JPH02268374A - 細線化装置 - Google Patents
細線化装置Info
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- JPH02268374A JPH02268374A JP1091339A JP9133989A JPH02268374A JP H02268374 A JPH02268374 A JP H02268374A JP 1091339 A JP1091339 A JP 1091339A JP 9133989 A JP9133989 A JP 9133989A JP H02268374 A JPH02268374 A JP H02268374A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は画像処理に使用される細線化装置に関するもの
である。
である。
従来の技術
従来の細線化装置としては、例えば「田村秀行”多面的
画像処理とそのソフトウェア・システムに関する研究”
、電子技術総合研究所研究報告、Ｎｏ、８３５、Ｐ、４
２．１９８３」に示されている。
画像処理とそのソフトウェア・システムに関する研究”
、電子技術総合研究所研究報告、Ｎｏ、８３５、Ｐ、４
２．１９８３」に示されている。
第６図はこの従来の細線化装置のブロック図を示すもの
であり、１１は図形記憶部、１２は配列読出部である。
であり、１１は図形記憶部、１２は配列読出部である。
１３は第１周辺点判断部、１４は第２周辺点判断部、１
５は第３周辺点判断部、１ｅは第４周辺点判断部である
。１７は周辺点判断変換部、１８は最終点判断部である
。１９は最終点記憶部、２０は消去点記憶部である。２
１は処理完了判断部である。
５は第３周辺点判断部、１ｅは第４周辺点判断部である
。１７は周辺点判断変換部、１８は最終点判断部である
。１９は最終点記憶部、２０は消去点記憶部である。２
１は処理完了判断部である。
以上のように構成された従来の細線化装置において、そ
の動作を以下に説明する。
の動作を以下に説明する。
いま図形に含まれている画素の画素値を”１″、図形に
含まれていない画素の画素値を”０”とすると、細線化
処理過程において、ある画素の画素値を”１”から”Ｏ
”に変換することを”消去する”といい、消去してはな
らない画素のことを”最終点”と呼び、消去しなければ
ならない画素のことを”消去点”と呼ぶ。また最終点で
ある可能性がある画素のことを”周辺点”と呼ぶ。
含まれていない画素の画素値を”０”とすると、細線化
処理過程において、ある画素の画素値を”１”から”Ｏ
”に変換することを”消去する”といい、消去してはな
らない画素のことを”最終点”と呼び、消去しなければ
ならない画素のことを”消去点”と呼ぶ。また最終点で
ある可能性がある画素のことを”周辺点”と呼ぶ。
細線化処理は図形に含まれている各画素が消去点である
か最終点であるかを判断し、消去点ならば消去し、最終
点ならば細線化処理が完了するまで保持することによっ
て行われる。
か最終点であるかを判断し、消去点ならば消去し、最終
点ならば細線化処理が完了するまで保持することによっ
て行われる。
従来の細線化装置においては、図形記憶部１１は各画素
について濃淡及び最終点であるがないかを表す画素値を
２次元配列状に入力された図形を記憶している。但し、
初期状態では全ての画素は最終点でないとする。
について濃淡及び最終点であるがないかを表す画素値を
２次元配列状に入力された図形を記憶している。但し、
初期状態では全ての画素は最終点でないとする。
配列読出部１２は図形記憶部１１から任意の注目画素を
中心としてｍ×ｎ配列分の画素値を読み出しその結果を
第１周辺点判断部１３、第２周辺点判断部１４、第３周
辺点判断部１５、第４周辺点判断部１６と最終点判断部
、１８に送る。
中心としてｍ×ｎ配列分の画素値を読み出しその結果を
第１周辺点判断部１３、第２周辺点判断部１４、第３周
辺点判断部１５、第４周辺点判断部１６と最終点判断部
、１８に送る。
これより先の説明では、図形に含まれている画素の画素
値は”１”、図形に含まれていない画素の画素値は０”
とし、最終点であると判断された画素の画素値は”２”
とする。第１周辺点判断部１３は配列読出部１２から送
られた結果のうち前記注目画素を中心とした３×３配列
分の画素の画素値パターンと第７図（イ）に示したマス
ク３１とを比較して一致していれば信号を出し、一致し
ていなければ信号を出さない。但し、第７図（イ）〜（
ニ）において”Ｘ”は前記注目画素であり画素値は１”
であることを表し、空白は画素値がいくらであってもよ
いことを表す。同様に第２周辺点判断部１４は第７図（
ロ）に示したマスク３２と、第３周辺点判断部１５は第
７図（ハ）に示したマスク３３と、第４周辺点判断部１
６は第７図（ニ）に示したマスク３４と各々比較し、各
々マスクと一致していれば信号を出し、一致していなけ
れば信号を出さない。
値は”１”、図形に含まれていない画素の画素値は０”
とし、最終点であると判断された画素の画素値は”２”
とする。第１周辺点判断部１３は配列読出部１２から送
られた結果のうち前記注目画素を中心とした３×３配列
分の画素の画素値パターンと第７図（イ）に示したマス
ク３１とを比較して一致していれば信号を出し、一致し
ていなければ信号を出さない。但し、第７図（イ）〜（
ニ）において”Ｘ”は前記注目画素であり画素値は１”
であることを表し、空白は画素値がいくらであってもよ
いことを表す。同様に第２周辺点判断部１４は第７図（
ロ）に示したマスク３２と、第３周辺点判断部１５は第
７図（ハ）に示したマスク３３と、第４周辺点判断部１
６は第７図（ニ）に示したマスク３４と各々比較し、各
々マスクと一致していれば信号を出し、一致していなけ
れば信号を出さない。
周辺点判断変換部１７は初期状態では第１周辺点判断部
１３からの入力信号をそのまま出力信号として出すが、
配列読出部１２が１画面分の注目画素の読み出しを終え
るごとに出力信号とする入力信号を第２周辺点判断部１
４、第３周辺点判断部１５、第４周辺点判断部１６、そ
して再び第１周辺点判断部１３という順に切り換えてい
く。
１３からの入力信号をそのまま出力信号として出すが、
配列読出部１２が１画面分の注目画素の読み出しを終え
るごとに出力信号とする入力信号を第２周辺点判断部１
４、第３周辺点判断部１５、第４周辺点判断部１６、そ
して再び第１周辺点判断部１３という順に切り換えてい
く。
従って４画面分の注目画素の読み出しが終わって前記入
力図形全体の１回分の細線化処理が終了することになる
。
力図形全体の１回分の細線化処理が終了することになる
。
最終点判断部１８は周辺点判断変換部１７からの信号を
受けると前記配列読出部１２から送られた結果うち前記
注目画素を中心とした３×３配列分の画素の画素値パタ
ーンと第８図（イ）、（へ）〜（ワ）に示したマスク４
１．４８．４７．４８．４９．５０１５１．５２．５３
とを比較する。さらに前記配列読出部１２から送られた
結果のうち、前記注目画素が２行２列めの画素となる４
×４配列分の画素の画素値パターンと第８図（ロ）、（
ハ）、 （ホ）に示したマスク４２．４３．４５とを比
較する。最後に前記配列読出部１２から送られた結果の
うち、前記注目画素が３行２列めの画素となる４×４配
列分の画素の画素値パターンと第８図（ニ）に示したマ
スク４４とを比較する。
受けると前記配列読出部１２から送られた結果うち前記
注目画素を中心とした３×３配列分の画素の画素値パタ
ーンと第８図（イ）、（へ）〜（ワ）に示したマスク４
１．４８．４７．４８．４９．５０１５１．５２．５３
とを比較する。さらに前記配列読出部１２から送られた
結果のうち、前記注目画素が２行２列めの画素となる４
×４配列分の画素の画素値パターンと第８図（ロ）、（
ハ）、 （ホ）に示したマスク４２．４３．４５とを比
較する。最後に前記配列読出部１２から送られた結果の
うち、前記注目画素が３行２列めの画素となる４×４配
列分の画素の画素値パターンと第８図（ニ）に示したマ
スク４４とを比較する。
そしてこれら比較したマスクのうちのいずれかと一致し
ていれば前記注目画素を最終点と判断して画素値を”２
”にし、最終点記憶部１９に最終点と判断された前記注
目画素の画素位置を書き込む。
ていれば前記注目画素を最終点と判断して画素値を”２
”にし、最終点記憶部１９に最終点と判断された前記注
目画素の画素位置を書き込む。
またいずれとも一致していなければ前記注目画素を消去
点と判断して画素値を”０”にし、消去点記憶部２０に
消去点と判断された前記注目画素の画素位置を書き込む
。但し、第８図（イ）〜（ワ）において”Ｘ”は前記注
目画素であり画素値は”１”であることを表し、′ｙ”
は画素値が”１”または”２”であることを表す。′ａ
”は”ａ”で示した位置にある画素のうち少な（とも１
つの画素の画素値が”１”または”２”であることを表
す。また空白は画素値がいくらであってもよいことを表
す。
点と判断して画素値を”０”にし、消去点記憶部２０に
消去点と判断された前記注目画素の画素位置を書き込む
。但し、第８図（イ）〜（ワ）において”Ｘ”は前記注
目画素であり画素値は”１”であることを表し、′ｙ”
は画素値が”１”または”２”であることを表す。′ａ
”は”ａ”で示した位置にある画素のうち少な（とも１
つの画素の画素値が”１”または”２”であることを表
す。また空白は画素値がいくらであってもよいことを表
す。
最終点記憶部１９は配列読出部１２が１画面分の注目画
素の読み出しを終えるごとに保持している最終点の画素
位置にもとづき図形記憶部１１の画素値を”２″に変更
する。
素の読み出しを終えるごとに保持している最終点の画素
位置にもとづき図形記憶部１１の画素値を”２″に変更
する。
消去点記憶部２０は配列読出部１２が１画面分の注目画
素の読み出しを終えるごとに保持している消去点の画素
位置にもとづき図形記憶部１１の画素値を”Ｏ”に変更
する。
素の読み出しを終えるごとに保持している消去点の画素
位置にもとづき図形記憶部１１の画素値を”Ｏ”に変更
する。
処理完了判断部２１は図形記憶部１１の保持している画
素値が”０”と”２”だけになるか、あるいは４画面分
の処理が終わった時点で画素値を変更された画素が存在
しない場合に細線化処理が完了したと判断し、この時点
の図形記憶部１１の画素値を”２”ならば”１”に変更
した後、細線化装置の出力信号として出力する。
素値が”０”と”２”だけになるか、あるいは４画面分
の処理が終わった時点で画素値を変更された画素が存在
しない場合に細線化処理が完了したと判断し、この時点
の図形記憶部１１の画素値を”２”ならば”１”に変更
した後、細線化装置の出力信号として出力する。
発明が解決しようとする課題
しかしながら上記のような構成では、注目画素が周辺点
であるかないかの判断する周辺点判断部を４つに分けて
、４サイクルの処理にしているために図形全体の１回分
の細線化処理を行うためには４画面分の画素を読み出し
、処理する必要があるので、処理時間が遅いという課題
を有していた。
であるかないかの判断する周辺点判断部を４つに分けて
、４サイクルの処理にしているために図形全体の１回分
の細線化処理を行うためには４画面分の画素を読み出し
、処理する必要があるので、処理時間が遅いという課題
を有していた。
本発明はかかる点に鑑み、図形全体の１回分の細線化処
理を１画面分の画素の読み出し及び処理で行えるように
し、より処理時間の短い細線化装置を提供することを目
的とする。
理を１画面分の画素の読み出し及び処理で行えるように
し、より処理時間の短い細線化装置を提供することを目
的とする。
課題を解決するための手段
本発明は、注目画素に隣接している画素の画素値によっ
て前記注目画素の画素値を新たな値に変換する可能性が
あるかどうかを判断する周辺点判断部と、前記注目画素
の周辺画素の画素値によって前記注目画素の画素値を新
たな値に変換するかどうかを判断する最終点判断部と、
次の処理を決定する後処理決定部と、前記新たな値に変
換された図形の線幅を１画素分になるようにする後処理
部とを備えた細線化装置である。
て前記注目画素の画素値を新たな値に変換する可能性が
あるかどうかを判断する周辺点判断部と、前記注目画素
の周辺画素の画素値によって前記注目画素の画素値を新
たな値に変換するかどうかを判断する最終点判断部と、
次の処理を決定する後処理決定部と、前記新たな値に変
換された図形の線幅を１画素分になるようにする後処理
部とを備えた細線化装置である。
作用
本発明は前記した構成により、新たな最終点判断のため
のマスクを使用する最終点判断部と後処理部を設けるこ
とによって周辺点判断のためのマスクを１つにすること
ができるため周辺点判断部が１つで済み、１画面分の画
素の読み出し及び処理で図形全体の１回分の細線化処理
が可能となる。
のマスクを使用する最終点判断部と後処理部を設けるこ
とによって周辺点判断のためのマスクを１つにすること
ができるため周辺点判断部が１つで済み、１画面分の画
素の読み出し及び処理で図形全体の１回分の細線化処理
が可能となる。
実施例
以下に、本発明の実施例について図面を参照しながら説
明する。
明する。
第１図は本発明の一実施例における細線化装置のブロッ
ク図を示すものである。第１図において、１は図形記憶
部、２は配列読出部である。３は周辺点判断部、４は最
終点判断部である。５は最終点記憶部、６は消去点記憶
部である。７は後処理決定部、８は後処理部である。
ク図を示すものである。第１図において、１は図形記憶
部、２は配列読出部である。３は周辺点判断部、４は最
終点判断部である。５は最終点記憶部、６は消去点記憶
部である。７は後処理決定部、８は後処理部である。
以上のように構成された本実施例の細線化装置について
、以下にその動作を説明する。
、以下にその動作を説明する。
図形記憶部１は、各画素について濃淡及び最終点である
かないかを表す画素値を２次元配列状に入力された図形
を記憶している。但し、初期状態では全ての画素は最終
点でないとする。
かないかを表す画素値を２次元配列状に入力された図形
を記憶している。但し、初期状態では全ての画素は最終
点でないとする。
配列読出部２は図形記憶部１から任意の注目画素を中心
としてｍ×ｎ配列分の画素値を読み出しその結果を周辺
点判断部３と最終点判断部４に送これより先の説明では
、図形に含まれている画素の画素値は”１”、図形に含
まれていない画素の画素値は”０”とし最終点である判
断された画素の画素値は２”とする。周辺点判断部３は
配列読出部２から送られた結果のうちの前記注目画素を
中心とする３×３配列分の画素の画素値パターンと第２
図に示したマスクとを比較して一致していれば信号を出
し、一致していなければ信号を出さない。但し、第２図
において”Ｘ”は前記注目画素であり画素値は”１″で
あることを表し ｎｂ”は”ｂ”で示した位置にある画
素のうち少なくとも１つの画素の画素値がＯ”であるこ
とを表す。また空白は画素値がいくらであってもよいこ
とを表す。
としてｍ×ｎ配列分の画素値を読み出しその結果を周辺
点判断部３と最終点判断部４に送これより先の説明では
、図形に含まれている画素の画素値は”１”、図形に含
まれていない画素の画素値は”０”とし最終点である判
断された画素の画素値は２”とする。周辺点判断部３は
配列読出部２から送られた結果のうちの前記注目画素を
中心とする３×３配列分の画素の画素値パターンと第２
図に示したマスクとを比較して一致していれば信号を出
し、一致していなければ信号を出さない。但し、第２図
において”Ｘ”は前記注目画素であり画素値は”１″で
あることを表し ｎｂ”は”ｂ”で示した位置にある画
素のうち少なくとも１つの画素の画素値がＯ”であるこ
とを表す。また空白は画素値がいくらであってもよいこ
とを表す。
最終点判断部６は周辺点判断部３からの信号を受けると
前記配列読出部２から送られた結果のうちの前記注目画
素を中心とする３Ｘ３配列分の画素の画素値パターンと
、第３図（イ）、（ニ）〜（ゴ）に示したマスク１．４
．５．８．７．８．９．１０．１１．１２．１３、゛
１４．１５とを比較する。さらに前記配列読出部２から
送られた結果のうちの、前記注目画素が２行２列めの画
素となる４×４配列分の画素の画素値パターンと第３図
（ロ）、（ハ）に示したマスク２．３とを比較する。
前記配列読出部２から送られた結果のうちの前記注目画
素を中心とする３Ｘ３配列分の画素の画素値パターンと
、第３図（イ）、（ニ）〜（ゴ）に示したマスク１．４
．５．８．７．８．９．１０．１１．１２．１３、゛
１４．１５とを比較する。さらに前記配列読出部２から
送られた結果のうちの、前記注目画素が２行２列めの画
素となる４×４配列分の画素の画素値パターンと第３図
（ロ）、（ハ）に示したマスク２．３とを比較する。
そしてこれら比較したマスクのいずれかと一致していれ
ば、前記注目画素を最終点と判断して画素値を”２”に
し、最終点記憶部５に最終点と判断された前記注目画素
の画素位置を書き込む。またいずれとも一致していなけ
れば、前記注目画素を消去点と判断して画素値を０″に
し、消去点記憶部６に消去点と判断された前記注目画素
の画素位置を書き込む。但し、第３図（イ）、（ニ）〜
（ｊ！ｔ）において”Ｘ”は前記注目画素であり画素値
は”１”であることを表し、”Ｖ″は画素値が”１”ま
たは”２”であることを表す。′ａ”は”ａ”で示した
位置にある画素のうち少なくとも１つの画素の画素値が
１”または２”であることを表し Ｍｂ″はｂ”で示し
た位置にある画素のうち少なくとも１つの画素の画素値
が”０″であることを表す。また空白は画素値がいくら
であってもよいことを表す。
ば、前記注目画素を最終点と判断して画素値を”２”に
し、最終点記憶部５に最終点と判断された前記注目画素
の画素位置を書き込む。またいずれとも一致していなけ
れば、前記注目画素を消去点と判断して画素値を０″に
し、消去点記憶部６に消去点と判断された前記注目画素
の画素位置を書き込む。但し、第３図（イ）、（ニ）〜
（ｊ！ｔ）において”Ｘ”は前記注目画素であり画素値
は”１”であることを表し、”Ｖ″は画素値が”１”ま
たは”２”であることを表す。′ａ”は”ａ”で示した
位置にある画素のうち少なくとも１つの画素の画素値が
１”または２”であることを表し Ｍｂ″はｂ”で示し
た位置にある画素のうち少なくとも１つの画素の画素値
が”０″であることを表す。また空白は画素値がいくら
であってもよいことを表す。
最終点記憶部５は配列読出部２が１画面分の注目画素の
読み出しを終えるごとに、保持しでいる最終点の画素位
置にもとづき、図形記憶部１の画素値を”２”に変更す
る。
読み出しを終えるごとに、保持しでいる最終点の画素位
置にもとづき、図形記憶部１の画素値を”２”に変更す
る。
消去点記憶部６は配列読出部２が１画面分の注目画素の
読み出しを終えるごとに保持している消去点の画素位置
にもとづき、図形記憶部１の画素値をＯ”に変更する。
読み出しを終えるごとに保持している消去点の画素位置
にもとづき、図形記憶部１の画素値をＯ”に変更する。
後処理決定部７は図形記憶部１の保持している画素値が
”Ｏ″と”２”だけになるか、あるいは１画面分の処理
が終わった時点で、画素値を変更された画素が存在しな
い場合に、細線化処理が完了したと判断し、この時点の
図形記憶部１の各画素値を２”ならば”１”に変更した
後、後処理部８に送る。
”Ｏ″と”２”だけになるか、あるいは１画面分の処理
が終わった時点で、画素値を変更された画素が存在しな
い場合に、細線化処理が完了したと判断し、この時点の
図形記憶部１の各画素値を２”ならば”１”に変更した
後、後処理部８に送る。
次に後処理部８を説明するにあたり、まず連結数につい
て述べる。
て述べる。
いま、ある画素ｒ−の周辺の画素を第４図の様においた
時、Ｎａ４とＮａ８を下式の様に定義する。
時、Ｎａ４とＮａ８を下式の様に定義する。
Ｎａ４：Σ（ｒ１ｒｈＸｒｂ＊ＩＸｒｍ＊＊）ｓ
イ旦し、 Ｓ二（１，３，５，７）、 ｒ、＝ｒ、、
ｒ、＋ｒｌ＝１ とする。
ｒ、＋ｒｌ＝１ とする。
ここでｒｋは画素値を、Ｎａ４．Ｎａ８は各々ｒｅにお
ける４一連結数、８一連結数を表している。
ける４一連結数、８一連結数を表している。
後処理部８は後処理決定部７から送られた結果を受けて
注目画素を中心とした３×３配列分の画素の画素値パタ
ーンにもとづき前記注目画素の連結数を求め、Ｎａ４＞
ＩかつＮａ８：１を満たす画素及びＮａ４：１かつ第５
図（イ）〜（ニ）のマスク２１．２２．２３．２４のい
ずれかと一致する画素の画素値を”０”にし、１画面分
の処理が終われば各画素値を出力信号として出す。
注目画素を中心とした３×３配列分の画素の画素値パタ
ーンにもとづき前記注目画素の連結数を求め、Ｎａ４＞
ＩかつＮａ８：１を満たす画素及びＮａ４：１かつ第５
図（イ）〜（ニ）のマスク２１．２２．２３．２４のい
ずれかと一致する画素の画素値を”０”にし、１画面分
の処理が終われば各画素値を出力信号として出す。
但し、第５図（イ）〜（ニ）において”Ｘ”は前記注目
画素であり画素値は”１”であることを表し、空白は画
素値がいくらであってもよいことを表す。
画素であり画素値は”１”であることを表し、空白は画
素値がいくらであってもよいことを表す。
以上のように本実施例によれば、新たにつくった最終点
判断のためのマスクを使用する最終点判断部４と後処理
部を設けることにより、周辺点判断のためのマスクを１
つにでき、これまで図形全体の１回分の細線化処理には
４画面分の画素の読み出しおよび処理が必要であったも
のが、１画面分の画素の読み出し及び処理でできるよう
になり、処理時間が２倍から最大約４倍まで速くなる。
判断のためのマスクを使用する最終点判断部４と後処理
部を設けることにより、周辺点判断のためのマスクを１
つにでき、これまで図形全体の１回分の細線化処理には
４画面分の画素の読み出しおよび処理が必要であったも
のが、１画面分の画素の読み出し及び処理でできるよう
になり、処理時間が２倍から最大約４倍まで速くなる。
発明の詳細
な説明したように、本発明によれば、これまでの細線化
袋１置の２５倍から最大約４倍の高速化ができ、その実
用的効果は大きい。
袋１置の２５倍から最大約４倍の高速化ができ、その実
用的効果は大きい。
第１図は本発明における一実施例の細線化装置のブロッ
ク図、第２図は同実施例における周辺点判断のためのマ
スクパターン図、第３図は同実施例における最終点判断
のためのマスクパターン図、第４図は同実施例における
後処理のための連結数を説明するための構成図、第６図
は同実施例における後処理のためのマスクパターン図、
第６図は従来の細線化装置のブロック図、第７図は従来
の細線化装置における周辺点判断のためのマスクパター
ン図、第８図は従来の細線化装置における最終点判断の
ためのマスクパターン図である。 １・・・図形記憶部、２・・・配列読出部、３・・・周
辺点判断部、４・・・最終点判断部、５・・・最終点記
憶部部、６・・・消去点記憶部、７・・・後処理決定部
、８・・・後処理部。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝はか１８第 図 弔 図 第 図 マスク マスク？ １ズク３ マスク８ マスク９ マスクツＯ １ズグＩＩ マスクツ？ １、てグ１３ １ズグノ４ マスク１５ 第 図 （イラ （ロジ ｒ／′Ｖｌ） （二ン マスクＺノ マスク２ｚ ７ズク２３ ７ズク２ｄ 蓚 図 燭 図 マスタ３ノ マスク３２ マスク３３ マスク３４ 第 ８ 図 １スゲ４／ ７７７４ど 、＄、） ７ズク４Ｊ マスク４６ ７ヌク４７ ７スク４Ｓ ７ズグ４ｑ マスグ立 ７ズクタノ ７ス７５！ ７ズ７５３
ク図、第２図は同実施例における周辺点判断のためのマ
スクパターン図、第３図は同実施例における最終点判断
のためのマスクパターン図、第４図は同実施例における
後処理のための連結数を説明するための構成図、第６図
は同実施例における後処理のためのマスクパターン図、
第６図は従来の細線化装置のブロック図、第７図は従来
の細線化装置における周辺点判断のためのマスクパター
ン図、第８図は従来の細線化装置における最終点判断の
ためのマスクパターン図である。 １・・・図形記憶部、２・・・配列読出部、３・・・周
辺点判断部、４・・・最終点判断部、５・・・最終点記
憶部部、６・・・消去点記憶部、７・・・後処理決定部
、８・・・後処理部。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝はか１８第 図 弔 図 第 図 マスク マスク？ １ズク３ マスク８ マスク９ マスクツＯ １ズグＩＩ マスクツ？ １、てグ１３ １ズグノ４ マスク１５ 第 図 （イラ （ロジ ｒ／′Ｖｌ） （二ン マスクＺノ マスク２ｚ ７ズク２３ ７ズク２ｄ 蓚 図 燭 図 マスタ３ノ マスク３２ マスク３３ マスク３４ 第 ８ 図 １スゲ４／ ７７７４ど 、＄、） ７ズク４Ｊ マスク４６ ７ヌク４７ ７スク４Ｓ ７ズグ４ｑ マスグ立 ７ズクタノ ７ス７５！ ７ズ７５３
Claims (1)
- ２次元配列状に量子化された２値図形の各画素値を保持
する図形記憶部と、前記図形記憶部上の任意の画素位置
を中心とするｍ×ｎ配列の画素の画素値を読み出す配列
読出部と、注目画素に隣接している画素の画素値によっ
て前記注目画素の画素値を新たな値に変換する可能性が
あるかどうかを判断する周辺点判断部と、前記注目画素
の周辺画素の画素値によって前記注目画素の画素値を新
たな値に変換するかどうかを判断する最終点判断部と、
前記最終点判断部からの信号にもとづき新たな値に変換
する前記注目画素の画素位置を保持する手段を有した消
去点記憶部と、前記最終点判断部からの信号にもとづき
前記注目画素の画素位置を保持する手段を有した最終点
記憶部と、前記図形記憶部の各画素値を調べ、次の処理
を決定する後処理決定部と、前記新たな値に変換された
図形の線幅を１画素分になるようにする後処理部とを備
えたことを特徴とする細線化装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1091339A JP2757446B2 (ja) | 1989-04-11 | 1989-04-11 | 細線化装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1091339A JP2757446B2 (ja) | 1989-04-11 | 1989-04-11 | 細線化装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02268374A true JPH02268374A (ja) | 1990-11-02 |
| JP2757446B2 JP2757446B2 (ja) | 1998-05-25 |
Family
ID=14023665
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1091339A Expired - Fee Related JP2757446B2 (ja) | 1989-04-11 | 1989-04-11 | 細線化装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2757446B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7916345B2 (en) | 2006-07-24 | 2011-03-29 | Konica Minolta Business Technologies, Inc. | Image processing with an adjustment to a binary image line |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62219189A (ja) * | 1986-03-20 | 1987-09-26 | Panafacom Ltd | 二値画像の細線化処理装置 |
| JPS6312073A (ja) * | 1986-07-02 | 1988-01-19 | Fujitsu Ltd | 細線化処理方法 |
-
1989
- 1989-04-11 JP JP1091339A patent/JP2757446B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62219189A (ja) * | 1986-03-20 | 1987-09-26 | Panafacom Ltd | 二値画像の細線化処理装置 |
| JPS6312073A (ja) * | 1986-07-02 | 1988-01-19 | Fujitsu Ltd | 細線化処理方法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7916345B2 (en) | 2006-07-24 | 2011-03-29 | Konica Minolta Business Technologies, Inc. | Image processing with an adjustment to a binary image line |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2757446B2 (ja) | 1998-05-25 |
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|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |