なわないと、30.4Nと更に低くなってしま
った。
一方、TiNコーティングする前にN、−Pメッキを行
なう実施例の製造方法では、臨界荷重の平均値は、ボン
バード処理を行なわなつかだ場合に、46.6N、また
、ボンバード処理を行なえば、40.2Nであった。ボ
ンバード処理を行なうと、密着性は若干低下(40,2
N)するものの、それでも、第4B図に示した従来例に
よる試験結果の数値(35,8N)よりもずっと良好な
値を示している。
なう実施例の製造方法では、臨界荷重の平均値は、ボン
バード処理を行なわなつかだ場合に、46.6N、また
、ボンバード処理を行なえば、40.2Nであった。ボ
ンバード処理を行なうと、密着性は若干低下(40,2
N)するものの、それでも、第4B図に示した従来例に
よる試験結果の数値(35,8N)よりもずっと良好な
値を示している。
第7A図に従来の方法によってできた鉄合金素材物の構
成を示す。前述したように、5KDII等の母材の上に
ボンバード処理によっても除去され尽くさないで残った
酸化被膜があり、その上に、TiN層が形成されている
。一方、第7B図には、本実施例による鉄合金素材物の
構成を示す。母材の上にNI Pメッキ層が形成され、
その上に、T、N層が形成されている。
成を示す。前述したように、5KDII等の母材の上に
ボンバード処理によっても除去され尽くさないで残った
酸化被膜があり、その上に、TiN層が形成されている
。一方、第7B図には、本実施例による鉄合金素材物の
構成を示す。母材の上にNI Pメッキ層が形成され、
その上に、T、N層が形成されている。
N、P層の効用は次の点にあると推定される。
T、Hのイオンプレーティング処理の前に母材表面に形
成されたN1−Pは、イオンプレーティングによる加熱
過程で、母材が直接雰囲気中に露出されるのを防止して
、中に含まれるOR成分の酸化を防止する働きがある。
成されたN1−Pは、イオンプレーティングによる加熱
過程で、母材が直接雰囲気中に露出されるのを防止して
、中に含まれるOR成分の酸化を防止する働きがある。
また、N I P JiFは、イオンプレーティング
のベーキング過程で硬化し、TiN層に対する母材の相
対的硬度を上げる結果、即ち、バックアップ硬度が上昇
する結果となり、硬度の高いTiN層の存在意義が高ま
る。
のベーキング過程で硬化し、TiN層に対する母材の相
対的硬度を上げる結果、即ち、バックアップ硬度が上昇
する結果となり、硬度の高いTiN層の存在意義が高ま
る。
従来ては、T、N層がいくら硬度か高くても、母材の硬
度が低い場合には、TANコーティングな行なった意味
が没却していた。従って、本実施例の手法は、母材が5
US304や、A[、Cu等やそれらの合金である場合
に特に有効である。
度が低い場合には、TANコーティングな行なった意味
が没却していた。従って、本実施例の手法は、母材が5
US304や、A[、Cu等やそれらの合金である場合
に特に有効である。
本発明はその主旨を逸脱しない範囲で種々変形が可能で
ある。
ある。
例えば、上記実施例では、基材表面に形成される酸化物
はCR酸化物を問題としたが、CRには限らず、安定的
に形成されるものであれば、どのような酸化物でも本発
明の対象とすることができる。何故なら、安定的な酸化
物はその除去が困難であり、本発明の酸化物そのものを
発生させないという意義が高まるからである。
はCR酸化物を問題としたが、CRには限らず、安定的
に形成されるものであれば、どのような酸化物でも本発
明の対象とすることができる。何故なら、安定的な酸化
物はその除去が困難であり、本発明の酸化物そのものを
発生させないという意義が高まるからである。
また、前述したように、メッキ液は、NI Bでもよい
。
。
(発明の効果)
以上説明したように本発明のT、Hのイオンプレーティ
ング方法によれば、酸化物となり易い成分を含む鉄基材
の表面にT、Nをプレーティングする方法において、上
記基材の表面にニッケル系メッキを無電界で施す第1の
工程と、この表面をメッキされた基材上に、TANをイ
オンプレーティングする第2の工程とからなることを特
徴とする。
ング方法によれば、酸化物となり易い成分を含む鉄基材
の表面にT、Nをプレーティングする方法において、上
記基材の表面にニッケル系メッキを無電界で施す第1の
工程と、この表面をメッキされた基材上に、TANをイ
オンプレーティングする第2の工程とからなることを特
徴とする。
従って、鉄基材と密着性の高いニッケル系のメッキが施
されることで、基材そのものはイオンプレーティング工
程で雰囲気中に露出されることはなくなり、鉄基材に含
まれる成分の酸化物が生成されることが防止される。ま
た、このメッキ自体は鉄基材と密着性が高いので、メッ
キ層の上にT、N層が形成されても、TAN層の剥離は
なくなる。さらに、メッキ層がイオンプレーティング過
程で硬化するので、T、N層からみた基材側の硬度が向
上し、全体での硬度が結果的に上昇し、TiN層の剥離
が更に防止される。
されることで、基材そのものはイオンプレーティング工
程で雰囲気中に露出されることはなくなり、鉄基材に含
まれる成分の酸化物が生成されることが防止される。ま
た、このメッキ自体は鉄基材と密着性が高いので、メッ
キ層の上にT、N層が形成されても、TAN層の剥離は
なくなる。さらに、メッキ層がイオンプレーティング過
程で硬化するので、T、N層からみた基材側の硬度が向
上し、全体での硬度が結果的に上昇し、TiN層の剥離
が更に防止される。
また、本発明のプレーティングされた素材物は、酸化物
となり易い成分を含む鉄基材層の上に、ニッケル系メッ
キ層が形成され、更にその上に、TiN層が形成された
ことを特徴とするので、上述の理由により、TAN層の
剥離がなく、丈夫な素材が提供できる。
となり易い成分を含む鉄基材層の上に、ニッケル系メッ
キ層が形成され、更にその上に、TiN層が形成された
ことを特徴とするので、上述の理由により、TAN層の
剥離がなく、丈夫な素材が提供できる。
第1図は本発明の1実施例に係るイオンプレーティング
方法の工程を説明する図、 第2図は第1図実施例の方法に用いることの可能なコー
ティング炉の1折面図、 第3A図は第1図実施例の方法において、イオンプレー
ティング過程の時間変化を示した図、第3B図は第3Δ
図の変形例に係る工程の時間経過を示す図、 第4Δ図は、第3A図及び第3B図に係る手法によりT
、Nをイオンプレーティングしだ素材物の試験結果を示
した図、 第4B図は従来例に係る手法によりTiNをコーティン
グした素材物の試験結果を、第4A図と対比可能にして
示した図、 第5図及び第6図は従来例に係る工程を説明する図、 第7A図は従来例の工程により製造された素材物の構成
を示す断面図、 第7B図は本実施例の工程により製造された素4’4物
の構成を示すHJi而図面図る。 図中、 10・・・コーティング対象ワーク、100・・・コー
ティング炉、101・・・治具、102・・・シャッタ
、103・・・AR注入口、104・・・N2注入口、
106・・・真空槽、107・・・電源、108・・・
真空排気系、109・・・TI、110・・・水冷ルツ
ボ、1.11・・・E Bガンである。
方法の工程を説明する図、 第2図は第1図実施例の方法に用いることの可能なコー
ティング炉の1折面図、 第3A図は第1図実施例の方法において、イオンプレー
ティング過程の時間変化を示した図、第3B図は第3Δ
図の変形例に係る工程の時間経過を示す図、 第4Δ図は、第3A図及び第3B図に係る手法によりT
、Nをイオンプレーティングしだ素材物の試験結果を示
した図、 第4B図は従来例に係る手法によりTiNをコーティン
グした素材物の試験結果を、第4A図と対比可能にして
示した図、 第5図及び第6図は従来例に係る工程を説明する図、 第7A図は従来例の工程により製造された素材物の構成
を示す断面図、 第7B図は本実施例の工程により製造された素4’4物
の構成を示すHJi而図面図る。 図中、 10・・・コーティング対象ワーク、100・・・コー
ティング炉、101・・・治具、102・・・シャッタ
、103・・・AR注入口、104・・・N2注入口、
106・・・真空槽、107・・・電源、108・・・
真空排気系、109・・・TI、110・・・水冷ルツ
ボ、1.11・・・E Bガンである。
Claims (2)
- (1)酸化物となり易い成分を含む基材の表面にT_i
Nをプレーティングする方法において、上記基材の表面
にニッケル系メッキを無電界で施す第1の工程と、 この表面をメッキされた基材上に、T_iNをイオンプ
レーティングする第2の工程とからなることを特徴とす
るT_iNのイオンプレーティング方法。 - (2)酸化物となり易い成分を含む基材層の上に、ニッ
ケル系メッキ層が形成され、更にその上に、T_iN層
が形成されたことを特徴とするT_iNをプレーティン
グされた素材物。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7388989A JPH02254151A (ja) | 1989-03-28 | 1989-03-28 | TiNのイオンプレーテイング方法及びTiNをプレーテイングされた素材物 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7388989A JPH02254151A (ja) | 1989-03-28 | 1989-03-28 | TiNのイオンプレーテイング方法及びTiNをプレーテイングされた素材物 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02254151A true JPH02254151A (ja) | 1990-10-12 |
Family
ID=13531230
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7388989A Pending JPH02254151A (ja) | 1989-03-28 | 1989-03-28 | TiNのイオンプレーテイング方法及びTiNをプレーテイングされた素材物 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02254151A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999054520A1 (en) * | 1998-04-22 | 1999-10-28 | Valmet Corporation | Parts of a paper/board or finishing machine that are subjected to intensive wear and method for manufacture of such parts |
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1989
- 1989-03-28 JP JP7388989A patent/JPH02254151A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999054520A1 (en) * | 1998-04-22 | 1999-10-28 | Valmet Corporation | Parts of a paper/board or finishing machine that are subjected to intensive wear and method for manufacture of such parts |
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