JPH0362564A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPH0362564A
JPH0362564A JP1197560A JP19756089A JPH0362564A JP H0362564 A JPH0362564 A JP H0362564A JP 1197560 A JP1197560 A JP 1197560A JP 19756089 A JP19756089 A JP 19756089A JP H0362564 A JPH0362564 A JP H0362564A
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JP
Japan
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semiconductor chip
semiconductor device
internal lead
internal
tip
Prior art date
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Pending
Application number
JP1197560A
Other languages
English (en)
Inventor
Yukako Takahashi
由佳子 高橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Kyushu Ltd
Original Assignee
NEC Kyushu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Kyushu Ltd filed Critical NEC Kyushu Ltd
Priority to JP1197560A priority Critical patent/JPH0362564A/ja
Publication of JPH0362564A publication Critical patent/JPH0362564A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • H10W72/071Connecting or disconnecting
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    • H10W72/07551Controlling the environment, e.g. atmosphere composition or temperature characterised by changes in properties of the bond wires during the connecting
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  • Wire Bonding (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体装置に関し、特にボンディング線を有す
る半導体装置に関する。
〔従来の技術〕
従来の半導体装置は第3図に示すように、アイランド6
の周囲に内部リード2が水平に配列されて設けられ、ア
イランド6の上に半導体チップ1がマウントされ、半導
体チップ1の表面に設けられた電極5と内部リード2の
先端との間をボンディング線3が弧状に接続されていた
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の半導体装置では、半導体チップ上の電極
とリードがそれぞれ水平面上にあるため、ボンディング
線が弧状に張られ内部リードの先端と半導体チップとの
間でボンディング線が互に接触して電気的に短絡すると
いう問題点がある。
また、大型の半導体チップを小型のパッケージに封止す
る際、内部リードを半導体チップ上に設ける場合がある
が、その時内部リードに加えたボンディング加重が半導
体チップに加わり、クラックや欠けを発生させるという
問題点がある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の半導体装置は、半導体チップと、前記半導体チ
ップの周囲に配置され且つ先端が前記半導体チップの表
面に対して上方に90”〜140°の角度に折り曲げた
内部リードと、前記内部リードと前記半導体チップとの
間を電気的に接続したボンディング線とを有する。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図(a)、(b)は本発明の第1の実施例を示す平
面図及びA−A’線断面図である。
第1図(a)、(b)に示すように、アイランド6の上
に半導体チップ1がマウントされ、アイランド6の周囲
に先端を上方に直角に折り曲げた内部リード2が配列さ
れて設けられ、半導体チップ1の表面に設けられた電極
5と内部リード2の先端との間がボンディング線3で接
続される。ここでボンディング線3の一端は電極5の水
平面に圧着され他端は内部リードの先端の垂直面に圧着
されている。
第2図(a)、(b)は本発明の第2の実施例を示す平
面図及びB−B’線断面図である。
第2図(a)、(b)に示すように、アイランド6の上
にマウントされた半導体チップlの表面に設けられた絶
縁膜7の上に先端が上方に135°の角度に折曲げられ
た内部リード2が接して設けられ、半導体チップの表面
に設けられた電f!5と内部リード2の先端との間がボ
ンディング線3で電気的に接続される。ここで、内部り
一ド3の先端に加わるボンディング加重が内部り一ド3
の先端の弾性変形により半導体チップlに与える応力を
減少させ、半導体チップのクラック欠けを防止できる利
点がある。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、半導体チップ上の電極と
内部リードとを結ぶボンディング線の圧着面が内部リー
ド上では電極上と90”〜140°の角度を持った状態
でボンディングすることにより、従来のものより線長が
短くなり、ボンディング線のだれ、及び樹脂封止時のボ
ンディング線流れ等による短絡事故を防止できるという
効果を有する。
また、大型の半導体チップを小型のパッケージに封止す
る際、内部リードを半導体チップ上に設ける場合がある
が、その時内部リードのボンディング加重による半導体
チップのクラックや欠は等の発生を防止し、信頼性の高
い半導体装置を実現できるという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)、(b)は本発明の第1の実施例を示す平
面図及びA−A’線断面図、第2図(a>、(b)は本
発明の第2の実施例の平面図及びB−B’線断面図、第
3図は従来の半導体装置の一例を示す斜視図である。 1・・・半導体チップ、2・・・内部リード、3・・・
ボンディング線、5・・・電極、6・・・アイランド、
7・・・絶縁膜。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 半導体チップと、前記半導体チップの周囲に配置され且
    つ先端が前記半導体チップの表面に対して上方に90゜
    〜140゜の角度に折り曲げた内部リードと、前記内部
    リードと前記半導体チップとの間を電気的に接続したボ
    ンディング線とを有することを特徴とする半導体装置。
JP1197560A 1989-07-28 1989-07-28 半導体装置 Pending JPH0362564A (ja)

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JP1197560A JPH0362564A (ja) 1989-07-28 1989-07-28 半導体装置

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JPH0362564A true JPH0362564A (ja) 1991-03-18

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ID=16376530

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