JPH056645B2 - - Google Patents

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JPH056645B2
JPH056645B2 JP18777383A JP18777383A JPH056645B2 JP H056645 B2 JPH056645 B2 JP H056645B2 JP 18777383 A JP18777383 A JP 18777383A JP 18777383 A JP18777383 A JP 18777383A JP H056645 B2 JPH056645 B2 JP H056645B2
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light
common electrode
distance measuring
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Masaaki Takagi
Yukio Yoshikawa
Tomio Kurosu
Toyonori Sasaki
Kunio Matsumoto
Akita Namioka
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Nidec Precision Corp
Original Assignee
Nidec Copal Corp
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Publication date
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Publication of JPH056645B2 publication Critical patent/JPH056645B2/ja
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C3/00—Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
    • G01C3/10—Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders using a parallactic triangle with variable angles and a base of fixed length in the observation station, e.g. in the instrument

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  • Remote Sensing (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Focusing (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、カメラ等に用いられる測距装置であ
つて、発光素子から発せられた光を測距対象に向
けて投射し、その反射光を共通電極及び一対の検
出用電極を有する半導体光位置検出素子で受光す
る三角測距方式の測距装置の改良に関する。
従来、上述のような方式の測距装置としては、
特開昭57−177107号公報等により提案されてい
る。
一般に、発光素子より投射した光の測距対象か
らの反射光を受光素子で受光して測距する場合、
その反射光強度は、測距対象の反射率、距離等に
よつて、千倍以上の差を生じる。従つて、受光素
子の出力を増幅する増幅回路は、60dB以上のダ
イナミツクレンジが必要となる。
そのダイナミツクレンジを広くする方法として
は、受光素子出力の対数圧縮や増幅回路の自動利
得調整が考えられるが、前者では、受光々量が大
きく受光素子間の出力差が小さい時に、S/Nが
悪くなる欠点があり、また後者では、フイードバ
ツク系が必要で、発振等の不安定要素が増大する
欠点があつた。
そこで、本発明の目的は、上記従来例の欠点を
伴わず、簡単な手段で、受光素子の出力を見掛上
零或は微少値から徐々に増大させて、比較回路の
判別し易いある設定値に達した時に測距状態を判
別させるようにした測距装置を提供するものであ
る。
以下、図面に基づいて本発明の実施例を説明す
る。
先ず、第1図において、1はクロツクパルス発
生回路(発振周波数f0=16KHzであり、以下OSC
と記述する)、2は時間形成回路(時間t=
25ms)、3はアンドゲーと、4はトランジスタ、
5はインバータ、6はトランジスタ、7は定電流
回路、8はコンデンサ、9はバツフア回路、1
0,11及び12は定電流回路を構成するトラン
ジスタ、13は測距対象へスポツト光を投射する
発光素子としての赤外線発光ダイオード(以下
IRDと記述する)である。
14は半導体光位置検出素子で、比較的大きな
面を有する半導体基板15をもち、その半導体基
板15の一方の面に該基板15と異なる導電型の
半導体層16が形成されている。そして、半導体
層16の上には抵抗層17が形成されていると共
に、該抵抗層17の両端に一対の電極(検出用)
17a,17bが設けられ、また半導体基板15
には共通電極18が設けられている。
19及び20は夫々交流増幅回路、21及び2
2は夫々帯域フイルター回路(中心周波数f0=
16KHzであり、以下BPFと記述する)、23及び
24は夫々検波回路、25及び26は夫々平滑回
路、27及び28は夫々直流増幅回路、29,3
0及び31は夫々コンパレータ回路(以下CMP
と記述する)、32は定電流回路、33,34及
び35は夫々CMP29の反転入力端子(−)及
びCMP30,31の非反転入力端子(+)に基
準電圧Vr1及びVr2,Vr3を与える分圧抵抗、36
はアンドゲート、37及び38は夫々Dタイプの
フリツプフロツプ回路、39はR,Sタイプのフ
リツプフロツプ回路(なお、フリツプフロツプ回
路は、以下共通してFFと記述する。)であり、
夫々図示の如く接続されている。
次に、第1図の動作を第2図と共に説明する。
操作の開始によつて、図示していない電源スイ
ツチが閉成されると、回路の各部に給電が行われ
ると共に、FF37,38及び39はリセツトが
解除される。
そして、OSC1が動作して62.5μsの周期のクロ
ツクパルスが発生すると共に、時間形成回路2の
出力がt=25msの時間だけ「H」レベルへ反転
する。
従つて、その時間だけクロツクパルスがアンド
ゲート3を通過し、それに対応してトランジスタ
4が導通遮断を繰返す。
一方、時間形成回路2の出力が25msの時間
「H」レベルへ反転している間、インバータ5の
出力が「L」レベルへ反転し、トランジスタ6が
遮断するので、コンデンサ8は定電流回路7によ
り定電流充電され、その定電流をI、コンデンサ
8の容量をCとすると、バルフア回路9の出力端
子a点の電圧Vは、V=(1/C)I、tの関係
式により、○イで示す如く上昇する。この結果、ト
ランジスタ10に流れるコレクタ・エミツタ電流
(i1)が徐々に増加して行き、その電流(i1)に比
例してトランジスタ12おコレクタ・エミツタ電
流(i2)も増加して行くことになる。
従つて、トランジスタ4の導通、遮断に対応し
て、トランジスタ12のその電流(i2)が○ロで示
す如く、間欠的に増加して行き、IRD13はパル
ス点灯されると共に、その発光々量が小光量から
大光量へ単調増加して行く。
このIRD13の点灯による投射光は、測距対象
から反射して半導体光位置検出素子14で受光さ
れる。
こゝで、電極(検出用)17aと17bの間に
反射光スポツトXが当ると、抵抗層17を介して
入射点から電極17aへ電流I1、電極17bへ電
流I2が、また共通電極へ電流I3が夫々流れ、それ
らの間に次の関係が成立する。
I3=I1+I2 そして、抵抗層17の抵抗を一様にしておけ
ば、反射光スポツトXの入射点と電極17aの間
の距離をl1、入射点と電極17bの間の距離をl2
とすると、l1・I1=l2・I2なる関係が成立する。
この条件に基づき、c及びc′点の受光出力は、
○ハに示す如く、自然光による直流成分に重畳され
て発生する。
また、交流増幅回路19及び20後のd及び
d′点の出力は、○ニに示す如く、増幅されて現われ
る。
更に、BPF21及び22後のe及びe′点の出力
は、その中心周波数f0とOSC1の発振周波数f0と
を同じ値に設定してあるので、○ホに示す如く、○ニ
の波形を増幅したように現われる。
更にまた、検波回路23及び24後のf及び
f′点の出力波形は、○ヘに示す如くになり、平滑回
路25及び26を経た直流増幅回路27及び28
後のg及びg′点の出力電圧Vg及びVg′は、○トに示
す如く、所定値から徐々に上昇する。
そして、第2図に示す如く、測距対象が近距離
位置に存在している場合には、a1,a2に示す
如く、反射光スポツトXが、半導体光位置検出素
子14に対し大きく左側に片寄りl1≪l2の状態に
なるので、g点の出力電圧Vgがg′点の出力電圧
Vg′よりも充分高いと共に、その出力電圧Vgが
基準電圧Vr1に達した時、CMP29の出力が
「H」レベルへ反転して、先の時間tの間「H」
レベルの信号が与えられていたアンドゲート36
が開いてその出力が「H」レベルへ反転する。一
方、その時点では、g′点の出力電圧Vg′が基準電
圧Vr3にも達していないので、CMP30及び31
の出力は共に「H」レベルのまゝである。従つ
て、アンドゲート36の出力の「H」レベルへの
立上り信号をクロツクとするFF37及び38は、
共に「H」レベルの信号を読み込み、夫夫の出力
端子Q1及びQ2に「H」レベルの信号を記憶し、
またその立上り信号をセツトパルスとするFF3
9は、出力端子Q3が「H」レベルへ反転する。
また、測距対象が中距離位置に存在している場
合には、第2図b1,b2に示す如く、反射光スポツ
トXが、半導体光位置検出素子14に対し左側に
片寄つてl1<l2の状態にあり、同様の動作で出力
電圧Vg′がVr2<Vr3の間に在るので、FF37の
出力端子Q1は「H」レベルの信号を、他方FF3
8の出力端子Q2は「L」レベルの信号を夫々記
憶し、またFF39の出力端子Q3は「H」レベル
へ反転する。
更に、測距対象が遠距離への境界位置に存在し
ていた場合には、第2図c1,c2において実線で示
す如く、反射光スポツトXが半導体光位置検出素
子14に対しほぼ中央に当つてl1≒l2の状態にあ
るので、その出力電圧Vg及びVg′はほぼ等しく、
その判別時点では、出力電圧Vg′が基準電圧Vr2
よりも高くなつているので、FF37及び38の
夫々の出力端子Q1及びQ2は「L」レベルの信号
を記憶し、またFF39の出力端子Q3は「H」レ
ベルへ反転する。
更にまた、測距対象が極遠距離位置に存在して
いた場合には、c1,c2において鎖線で示す如く、
反射光スポツトX′が、半導体光位置検出素子1
4に対し右側に片寄つてl1>l2の状態にあるが、
極遠距離のため、出力電圧Vgは先の時間t内に
は基準電圧Vr1に達せず(測距対象が反射率の小
さいものゝ場合も同様になることがある)、CMP
29の出力が「L」レベルのままであり、その時
間tが終了するとアンドゲート36がゲートを閉
じるので、FF39はセツトされず、出力端子Q3
が「L」レベルのまゝの状態に保持される。
なお、この時は、アンドゲート36の出力が
「H」レベルへ反転することはないので、FF37
及び38は読み込み動作を行わない。
即ち、第3図の真理値の図表に示す如く、FF
37及び38の出力端子Q1及びQ2の信号レベル
状態により近、中及び遠距離を判別するように設
定されているものであり、更に、FF39の出力
端子Q3が「L」レベルの時は、FF37及び38
による判別に優先して遠距離を判別するように設
定されるものである。
また、第1図のCMP30及び31への基準電
圧は、固定バイアスであり、出力電圧Vg′と出力
電圧Vgとは絶対値比較が行われている。
第4図の実施例は、CMP30及び31への基
準電圧が、変動する出力電圧Vgを分割する形で
与えられ、従つて、出力電圧Vg′は、出力電圧
Vgに対する割合の量として比較が行われる。な
お、分圧回路のVbは、例えば、IRD13を動作
させていない時の半導体光位置検出素子14の受
光素子出力回路の通常の電圧レベルがバイアスさ
れている。
また、第1図の回路動作では、CMP29の出
力が「H」レベルへ反転した時、出力電圧Vg′の
状態を判別する訳けであるが、アンドゲート36
以下の累積される動作遅れ時間により、その判別
に精度を欠く場合が起り得る。
これに対し、第4図の実施例の特徴は、上述の
如く、割合の量、即ち、出力電圧Vg′は出力電圧
Vgに対する比で判別されるで、前実施例よりも
精度の向上が計れるものである。
なお、上述の測距出力の段数は増減可能であ
り、また、FF39により遠距離を判別した場合、
併せて警報を発するようにすることもできる。
上述の実施例は、測距出力を、基準電圧Vr2,
Vr3のレベル及び段数に応じてデジタル的に得る
ものであるが、以下測距出力を更に細分割化して
得られる実施例について説明する。
先ず、第5図及び第6図によりその一番目のも
のを説明する。なお、前実施例と同一の素子には
同じ符号を付している。
第5図において、41はコンパレータ回路、4
2及び43はコンパレータ回路41の反転入力端
子(−)に基準電圧Vrを与える定電流回路及び
抵抗、44はアンドゲート、45はアナログスイ
ツチ、46はインバータ、47はコンデンサ、4
8は電流増幅回路、49はコンパレータ回路(な
お、コンパレータ回路は、以下共通してCMPと
記述する。)、50及び51はCMP49の非反転
入力端子(+)に撮影レンズの可動範囲における
一方の極限位置から他方の極限位置への移動に対
応した変位電圧を与える定電流回路及びポテンシ
ヨメータ、52はR,Sタイプのフリツプフロツ
プ回路(以下FFと記述する)、53はアンドゲー
ト、54はトランジスタ、55は撮影レンズの操
作部材(レンズセツトリング)の運動を停止させ
る電磁石である。
次に、第6図において、56はレンズセツトリ
ングで、光軸を中心にして回動自在に配置され、
且つバネ57により右旋性が与えられ、その右旋
により撮影レンズを無限遠位置から至近距離位置
方向へと変位移動させるものであり、また、段部
56aとラチエツト歯56bとを形成している。
58はレンズ駆動のレリーズ用の電磁石で、鉄芯
58aとコイル58bと永久磁石58cとにより
構成されている。59は軸60に枢着されている
と共にバネ61より左旋性が与えられているレリ
ーズ用の鉄片レバーであり、レンズセツトリング
56の段部56aに係合し得るフツク59aと電
磁石58の鉄芯58aに対向する鉄片59bとを
形成している。62はピンで、鉄片レバー59の
左旋量を制限している。63は軸64に枢着され
バネ65により右旋性が与えられているロツク用
の鉄片レバーで、レンズセツトリング56のラチ
エツト歯56bに係合し得るフツク63aと、第
5図におけるものと同じものである電磁石55に
対向する鉄片63bとを形成している。
なお、第5図におけるポテンシヨメータ51
は、第6図に示す如く、レンズセツトリング56
に支持されたブラシ51aと、基板51b上に形
成された抵抗体51cと導体51dとにより構成
されている。
そこで、第5図及び第6図の動作を第2図(〔〕
内の電圧参照)と共に説明する。
上述と同様に、第2図a1,a2の状態では、
g点の出力電圧Vgがg′点の出力電圧Vg′よりも充
分高いと共に、g及びg′点の電位はその関係を保
ちながら上昇する。
また、この段階では、アンドゲート44がゲー
トを閉じていてインバータ46の出力が「H」レ
ベルであるので、アナログスイツチ45が開いて
おり、コンデンサ47はg′点の出力電圧Vg′によ
り充電されて行く。
そして、g点の出力電圧Vgが基準電圧Vrに達
すると、CMP41は出力が「H」レベルへ反転
し、この結果、先の時間tの間「H」レベルの信
号が与えられているアンドゲート44は開いてそ
の出力が「H」レベルへ反転し、FF52をセツ
トしてその出力Qを「H」レベルに反転保持させ
ると共に、インバータ46の出力を「L」レベル
へ反転させてアナログスイツチ45を閉じさせ
る。従つて、コンデンサ47には、g点の出力電
圧Vgが基準電圧Vrに達した時のg′点の出力電圧
Vg′(V1)が記憶される。またその電圧V1は、電
流増幅回路48で増幅され、CMP49の反転入
力端子(−)に与えられる。
なお、CMP49は、非反転入力端子(+)に
入力電圧を与えるポテンシヨメータ51が初期状
態では高電位側に位置しているので、初期の出力
状態は「H」レベルに置かれている。
従つて、アンドゲート53は、ゲートを開いて
トランジスタ54を導通させているので、電磁石
55は励磁していて鉄片レバー63を吸着保持し
ている。
そして、先の時間tの終了後に、図示していな
い回路動作により電磁石58のコイル58bが、
永久磁石58cの磁力を打ち消す方向にパルス駆
動されると、鉄片レバー59はバネ61の張力に
より左旋し、フツク59aがレンズセツトリング
56の段部56aから外れる。その結果、該リン
グ56はバネ57の張力により右旋を開始して、
撮影レンズを無限遠位置から至近距離位置方向へ
変位移動させると共に、ブラシ51aを、抵抗体
51c上と導体51d上とで摺動させて、ポテン
シヨメータ51を高電位側から低電位側へ変位移
動させる。
そして、CMP49の非反転入力端子(+)の
電位が反転入力端子(−)の電位まで低下する
と、CMP49はその出力が「L」レベルへ反転
してアンドゲート53を閉じさせる。その結果、
トランジスタ54が遮断して電磁石55が消磁す
るので、鉄片レバー63がバネ65の張力により
右旋し、フツク63aがラチエツト歯56bの一
つに噛合して、レンズセツトリング56の右旋を
停止させて撮影レンズが所定位置に固定されるも
のである。
また、測距対象がもう少し遠い位置に存在して
いる場合には、例えば第2図b1,b2に示す如
くなり、上述の記憶電圧V1相当するものが電圧
V2に変化する。
更に、測距対象が更に遠い位置に存在している
場合には、例えば第2図C1,C2において実線
で示す如くなり(反射光スポツトXが半導体光位
置検出素子6のほゞ中央に当つた場合)、上述の
記憶電圧V1に相当するものが電圧V3に変化する。
更にまた、測距対象が極遠距離位置に存在して
いた場合には、第2図C1,C2において鎖線で
示す如く、反射光スポツトX′が半導体光位置検
出素子6に対し右側に片寄るが、極遠距離のた
め、出力電圧Vgは先の時間t内では基準電圧Vr
に達せず(測距対象が反射率の小さいものの場合
も同様になることがある)、CMP41の出力が
「L」レベルのまゝであり、その時間tが終了し
て時間形成回路2の出力が「L」レベルへ復帰し
てしまうと、アンドゲート44の出力は「H」レ
ベルへ反転できなくなる。従つて、FF52は、
セツトされず出力Qが「L」レベルの状態に保持
されて、アンドゲート53を閉じさせたまゝにす
る。
この結果、電磁石55は初期状態から励磁され
ておらず、鉄片レバー63を吸着していないの
で、上述の動作と同様に、レンズセツトリング5
6が右旋して、ラチエツト歯56bの最初の歯が
フツク63aに対向した時、鉄片レバー63は直
ちに右旋し、フツク63aがラチエツト歯56b
に噛合し、レンズセツトリング56の右旋を停止
させ、撮影レンズを無限遠位置に固定させるもの
である。
次に、第7図及び第8図により他の実施例につ
いて説明する。なお、前実施例と同一の素子には
同じ符号を付している。
66,67はCMP、68,69及び70は定
電流回路、抵抗及びポテンシヨメータ、71,7
2及び73はナンドゲート、(なお、以上の素子
と、電流増幅回路48の出力電圧を入力とし、ナ
ンドゲート72,73の状態を出力とする関係で
ウインドコンパレータ回路を構成している。)7
4はアンドゲート、75はオアゲート、76はイ
ンバータ、77〜80はトランジスタ、81はモ
ータである。
82はレンズセツトリングで、光軸を中心にし
て回動自在に配置され、部分ギヤ82aを形成し
ている。83はピニオンで、第7図のものと同じ
ものであるモータ81の回転軸に固着されてい
る。84は中間ギヤで、ピニオン83とレンズセ
ツトリング82の部分ギヤ82aとに噛合してい
る。
なお、第7図におけるポテンシヨメータ70
は、第8図に示す如く、レンズセツトリング82
に支持されたブラシ70aと、基板70b上に形
成された抵抗体70cと導体70dとにより構成
されている。
上述の如く、電流増幅回路48の出力電圧は、
極遠距離等は別にして、測距対象が近、中、遠と
遠くなるに従つて高くなるように設定されてい
る。
そして、ウインドコンパレータ回路である関係
から、電流増幅回路48の出力電圧Vxが、CMP
66の非反転入力端子(+)の電圧Vyよりも高
ければ、CMP66の出力は「L」レベルで、
CMP67の出力は「H」レベルであるから、ナ
ンドゲート71の出力が「H」レベルとなつて、
ナンドゲート72の出力が「H」レベルで、ナン
ドゲート58の出力が「L」レベルとなる。
一方、出力電圧Vxが、CMP67の反転入力端
子(−)の電圧Vzよりも低くければ、CMP66
の出力は「H」レベルで、CMP67の出力は
「L」レベルであるから、その後の出力状態は前
述とは逆の関係になる。
上述のいずれの場合も、モータ駆動回路の両入
力に差が生じているので、夫々の方向に対応して
モータ81が回転し、レンズセツトリング82を
駆動する。
また、出力電圧Vxが、Vy>Vx>Vzの関係に
置かれた場合には、CMP66及び67の出力は
共に「H」レベルとなつてナンドゲート71の出
力が「L」レベルとなるので、ナンドゲート72
及び73の出力は共に「H」レベルとなり、この
時はモータ駆動回路の両入力が同電位であるか
ら、モータ81は回転しない。
即ち、モータ81の回転により駆動されるレン
ズセツトリング82の運動に連動してポテンシヨ
メータ70が操作されることにより、その時の出
力電圧Vxに対して電圧VyとVzを変化させ、Vy
>Vx>Vzの関係位置を検出させて、撮影レンズ
を所定位置に固定させるものである。
更に、上述の如く、FF52がセツトされず、
出力Qが「L」レベルのまゝの時は、アンドゲー
ト74の出力が「L」レベルで、オアゲート75
の出力が「H」レベルに保持され、出力電圧Vx
が高い時と同じであるか、撮影レンズは極遠距離
位置側へ駆動される。
なお、この時は、Vy>Vx>Vzの状態を検出
する動作は無関係となつて、モータ81には撮影
レンズを極遠距離側へ駆動する電流が流れ続ける
ことになるので、リミツターを設けておくことが
好ましい。
次に、第9図により他の実施例について説明す
る。なお、前記実施例と同一の素子には同じ符号
を付している。
86は例えば4ビツトのA/Dコンバータ回
路、87〜90はアンドゲート、91は例えば4
ビツトのマグニチユードコンパレータ回路、92
はモータ駆動回路、93はその回転によりレンズ
セツトリングを駆動するモータ、94はモータ9
3の回転量をデジタル化する例えば4ビツトのエ
ンコーダである。
電流増幅回路48の出力電圧のアナログ量は、
A/Dコンバータ回路86で四つの出力端子によ
り、「L」,「L」,「L」,「L」から「H」,「H
」,
「H」,「H」,までの16段階のデジタル量の一つに
符号化され、その16段階は、例えば、極遠距離位
置から至近距離位置までを16分割している。
従つて、A/Dコンバータ回路86の出力は、
アンドゲート87〜90を通してマグニチユード
コンパレータ回路91に入力される。そして、モ
ータ駆動回路92によりモータ93が回転させら
れることによつてレンズセツトリングが駆動され
る。その結果、撮影レンズは無限遠位置から至近
距離位置方向へ変位移動させられる。そして、モ
ータ93の回転量をデジタル量を変換するエンコ
ーダ94の出力が該コンパレータ回路91の入力
と一致した時にモータ93が停止して、撮影レン
ズが所定位置に固定されるものである。
また、上述の如く、FF52がセツトされず、
出力Qが「L」レベルのまゝの時は、アンドゲー
ト87〜90の出力が共に「L」レベルに保持さ
れて、上述の極遠距離状態と同じであるので、撮
影レンズは無限遠位置で固定される。
なお、夫々の実施例において、FF52がセツ
トされず、遠距離状態を設定する場合は、併せて
警報を発するようにすることもできる。
以上の如く、本発明は、受光素子出力の対数圧
縮や増幅回路の自動利得調整を行うことなく、発
光素子の発光々量を小光量から大光量へ単調増加
させる簡単な構成により安定した動作で測距状態
を判別することができるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示した回路図、第
2図は受光素子に対する反射光スポツトの状態と
出力電圧の関係を示した説明図、第3図は測距出
力の一例を示した真理値の図表、第4図、第5
図、第7図及び第9図は夫々本発明の他の実施例
を示した部分回路図、第6図及び第8図は夫々第
5図及び第7図に対応した撮影レンズの駆動機構
の一例を示した説明図である。 1……クロツクパルス発生回路、2……時間形
成回路、9……バツフア回路、13……赤外線発
光ダイオード、14……半導体光位置検出素子、
17a,17b……電極(検出用)、18……共
通電極、19及び20……交流増幅回路、21及
び22……帯域フイルター回路、23及び24…
…検波回路、25及び26……平滑回路、27及
び28……直流増幅回路、48……電流増幅回
路、51及び70……ポテンシヨメータ、55…
…電磁石、56及び82……レンズセツトリン
グ、81及び93……モータ、86……A/Dコ
ンバータ回路、91……マグニチユードコンパレ
ータ回路、92……モータ駆動回路、94……エ
ンコーダ、X及びX′……反射光スポツト。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 発光素子から発せられた光を測距対象に向け
    て投射し、その反射光を共通電極及び一対の検出
    用電極を有する半導体光位置検出素子で受光する
    三角測距方式の測距装置において、前記発光素子
    の発光々量を一定時間内において小光量から大光
    量へ単調増加させ、前記半導体光位置検出素子に
    おける共通電極と一方の検出用電極間の出力があ
    る設定値に達した時点で、共通電極と他方の検出
    用電極間の出力の状態を判別するようにしたこと
    を特徴とする測距装置。 2 発光素子から発せられた光を測距対象に向け
    て投射し、その反射光を共通電極及び一対の検出
    用電極を有する半導体光位置検出素子で受光する
    三角測距方式の測距装置において、前記発光素子
    の発光々量を一定時間内において小光量から大光
    量へ単調増加させ、前記半導体光位置検出素子に
    おける共通電極と一方の検出用電極間の出力があ
    る設定値に達した時の、共通電極と他方の検出用
    電極間の出力を、該共通電極と一方の検出用電極
    間の出力に対する所定の割合の量と比較して判別
    するようにしたことを特徴とする測距装置。 3 共通電極と他方の検出用電極間の出力を複数
    のレベルと比較することを特徴とする特許請求の
    範囲第1項または第2項記載の測距装置。 4 一定時間内に共通電極と一方の検出用電極間
    の出力がある設定値に達しない時は、測距出力を
    遠距離として判別するようにしたことを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項または第2項記載の測距
    装置。 5 発光素子から発せられた光を測距対象に向け
    て投射し、その反射光を共通電極及び一対の検出
    用電極を有する半導体光位置検出素子で受光する
    三角測距方式の測距装置において、前記発光素子
    の発光々量を一定時間内において小光量から大光
    量へ単調増加させ、前記半導体光位置検出素子に
    おける共通電極と一方の検出用電極間の出力があ
    る設定値に達した時点で、共通電極と他方の検出
    用電極間の出力の状態を電圧値として記憶してコ
    ンパレータ回路の一方の入力端子に与え、その
    後、撮影レンズを可動範囲の一方の極限位置から
    他方への極限位置へ向けて駆動すると共に、該駆
    動々作に連動して前記コンパレータ回路の他方の
    入力端子の電位を一方の極限値から他方の極限値
    へ向けて掃引し、前記両入力端子の電位が一致し
    た時、前記撮影レンズの駆動を停止させるように
    したことを特徴とする測距装置。 6 発光素子から発せられた光を測距対象に向け
    て投射し、その反射光を共通電極及び一対の検出
    用電極を有する半導体光位置検出素子で受光する
    三角測距方式の測距装置において、前記発光素子
    の発光々量を一定時間内において小光量から大光
    量へ単調増加させ、前記半導体光位置検出素子に
    おける共通電極と一方の検出用電極間の出力があ
    る設定値に達した時点で、共通電極と他方の検出
    用電極間の出力の状態を電圧値として記憶してウ
    インドコンパレータ回路の一方の入力端子に与
    え、また、撮影レンズの可動範囲中の位置に対応
    した電位を前記ウインドコンパレータ回路の他方
    の入力端子に与え、該コンパレータ回路の出力端
    子間に接続されその入力電圧の不平衡の方向に対
    応して回転するサーボモータにより前記撮影レン
    ズを駆動し、前記両入力電圧の電位がある幅を持
    つ所定のしきい値内で一致した時、前記サーボモ
    ータの回転を停止させて、前記撮影レンズの駆動
    を停止させるようにしたことを特徴とする測距装
    置。 7 発光素子から発せられた光を測距対象に向け
    て投射し、その反射光を共通電極及び一対の検出
    用電極を有する半導体光位置検出素子で受光する
    三角測距方式の測距装置において、前記発光素子
    の発光々量を一定時間内において小光量から大光
    量へ単調増加させ、前記半導体光位置検出素子に
    おける共通電極と一方の検出用電極間の出力があ
    る設定値に達した時点で、共通電極と他方の検出
    用電極間の出力の状態の電圧値をデジタル値に変
    換して記憶し、その後、撮影レンズを可動範囲の
    一方の極限位置から他方の極限位置へ向けて駆動
    すると共に、該駆動の歩進量をエンコーダにより
    デジタル量を変換し、該デジタル量が前記記憶デ
    ジタル値と一致した時、前記撮影レンズの駆動を
    停止させるようにしたことを特徴とする測距装
    置。 8 一定時間内に共通電極と一方の検出用電極間
    の増幅された出力がある設定値に達しない時は、
    撮影レンズが優先して遠距離側の極限位置で停止
    されるようにしたことを特徴とする特許請求の範
    囲第5項または第6項または第7項記載の測距装
    置。
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