JPH02254168A - 窒化ほう素の製造方法 - Google Patents
窒化ほう素の製造方法Info
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- JPH02254168A JPH02254168A JP7467789A JP7467789A JPH02254168A JP H02254168 A JPH02254168 A JP H02254168A JP 7467789 A JP7467789 A JP 7467789A JP 7467789 A JP7467789 A JP 7467789A JP H02254168 A JPH02254168 A JP H02254168A
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Landscapes
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はいわゆるcVDtによる窒化ほう素の製造法に
関する。この窒化ほう素(BN)は立方晶窒化ほう素(
以)’c−BNという)又はこれを含むBNであり、半
導体の放熱基板、機械部品の耐食、耐摩耗性被覆材、切
削材などに利用される。
関する。この窒化ほう素(BN)は立方晶窒化ほう素(
以)’c−BNという)又はこれを含むBNであり、半
導体の放熱基板、機械部品の耐食、耐摩耗性被覆材、切
削材などに利用される。
BNには軟らかい六方晶窒化ほう素(以下hBNという
)と高硬度なc−BNがある。CBNはh−BNを高温
、高圧処理して得る方法が古くから行イつれているか、
近年はほう素含a化合物からCVD法により製法も提案
されている。
)と高硬度なc−BNがある。CBNはh−BNを高温
、高圧処理して得る方法が古くから行イつれているか、
近年はほう素含a化合物からCVD法により製法も提案
されている。
CVD法として従来知られている方法は原料としてポロ
アミノポリマー、ボラン、ジボラン、テトラボラン、B
Cρ3、B3N3H6などか知られ、またCVD法とし
てはマイクロ波、高周波、アーク放電、熱フィラメント
法などが知られている(特開昭60−81009 、同
62−184869、同62−40376、同60−5
874.11i161−174378、同631998
71)。
アミノポリマー、ボラン、ジボラン、テトラボラン、B
Cρ3、B3N3H6などか知られ、またCVD法とし
てはマイクロ波、高周波、アーク放電、熱フィラメント
法などが知られている(特開昭60−81009 、同
62−184869、同62−40376、同60−5
874.11i161−174378、同631998
71)。
とはc−BNの含有量を高めること、及びBNの生成速
度を上げること、その他原料化合物の毒性がないことや
取り易いことである。
度を上げること、その他原料化合物の毒性がないことや
取り易いことである。
また基体上にBNを膜状に析出させ、これを半導体の放
熱基板や切削工具、耐摩耗性機械材料に利用する場合、
基体上BN膜が密着し、容易に剥離しないことか重要で
ある。
熱基板や切削工具、耐摩耗性機械材料に利用する場合、
基体上BN膜が密着し、容易に剥離しないことか重要で
ある。
前記した従来法ではこれらの点に関して満足すべき結果
か得られていない。
か得られていない。
本発明の1゛1的はBNの生成速度及びその中のc−B
HのaG−率が高く、かつ基体へのBH膜の密着性の高
いBNを製造することにある。
HのaG−率が高く、かつ基体へのBH膜の密着性の高
いBNを製造することにある。
〔課題を解決するための1段〕
本発明はブラスマCVD法により、BNを製造するに当
り、原料化合物を種々探索し、またプラズマ化法につい
て研究した結果開発し、たちので、その要旨は原料化ご
物とl、てN a B H4とN2又はN H3の混合
物を用い、プラズマ化法として高周波誘導加熱と熱フィ
ラメント加熱を併用することからなるプラズマCVD法
により基体I−にBNを析出させる方法である。
り、原料化合物を種々探索し、またプラズマ化法につい
て研究した結果開発し、たちので、その要旨は原料化ご
物とl、てN a B H4とN2又はN H3の混合
物を用い、プラズマ化法として高周波誘導加熱と熱フィ
ラメント加熱を併用することからなるプラズマCVD法
により基体I−にBNを析出させる方法である。
N a B H4は融点が約4()0°Cで、これを加
熱蒸発させ、これにN2又はNH3ガスを混合し、プラ
ズマ化する。その混合の割合はBとNの原子比で表わし
て0,1〜0.9の範囲であり、好ましくは03〜0.
7である。N2ガスを用いる場合は、N a B H4
との混合ガスにさらに水素ガスをNとHの原子比か1対
3程度になるぐらい混合することか望ましい。N H3
ガスは分解して発生期の水素ガスが発生し、これがBN
の生成に関与していることが考えられ、そのため、N2
あるいはN2とN2の混合ガスを用いるより、BNの生
成L1が高まるなと良好な結果か得られている。
熱蒸発させ、これにN2又はNH3ガスを混合し、プラ
ズマ化する。その混合の割合はBとNの原子比で表わし
て0,1〜0.9の範囲であり、好ましくは03〜0.
7である。N2ガスを用いる場合は、N a B H4
との混合ガスにさらに水素ガスをNとHの原子比か1対
3程度になるぐらい混合することか望ましい。N H3
ガスは分解して発生期の水素ガスが発生し、これがBN
の生成に関与していることが考えられ、そのため、N2
あるいはN2とN2の混合ガスを用いるより、BNの生
成L1が高まるなと良好な結果か得られている。
混合ガス圧は1.0〜640Paが適当である。
プラズマを発生させる高周波誘導加熱は公知のもので周
波数は例えば13.5GMIIz、出力は装置の大きさ
によって変るが、後述する実施例の装置では50〜20
0Wが適する。そして熱フィラメントの加熱と合せてプ
ラズマの温度は高温に維持される。
波数は例えば13.5GMIIz、出力は装置の大きさ
によって変るが、後述する実施例の装置では50〜20
0Wが適する。そして熱フィラメントの加熱と合せてプ
ラズマの温度は高温に維持される。
熱フィラメントは通常タングステンフィラメントが用い
られ、その温度は1300〜2100℃か適し、好まし
くは1500〜1900℃である。熱フィラメントは原
料ガス中の水素を原子状水素などの1.ζ性な水素にす
るために必要なもので、この水素の作用は定かでないが
、熱フィラメントを使用しないと、BN特にc−BNの
含台率の高いBNが生成しない。又、熱フィラメントの
みではプラズマの発イ1:が十分でなく、同様にBNの
生成が少ない。
られ、その温度は1300〜2100℃か適し、好まし
くは1500〜1900℃である。熱フィラメントは原
料ガス中の水素を原子状水素などの1.ζ性な水素にす
るために必要なもので、この水素の作用は定かでないが
、熱フィラメントを使用しないと、BN特にc−BNの
含台率の高いBNが生成しない。又、熱フィラメントの
みではプラズマの発イ1:が十分でなく、同様にBNの
生成が少ない。
BNを析出させる基体はSt 、 W、 Mo 、 T
aなどの金属、SiC焼結体、Si3N4焼結体などの
セラミックス、超硬合金チップ、ザーメットなどが使用
でき、その形状も板状(基板)、湾曲状、円柱状なと制
限なく用いることができる。
aなどの金属、SiC焼結体、Si3N4焼結体などの
セラミックス、超硬合金チップ、ザーメットなどが使用
でき、その形状も板状(基板)、湾曲状、円柱状なと制
限なく用いることができる。
基体の温度は300〜1000℃か適するが、好ましく
は500〜900°Cである。
は500〜900°Cである。
次に本発明を実施するための装置の1例を示し、具体的
に説明する。図1は概略の断面図で石英管1内に原料4
(N a B H4) 、S i基板6が設けられて
いる。図ではフィラメント2でN a B H4を加熱
蒸発させているが、蒸発のための加熱装置を別に設け、
フィラメントを基板側に寄せてもよい。
に説明する。図1は概略の断面図で石英管1内に原料4
(N a B H4) 、S i基板6が設けられて
いる。図ではフィラメント2でN a B H4を加熱
蒸発させているが、蒸発のための加熱装置を別に設け、
フィラメントを基板側に寄せてもよい。
石英管の外側に加熱炉7か設けられ、基板の温度及び石
英管内の温度を調節する。3はi4%周波コイルでガス
をプラズマ化する。このコイルも図示のものより基板側
に移すこともi+J能である。8は高周波電源、9,1
0は交流電源である。
英管内の温度を調節する。3はi4%周波コイルでガス
をプラズマ化する。このコイルも図示のものより基板側
に移すこともi+J能である。8は高周波電源、9,1
0は交流電源である。
石英’=gは所定の圧力に調整されたケース内に収めら
れている。NH3等のガスはケースのガス導入口5より
石英管内に流され、蒸発するN a B H4のガスと
混合し、プラズマ化され、BNとして基板に析出する。
れている。NH3等のガスはケースのガス導入口5より
石英管内に流され、蒸発するN a B H4のガスと
混合し、プラズマ化され、BNとして基板に析出する。
排気ガスは石英管の他端から出て、ケースの排M、hり
放出される。
放出される。
本発明の方法により、BNの生成速度は膜厚で】口0〜
300人/分となり、これは従来最も多く用いられてい
る原料のB2H6の場合の数倍に達する。またc−BN
の3打率は平均的には50〜80%で、従来法に較べて
高く、また高周波の出力を上げることにより、さらに8
0%を」二回ることも可能である。
300人/分となり、これは従来最も多く用いられてい
る原料のB2H6の場合の数倍に達する。またc−BN
の3打率は平均的には50〜80%で、従来法に較べて
高く、また高周波の出力を上げることにより、さらに8
0%を」二回ることも可能である。
また本発明のもう1つの特徴は基体とBNの膜の密稲゛
度が高いことである。これは基体に膜をつけたまま利用
するとき有利である。その池水発明のBNを基体から分
離し、粉砕して研削砥粒として利用することもできる。
度が高いことである。これは基体に膜をつけたまま利用
するとき有利である。その池水発明のBNを基体から分
離し、粉砕して研削砥粒として利用することもできる。
図1の装置を用い実験した。石英管は直径2.7cm5
長さ18cmである。N H3ガスは3fl1分CNT
P換算)で供給し、た。タングステシフ5イラメントの
温度を1800℃と12、高周波の出力を150Wとし
た。基板にSi ウェハーを用い、その温度を800℃
とした。N a B I(4の蒸発カス量は、実験前後
の減量から、3f!/分(N T P換弁)と考えられ
、N/B原子比にすると1である。なお、ゲース内全体
の圧力は2[]Paである。
長さ18cmである。N H3ガスは3fl1分CNT
P換算)で供給し、た。タングステシフ5イラメントの
温度を1800℃と12、高周波の出力を150Wとし
た。基板にSi ウェハーを用い、その温度を800℃
とした。N a B I(4の蒸発カス量は、実験前後
の減量から、3f!/分(N T P換弁)と考えられ
、N/B原子比にすると1である。なお、ゲース内全体
の圧力は2[]Paである。
この条件で0.51.Ii間大実験継続した。比較とし
て石英管からNaBHを除き、代って821:’i63
0% SN H8096、H21,09b(夫々容量9
6)の混合ガスを石英管に6fl1分(NTP換算)供
給した外は実施例1と同様にして実験した。これらの結
果を表1に示す。
て石英管からNaBHを除き、代って821:’i63
0% SN H8096、H21,09b(夫々容量9
6)の混合ガスを石英管に6fl1分(NTP換算)供
給した外は実施例1と同様にして実験した。これらの結
果を表1に示す。
(以下余白)
表
表中0はひっかき試験で剥離が見られないことを示し、
△は同試験で多少剥離かあったことを示す。
△は同試験で多少剥離かあったことを示す。
本発明によればBNの生成速度か人である。
BH中のc−BHの含有率が高い。BH膜と基体との密
着度が大きい。又BH膜が緻密である。そのため超硬ボ
ールペンてO・っかいても傷がつかない。
着度が大きい。又BH膜が緻密である。そのため超硬ボ
ールペンてO・っかいても傷がつかない。
図1は本発明方法の実施に用いられる装置の1例を示す
概略断面図である。 1・・石英管 2・・フィラメン]・3・
・高周波コ・イル 6・・Si基板
概略断面図である。 1・・石英管 2・・フィラメン]・3・
・高周波コ・イル 6・・Si基板
Claims (1)
- プラズマCVD法により原料化合物から基体上に窒化
ほう素を析出させる方法において、原料化合物としてN
aBH_4とN_2又はNH_3を用い、プラズマ化法
として高周波誘導加熱及び熱フィラメント加熱を併用す
ることを特徴とする方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7467789A JPH02254168A (ja) | 1989-03-27 | 1989-03-27 | 窒化ほう素の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7467789A JPH02254168A (ja) | 1989-03-27 | 1989-03-27 | 窒化ほう素の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02254168A true JPH02254168A (ja) | 1990-10-12 |
Family
ID=13554099
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7467789A Pending JPH02254168A (ja) | 1989-03-27 | 1989-03-27 | 窒化ほう素の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02254168A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007035623A (ja) * | 2005-07-22 | 2007-02-08 | Sandvik Intellectual Property Ab | プラズマ活性を向上させる装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6081009A (ja) * | 1983-10-05 | 1985-05-09 | Teikoku Chem Ind Corp Ltd | 立方晶窒化硼素化合物の製造方法 |
| JPS63128179A (ja) * | 1986-11-18 | 1988-05-31 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 硬質窒化硼素の合成方法および合成装置 |
| JPS63199871A (ja) * | 1987-02-12 | 1988-08-18 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 高硬度窒化ホウ素の合成法 |
-
1989
- 1989-03-27 JP JP7467789A patent/JPH02254168A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6081009A (ja) * | 1983-10-05 | 1985-05-09 | Teikoku Chem Ind Corp Ltd | 立方晶窒化硼素化合物の製造方法 |
| JPS63128179A (ja) * | 1986-11-18 | 1988-05-31 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 硬質窒化硼素の合成方法および合成装置 |
| JPS63199871A (ja) * | 1987-02-12 | 1988-08-18 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 高硬度窒化ホウ素の合成法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007035623A (ja) * | 2005-07-22 | 2007-02-08 | Sandvik Intellectual Property Ab | プラズマ活性を向上させる装置 |
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