JPH02272311A - 放射線厚み測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） この発明は、例えば鉄鋼、非鉄金属等の圧延ラインにお
ける圧延中の被圧延板等の厚さを測定する放射線厚み測
定装置に関する。

（従来の技術） 鉄鋼や非鉄金属等の圧延ラインでは、従来より、被圧延
板の厚さを測定することは、目標厚さに圧延すること以
外に、生産工程における歩留り向上その他の点で非常に
重要な技術である。この厚さ測定は、通常板幅方向の中
央部で行われることが一般的であるが、近年では圧延技
術の向上もあり、板端部での厚さ７ｉｌｌｌ定による、
いわゆるエツジＡＧＣが用いられるようになってきてい
る。これに加えて、均一な厚さの板材の要求は近年ます
ます大きくなっており、板端部のエツジドロップと呼ば
れる部分の測定のために、コンピュータトモグラフィ　
（ＣＴ）技術を応用したクラウン計或いはエツジドロッ
プ計と呼ばれる多点ＩＩＰ１定式の厚み計が開発され使
用されるようになっている。

第３図は、このような多点４−１定式厚み計の概略構成
を示している。同図中、１は放射線源としてのＸ線発生
器、２は多点検出器、１ｏは被ΔＰＩ定板であり、多点
検出器２は多数個の検出器からなる検出器群で構成され
、その各検出器はＸ線発生器１側の一つの焦点に対向す
るように円弧状に配置構成されている。このため、多点
測定式厚み計では、多点検出器２を構成する各検出器の
焦点に当たる部分にＸ線発生器１を正しく配置する事が
重要である。また、配置上の都合で、各検出器はかなり
小形に形成されている。

ところで、一般的に、放射線検出器は、その形状が小さ
くなると入射する放射線の量が少なくなるため、放射線
特有の統計雑音が増加する。測定上でこれを避けるため
には、放射線量の増加が望めない場合は厚み計の応答を
遅くすることになる。

しかし、応答が遅い厚み計は近年の高速、高精度が要求
される圧延ライン等に適用することは困難である。

そして圧延ライン等への実際の使用法としては、高精度
厚み計である固定測定式厚み計で被測定板の板中央部を
測定して厚さ制御を行うとともに、板端部を多点測定式
厚み計で測定して平坦度或いは断面形状を検出しプロフ
ィル制御を行うことにより平坦度の高い板材を歩留り良
く圧延等をすることが考えられている。

（発明が解決しようとする課題） 上述のように、多点測定式厚み計で被測定板である被圧
延板の根端部形状を測定しようとする場合、問題になる
のは、被圧延板の幅が一定でないことである。多点測定
式厚み計の多点検出器２は、Ｘ線発生器１に対して円弧
状に形成されているため有限の測定視野を持つので、多
点測定式厚み計を板端部に位置させるために、これを所
望する板幅の位置へ移動させる幅設定と呼ばれる動作か
必要になる。このように、多点測定式厚み計は根端部形
状のＪＦ１定に際して移動制御が伴なうので、Ｃ形フレ
ームにＸ線発生器１と多点検出器２とを対向するように
搭載して、その位置関係（アライメント）を常に適正に
保つようにしている。

そして、このような多点測定式厚み計と固定測定式厚み
計とを併用した測定法を実現しようとするとき、固定測
定式厚み計１３と多点測定式厚み計１４とを、第４図（
Ａ）に示すように、各別のＣ形フレーム１５ａ、１５ｂ
に搭載し、両厚み計１３．１４を被圧延板等の被測定板
１０の長平方向に位置をずらして配置する方法と、第４
図（Ｂ）に示すように、両厚み計１３．１４を一つのＣ
形フレーム１５ｃに搭載する方法が考えられる。

第４図（Ａ）の場合は、設置スペースの問題や固定ｌＮ
−１定式厚み計１３と多点測定式厚み計１４の測定時点
が異なる等の問題がある。このため、ユザとしては第４
図（Ｂ）の方法を選択したいところである。

しかし、第４図（Ｂ）の方法では板幅が変わると固定測
定式厚み計１３と多点測定式厚み計１４の位置関係を変
える必要があるために、Ｃ形フレーム１５ｃの内部で多
点検出器２とＸ線発生器１を移動させることになる。こ
の場合、多点測定式厚み計１４の多点検出器２は焦点を
持ち、この焦点上にＸ線発生器１を位置させることが必
要であるため、Ｘ線発生器１と多点検出器２との間の距
離、角度の微妙なアライメントが変化するので精度確保
上大きな問題が生じる。

そこで、この発明は、固定測定式厚み測定部と多点Δ−
１定式厚み測定部とを一つの装置フレームに搭載すると
ともに、板幅設定を行っても多点、１ｌｌｌｊ定式厚み
測定部のδＰ１定精度に影響を与えることのない放射線
厚み１１！１定装置を提供することを目的とする。

［発明の構成］ （課題を解決するための手段） この発明は上記課題を解決するために、移動可能に配置
される装置フレームと、該装置フレムに移動可能に装備
され被測定板の一点の厚みを７１ＦＩ定する固定測定式
厚み測定部と、前記装置フレームに固定装備され前記被
４−１定板の板端部の形状を検出する多点測定式厚み７
１ＦＩ定部と、前記被測定板の板幅に応じた幅設定情報
により前記装置フレームを駆動して前記多点測定式厚み
１ｌｌｌｊ定部を当該披１１１１定板の板端部に位置さ
せるフレーム位置制御手段と、前記固定測定式厚み測定
部を前記被測定板の所定の測定位置に位置させる固定測
定部位置制御手段とを有することを要旨とする。

（作用） 幅設定情報によりフレーム位置制御手段が作動して装置
フレームが駆動され、この装置フレムに固定装備された
多点７ｔ！１定式厚み測定部が被Δ−１定板の板端部に
位置制御される。これと同時に装置フレームの位置変化
量に対応した制御信号により固定？ｔ１１定部位置部位
置制御手段して固定測定式厚み測定部が例えば装置フレ
ームの移動方向とは反対方向に移動して所定の測定位置
に位置制御される。このように位置制御がなされて、固
定測定式厚み測定部で被測定板内の所定の１１１１定点
の厚さが測定され、多点測定式厚み測定部で板端部の形
状等が７１−１定されて、被η−１定板の厚さ及びプロ
フィル等の制御が行われる。

（実施例） 以下、この発明の実施例を第１図に基づいて説明する。

なお、第１図において第３図における機器及び部材と同
一ないし均等のものは、前記と同一符号を以って示す。

まず、放射線厚み７１１１ｊ定装置の構成を説明すると
、第１図中、３は台車により移動可能に配置される装置
フレームとしてのＣ形フレームであり、Ｃ形フレーム３
には、多点測定式厚み測定部としての多点測定式厚み計
を構成する多点用Ｘ線発生器１と多点検出器２とが対向
して固定装備されている。

４は固定測定用Ｘ線発生器、５は固定測定用検出器であ
り、この両者４．５により固定測定式厚み測定部として
の固定７１Ｆ１定式厚み計が構成されている。

固定測定用のＸ線発生器４と検出器５は、それぞれ移動
用搬送装置６ａ、６ｂを介してＣ形フレム３に移動制御
可能に支持されている。７ａ、７ｂは移動用搬送装置６
ａ、６ｂを駆動する搬送駆動部であり、この移動用搬送
装置６　ａ　％　６　ｂと搬送駆動部７ａ、７ｂにより
固定測定式厚み計を所定の測定位置に位置させる固定測
定部位置制御手段が構成されている。そして、搬送駆動
部７　ａ　％７ｂは、共にＣ形フレーム３全体を駆動す
る台車駆動部８にある位置検出器９のパルス発信器１１
から移動方向の情報を含む駆動信号を受けてＣ形フレー
ム３の移動方向とは反対方向に移動用搬送装置６ａ、６
ｂを駆動するようになっている。このように、固定測定
式厚み計をＣ形フレーム３の移動方向とは反対方向へそ
の移動量と同じだけ移動するように構成することにより
、設定回路を簡素化することができる。

台車駆動部８は台車制御部１２によって制御されており
、位置検出器９のパルス発信器１１から出る信号は台車
制御部１２へも出力されて幅設定制御に使用されるよう
になっている。上記の台車駆動部８及び台車制御部１２
により、多点測定式厚み計を被測定板１０の板端部に位
置制御するフレーム位置制御手段が構成されている。

このような装置構成において、まず図示しない上位計算
機等の外部設定器によって幅設定がなされる。通常、ラ
イン情報として与えられるこの幅設定値は１系統のみで
、測定装置側ではこの設定値から必要なＣ形フレーム３
の位置を算出して、これを移動させるものである。その
場合、第２図に示すように、被？ＩＰＩ定板１０の板幅
Ｗに対して目標位置は中央部Ｗ／２からの設定に必要な
測定位置情報Ｘを含んだものとなる。

このような幅設定がなされると、台車制御部１２はＣ形
フレーム３を指定位置へ移動するため駆動信号を発する
。台車駆動部８は駆動信号に従ってＣ形フレーム３を°
移動するが、このとき同時に搬送駆動部７ａ、７ｂがパ
ルス発信器１１から移動方向の情報を含む駆動信号を受
けて、Ｃ形フレーム３内部の固定ΔＦｌ定用横用検出器
これに対向する固定測定用Ｘ線発生器４が移動用搬送装
置６ａ、６ｂによりＣ形フレーム３の移動方向とは反対
方向へ同量だけ移動する。

このような制御態様にすると、位置設定機能は従来通り
のままで、根端部測定用の多点７１−１定式厚み計はそ
の微妙なアライメントを崩すことなく被１１１１１定板
１０の板端部へ移動制御することが可能であり、かつ、
板中央部のｆｌｌｌ＋定を行う固定測定式厚み計も正確
に板中央部に位置させることが出来る。

ここで、固定ハ１定式厚み計は、Ｃ形フレーム３の内部
で固定測定用Ｘ線発生器４と固定測定用検出器５とを別
々に移動させても、測定精度に影響を及ぼすことは殆ん
どない。

そして、このような両厚み計の位置制御がなされて、固
定測定式厚み計で被測定板１０の板中央部が測定されて
厚さ制御が行われるとともに、板端部が多点Δ−１定式
厚み計で精度よく測定されて平坦度或いは断面形状が検
出され、プロフィル制御等が行われることにより平坦度
の高い被圧延板等の板材の歩留りの良い圧延等が可能と
なる。

なお、上述の実施例では、移動用搬送装置７ａ。

７ｂの駆動信号として、パルス発信器１１の信号を直接
使用したが、移動用搬送装置７ａ、７ｂの入力形態によ
っては位置検出器９の信号を適宜加工して使用してもよ
い。また固定測定式厚み計を被δＰ１定板中央部に位置
させるとしたが、板中央部以外のある１点でも同様の効
果が得られることは言うまでもない。

［発明の効果］ 以上説明したように、この発明によれば、一つの装置フ
レームに、固定測定式厚みΔＰ１定部は移動可能に装備
し、多点δ−１定式厚みｆｌｌｌｌ定置定装備し、多点
測定式厚み測定部は幅設定情報により装置フレームを移
動させて被測定板の板端部に位置制御し、固定測定式厚
み測定部は、固定測定部位置制御手段により例えば装置
フレームの移動方向と反対方向に移動させて所定の測定
位置に位置制御するようにしたため、ｆｉｌ定精度を高
精度に保持する上で重要な多点測定式厚み測定部のアラ
イメントへは影響を及ぼすことなく位置制御を行うこと
ができて、被測定板の所定の測定位置の厚さ及びこの測
定位置に対応した板端部の形状等を高精度に測定するこ
とができるという利点がある。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明に係る放射線厚みＡＦＩ定装置の実施
例を示す構成図、第２図は幅設定情報の内容例を説明す
るための図、第３図は多点ａｌｌ定式厚み計の概略構成
を示す構成図、第４図は従来の多点測定式厚み計と固定
測定式厚み計を併用した測定法を実現する場合の両厚み
計の配置例を説明するための図である。 １：多点用Ｘ線発生器、 ２：多点用Ｘ線発生器とともに多点７Ｐ１定式厚み測定
部を構成する多点検出器、 ３：Ｃ形フレーム（装置フレーム）、 ４：固定測定用検出器、 ５：固定測定用検出器とともに固定測定式厚みＩＩＦＩ
定部を構成する固定測定用検出器、６ａ、６ｂ：移動用
搬送装置、 ７ａ、７ｂ：移動用搬送装置とともに固定測定部位置制
御手段を構成する搬送部 動部、 ８：台車駆動部、　　　１０：被測定板、１２：台車駆
動部とともにフレーム位置制御手段を構成する台車制御
部。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 移動可能に配置される装置フレームと、該装置フレーム
   に移動可能に装備され被測定板の一点の厚みを測定する
   固定測定式厚み測定部と、前記装置フレームに固定装備
   され前記被測定板の板端部の形状を検出する多点測定式
   厚み測定部と、前記被測定板の板幅に応じた幅設定情報
   により前記装置フレームを駆動して前記多点測定式厚み
   測定部を当該被測定板の板端部に位置させるフレーム位
   置制御手段と、前記固定測定式厚み測定部を前記被測定
   板の所定の測定位置に位置させる固定測定部位置制御手
   段とを有することを特徴とする放射線厚み測定装置。