JPH02277250A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
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- JPH02277250A JPH02277250A JP1099518A JP9951889A JPH02277250A JP H02277250 A JPH02277250 A JP H02277250A JP 1099518 A JP1099518 A JP 1099518A JP 9951889 A JP9951889 A JP 9951889A JP H02277250 A JPH02277250 A JP H02277250A
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- Japan
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- insulating substrate
- wire
- semiconductor device
- wires
- semiconductor chip
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
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- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/075—Connecting or disconnecting of bond wires
- H10W72/07541—Controlling the environment, e.g. atmosphere composition or temperature
- H10W72/07554—Controlling the environment, e.g. atmosphere composition or temperature changes in dispositions
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- H10W72/531—Shapes of wire connectors
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- H10W72/5363—Shapes of wire connectors the connected ends being wedge-shaped
-
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- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
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- H10W72/541—Dispositions of bond wires
- H10W72/5445—Dispositions of bond wires being orthogonal to a side surface of the chip, e.g. parallel arrangements
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- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
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- H10W72/541—Dispositions of bond wires
- H10W72/547—Dispositions of multiple bond wires
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/756—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体装置に関し、特に多ビンプラスチックQ
FPにおいて、リード側の間隔が極めて狭くなった場合
に、リードフレームのアイランド上に導線を形成した絶
縁基板を添付したいわゆるコンパクトICの導線の構造
に関する。
FPにおいて、リード側の間隔が極めて狭くなった場合
に、リードフレームのアイランド上に導線を形成した絶
縁基板を添付したいわゆるコンパクトICの導線の構造
に関する。
従来のコンパクトIC方式の半導体装置は第4図に示す
ように、アイランド5上の絶縁基板6には、チップ4と
インナリード3をAuワイヤー7を介して電気的に接続
する導線2がチップ4の周囲に配置された構造となって
いる。導線2の線幅はほぼ一定か、あるいはチップ4側
からインナーリード3側へ向って徐々に太く形成されて
いる。
ように、アイランド5上の絶縁基板6には、チップ4と
インナリード3をAuワイヤー7を介して電気的に接続
する導線2がチップ4の周囲に配置された構造となって
いる。導線2の線幅はほぼ一定か、あるいはチップ4側
からインナーリード3側へ向って徐々に太く形成されて
いる。
また導線2の先端部は第5図に示すように、−列に配置
されていた。
されていた。
上述した従来の半導体装置における絶縁基板上の導線2
は、線幅が一定のためボンディングに最小限必要な線幅
とエツチング加工限界の導線間を加え合せた長さが導線
ピッチの最小であった。このためチップサイズが小さく
なっても、導線側ビッチがすでに最小となっている場合
は、接続用のワイヤー長を長くしなければならず、ワイ
ヤーのカールやたれなどのボンディング性の問題や樹脂
封入時のワイヤー変形が顕著になるという欠点かある。
は、線幅が一定のためボンディングに最小限必要な線幅
とエツチング加工限界の導線間を加え合せた長さが導線
ピッチの最小であった。このためチップサイズが小さく
なっても、導線側ビッチがすでに最小となっている場合
は、接続用のワイヤー長を長くしなければならず、ワイ
ヤーのカールやたれなどのボンディング性の問題や樹脂
封入時のワイヤー変形が顕著になるという欠点かある。
本発明の半導体装置は、周囲にリードが配設されたアイ
ランドと、該アイランド上に固着された絶縁基板と、該
絶縁基板上に搭載された半導体チップと、前記リードと
半導体チップを接続する為の前記絶縁基板上に形成され
た導線と、前記リードと導線及び前記半導体チップのパ
ッドと導線とをそれぞれ接続するためのワイヤーとを有
する半導体装置において、前記導線の端部は他の部分よ
り幅広く形成されかつ1本おきにすらして配設されてい
るものである。
ランドと、該アイランド上に固着された絶縁基板と、該
絶縁基板上に搭載された半導体チップと、前記リードと
半導体チップを接続する為の前記絶縁基板上に形成され
た導線と、前記リードと導線及び前記半導体チップのパ
ッドと導線とをそれぞれ接続するためのワイヤーとを有
する半導体装置において、前記導線の端部は他の部分よ
り幅広く形成されかつ1本おきにすらして配設されてい
るものである。
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の第1の実施例の平面図である。
フレーム外枠9に吊りピン10で接続かつ支持されるア
イランド5上に、ガラスエポキシ等の基材からなる絶縁
基板6がエポキシ系接着剤により接着されている。絶縁
基板6上には、銅箔上にニッケルメッキおよび金メツキ
で形成された導線2が放射状に延在する。チップ4と導
線2はAuワイヤー7で電気的に接続され、さらにイン
ナーリード3と再びAuワイヤー7で電気的に接続され
る。
イランド5上に、ガラスエポキシ等の基材からなる絶縁
基板6がエポキシ系接着剤により接着されている。絶縁
基板6上には、銅箔上にニッケルメッキおよび金メツキ
で形成された導線2が放射状に延在する。チップ4と導
線2はAuワイヤー7で電気的に接続され、さらにイン
ナーリード3と再びAuワイヤー7で電気的に接続され
る。
そして、二の導線2の端部は第2図に示すように、幅広
部1が形成され、かつ1本おきにずらして形成されてい
る。幅広部lの幅Wはボンディング可能な最小幅で約9
0μmまたは幅広部1の隙間幅Sはエツチング限界で約
60μmである。
部1が形成され、かつ1本おきにずらして形成されてい
る。幅広部lの幅Wはボンディング可能な最小幅で約9
0μmまたは幅広部1の隙間幅Sはエツチング限界で約
60μmである。
このように構成された第1の実施例によれば、導線2の
先端ピッチは約150μmにすることが可能となる。こ
れは幅広部1を平列に配置したときよりも約23%導線
間ピッチを短縮できる第3図は本発明の第2の実施例を
説明するだめの絶縁基板6上の導線2とその幅広部1の
拡大図である。この第2の実施例はチップ4の辺と対向
する導線2の延在方向が45°の場合である。
先端ピッチは約150μmにすることが可能となる。こ
れは幅広部1を平列に配置したときよりも約23%導線
間ピッチを短縮できる第3図は本発明の第2の実施例を
説明するだめの絶縁基板6上の導線2とその幅広部1の
拡大図である。この第2の実施例はチップ4の辺と対向
する導線2の延在方向が45°の場合である。
導線2が放射状に配置される場合、対向するチップ4の
辺と導線2の延在方向は最大45″まで考えられる。こ
の第2の実施例では、幅広部1から導線2へ変わる部分
の角度が導線方向に対して45°となっていて、隣接す
る幅広部1がよりチップ側に近いところに設けることが
可能である。
辺と導線2の延在方向は最大45″まで考えられる。こ
の第2の実施例では、幅広部1から導線2へ変わる部分
の角度が導線方向に対して45°となっていて、隣接す
る幅広部1がよりチップ側に近いところに設けることが
可能である。
以上説明したように本発明は、チップとリードとをA
uワイヤーを介して電気的に接続するための導線が形成
される絶縁基板を、アイランド上に搭載した半導体装置
において、導線の先端部分を他の部分より幅広くし、し
かもその幅広部を1本おきにずらして配設することによ
り、導線間ピッチを短縮できる効果がある。従ってワイ
ヤー長を短くできるため、ボンディング性が向上し、樹
脂封入時のワイヤー変形を抑制できる。
uワイヤーを介して電気的に接続するための導線が形成
される絶縁基板を、アイランド上に搭載した半導体装置
において、導線の先端部分を他の部分より幅広くし、し
かもその幅広部を1本おきにずらして配設することによ
り、導線間ピッチを短縮できる効果がある。従ってワイ
ヤー長を短くできるため、ボンディング性が向上し、樹
脂封入時のワイヤー変形を抑制できる。
第1図は本発明の第1の実施例の平面図、第2図は第1
図における導線先端部の拡大図、第3図は本発明の第2
の実施例の導線先端部の拡大図、第4図は従来の半導体
装置の平面図、第5図は第4図における導線先端部の拡
大図である。
図における導線先端部の拡大図、第3図は本発明の第2
の実施例の導線先端部の拡大図、第4図は従来の半導体
装置の平面図、第5図は第4図における導線先端部の拡
大図である。
1・・・幅広部、2・・・導線、3・・・インナーリー
ド、4・・・チップ、5・・・アイランド、6・・絶縁
基板、7A Llワイヤー、8・・・へρパッド、9・
・・フレーム外枠、10・・・吊りピン。
ド、4・・・チップ、5・・・アイランド、6・・絶縁
基板、7A Llワイヤー、8・・・へρパッド、9・
・・フレーム外枠、10・・・吊りピン。
Claims (1)
- 周囲にリードが配設されたアイランドと、該アイランド
上に固着された絶縁基板とC該絶縁基板上に搭載された
半導体チップと、前記リードと半導体チップを接続する
為の前記絶縁基板上に形成された導線と、前記リードと
導線及び前記半導体チップのパッドと導線とをそれぞれ
接続するためのワイヤーとを有する半導体装置において
、前記導線の端部は他の部分より幅広く形成されかつ1
本おきにずらして配設されていることを特徴とする半導
体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1099518A JPH02277250A (ja) | 1989-04-18 | 1989-04-18 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1099518A JPH02277250A (ja) | 1989-04-18 | 1989-04-18 | 半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02277250A true JPH02277250A (ja) | 1990-11-13 |
Family
ID=14249469
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1099518A Pending JPH02277250A (ja) | 1989-04-18 | 1989-04-18 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02277250A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5818114A (en) * | 1995-05-26 | 1998-10-06 | Hewlett-Packard Company | Radially staggered bond pad arrangements for integrated circuit pad circuitry |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60134429A (ja) * | 1983-12-23 | 1985-07-17 | Hitachi Micro Comput Eng Ltd | 半導体装置 |
-
1989
- 1989-04-18 JP JP1099518A patent/JPH02277250A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60134429A (ja) * | 1983-12-23 | 1985-07-17 | Hitachi Micro Comput Eng Ltd | 半導体装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5818114A (en) * | 1995-05-26 | 1998-10-06 | Hewlett-Packard Company | Radially staggered bond pad arrangements for integrated circuit pad circuitry |
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