JPH0226728B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0226728B2 JPH0226728B2 JP58032587A JP3258783A JPH0226728B2 JP H0226728 B2 JPH0226728 B2 JP H0226728B2 JP 58032587 A JP58032587 A JP 58032587A JP 3258783 A JP3258783 A JP 3258783A JP H0226728 B2 JPH0226728 B2 JP H0226728B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- output
- light
- circuit
- receiving element
- distance measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 7
- IERHLVCPSMICTF-XVFCMESISA-N CMP group Chemical group P(=O)(O)(O)OC[C@@H]1[C@H]([C@H]([C@@H](O1)N1C(=O)N=C(N)C=C1)O)O IERHLVCPSMICTF-XVFCMESISA-N 0.000 description 6
- 239000013317 conjugated microporous polymer Substances 0.000 description 6
- 210000003643 myeloid progenitor cell Anatomy 0.000 description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 2
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 101000640713 Homo sapiens Transmembrane protein 126A Proteins 0.000 description 1
- 102100033846 Transmembrane protein 126A Human genes 0.000 description 1
- 230000004397 blinking Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 208000009606 optic atrophy 7 Diseases 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
- G01S17/06—Systems determining position data of a target
- G01S17/08—Systems determining position data of a target for measuring distance only
- G01S17/10—Systems determining position data of a target for measuring distance only using transmission of interrupted, pulse-modulated waves
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はカメラ等に用いられる測距装置であつ
て、発光素子から発せられた光を測距対象に向け
て投射し、その反射光を隣接配置された二つの受
光素子で受光する三角測距方式の測距装置の改良
に関する。
て、発光素子から発せられた光を測距対象に向け
て投射し、その反射光を隣接配置された二つの受
光素子で受光する三角測距方式の測距装置の改良
に関する。
従来、上述のような方式の測距装置としては、
特開昭54−39731号公報或は特開昭57−104809号
公報等により提案されている。
特開昭54−39731号公報或は特開昭57−104809号
公報等により提案されている。
一般に、受光素子より投射した光の測距対象か
らの反射光を受光素子で受光して測距する場合、
その反射光強度は、測距対象の反射率、距離等に
よつて、千倍以上の差を生じる。従つて、受光素
子の出力を増幅する増幅回路は、60dB以上のダ
イナミツクレンジが必要となる。
らの反射光を受光素子で受光して測距する場合、
その反射光強度は、測距対象の反射率、距離等に
よつて、千倍以上の差を生じる。従つて、受光素
子の出力を増幅する増幅回路は、60dB以上のダ
イナミツクレンジが必要となる。
そのダイナミツクレンジを広くする方法として
は、受光素子出力の対数圧縮や増幅回路の自動利
得調整が考えられるが、前者では、受光々量が大
きく受光素子間の出力差が小さい時に、S/Nが
悪くなる欠点があり、また後者では、フイードバ
ツク系が必要で、発振等の不安定要素が増大する
欠点があつた。
は、受光素子出力の対数圧縮や増幅回路の自動利
得調整が考えられるが、前者では、受光々量が大
きく受光素子間の出力差が小さい時に、S/Nが
悪くなる欠点があり、また後者では、フイードバ
ツク系が必要で、発振等の不安定要素が増大する
欠点があつた。
そこで、本発明の目的は、上記従来例の欠点を
伴わず、簡単な手段で、受光素子の出力を見掛上
零或は微少値から徐々に増大させて、比較回路の
判別し易いある設定値に達した時に測距状態を判
別させるようにした測距装置を提供するものであ
る。
伴わず、簡単な手段で、受光素子の出力を見掛上
零或は微少値から徐々に増大させて、比較回路の
判別し易いある設定値に達した時に測距状態を判
別させるようにした測距装置を提供するものであ
る。
以下、図面に基づいて本発明の実施例を説明す
る。
る。
先ず、第1図において、1は時間形成回路(時
間t=25ms)、2はインバータ、3はトランジ
スタ、4は定電流回路、5は抵抗、6はコンデン
サ、7はバツフアとしての演算増幅回路、8は定
電流回路、9,10及び11は抵抗、13は積分
器としての演算増幅回路、14はコンデンサ、1
5はヒステリシスコンパレータとしての演算増幅
回路(なお、演算増幅回路は、以下共通して
OPAと記述する。)、16及び17は抵抗9端の
電圧を分圧する分圧抵抗、18及び19も分圧抵
抗、20及び21は夫々トランジスタ、22は測
距対象へスポツト光を投射する発光素子としての
赤外線発光をダイオード(以下IRDと記述する)、
23及び24は夫々IRD22から投射され測距対
象により反射された光を受光し得るように基線長
方向に隣接して配置された受光素子としてのシリ
コンホトダイオード(以下SPDと記述する)、2
5及び26は夫々交流増幅回路、27及び28は
夫々帯域フイルター回路(中心周波数f0=
16KHzであり、以下BPFと記述する)、29及び
30は夫々検波回路、31及び32は夫々平滑回
路、33及び34は夫々直流増幅回路、35,3
6及び37は夫々コンパレータ回路(以下CMP
と記述する)、38は定電流回路、39,40及
び41は夫々CMP35の反転入力端子(−)及
びCMP36,37の非反転入力端子(+)に基
準電圧Vr1及びVr2,Vr3を与える分圧抵抗、42
はアンドゲート、43及び44は夫々Dタイプの
フリツプフロツプ回路、45はR.Sタイプのフリ
ツプフロツプ回路(なお、フリツプフロツプ回路
は、以下共通してFFと記述する。)であり、夫々
図示の如く接続されている。
間t=25ms)、2はインバータ、3はトランジ
スタ、4は定電流回路、5は抵抗、6はコンデン
サ、7はバツフアとしての演算増幅回路、8は定
電流回路、9,10及び11は抵抗、13は積分
器としての演算増幅回路、14はコンデンサ、1
5はヒステリシスコンパレータとしての演算増幅
回路(なお、演算増幅回路は、以下共通して
OPAと記述する。)、16及び17は抵抗9端の
電圧を分圧する分圧抵抗、18及び19も分圧抵
抗、20及び21は夫々トランジスタ、22は測
距対象へスポツト光を投射する発光素子としての
赤外線発光をダイオード(以下IRDと記述する)、
23及び24は夫々IRD22から投射され測距対
象により反射された光を受光し得るように基線長
方向に隣接して配置された受光素子としてのシリ
コンホトダイオード(以下SPDと記述する)、2
5及び26は夫々交流増幅回路、27及び28は
夫々帯域フイルター回路(中心周波数f0=
16KHzであり、以下BPFと記述する)、29及び
30は夫々検波回路、31及び32は夫々平滑回
路、33及び34は夫々直流増幅回路、35,3
6及び37は夫々コンパレータ回路(以下CMP
と記述する)、38は定電流回路、39,40及
び41は夫々CMP35の反転入力端子(−)及
びCMP36,37の非反転入力端子(+)に基
準電圧Vr1及びVr2,Vr3を与える分圧抵抗、42
はアンドゲート、43及び44は夫々Dタイプの
フリツプフロツプ回路、45はR.Sタイプのフリ
ツプフロツプ回路(なお、フリツプフロツプ回路
は、以下共通してFFと記述する。)であり、夫々
図示の如く接続されている。
次に、第1図の動作を第2図と共に説明する。
操作の開始によつて、図示していない電源スイ
ツチが閉成されると、回路の各部に給電が行なわ
れると共に、FF43,44及び45はリセツト
が解除される。
ツチが閉成されると、回路の各部に給電が行なわ
れると共に、FF43,44及び45はリセツト
が解除される。
また、この初期状態、即ち、トランジスタ3が
導通している状態では、実質的に定電流回路4と
抵抗5によるa点と、定電流回路8と抵抗9によ
るb点とがほゞ同電位に設定してあり、従つて、
OPA7の出力端子a′点もそれと同電位であり、
延いては、抵抗10,11及び12を経たOPA
13の両入力端子も同電位であり、その出力端子
c点も同電位となつている。一方、OPA15の
出力を「L」レベルと仮定すると、その非反転入
力端子(+)には、抵抗9端の電圧を分圧した電
位とグランドG間において、抵抗18及び19に
より分圧されたd点の電圧が与えられ、OPA1
5の両入力端子の電位は、c>dの関係に置かれ
ている。
導通している状態では、実質的に定電流回路4と
抵抗5によるa点と、定電流回路8と抵抗9によ
るb点とがほゞ同電位に設定してあり、従つて、
OPA7の出力端子a′点もそれと同電位であり、
延いては、抵抗10,11及び12を経たOPA
13の両入力端子も同電位であり、その出力端子
c点も同電位となつている。一方、OPA15の
出力を「L」レベルと仮定すると、その非反転入
力端子(+)には、抵抗9端の電圧を分圧した電
位とグランドG間において、抵抗18及び19に
より分圧されたd点の電圧が与えられ、OPA1
5の両入力端子の電位は、c>dの関係に置かれ
ている。
そして、時間形成回路1が動作して、その出力
がt=25msの時間だけ「H」レベルへ反転す
る。この結果、同様にインバータ2の出力が
「L」レベルへ反転し、トランジスタ6が遮断す
るので、コンデンサ6は抵抗5を介して定電流回
路4により定電流充電され、その定電流をI、コ
ンデンサ6の容量をCとすると、OPA7の出力
端子a′点の電圧Vは、V=(1/C)I・tの関
係式により、○イで示す如く、上述の電位から上昇
する。
がt=25msの時間だけ「H」レベルへ反転す
る。この結果、同様にインバータ2の出力が
「L」レベルへ反転し、トランジスタ6が遮断す
るので、コンデンサ6は抵抗5を介して定電流回
路4により定電流充電され、その定電流をI、コ
ンデンサ6の容量をCとすると、OPA7の出力
端子a′点の電圧Vは、V=(1/C)I・tの関
係式により、○イで示す如く、上述の電位から上昇
する。
この結果、OPA13の両入力端子に電位差が
生じ、電流Ixが流れ込み、コンデンサ14が図示
の方向に充電される。従つて、○ロに示す如く、
OPA13の出力端子、即ち、OPA15の反転入
力端子(−)c点の電位は上述の電位から下降
し、そして、c点の電位がd点の電位に達する
と、OPA15の出力端子は「H」レベルへ反転
し、点線で示す如く、d点の電位を上昇させると
共に、トランジスタ20を導通させる。依つて、
抵抗10と11の接続点をグランドGのレベルに
落すので、コンデンサ14の充電々荷が、抵抗1
1及びトランジスタ20を介して放電され、c点
の電位は上昇し、c点の電位が先に上昇したd点
の電位に達すると、OPA15の出力端子は再び
「L」レベルへ反転し、d点のレベルを初めの状
態に戻すと共に、トランジスタ20を遮断させ
る。すると、コンデンサ14が電流Ixにより再び
充電を開始され、c点の電位は再び下降して行
く。
生じ、電流Ixが流れ込み、コンデンサ14が図示
の方向に充電される。従つて、○ロに示す如く、
OPA13の出力端子、即ち、OPA15の反転入
力端子(−)c点の電位は上述の電位から下降
し、そして、c点の電位がd点の電位に達する
と、OPA15の出力端子は「H」レベルへ反転
し、点線で示す如く、d点の電位を上昇させると
共に、トランジスタ20を導通させる。依つて、
抵抗10と11の接続点をグランドGのレベルに
落すので、コンデンサ14の充電々荷が、抵抗1
1及びトランジスタ20を介して放電され、c点
の電位は上昇し、c点の電位が先に上昇したd点
の電位に達すると、OPA15の出力端子は再び
「L」レベルへ反転し、d点のレベルを初めの状
態に戻すと共に、トランジスタ20を遮断させ
る。すると、コンデンサ14が電流Ixにより再び
充電を開始され、c点の電位は再び下降して行
く。
以上の動作を繰り返えし、IRD22はOPA1
5の出力端子が「H」レベルへ反転して、トラン
ジスタ21が導通した時だけパルス点灯され、そ
の電流Ixがa′点の電圧Vの上昇に対応して逐時増
大しており、毎回のd点の電位までの充電時間が
速くなるので、その点滅の周期が速くなり、発光
の周波数は低周波数からBPF27及び28の中
心周波数0=16KHzに向つて高周波数になつて
行く。
5の出力端子が「H」レベルへ反転して、トラン
ジスタ21が導通した時だけパルス点灯され、そ
の電流Ixがa′点の電圧Vの上昇に対応して逐時増
大しており、毎回のd点の電位までの充電時間が
速くなるので、その点滅の周期が速くなり、発光
の周波数は低周波数からBPF27及び28の中
心周波数0=16KHzに向つて高周波数になつて
行く。
このIRD22の点灯による投射光は、測距対象
から反射してSPD23及び24で受光され、こ
の結果、e及びe′点の受光出力は、○ハに示す如
く、自然光による直流成分に重畳されて発生す
る。
から反射してSPD23及び24で受光され、こ
の結果、e及びe′点の受光出力は、○ハに示す如
く、自然光による直流成分に重畳されて発生す
る。
また、交流増幅回路25及び26の後の及び
′点の出力は○ヘに示す如く、増幅されて現われ
る。
′点の出力は○ヘに示す如く、増幅されて現われ
る。
更に、BPF27及び28後のg及びg′点の出力
は、その中心周波数を0=16KHzに設定してあ
るので、○ホに示す如く、○ニの波形を増幅したよう
に現われる。
は、その中心周波数を0=16KHzに設定してあ
るので、○ホに示す如く、○ニの波形を増幅したよう
に現われる。
更にまた、検波回路29及び30後のh及び
h′点の出力波形は、○ヘに示す如くになり、平滑回
路31及び32を経た直流増幅回路24及び25
後のj及びj′は、○トに示す如く、所定値から徐々
に上昇する。
h′点の出力波形は、○ヘに示す如くになり、平滑回
路31及び32を経た直流増幅回路24及び25
後のj及びj′は、○トに示す如く、所定値から徐々
に上昇する。
そして、第2図に示す如く、測距対象が近距離
位置に存在している場合には、a1,a2に示す
如く、反射光スポツトXが、SPD23に充分広
くかゝり、SPD24に極く狭くかゝるので、j
点の出力電圧Vjがj′点の出力電圧Vj′よりも充分
高いと共に、その出力電圧Vjが基準電圧Vr1に達
した時、CMP35の出力が「H」レベルへ反転
して、先の時間tの間「H」レベルの信号が与え
られているアンドゲート24が開いてその出力が
「H」レベルへ反転する。一方、その時点では、
j′点の出力電圧Vj′が基準電圧Vr3にも達していな
いので、CMP36及び37の出力は共に「H」
レベルのまゝである。従つて、アンドゲート42
の出力の「H」レベルの立上り信号をクロツクパ
ルスとするFF43及び44は、共に「H」レベ
ルの信号を読み込み、夫々の出力端子Q1及びQ2
に「H」レベルの信号を記憶し、またその立上り
信号をセツトパルスとするFF45は、出力端子
Q3が「H」レベルへ反転する。
位置に存在している場合には、a1,a2に示す
如く、反射光スポツトXが、SPD23に充分広
くかゝり、SPD24に極く狭くかゝるので、j
点の出力電圧Vjがj′点の出力電圧Vj′よりも充分
高いと共に、その出力電圧Vjが基準電圧Vr1に達
した時、CMP35の出力が「H」レベルへ反転
して、先の時間tの間「H」レベルの信号が与え
られているアンドゲート24が開いてその出力が
「H」レベルへ反転する。一方、その時点では、
j′点の出力電圧Vj′が基準電圧Vr3にも達していな
いので、CMP36及び37の出力は共に「H」
レベルのまゝである。従つて、アンドゲート42
の出力の「H」レベルの立上り信号をクロツクパ
ルスとするFF43及び44は、共に「H」レベ
ルの信号を読み込み、夫々の出力端子Q1及びQ2
に「H」レベルの信号を記憶し、またその立上り
信号をセツトパルスとするFF45は、出力端子
Q3が「H」レベルへ反転する。
また、測距対象が中距離位置に存在している場
合には、b1,b2に示す如くになり、同様の動
作で出力電圧Vj′がVr2<Vr3の間に在るので、
FF43の出力Q1は「H」レベルの信号を、他方
FF44の出力端子Q2は「L」レベルの信号を
夫々記憶し、またFF45の出力端子Q3は「H」
レベルへ反転する。
合には、b1,b2に示す如くになり、同様の動
作で出力電圧Vj′がVr2<Vr3の間に在るので、
FF43の出力Q1は「H」レベルの信号を、他方
FF44の出力端子Q2は「L」レベルの信号を
夫々記憶し、またFF45の出力端子Q3は「H」
レベルへ反転する。
更に、測距対象が遠距離への境界位置に存在し
ていた場合には、c1,c2において実線で示す
如く、反射光スポツトXがSPD23及び24に
ほゞ等分にかゝり、従つて、その出力電圧Vj及
びVj′はほゞ等しく、その判別時点では、出力電
圧Vj′が基準電圧Vr2よりも高くなつているので、
FF43及び44の夫々出力端子Q1及びQ2は
「L」レベルの信号を記憶し、またFF45の出力
端子Q3は「H」レベルへ反転する。
ていた場合には、c1,c2において実線で示す
如く、反射光スポツトXがSPD23及び24に
ほゞ等分にかゝり、従つて、その出力電圧Vj及
びVj′はほゞ等しく、その判別時点では、出力電
圧Vj′が基準電圧Vr2よりも高くなつているので、
FF43及び44の夫々出力端子Q1及びQ2は
「L」レベルの信号を記憶し、またFF45の出力
端子Q3は「H」レベルへ反転する。
更にまた、測距対象が極遠距離位置に存在して
いた場合には、c1,c2において鎖線で示す如
く、反射光スポツトX′がSPD24の方に広く
かゝるが、極遠距離のため、出力電圧Vjは先の
時間t内には基準電圧Vr1に達せず(測距対象が
反射率の小さいものゝ場合も同様になることがあ
る)、CMP35の出力が「L」レベルのまゝであ
り、その時間tが終了すると、アンドゲート42
がゲートを閉じるので、FF45はセツトされず、
出力端子Q3が「L」レベルのまゝの状態に保持
される。
いた場合には、c1,c2において鎖線で示す如
く、反射光スポツトX′がSPD24の方に広く
かゝるが、極遠距離のため、出力電圧Vjは先の
時間t内には基準電圧Vr1に達せず(測距対象が
反射率の小さいものゝ場合も同様になることがあ
る)、CMP35の出力が「L」レベルのまゝであ
り、その時間tが終了すると、アンドゲート42
がゲートを閉じるので、FF45はセツトされず、
出力端子Q3が「L」レベルのまゝの状態に保持
される。
なお、この時は、アンドゲート42の出力が
「H」レベルへ反転することはないので、FF43
及び44は読み込み動作を行わない。
「H」レベルへ反転することはないので、FF43
及び44は読み込み動作を行わない。
即ち、第3図の真理値の図表に示す如く、FF
43及び44の出力端子Q1及びQ2の信号レベル
状態により近、中及び遠距離を判別するように設
定されているものであり、更に、FF45の出力
端子Q3が「L」レベルの時は、FF43及び44
による判別に優先して遠距離を判別するように設
定されるものである。
43及び44の出力端子Q1及びQ2の信号レベル
状態により近、中及び遠距離を判別するように設
定されているものであり、更に、FF45の出力
端子Q3が「L」レベルの時は、FF43及び44
による判別に優先して遠距離を判別するように設
定されるものである。
また、第1図のCMP36及び37への基準電
圧は、固定バイアスであり、出力電圧Vj′と出力
電圧Vjとは絶対値比較が行われている。
圧は、固定バイアスであり、出力電圧Vj′と出力
電圧Vjとは絶対値比較が行われている。
第4図の実施例は、CMP36及び37への基
準電圧が変動する出力電圧Vjを分割する形で与
えられ、従つて、出力電圧Vj′は出力電圧Vjに対
する割合の量として比較が行われる。なお、分圧
回路のVbは、例えば、IRD22を動作させてい
ない時のSPD23或は24の受光出力回路の通
常の電圧レベルがバイアスされている。
準電圧が変動する出力電圧Vjを分割する形で与
えられ、従つて、出力電圧Vj′は出力電圧Vjに対
する割合の量として比較が行われる。なお、分圧
回路のVbは、例えば、IRD22を動作させてい
ない時のSPD23或は24の受光出力回路の通
常の電圧レベルがバイアスされている。
また、第1図の回路動作では、CMP35の出
力が「H」レベルへ反転した時、出力電圧Vj′の
状態を判別する訳けであるが、アンドゲート42
以下の累積される動作遅れ時間により、その判別
に精度を欠く場合が起り得る。
力が「H」レベルへ反転した時、出力電圧Vj′の
状態を判別する訳けであるが、アンドゲート42
以下の累積される動作遅れ時間により、その判別
に精度を欠く場合が起り得る。
これに対し、第4図の実施例の特徴は、上述の
如く、割合の量、即ち、出力電圧Vj′は出力電圧
Vjに対する比で判別されるので、前実施例より
も精度の向上が計れるものである。
如く、割合の量、即ち、出力電圧Vj′は出力電圧
Vjに対する比で判別されるので、前実施例より
も精度の向上が計れるものである。
なお、上述の測距出力の段数は増減可能であ
り、更に、FF45により遠距離を判別した場合、
伴せて警報を発するようにすることもできる。
り、更に、FF45により遠距離を判別した場合、
伴せて警報を発するようにすることもできる。
以上の如く、本発明は、受光素子出力の対数圧
縮や増幅回路の自動利得調整を行うことなく、発
光素子の発光周波数を変化させる簡単な構成によ
り安定した動作で測距状態を判別することができ
るものである。
縮や増幅回路の自動利得調整を行うことなく、発
光素子の発光周波数を変化させる簡単な構成によ
り安定した動作で測距状態を判別することができ
るものである。
第1図は本発明の一実施例を示した回路図、第
2図は受光素子に対する反射光スポツトの状態と
出力電圧の関係を示した説明図、第3図は測距出
力の一例を示した真理値の図表、第4図は本発明
の他の実施例を示した部分回路図である。 1……時間形成回路、7,13及び15……演
算増幅回路、22……赤外線発光ダイオード、2
3及び24……シリコンホトダイオード、25及
び26……交流増幅回路、27及び28……帯域
フイルター回路、29及び30……検波回路、3
1及び32……平滑回路、33及び34……直流
増幅回路、35,36及び37……コンパレータ
回路、X及びX′……反射光スポツト。
2図は受光素子に対する反射光スポツトの状態と
出力電圧の関係を示した説明図、第3図は測距出
力の一例を示した真理値の図表、第4図は本発明
の他の実施例を示した部分回路図である。 1……時間形成回路、7,13及び15……演
算増幅回路、22……赤外線発光ダイオード、2
3及び24……シリコンホトダイオード、25及
び26……交流増幅回路、27及び28……帯域
フイルター回路、29及び30……検波回路、3
1及び32……平滑回路、33及び34……直流
増幅回路、35,36及び37……コンパレータ
回路、X及びX′……反射光スポツト。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 発光素子から発せられた光を測距対象に向け
て投射し、その反射光を隣接配置された二つの受
光素子で受光する三角測距方式の測距装置におい
て、前記発光素子をパルス点灯させると共に、前
記受光素子の出力を処理する回路系に帯域フイル
ター回路を設け、一定時間内において該発光素子
の発光周波数を該帯域フイルター回路の中心周波
数に向けて変化させ、前記一方の受光素子回路の
出力がある設定値に達した時点で、前記他方の受
光素子回路の出力状態を判別するようにしたこと
を特徴とする測距装置。 2 発光素子から発せられた光を測距対象に向け
て投射し、その反射光を隣接配置された二つの受
光素子で受光する三角測距方式の測距装置におい
て、前記発光素子をパルス点灯させると共に、前
記受光素子の出力を処理する回路系に帯域フイル
ター回路を設け、一定時間内において該発光素子
の発光周波数を該帯域フイルター回路の中心周波
数に向けて変化させ、前記一方の受光素子回路の
出力がある設定値に達した時の、前記他方の受光
素子回路の出力を、該一方の受光素子回路の出力
に対する所定の割合の量と比較して判別するよう
にしたことを特徴とする測距装置。 3 他方の受光素子回路の出力を複数のレベルと
比較するようにしたことを特徴とする特許請求の
範囲第1項または第2項に記載の測距装置。 4 一定時間内に一方の受光素子回路の出力があ
る設定値に達しない時は、測距出力を遠距離とし
て判別するようにしたことを特徴とする特許請求
の範囲第1項または第2項に記載の測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58032587A JPS59159009A (ja) | 1983-02-28 | 1983-02-28 | 測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58032587A JPS59159009A (ja) | 1983-02-28 | 1983-02-28 | 測距装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59159009A JPS59159009A (ja) | 1984-09-08 |
| JPH0226728B2 true JPH0226728B2 (ja) | 1990-06-12 |
Family
ID=12362994
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58032587A Granted JPS59159009A (ja) | 1983-02-28 | 1983-02-28 | 測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59159009A (ja) |
-
1983
- 1983-02-28 JP JP58032587A patent/JPS59159009A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59159009A (ja) | 1984-09-08 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0226728B2 (ja) | ||
| JPH01219512A (ja) | 測距装置 | |
| JPH0226727B2 (ja) | ||
| JPH0226726B2 (ja) | ||
| CN100501325C (zh) | 测距装置 | |
| JPH056645B2 (ja) | ||
| JPS5990012A (ja) | 距離測定装置 | |
| JPH056646B2 (ja) | ||
| JPH0675131B2 (ja) | ゾーンフォーカスカメラの測距装置 | |
| JPH0550686B2 (ja) | ||
| JPH0342609B2 (ja) | ||
| JPH0365522B2 (ja) | ||
| JPS61151481A (ja) | サイリスタのdv/dt耐量測定方法 | |
| JP3283569B2 (ja) | 光電スイッチ及び光電スイッチ制御装置 | |
| KR950006886Y1 (ko) | 콘덴서 용량 측정회로 | |
| JPS58150879A (ja) | 測距装置 | |
| JPS6177711A (ja) | オ−トフオ−カス装置 | |
| KR0126021Y1 (ko) | 자동 초점 조절회로의 a/d 변환회로 | |
| SU390665A1 (ru) | УСТРОЙСТВО дл ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ЗАПОЛНЕНИЯ ПРЯМОУГОЛЬНЫХ ИМПУЛЬСОВ | |
| JPS5920151B2 (ja) | アナログ乗除算回路 | |
| JPH0578767B2 (ja) | ||
| JP2763800B2 (ja) | 測距装置 | |
| JPS6160362B2 (ja) | ||
| JPS62151816A (ja) | 自動焦点検出装置 | |
| JPH04339208A (ja) | 距離検出装置 |