JPH0227633B2 - Shinchireeshonkamera - Google Patents

Shinchireeshonkamera

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JPH0227633B2
JPH0227633B2 JP17499981A JP17499981A JPH0227633B2 JP H0227633 B2 JPH0227633 B2 JP H0227633B2 JP 17499981 A JP17499981 A JP 17499981A JP 17499981 A JP17499981 A JP 17499981A JP H0227633 B2 JPH0227633 B2 JP H0227633B2
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JP
Japan
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signal
output
circuit
signals
outputs
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JP17499981A
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English (en)
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JPS5876785A (ja
Inventor
Yoshihiko Kumazawa
Tsunekazu Matsuyama
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Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/161Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
    • G01T1/164Scintigraphy
    • G01T1/1641Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
    • G01T1/1642Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using a scintillation crystal and position sensing photodetector arrays, e.g. ANGER cameras

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  • Nuclear Medicine (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、通常アンガー型と呼ばれているシ
ンチレーシヨンカメラの改良に関する。
アンガー型シンチレーシヨンカメラでは、放射
線入射に応じて発光するシンチレータの背面に多
数の光電子増倍管(以下、PMTと略す)を配列
し、この各PMT出力から、通常抵抗マトリツク
ス重み付き加算回路等でなる位置演算回路により
発光点の位置を演算するようにしている。ところ
で一般にシンチレータ発光位置に対するPMT出
力はベル型非線型となつている。(第2図参照)。
この非線型性のため得られる画像は一般に非直線
性を含んだものとなる。
特に通常のアンガー型シンチレーシヨンカメラ
の場合、空間分解能を向上させるため、シンチレ
ータ、ライトガイド等を薄くしたり、スレツシヨ
ルドプリアンプを用いたりすることが行なわれて
いるが、こうすると空間非直線性が劣化する傾向
になり、画像は一般に各PMTの中心方向に歪む。
本発明は上記に鑑み、空間的に直線性の良い画
線が得られるよう改善したシンチレーシヨンカメ
ラを提供することを目的とする。
以下、本発明の一実施例について図面を参照し
ながら説明する。第1図において、シンチレータ
に入射したγ線等は吸収されて発光する。それら
の光量の一部はライトガイド2を通つて各PMT
31〜3nで電流信号に変換され、更に各プリア
ンプ41〜4nにより電圧信号に変換される。こ
れら各プリアンプ41〜4nの出力は加算回路5
で加算され、信号aが得られる。この信号aはト
リガ回路6に入力され、信号aが所定のしきい値
より大きい時トリガ信号bが発生し、このトリガ
信号bはタイミング発生回路7に送られるととも
に積分回路80,81〜8nの各々に送られる。
タイミング発生回路7ではトリガ信号bが入力さ
れると信号cが出力され、更に後述の信号dが入
力されることにより信号e〜iが順次適当なタイ
ミングで発生される。
上記加算回路5からの信号aは積分回路80に
送られ、またプリアンプ41〜4nの各出力は積
分回路81〜8nの各々に送られており、上記の
信号bにより積分開始し、信号cにより積分終了
し、信号V0,V1〜Vnがそれぞれ得られ、信号e
によりサンプルホールド回路90,91〜9nの
各々に取り込まれ、除算回路101〜10nを通
つて信号V1/V0〜Vn/V0の各々を得る。これら
の信号は信号fにより動作するサンプルホールド
回路111〜11n及び信号gによつて動作する
AD変換器121〜12nをそれぞれ通つてデジ
タル信号v1〜voに変換される。これらの信号v1
voは非線型メモリ131〜13nの各々に入力さ
れ、信号hによつてそれぞれより信号w1〜wo
各々が読み出され、これらがDA変換器141〜
14nの各々でアナログ信号に変換された後、通
常の重み付加算方式のX方向位置演算回路15及
びY方向位置演算回路17に入力され、信号WX
WYを得る。これらの信号WX,WYはそれぞれ信
号iで動作するサンプルホールド回路16,18
を通つて位置信号としてのX信号とY信号とさ
れ、表示装置21に送られる。
他方、信号V0は更に波高分析回路20に送ら
れ、設定したエネルギウインドに入つている場合
はこの波高分析回路20から信号dとアンブラン
ク信号が出力される。また、サンプルホールド回
路90からの信号V′0は信号iによつて動作する
サンプルホールド回路19により取り込まれ、エ
ネルギ信号(Z信号)として表示装置21に送ら
れる。従つて、表示装置21ではX信号及びY信
号で示される位置に輝点が表示される。
ここで1個のPMTについてみると、その出力
に積分出力Vの発光位置依存性(以下、応答特性
という)は主に当該PMTの発光位置からの立体
角に依存し、PMT中心軸から発光位置までの距
離rについて描くと、第2図に示すようにベル型
非直線型になる。また、応答特性は立体角以外に
総発光量にも依存している。そこで上記の構成で
はまず除算回路101〜10nにおいて総発光量
に近似的に比例した信号V0で出力V(V1〜Vnの
各信号)を除算することにより規格化し、立体角
に純粋に比例する信号V/V0に変換した後、次
にこの規格化した信号V/V0を非線型メモリ1
31〜13nにより第3図に示すように、たとえ
ば台形状の応答特性Wに変換する。この台形のよ
うな形状の応答特性Wは位置演算する場合に生じ
る非直線性及び空間分解能が改善されるよう定め
たもので、V/V0からWへの変換特性は第4図
に示すようになり、この変換特性が非線型メモリ
131〜13nの各々に予め記憶されている。こ
の非線型メモリ131〜13nはそれぞれP―
ROM等の半導体メモリ等により構成される。な
お、第2図及び第3図はPMT及びプリアンプの
エネルギ直線性が充分に良い(すなわち、V/
V0のr依存性はV0に依らない)と仮定して描い
たものである。
このようにPMT出力V1〜Vnを総発光量に比
例した信号V0で除算して規格した後、非直線性
が改善されるような応答特性Wに変換しているの
で、総発光量に依存せず、非直線性改善のための
変換が行なえるとともに、後に位置演算により得
た信号をZ信号等で割算して規格化する必要がな
い。また非線型メモリ131〜13nの各々の記
憶内容を変えることにより各PMTの出力を変え
ることができるため、使用される個々のPMTの
発光位置に対する応答のばらつきも補正できる。
なお、上記の実施例の構成は種々に変更するこ
とが可能である。例えば、サンプルホールド回路
90,91〜9nのそれぞれ出力を先にAD変換
し、その後メモリを用いることによりデジタル的
に除算してv1〜voを得るよう構成することもでき
る。また、除算回路101〜10nを用いる代り
に積分回路81〜8nの各々へ入力すべきプリア
ンプ41〜4nの各出力を遅延させておいて信号
V0に応じて積分回路81〜8nの積分時間を制
御するよう構成して実質的に除算する構成とする
こともできる。更に、非線型メモリ131〜13
nの出力w1〜woは一旦アナログ信号W1〜Wnに
変換されれ後位置演算回路15,17により位置
演算されるよう構成されているが、位置演算のた
めのメモリを用いる等の構成をとれば、デジタル
信号w1〜woをそのまま用いてデジタル的に位置
に演算することも可能である。
以上、実施例について説明したように、本発明
によれば、空間的に直線性の優れた画像を得るこ
とができる。また、より正確な位置信号を用いて
のエネルギ補正が可能である。更に、シンチレー
タ、ライトガイドあるいはPMT等の光学系の配
置関係やマスキング等の手段だけで発光位置に対
するPMT出力の応答特性を変形させるという従
来の方法では一般に受光量が減少し、エネルギ分
解能が犠牲になるが、本発明によればエネルギ分
解能の低下を伴なわない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例のブロツク図、第2
図はPMTの応答特性を表わすグラフ、第3図は
総発光量で規格化したPMTの応答特性及び台形
状の応答特性を表わすグラフ、第4図はPMTの
応答特性と台形状の応答特性との間の変換特性を
表わすグラフである。 1……シンチレータ、2……ライトガイド、3
1〜3n……光電子増倍管、5……加算回路、6
……トリガ回路、7……タイミング発生回路、8
0,81〜8n……積分回路、101〜10n…
…除算回路、131〜13n……非線型メモリ、
15……X方向位置演算回路、17……Y方向位
置演算回路、20……波高分析回路、21……表
示装置。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 放射線入射に応じて発光するシンチレータ
    と、このシンチレータの背面に配列される多数の
    光電変換器と、各光電変換器出力から発光点の位
    置を演算する位置演算回路とを有するシンチレー
    シヨンカメラにおいて、前記光電変換器の各出力
    を全光電変換器出力和で実質的に除算して規格化
    する回路と、この規格化した各出力が入力され、
    あらかじめ各光電変換器について定めた非線形な
    関係で変換して前記位置演算回路に出力する入出
    力変換器とを備えることを特徴とするシンチレー
    シヨンカメラ。
JP17499981A 1981-10-31 1981-10-31 Shinchireeshonkamera Expired - Lifetime JPH0227633B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17499981A JPH0227633B2 (ja) 1981-10-31 1981-10-31 Shinchireeshonkamera

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17499981A JPH0227633B2 (ja) 1981-10-31 1981-10-31 Shinchireeshonkamera

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5876785A JPS5876785A (ja) 1983-05-09
JPH0227633B2 true JPH0227633B2 (ja) 1990-06-19

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