JPH0225838U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0225838U JPH0225838U JP10359888U JP10359888U JPH0225838U JP H0225838 U JPH0225838 U JP H0225838U JP 10359888 U JP10359888 U JP 10359888U JP 10359888 U JP10359888 U JP 10359888U JP H0225838 U JPH0225838 U JP H0225838U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- ellipsometer
- sample table
- moving
- measures
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
第1図は本考案一実施例の概略構成図、第2図
は試料台の移動の例を示す図、第3図は試料の測
定点を示す図である。 1…He―Neレーザ、2…チヨツパ、3…ポ
ラライザ、4…λ/4板、5…アナライザ、6…
デイテクタ、7…試料台、8…試料、9…ステー
ジ駆動装置。
は試料台の移動の例を示す図、第3図は試料の測
定点を示す図である。 1…He―Neレーザ、2…チヨツパ、3…ポ
ラライザ、4…λ/4板、5…アナライザ、6…
デイテクタ、7…試料台、8…試料、9…ステー
ジ駆動装置。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 偏光を試料面に入射し、その反射光の偏光状態
を測定するエリプソメータにおいて、 試料を載置する試料台をその載置面と平行に移
動させる試料台移動手段を備えることを特徴とす
るエリプソメータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10359888U JPH0225838U (ja) | 1988-08-04 | 1988-08-04 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10359888U JPH0225838U (ja) | 1988-08-04 | 1988-08-04 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0225838U true JPH0225838U (ja) | 1990-02-20 |
Family
ID=31334578
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10359888U Pending JPH0225838U (ja) | 1988-08-04 | 1988-08-04 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0225838U (ja) |
-
1988
- 1988-08-04 JP JP10359888U patent/JPH0225838U/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH11173994A (ja) | 光学的測定システム | |
| JPH0225838U (ja) | ||
| PT91320A (pt) | Aparelho interferometrico para medir componentes gasosos para pequenas moleculas de gas | |
| JPS6082208U (ja) | 被測定面の位置測定装置 | |
| RU97115613A (ru) | Способ эллипсометрического исследования тонких пленок на плоских подложках | |
| JPS6325341U (ja) | ||
| JPH0461007U (ja) | ||
| JPS6083943U (ja) | 光デイスクの複屈折検査装置 | |
| JPH0390039U (ja) | ||
| JPH0390088U (ja) | ||
| JPS61105805U (ja) | ||
| JPS5551305A (en) | Thickness measuring device for metal or metal oxide coat applied on surface of glass or the like | |
| JPS6415133U (ja) | ||
| JPH02128906U (ja) | ||
| JPH03117749U (ja) | ||
| JPS62176706U (ja) | ||
| JPH0269702U (ja) | ||
| JPH03115835U (ja) | ||
| JPH0283438U (ja) | ||
| JPS6383645U (ja) | ||
| JPS6319246U (ja) | ||
| JPH01104557U (ja) | ||
| JPH01144810U (ja) | ||
| JPH03110304U (ja) | ||
| JPS62197047U (ja) |